scattered X-raysとは 意味・読み方・使い方

Among reflected X-rays 103 scattered by the sample 10, only X-rays reflected in a specific direction pass through an X-ray pass-through slit 51a and come in an X-ray line scanner 52.例文帳に追加

サンプル１０で散乱された反射Ｘ線103の内の特定の方向に反射されたものだけが、Ｘ線透過スリット５１aを透過し、Ｘ線ラインスキャナ５２に入射する。 - 特許庁

Scattered X rays have the definite asymmetry corresponding to the polarization direction and magnitude.例文帳に追加

散乱Ｘ線は、分極の方向及び大きさに応じた一定の非対称を有す。 - 特許庁

To provide a mechanism for attaching a grid for removing scattered X-rays in an X-ray image photographing equipment.例文帳に追加

Ｘ線画像撮影装置において、散乱Ｘ線を除去するためのグリッドを脱着する機構を設ける。 - 特許庁

The sample is the thin film formed on the sample and the scattered X rays attenuated by the attenuation mechanism 7 are mirror surface reflected X rays.例文帳に追加

前記試料は、基板上に形成された薄膜であり、前記減衰機構７で減衰させる散乱Ｘ線は、鏡面反射Ｘ線である。 - 特許庁

To accurately detect mirror surface reflected X rays by attenuating a part of the intensity of X rays measured on the surface of a detector in a reflected X-ray small angle scattering device for measuring scattered X rays.例文帳に追加

散乱Ｘ線を測定する反射Ｘ線小角散乱装置において、検出器面上で測定されるＸ線の強度の一部を減衰させることにより、正確に鏡面反射Ｘ線を検出する。 - 特許庁

Further, in consideration of the error of the positional reproducibility of a goniometer, fluorescent X-ray analysis is performed by a method for performing the incidence of X rays from a direction becoming minimum in the incident X-ray azimuth dependence of the intensity of X rays scattered from the crystal part to the measurement of the intensity of fluorescent X rays enhanced in reproducibility from an actual aspect.例文帳に追加

また、ゴニオメータの位置再現性の誤差を考慮し、結晶部で散乱されるX線強度の入射X線方位依存性が最少になる方向からX線を入射する方法で分析することにより、実際上再現性を高めた蛍光X線強度測定を行うことを可能とした。 - 特許庁

To provide a transmission type X-ray diffraction device capable of excluding an effect of scattered X rays in an incident part to the utmost to detect the diffracted X rays generated in a sample, and an X-ray diffraction method.例文帳に追加

入射部での散乱Ｘ線の影響を極力排して試料で生じた回折Ｘ線を検出できる透過型のＸ線回折装置とＸ線回折方法とを提供する。 - 特許庁

The specimen is irradiated with those X rays and the scattered or fluorescent X rays 12 emitted from the specimen pass through a reflecting X-ray collimator 2 to be detected by an X-ray secondary detector 3.例文帳に追加

このＸ線は、被検体に照射され、被検体から放たれる散乱または蛍光Ｘ線１２は、反射Ｘ線コリメータ２を通って、Ｘ線二次検出器３によって検出される。 - 特許庁