surface spectroscopyとは 意味・読み方・使い方

As a surface analysis method, an XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy) analysis method or the like is enumerated, and when being used together with an ICP-AES (Inductively Coupled Plasma-Atomic Emission Spectroscopy) analysis, a result which is unmeasurable in the ICP-AES analysis can be supplemented.例文帳に追加

表面分析方法としては、ＸＰＳ分析法等が挙げられ、ＩＣＰ−ＡＥＳ分析と併用すれば、ＩＣＰ−ＡＥＳ分析では測定不可能だった結果を補足することも出来る。 - 特許庁

A beam splitter 10 composing the optical pickup device comprises a first part 11 having a spectroscopy surface 15 and second part having an aspheric surface 12a.例文帳に追加

光ピックアップ装置が備えるビームスプリッタ１０は、分光面１５を有する第１の部分１１と、非球面１２ａを有する第２の部分と、から成る。 - 特許庁

SPFS (SURFACE PLASMON-FIELD ENHANCED FLUORESCENCE SPECTROSCOPY) OR MEASURING METHOD USING THE SAME, AND SURFACE PLASMON RESONANCE SENSOR FOR MEASURING METHOD THEREOF例文帳に追加

ＳＰＦＳ（表面プラズモン励起増強蛍光分光法）またはそれを利用した測定方法ならびにそれらの測定方法用の表面プラズモン共鳴センサ - 特許庁

ASSAY METHOD USING A SENSOR CHIP FOR FLUOROMETRY DEVICE USING A SURFACE PLASMON EXCITATION ENHANCED FLUORESCENCE SPECTROSCOPY AND KIT FOR ASSAY例文帳に追加

表面プラズモン励起増強蛍光分光法を利用する蛍光測定装置用センサチップを用いたアッセイ方法、およびアッセイ用キット - 特許庁

We present a method to separate surface from volume contributions in the fine structure of ionization edges in electron energy-loss spectroscopy (ELNES).発音を聞く 例文帳に追加

われわれは、電子エネルギー損失分光のイオン化エッジの微細構造(ELNES)における体積の寄与から表面の寄与を分離する手法を示す。 - 科学技術論文動詞集

The deposition of the carbon based thin film is confirmed regarding the surface of the silicon substrate, and the fact that it is a DLC thin film is confirmed from an analysis result according to Raman spectroscopy.例文帳に追加

シリコン基板上に炭素系薄膜の堆積を確認し、ラマン分光法による分析結果からDLC薄膜であるとことを確認した。 - 特許庁

This coiled carbon fiber has both of a surface oxygen radical concentration (O1s/C1s) of 4.0-12.5 at.% when measured by X-ray photoelectron spectroscopy and a specific surface area of 200-1,100 m2/g.例文帳に追加

コイル状炭素繊維は、Ｘ線光電子分光法で測定される表面酸素基濃度（Ｏ1s／Ｃ1s）が４．０〜１２．５at％であり、かつ比表面積が２００〜１１００ｍ^2／ｇである。 - 特許庁

To improve analysis accuracy of element analysis by laser-induced breakdown spectroscopy by suppressing influence of a surface contaminant on a measuring object surface or molecules in a measuring atmosphere.例文帳に追加

計測対象物表面の表面汚染物質や計測雰囲気中の分子の影響を抑制してレーザ誘起ブレイクダウン分光法による元素分析の分析精度を向上させる。 - 特許庁