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scan speedとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 走査速度
「scan speed」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 255件
The storage section 66 further stores information indicating a stable scan range of scan speed in the document as precomputed scan speed information.例文帳に追加
また、記憶部66は、予め求められた走査速度情報として、原稿内における走査速度の安定走査範囲を示す情報を記憶する。 - 特許庁
BEAM SCAN SPEED MODULATING APPARATUS INCLUDING INHIBITION CIRCUIT例文帳に追加
禁止回路を含むビーム走査速度変調装置 - 特許庁
SCAN SPEED MODULATION CIRCUIT OPERATED IN MULTI-MODE例文帳に追加
マルチモード動作を行なうスキャン速度変調回路 - 特許庁
To perform electrocardiographic synchronous scan without changing the scan speed of the X-ray CT device.例文帳に追加
X線CT装置のスキャンスピードを変更することなく、心電同期スキャンを可能にすること。 - 特許庁
The image reader uses the independent gear trains for high speed scan and low speed scan, and driving systems including the motors.例文帳に追加
高速スキャン、低速スキャンのそれぞれのために独立したギア列、モータで構成されている駆動系を複数個用いる。 - 特許庁
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「scan speed」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 255件
The irradiation control of the ion beam is made by scan speed control of ion beam.例文帳に追加
イオンビームの照射制御は、イオンビームの走査速度制御とする。 - 特許庁
WAVEFORM GENERATOR SECTIONALLY LINEARIZED FOR SCAN SPEED MODULATION CIRCUIT例文帳に追加
スキャン速度変調回路用の区分的に線形化された波形発生器 - 特許庁
To modulate illumination light in an optical scan type endoscope apparatus at a high speed.例文帳に追加
光走査型内視鏡装置における照明光を高速で変調する。 - 特許庁
To realize test methods in actual operation conditions (actual operation test, At speed test) for the LSSD (Lever-Sensitive Scan Design) scanning test.例文帳に追加
LSSDスキャンテストにおいて、実動作状態でのテスト(実動作テスト、At speed test)を実現する。 - 特許庁
To greatly accelerate a speed to scan-convert three-dimensional ultrasound data of a subject and to scan the subject in real time.例文帳に追加
本発明は対象体の3次元超音波データをスキャン変換する速度を大きく増加させ、リアルタイムで対象体をスキャンする。 - 特許庁
To provide a vacuum seal mechanism which can enhance vacuum seal performance even in case of substrate scan of high speed long scan.例文帳に追加
高速かつ長スキャンの基板スキャンであっても、真空シール性能の向上を実現可能な真空シール機構を提供する。 - 特許庁
To provide a scan test circuit with a multiplication circuit for performing a test by changing the speed of a clock by N-multiplication, and to provide a scan test method.例文帳に追加
クロックのスピードをN逓倍変化させてテストを行う逓倍回路を設けたスキャンテスト回路およびスキャンテスト方法を提供する。 - 特許庁
To provide a scan test circuit for easy and inexpensive execution of actual operation speed scan test.例文帳に追加
簡易かつ安価に実動作速度スキャンテストを実行することが可能なスキャンテスト回路を提供する。 - 特許庁
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※この記事は「北里大学医療衛生学部 医療情報学研究室」ホームページ内の「医学用語集」(2001.06.10. 改訂)の情報を転載しております。 |
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