particle structure analysisとは 意味・読み方・使い方

MAGNETIC FIELD APPLICATION DEVICE FOR PARTICLE ORIENTATION, AND PARTICLE STRUCTURE ANALYSIS METHOD例文帳に追加

微粒子配向用磁場印加装置及び微粒子構造解析方法 - 特許庁

To provide a particle behavior analysis method capable of accurately determining the behavior of particles and elastic structure.例文帳に追加

粒子と弾性構造物の挙動を精度良く求めることができる粒子挙動解析方法を提供する。 - 特許庁

To provide a particle analyzer capable of making an analysis based on the internal structure of subject particles while minimizing damage of the subject particles.例文帳に追加

粒子分析装置において、被検粒子へのダメージを極力抑制しつつ、被検粒子の内部構造に基づく分析を可能にする。 - 特許庁

On analysis by an EBSP method, the crystal structure in the foil thickness direction of the aluminum foil is based on a rolled structure containing fine crystal particles having a particle size of <10 μm as a matrix.例文帳に追加

アルミニウム箔の箔厚方向における結晶組織が、ＥＢＳＰ法で解析したとき、粒径１０μｍ未満の微細結晶粒を含む圧延加工組織を母体としている。 - 特許庁

To provide an particle behavior analyzer and analytical method capable of finding a difference in a compression condition such as a deformed amount and elastic energy of an individual particle due to a physical property of the particle or a structure in detail, in particle behavior analysis using a discrete element method.例文帳に追加

離散要素法を用いた粒子挙動解析において、粒子や構造物の物性値による個々の粒子の変形量や弾性エネルギーなどの圧縮状態の違いを詳細に求めることが出来る粒子挙動解析装置及び解析方法を提供する。 - 特許庁

To enable the analysis based on the internal structure of particles to be inspected with high precision without being affected the intensity of exciting light or the concentration of a fluorescent substance and peripheral environment in a particle analyzer.例文帳に追加

粒子分析装置において、励起光強度や蛍光物質の濃度、及び周辺環境に影響されることなく、高精度に被検粒子の内部構造に基づく分析を可能にする。 - 特許庁

To provide a numerical analytic method capable of performing a further precise prediction in a method for designing an actual production process in hot working of steel by predicting the change in particle size number of the structure caused in each working step by numerical analysis.例文帳に追加

鋼の熱間加工において、各加工段階で生じる組織の粒度番号の変化を、数値解析によって予測し、実生産の工程を設計するための手法であって、より正確な予測が可能な数値解析法を提供すること。 - 特許庁