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testing costとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 試験費用
「testing cost」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 243件
(v) When the Accredited Foreign Testing Laboratory Operator fails to bear the cost pursuant to the following paragraph.発音を聞く 例文帳に追加
五 次項の規定による費用の負担をしないとき。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
To obtain a semiconductor testing device capable of reducing cost.例文帳に追加
コストを低減できる半導体試験装置を実現する。 - 特許庁
To appropriately perform evaluation while reducing a testing cost.例文帳に追加
試験コストを軽減し、評価を適切に行えるようにする。 - 特許庁
To provide a high-temperature testing device capable of constituting a high-temperature testing environment at a low cost.例文帳に追加
安価に高温試験環境を構成することが可能な高温試験装置を提供する。 - 特許庁
To reduce a testing cost and facilitate accuracy management of a test of a testing jig and coplanarity testing equipment.例文帳に追加
検査用治具およびコプラナリティ検査装置の検査のコスト低減,精度管理の容易化を課題とする。 - 特許庁
To provide a small-sized and simple joining strength testing device at low cost.例文帳に追加
小型で簡便な接合強度試験装置を低コストで提供する。 - 特許庁
To reduce cost by effectively use of a base material and shortening testing time.例文帳に追加
基材の有効活用とテスト時間の短縮を図ってコストを低減する。 - 特許庁
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「testing cost」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 243件
Hereby, manufacturing cost of the temperature testing device 11 can be suppressed remarkably.例文帳に追加
温度試験装置11の製造コストは著しく抑制される。 - 特許庁
To provide a semiconductor inspection system that realizes reduced testing cost.例文帳に追加
テストコストの削減を実現する半導体検査システムを提供する。 - 特許庁
To reduce cost and period in a test device for testing an integrated circuit.例文帳に追加
集積回路をテストするテスト装置において、費用、期間を削減する。 - 特許庁
To easily prepare a testing scenario at low cost, and to execute a test.例文帳に追加
安価で容易に試験用シナリオを作成して試験を実施する。 - 特許庁
This results that the testing cost of the semiconductor integrated circuit can be reduced and the chip cost can be reduced.例文帳に追加
この結果、半導体集積回路の試験コストを削減でき、チップコストを削減できる。 - 特許庁
To provide a testing device for object detecting means capable of improving the testing accuracy, while restraining the testing cost of the object detecting means, and to provide a testing method.例文帳に追加
物体検出手段の試験コストを低く抑えつつ、試験精度を向上させることが可能な物体検出手段の試験装置、及び試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor testing apparatus capable of reducing the footprint of the semiconductor testing apparatus inside a semiconductor clean area, and thereby, reducing installation cost and device testing cost and time that accompany installation.例文帳に追加
半導体クリーンエリア内の半導体試験装置の占有面積を低減して、設置コストやそれに伴うデバイスのテストコスト及びテスト時間を低減することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a pressurization excitation testing machine capable of suppressing a running cost of the pressurization excitation testing machine in a pressurization excitation test extending in long hours.例文帳に追加
長時間に及ぶ加圧加振試験における加圧加振試験機のランニングコストを抑える加圧加振試験機を提供する。 - 特許庁
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