test program developmentとは 意味・読み方・使い方

To reduce development cost of a test program for a memory chip mounted on a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置に実装されたメモリチップの試験プログラムの開発コストを削減する。 - 特許庁

To provide a test procedure generating device for improving program development efficiency.例文帳に追加

プログラム開発効率を向上させる試験手順生成装置を提供する。 - 特許庁

Therefore, the test time, the test cost such as the man-hour for test program development can be reduced, and human errors due to the complication of the test program can be reduced.例文帳に追加

このため、テスト時間・テストプログラム開発工数等のテストコストを削減でき、テストプログラム複雑化によるヒューマンエラーを低減できる。 - 特許庁

A test execution information acquisition means 11 acquires test execution information including simple body program names, the number of test data, and the frequency of total running until completing a test from a development progress state data storage means 14.例文帳に追加

テスト実行情報取得手段１１は、開発進捗状況データ記憶手段１４から、単体プログラム名、テストデータ件数およびテスト完了までの総ラン回数を含むテスト実行情報を取得する。 - 特許庁

To provide a program development device and a program development method, capable of suitably executing a test of a program by an emulator even when a current execution process is influenced by another process simultaneously driven in a general computer and to provide a recording medium and a development program.例文帳に追加

汎用コンピュータ上で同時に動作中の他プロセスからの影響を受ける場合においても、エミュレータによるプログラムのテストを適切に行うことが可能なプログラム開発装置およびプログラム開発方法ならびに記録媒体および開発プログラムを提供する。 - 特許庁

To obtain an automatic test item creating device which reduces the development time of a program by reducing the test period of a purchased program and reducing the burden of an engineer who is familiar with the function of a program to be developed.例文帳に追加

購入プログラムのテスト期間の短縮と、開発するプログラムの機能に熟知したエンジニアの負担を軽減することでプログラムの開発期間を短縮するテスト項目自動作成装置を提供する。 - 特許庁

TEST CASE GENERATION DEVICE, TEST CASE GENERATION PROGRAM, MODEL BASE DEVELOPMENT PROGRAM, DEVICE AND PROGRAM FOR DIAGNOSING VALIDITY OF SOURCE CODE GENERATION, AND METHOD FOR DEVELOPING MODEL BASE例文帳に追加

テストケース生成装置、テストケース生成プログラム、モデルベース開発プログラム、ソースコード生成妥当性診断装置、ソースコード生成妥当性診断プログラム、およびモデルベース開発方法。 - 特許庁

To solve the following problem: test costs such as test time and test program development man-days increase, and human errors increase due to test program complications, because control by individual chips becomes necessary in the case where a plurality of chips are simultaneously measured by an external device, because trimming data is a random data peculiar to each chip.例文帳に追加

トリミングデータはチップ毎に固有のランダムなデータであるため、外部装置により複数チップを同時測定している場合、チップ個別の制御が必要となり、テスト時間・テストプログラム開発工数等のテストコストやテストプログラム複雑化によるヒューマンエラー増大を招く。 - 特許庁