「testing cost」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide a high-temperature testing device capable of constituting a high-temperature testing environment at a low cost.例文帳に追加

安価に高温試験環境を構成することが可能な高温試験装置を提供する。 - 特許庁

This results that the testing cost of the semiconductor integrated circuit can be reduced and the chip cost can be reduced.例文帳に追加

この結果、半導体集積回路の試験コストを削減でき、チップコストを削減できる。 - 特許庁

To provide a testing device for object detecting means capable of improving the testing accuracy, while restraining the testing cost of the object detecting means, and to provide a testing method.例文帳に追加

物体検出手段の試験コストを低く抑えつつ、試験精度を向上させることが可能な物体検出手段の試験装置、及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To shorten a testing time for a semiconductor device by means of a tester and to lower a testing cost for the semiconductor device.例文帳に追加

テスタによる半導体デバイスのテスト時間を短縮し、半導体デバイスのテスト費用を削減する。 - 特許庁

Hereby, manufacturing cost of the temperature testing device 11 can be suppressed remarkably.例文帳に追加

温度試験装置１１の製造コストは著しく抑制される。 - 特許庁

To provide a semiconductor inspection system that realizes reduced testing cost.例文帳に追加

テストコストの削減を実現する半導体検査システムを提供する。 - 特許庁

To easily prepare a testing scenario at low cost, and to execute a test.例文帳に追加

安価で容易に試験用シナリオを作成して試験を実施する。 - 特許庁

To provide a small-sized and simple joining strength testing device at low cost.例文帳に追加

小型で簡便な接合強度試験装置を低コストで提供する。 - 特許庁

To reduce cost and period in a test device for testing an integrated circuit.例文帳に追加

集積回路をテストするテスト装置において、費用、期間を削減する。 - 特許庁

To provide testing circuit for electronic apparatuses, capable of reducing testing time and cost, without relying on a PLL circuit.例文帳に追加

ＰＬＬ回路によらずにテスト時間と費用を削減することができる電子機器テスト回路を提供する。 - 特許庁

To reduce cost by effectively use of a base material and shortening testing time.例文帳に追加

基材の有効活用とテスト時間の短縮を図ってコストを低減する。 - 特許庁

To realize a polarization scrambling device for testing EDFA at a low cost.例文帳に追加

ＥＤＦＡをテストするための偏光スクランブル装置を低コストで実現する。 - 特許庁

To provide a testing device capable of testing the device to be tested such as a semiconductor memory with low cost and at high speed.例文帳に追加

低コスト、且つ高速度で半導体メモリ等の被試験デバイスを試験することができる試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an IC testing device capable of preventing a test cost from increasing in accompaniment to enhancement of performance in a testing object.例文帳に追加

試験対象の性能向上にともなう試験コストの増大を防ぐことが可能なＩＣ試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a pressurization excitation testing machine capable of suppressing a running cost of the pressurization excitation testing machine in a pressurization excitation test extending in long hours.例文帳に追加

長時間に及ぶ加圧加振試験における加圧加振試験機のランニングコストを抑える加圧加振試験機を提供する。 - 特許庁

To reduce a testing cost and a testing time by using an inexpensive analog tester in a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路装置において、廉価なアナログテスタを用いて検査コストを低減し且つ検査時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus capable of reducing the footprint of the semiconductor testing apparatus inside a semiconductor clean area, and thereby, reducing installation cost and device testing cost and time that accompany installation.例文帳に追加

半導体クリーンエリア内の半導体試験装置の占有面積を低減して、設置コストやそれに伴うデバイスのテストコスト及びテスト時間を低減することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device which can reduce a testing cost.例文帳に追加

テストコストの低減化を図ることが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To reduce cost by simplifying the configuration of a device for testing a heat retaining property of a futon.例文帳に追加

布団用保温性試験装置の構成を単純化し、コストを低減する。 - 特許庁

To provide a tester of object detecting means and a testing vehicle for reducing a cost for testing the object detecting means, and improving the testing precision.例文帳に追加

物体検出手段の試験コストを低く抑えつつ、試験精度を向上させることが可能な物体検出手段の試験装置、及び試験車両を提供する。 - 特許庁

To provide a communication system in which effective testing can be performed corresponding to its objects while time, cost, and man-hours for the testing can be drastically reduced.例文帳に追加

時間・経費、工数の大幅な削減を図り、目的に応じて有効な試験を実施可能な通信システムを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device which can reduce the testing cost, and a method of testing the semiconductor memory device.例文帳に追加

試験コストを低減することが可能な半導体記憶装置および半導体記憶装置の試験方法を提供することである。 - 特許庁

To shorten the testing time, and to reduce the testing cost and the manufacturing cost in a device having the transmitting-receiving function such as a physical layer device for an IEEE 1394 interface.例文帳に追加

ＩＥＥＥ１３９４インターフェースの物理層デバイスのように送受信機能を有するデバイスにおいて、テスト時間を短縮し、テストコスト及び製造費用の低減を図ること。 - 特許庁

To reduce a testing cost and a manufacturing cost, by reducing a testing time in a device having a transmission/reception function like the physical layer of an IEEE 13394 interface.例文帳に追加

ＩＥＥＥ１３９４インターフェースの物理層デバイスのように送受信機能を有するデバイスにおいて、テスト時間を短縮し、テストコスト及び製造費用の低減を図ること。 - 特許庁

