scanning atomic forceとは 意味・読み方・使い方

To provide a probe sharpening method capable of arbitrarily forming the taper angle of the leading end of a probe for STM(scanning tunnel microscope), AFM(atomic force microscope) and SNOM(scanning near field optical microscope).例文帳に追加

ＳＴＭ、ＡＦＭ、ＳＮＯＭ用のプローブ先端のテーパー角を任意に形成可能なプローブの尖鋭化方法を提供する。 - 特許庁

Then, the direction of the atomic force detected by the probe is set to be perpendicular to the scanning direction of the probe.例文帳に追加

続いて、探針が検出する原子間力の方向を、探針の走査方向と垂直な方向に設定する。 - 特許庁

SIGNAL DETECTION APPARATUS, SCANNING ATOMIC FORCE MICROSCOPE CONSTRUCTED OF IT, AND SIGNAL DETECTION METHOD例文帳に追加

信号検出装置、該信号検出装置によって構成した走査型原子間力顕微鏡、および信号検出方法 - 特許庁

OPTICAL WAVEGUIDE PROBE, ITS MANUFACTURE, AND SCANNING NEAR-FIELD ATOMIC FORCE MICROSCOPE USING SAME OPTICAL WAVEGUIDE PROBE例文帳に追加

光導波路プローブおよびその製造方法、並びにその光導波路プローブを用いた走査型近接場原子間力顕微鏡 - 特許庁

SIGNAL DETECTING METHOD BY SCANNING PROBE AND SIGNAL DETECTION DEVICE AND/OR ATOMIC FORCE MICROSCOPE WITH SIGNAL DETECTION DEVICE例文帳に追加

走査型プローブによる信号検出方法および信号検出装置、並びに該信号検出装置を備えた原子間力顕微鏡 - 特許庁

As a result, the inspection time (tact time) with the atomic force microscope is greatly shortened by using a small region corresponding to a half or less of a scanning measurement region with a magnetic probe of a cantilever unit of the magnetic force microscope as a scanning measurement region of a recording section surface of the magnetic head using the atomic force microscope.例文帳に追加

すなわち、磁気力顕微鏡のカンチレバー手段の磁性探針によるスキャン測定領域の半分以下の小さな領域を原子間力顕微鏡を用いた磁気ヘッドの記録部表面のスキャン測定領域として、原子間力顕微鏡による検査時間（タクトタイム）を大幅に短縮化できるようにした。 - 特許庁

Alternatively, inclination of the scanning plane and the mask surface is corrected by a biaxial tilt stage provided in an atomic force microscope scanner system to process the mask, while the mask surface is kept parallel to the scanning plane.例文帳に追加

もしくはスキャン面とマスク面の傾きを原子間力顕微鏡スキャナー側に設けた2軸チルトステージで補正してスキャン面とマスク面が平行になる状態で加工を行う。 - 特許庁

The scanning probe microscope 100 has an atomic force microscope mechanism and a caged compound releasing light introduction mechanism utilizing an inverted microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡１００は、原子間力顕微鏡機構と、倒立型顕微鏡を利用したケージド解除光導入機構とを有している。 - 特許庁