particle shape analysisとは 意味・読み方・使い方

PARTICLE SHAPE ANALYSIS APPARATUS AND PARTICLE SHAPE ANALYSIS METHOD例文帳に追加

粒子形状分析装置および粒子形状分析方法 - 特許庁

To provide a particle shape analysis method and a particle shape analysis apparatus capable of conveniently and accurately evaluating and representing a particle shape property as numerical information, and widely applicable to particle products regardless of particle size.例文帳に追加

粒子の形状特性を簡便に且つ正確に見極めて数値情報として表すことができ、粒子の大きさに拘わらず幅広い粉体製品に適用することのできる粒子形状分析方法および粒子形状分析装置を提供する。 - 特許庁

To more accurately determine the shape of a particle used at the time of analysis of particle behavior by DEM.例文帳に追加

ＤＥＭにより挙動を解析する際に使用される粒子の形状を従来よりも正確に決定できるようにする。 - 特許庁

To provide a particle property analysis display device suitable for needs to get the shape of a specific particle in a displayed scatter diagram with sufficient usability.例文帳に追加

表示された散布図の中の特定の粒子の形状を知りたいというニーズに合った使い勝手の良い粒子性状分析表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for producing an anisotropic silver nanowire having a shape in which the average (maximum vertical length/maximum length) ratio reaches about ≤0.65 in measurement by image analysis using a flow type particle image analyzer, and to provide a silver nanowire.例文帳に追加

フロー式粒子像分析装置を用いた画像解析による測定において、平均（最大垂直長／最大長）比が０.６５程度以下になるような形状を有する異方性の銀ナノワイヤーの製造方法及び銀ナノワイヤーを提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device of inspecting a semiconductor device by charged particle beams and focused ion beams, for detecting, from a potential contrast difference of secondary electron images, a failure point such as leakage due to a defect in the semiconductor device, which cannot be detected merely through appearance shape observation in conventional semiconductor analysis.例文帳に追加

従来の半導体解析において外観形状観察だけでは検出することが不可能な、半導体装置内部の欠陥に基づくリーク等の不良箇所を、二次電子像の電位コントラスト差から検出する、荷電粒子ビームおよび集束イオンビームによる半導体装置の検査方法および検査装置を提供する。 - 特許庁