random scanとは 意味・読み方・使い方

A plurality of scan path registers are connected by an array of static random access memory (SRAM) units of a plurality of memory cells.例文帳に追加

複数のスキャンパスレジスタは、複数のメモリセルからなるスタティックランダムアクセスメモリ(SRAM)アレイによって接続される。 - 特許庁

When signals in a scan clock unit outputted from a random pattern generator 102 for generating pseudo random signals at prescribed periods are matched with patterns in a scan clock unit inputted to the scan chain 101 of the ATPG patterns, a scan clock selection decoder 103 supplies a clock for inputting the signals in a scan clock unit outputted from the random pattern generator 102.例文帳に追加

スキャンクロック選択デコーダ１０３は、所定周期の擬似ランダム信号を発生するランダムパタン発生器１０２から出力されるスキャンクロック単位の信号とＡＴＰＧテストパタンの前記スキャンチェーン１０１に入力されるスキャンクロック単位のパタンとが一致するときに、前記ランダムパタン発生器１０２から出力されるスキャンクロック単位の信号を入力するためのクロックをスキャンチェーン１０１に供給する。 - 特許庁

A semiconductor device includes a test object circuit (700), scan chains (650) that enable scanning of the test object circuit, and a first random generation circuit (100) that forms a test pattern supplied to the scan chains.例文帳に追加

テスト対象回路（７００）と、上記テスト対象回路のスキャンを可能とするスキャンチェイン（６５０）と、上記スキャンチェインに供給されるテストパタンを形成するための第１乱数発生回路（１００）とを設ける。 - 特許庁

In this test faciliting circuit, the LFSR is composed of scan flip-flops 107 arranged regularly in a scan chain 109, an output value from the inspected circuit 101 are pattern-compressed, and signature is scanned in the scan chain 109 as a pseudo-random number sequence.例文帳に追加

スキャンチェーン１０９中で規則的に配列されたスキャンフリップフロップ１０７を用いてＬＦＳＲを構成し、被検査回路１０１からの出力値をパターン圧縮し、シグニチャを擬似乱数列としてスキャンチェーンにスキャンインする。 - 特許庁

The semiconductor device includes a run-stop circuit RUNSTOP for outputting a run-stop control signal RS; a first random number pattern generating circuit RDG_PT for generating a pseudo-random number pattern; an inversion control unit INV_BLK for inverting the output according to the value of a data input signal Din from outside; and a scan chain unit SC_BLK for scan-inputting the output through the INV_BLD.例文帳に追加

例えば、ランストップ制御信号ＲＳを出力するランストップ回路ＲＵＮＳＴＯＰと、擬似乱数パターンを生成する第１乱数パターン発生回路ＲＤＧ＿ＰＴと、その出力を外部からのデータ入力信号Ｄｉｎの値に応じて反転させる反転制御部ＩＮＶ＿ＢＬＫと、ＩＮＶ＿ＢＬＫを介した出力がスキャン入力されるスキャンチェーン部ＳＣ＿ＢＬＫとを設ける。 - 特許庁

When correcting a curve in a sub scan direction of a laser scanning line by image processing in the laser scan type image forming apparatus, an image shifting position for curve correction of each scanning line is minutely moved at random to main scanning for each correction point within a second dimensional plane, thereby making the curve correction step to be hardly seen.例文帳に追加

画像処理によって、レーザ走査線の副走査方向湾曲を補正する場合に、走査線毎の湾曲補正用画像ずらし位置を、2次元面内の補正点毎に、主走査に微小にランダム移動させることによって、湾曲補正段差を見えにくくする。 - 特許庁

For example, when a flash scan execution protocol works as the interruption protocol, contrast bubbles that present in a photographing region can be destroyed easily and quickly at random timing.例文帳に追加

例えば、フラッシュスキャン実行プロトコルを割り込みプロトコルとすることで、撮影領域に存在する造影剤バブルを任意のタイミングで簡単且つ迅速に破壊することができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device for selectively executing a fast random cycle writing operation and a boundary scan testing operation without increasing a circuit area.例文帳に追加

回路面積を大きくすることなく、高速なランダムサイクルのライト動作とバウンダリスキャンテスト動作とを選択的に実行する半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