test profileとは 意味・読み方・使い方

To provide a small-sized and low-profile choke coil in which core cracking in a vibration impulse test and a temperature cycle test is suppressed.例文帳に追加

振動衝撃試験、温度サイクル試験でのコア割れを抑制した、小型で低背型のチョークコイルを提供すること。 - 特許庁

A density profile extracting and operating part 152 extracts a density profile of a test patch portion in a part of the picked-up image.例文帳に追加

濃度プロファイル抽出演算処理部１５２は、この撮像画像の一部にあるテストパッチ部分の濃度プロファイルを抽出する。 - 特許庁

Then, the test curving is measured, the measured result is input, and a corrected profile is made based on the measured profile which bas been input.例文帳に追加

次に、試験彫刻が測定され測定結果が入力され、入力された測定結果に基づいて補正プロファイルが作製される。 - 特許庁

A polishing profile is measured for each of the plurality of test substrates and a polishing time is calculated for each polishing parameter set which minimizes the difference between a predicted substrate profile and a desired substrate profile.例文帳に追加

該複数のテスト基板の研磨プロファイルをそれぞれ測定し、予測基板プロファイルと所望基板プロファイル間の差を最小とする各研磨パラメータセットについて研磨時間を計算する。 - 特許庁

METHOD, DEVICE, AND PROGRAM FOR IDENTIFYING SURFACE PROFILE OF ULTRASONIC FLAW DETECTION TEST BODY, AND METHOD, DEVICE, AND PROGRAM FOR ULTRASONIC FLAW DETECTION TEST, INCORPORATED WITH IDENTIFICATION OF SURFACE PROFILE OF ULTRASONIC FLAW DETECTION TEST BODY例文帳に追加

超音波探傷試験体の表面形状同定方法、表面形状同定装置及び表面形状同定プログラム、並びに、超音波探傷試験体の表面形状同定処理を組み込んだ超音波探傷試験方法、超音波探傷試験装置及び超音波探傷試験プログラム - 特許庁

At stages which measures the traveling amount within the XY face, it is instrumentation that is only strange, profile measures known a test piece, and travelling rate is calculated by comparing profile of cross-sectional image obtained from observed image, and test piece.例文帳に追加

ＸＹ面内の移動量を測定する段階では、変位計測器、又は、断面形状が既知の試料を測定し、観察像から得られる断面像と試料の断面形状を比較することにより移動量を求める。 - 特許庁

If photosensitive paper to be used is other than the prescribed one (step S102; NO), test printing is performed in compliance with each profile stored in a profile storage section (step S105), Read image data is formed by reading the test printed photosensitive paper (step S106).例文帳に追加

使用される感光紙が所定以外の場合（ステップＳ１０２；ＮＯ）、プロファイル記憶部に記憶された各プロファイルに従ってテストプリントを行い（ステップＳ１０５）、テストプリントされた感光紙を読み取って読取画像データを形成する（ステップＳ１０６）。 - 特許庁

To provide a measuring apparatus and its measuring method which can measure the surface profile of a test object in a short time.例文帳に追加

被検物の表面形状を短時間で計測できる計測装置およびその計測方法を提供することを目的とする。 - 特許庁