sem-3とは 意味・読み方・使い方

call (32) (on Linux, this limit can be read and modified via the third field of /proc/sys/kernel/sem ).発音を聞く 例文帳に追加

(Linux では、この制限値は/proc/sys/kernel/semの第3フィールドに対応し、読み出しも変更もできる)。 - JM

A SEM 8 is arranged inside of the chamber 3, and this SEM 8 scans the wafer 2 with the electron beam, and observes a secondary electronic image emitted from a surface of the wafer 2, and generates an image (SEM image) of the surface of the wafer 2.例文帳に追加

チャンバー３内にはＳＥＭ８が配設され、このＳＥＭ８は、ウェハ２上に電子ビームを走査させ、その時にウェハ２の表面から放出される２次電子像を観察し、ウェハ２表面の画像（ＳＥＭ画像）を生成する。 - 特許庁

In addition, by introducing the organic material 11 into the holes 3, a shrinkage caused by electron beam irradiation on SEM observation is also suppressed.例文帳に追加

また、空孔３への有機物１１の導入によってＳＥＭ観察時の電子線照射による収縮も抑えられる。 - 特許庁

The size of the width 25 of an image of a side face of the most upper layer of a pattern which should appear on an SEM image (d) when a wafer 3 is tilted can be calculated from an actual thickness of the most upper layer of the pattern and a tilting angle of the wafer 3.例文帳に追加

ウェーハ３傾斜時のＳＥＭ像（ｄ）に現れるべきパターン最上層側面の像の幅２５の大きさは、パターン最上層の実際の厚さとウェーハ３の傾斜角度から算出可能である。 - 特許庁

In this nickel powder, the average particle size measured by SEM observation is 1μm or less, particle density is 8.0 g/cm3 or more, and the diameter of crystallite in the particles is 550 Å or less, and the electrically conductive paste for a laminated ceramic capacitor contains the nickel powder.例文帳に追加

ＳＥＭ観察により測定した平均粒子径が１μｍ以下、粒子密度が８．０ｇ／ｃｍ^3 以上、粒子内の結晶子径が５５０Å以下であるニッケル粉、及び該ニッケル粉を含有する積層セラミックコンデンサ用導電ペースト。 - 特許庁

The polishing jig for physical analysis 1 comprises at least an observing block 2 having a sample attaching surface 5a to which the sample 11 is attached and insertable to an in-lens type scanning electron microscope (SEM), a sample mount 3 having a stepped guide part 6 by which the observing block 2 is positioned, and a sample mount holder 4 to which the sample mount 3 is attached.例文帳に追加

試料１１が貼付される試料貼付面５ａを有し、インレンズ方式の走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）に挿入可能な観察用ブロック２と、観察用ブロック２が位置決めされる段差ガイド部６を有する試料マウント３と、試料マウント３が固定される試料マウントホルダ４とを少なくとも備える物理解析用研磨冶具１である。 - 特許庁