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testing frequencyとは 意味・読み方・使い方

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意味・対訳 試験ひん度

JST科学技術用語日英対訳辞書での「testing frequency」の意味

testing frequency

試験ひん

「testing frequency」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 169



例文

HIGH FREQUENCY DELAY CIRCUIT, AND TESTING APPARATUS例文帳に追加

高周波遅延回路、及び試験装置 - 特許庁

LOW FREQUENCY SOUND GENERATOR FOR FITTING TESTING例文帳に追加

建具試験用低周波音発生装置 - 特許庁

Now, look, I can cut down the frequency of testing, but it's got to be a part of the overall...例文帳に追加

試験頻度は減らせるが... - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING MULTIPLE-FREQUENCY ENCODER例文帳に追加

多周波符号器の試験システムおよび試験方法 - 特許庁

INTERFACE DEVICE AND METHOD FOR TESTING FREQUENCY FLUCTUATION例文帳に追加

インタフェース装置及び周波数変動試験方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING HIGH FREQUENCY MODULE例文帳に追加

高周波用モジュールのテスト装置及びテスト方法 - 特許庁

例文

TESTING APPARATUS FOR HIGH-FREQUENCY CHARACTERISTIC OF CHIP-TYPE ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加

チップ型電子部品の高周波特性試験装置 - 特許庁

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「testing frequency」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 169



例文

FILTER FREQUENCY CHARACTERISTIC DETECTING APPARATUS AND FILTER FREQUENCY CHARACTERISTIC TESTING APPARATUS例文帳に追加

フィルタ周波数特性検出装置及びフィルタ周波数特性テスト装置 - 特許庁

HIGH-FREQUENCY SIGNAL OUTPUT TESTING METHOD AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

高周波信号出力試験方法および半導体装置 - 特許庁

To reduce testing time for testing a semiconductor integrated circuit using an actual operation frequency.例文帳に追加

実動作周波数を用いて半導体集積回路をテストする際のテスト時間を短縮すること。 - 特許庁

To solve the problem, wherein calculation and the setting of a testing device are inconvenient, when testing a frequency converter device.例文帳に追加

周波数変換器装置の試験において、計算や試験装置の設定が不便である。 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING RADIO FREQUENCY INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

無線周波数集積回路を試験するためのシステムおよび方法 - 特許庁

CONNECTION STRUCTURE OF HIGH-FREQUENCY DEVICE, HIGH- FREQUENCY MODULE USING THE SAME, AND TESTING METHOD OF HIGH-FREQUENCY DEVICE USING THE HIGH-FREQUENCY MODULE例文帳に追加

高周波デバイスの接続構造およびこれを用いた高周波モジュール並びにこの高周波モジュールを用いた高周波デバイスの検査方法 - 特許庁

To provide an integrated circuit capable of testing a first frequency dividing circuit and a second frequency dividing circuit respectively without adding newly a testing terminal.例文帳に追加

新たなテスト用端子を付加することなく第1の分周回路と第2の分周回路のそれぞれをテストできる集積回路を提供する。 - 特許庁

例文

To obtain a semiconductor testing apparatus by which a semiconductor testing operation can be performed at a frequency exceeding a maximum frequency for hardware.例文帳に追加

本発明は半導体テスト装置に関し、ハードウェアにとっての最大周波数を超える周波数で半導体テストを行うことを目的とする。 - 特許庁

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