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specimen gridとは 意味・読み方・使い方
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「specimen grid」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 8件
MICRO-GRID FOR HOLDING SPECIMEN OF ELECTRON MICROSCOPE AND MANUFACTURING METHOD OF THE SPECIMEN例文帳に追加
電子顕微鏡試料支持用マイクログリッド及び電子顕微鏡試料の作製方法 - 特許庁
TOOL FOR COVERING GRID HOLE WITH THIN SLICE OF ELECTRON MICROSCOPE SPECIMEN例文帳に追加
電子顕微鏡試料の超薄切片をグリッド孔に張る器具。 - 特許庁
DEVICE FOR PUTTING ON GRID ULTRA-THINLY SLICED PIECE OF SPECIMEN FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子顕微鏡試料の超薄切片をグリッドに載せる用具。 - 特許庁
An image (target image) of a specimen tissue imaged by an imaging part 20 is divided into a plurality of grid images by a grid image generation unit 101.例文帳に追加
撮像部20で撮像された検体組織の画像(対象画像)をグリッド画像生成部101により複数のグリッド画像に分割する。 - 特許庁
To provide a micro-grid structure for holding specimens of an electron microscope which can reduce the possibility of breakage of a specimen holding film as well as easily discriminable between such as the front and back surfaces of a specimen, and to provide a manufacturing method of the specimens.例文帳に追加
マイクログリッドが有する試料を載置するための支持膜の破損の可能性を低減し、また、試料の表裏等の区別を容易にできるマイクログリッド及び電子顕微鏡用試料の作製方法を提供する。 - 特許庁
This instrument has a grid pattern projection device 6 formed as a unit and equipped with a grid pattern 609 arranged on the optical path of light from a light source device 14 and having slit-shaped light transmission parts formed at fixed-interval pitches, and with a projection optical system 611 for projecting a grid pattern image formed by the grid pattern 609 to a specimen 3 at a prescribed angle.例文帳に追加
光源装置14からの光の光路に配置される、スリット状の光透過部を一定間隔のピッチで形成した格子パターン609、この格子パターン609より形成される格子パターン像を標本3に対し所定角度傾けて投影する投影光学系611を具備したユニット化された格子パターン投影装置6を有する。 - 特許庁
Luminance, color tone, spectrum, etc. of a light-emitting phosphor specimen are measured at various electrode intervals, interelectrode voltages, grid voltages, and degrees of vacuum, thereby evaluating the light emission characteristics of the phosphor specimen and establishing the optimum conditions on a field emission device.例文帳に追加
様々な電極間距離、電極間電圧、グリッド電圧および真空度において、発光した蛍光体試料の輝度、色調、スペクトル等の測定を行うことにより、蛍光体試料の発光特性評価や、フィールドエミッションデバイスの最適条件確立を行う。 - 特許庁
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「specimen grid」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 8件
This method uses an entity grid-type moire optical system to exactly shift a specific fringe order moire fringes by desired phase, and limits its measuring area to the vicinity of the fringe order, performing three- dimensional measurement of surface shape of a specimen from at least three phase-shifted moire fringes data.例文帳に追加
実体格子型のモアレ光学系を用い、特定の縞次数のモアレ縞を所望の位相だけ正確にシフトさせて、測定領域をその縞次数近辺に限定して、少なくとも3つの位相シフトしたモアレ縞データから被検物表面の形状を3次元測定する。 - 特許庁
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