To provide an electronic component testing device optimizing throughput and a cost.例文帳に追加

スループットとコストの最適化を図ることができる電子部品試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a system capable of testing usability with high reliability at a low cost in a short time.例文帳に追加

低コストで短期間に信頼性の高いユーザビリティテストを行えるシステムの提供。 - 特許庁

To achieve a high speed and high functionalization of an existing testing device at a low cost by means of an addition circuit.例文帳に追加

付加回路を用いて既存の試験装置を低コストで高速および高機能化する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of improving cost reduction and timing precision.例文帳に追加

コスト削減及びタイミング精度の向上が可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To reduce time of the performance test for a protective relay, and the cost of testing facilities.例文帳に追加

保護継電器の動作試験にかかる時間の短縮及び試験設備の経費節減。 - 特許庁

To realize a semiconductor integrated circuit, a probe card, and a testing method of the semiconductor integrated circuit that can make the testing of the semiconductor integrated circuit performed at a low cost.例文帳に追加

試験を低コスト化できる半導体集積回路、プローブカードおよび半導体集積回路の試験方法を実現する。 - 特許庁

To provide heat aging testing equipment capable of reducing the load of testing work and capable of regulating the concentration of oxygen in a heat aging test without bringing about a sharp increase in testing cost.例文帳に追加

試験作業の負担を軽減し、かつ試験コストの大幅な上昇を招くことなく、熱老化試験における酸素濃度を調節することが可能な熱老化試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a tire crack testing method which enables a reduction in facility cost while reproducing a crack that occurs in the market by testing indoors.例文帳に追加

市場で発生するクラックを室内試験で再現しながら、設備コストを低減することが可能なタイヤクラック試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a microcomputer with a built-in nonvolatile memory that can reduce testing cost, by omitting the process of testing a microcomputer part with a logic tester.例文帳に追加

ロジックテスターによるマイコン部の検査の工程を省略し検査コストを削減できるような不揮発性メモリ内蔵マイコンを提供する。 - 特許庁

To obtain a semiconductor device capable of attaining time reduction in the number of testing processes, and the resulting cost reduction.例文帳に追加

テスト工程の時間短縮とそれによるコストダウンを図ることができる半導体装置を得る。 - 特許庁

To provide a method for testing a secondary battery by which the secondary battery can be tested safely at low cost.例文帳に追加

安全かつ低コストで二次電池を検査できる二次電池の検査方法を提供すること。 - 特許庁

To measure humidity distribution in a testing chamber S at low cost and high precision.例文帳に追加

試験室Ｓ内における湿度分布の測定をする際に、低コストで、且つ、精度良く測定する。 - 特許庁

To easily perform testing and suppress an increase in cost and an increase in a chip area.例文帳に追加

容易にテストを実行することができ、コストの増大及びチップ面積の増加を抑制すること。 - 特許庁

To provide a waterproof test device capable of testing the waterproof performance of a waterproof case at low cost.例文帳に追加

防水ケースの防水性能試験を低コストで行える防水試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an improved testing device (ATE) capable of restraining, in particular, the test cost ratio in total cost of an integrated circuit(IC) from increasing.例文帳に追加

特に集積回路（ＩＣ）の全体コストにおける試験コスト比の増大を抑制する改良された試験装置（ＡＴＥ）を提供する。 - 特許庁

To provide an evaluation method suitable for exhaustively testing a large number of testing substances in high cost-performance to find out a substance having an effect to impart a living body with moistness among the testing substances.例文帳に追加

被検査物質の中から生体に潤いを与える効果を有する物質を見出すため、コストパフォーマンスに優れ、また、多くの被検査物質を網羅的に試験するのに適した評価方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of testing an A-D conversion circuit for testing a high-resolution (multi-bit) A-D conversion circuit in a short time and at low cost, and the A-D conversion circuit suitable for implementing the testing method.例文帳に追加

高分解能（多ビット）Ａ／Ｄ変換回路の試験を短時間且つ低コストで実現するＡ／Ｄ変換回路の試験方法、及びその試験方法の実施に適したＡ／Ｄ変換回路の提供。 - 特許庁

To provide a testing method of the end part of a plate glass capable of easily testing at low cost the end part of a plate glass housed in a plate glass holder.例文帳に追加

板ガラス保持体に収容された板ガラスの端部を安価且つ容易に検査することができる板ガラスの端部の検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device of a semiconductor integrated circuit and its testing method capable of reducing a cost of a delay test between different clock domains.例文帳に追加

異なるクロックドメイン間のディレイテストのコストを低減することができる半導体集積回路の試験装置及びその試験方法を提供することである。 - 特許庁

To enhance testing reliability and accuracy by simplifying mechanism, miniaturizing size, and reducing cost and at the same time, making testing conditions uniform for each cassette.例文帳に追加

機構の単純化，小型コンパクト化及びコストダウンを図るとともに、カセット毎の試験条件の均一化により、試験の信頼性及び精度を高める。 - 特許庁

To effectively treat FPI wastewater (penetrant testing wastewater discharged from liquid penetrant testing process) while restraining running cost and a site area from increasing.例文帳に追加

ＦＰＩ廃水（浸透探傷検査工程から排出される浸透検査廃水）の処理を、ランニングコスト及び敷地面積を抑えつつ効果的に行う。 - 特許庁