testing groupとは 意味・読み方・使い方

This semiconductor integrated circuit 1 has a memory function block 11 having a variable memory capacity, a functional block 12 and a terminal group 14 for testing.例文帳に追加

半導体集積回路１は、メモリ容量が可変のメモリ機能ブロック１１、機能ブロック１２、およびテスト用の端子群１４を備える。 - 特許庁

A load testing device 202 is configured of: a pseudo agent group 208 composed of one pseudo agent 203 or a plurality of pseudo agents; and a control function part 207.例文帳に追加

負荷試験装置２０２は、１つの疑似エージェント２０３または複数の疑似エージェントから成る疑似エージェント群２０８、制御機能部２０７で構成する。 - 特許庁

To provide a test program creation device creating a test program for testing a program receiving a structure group having a hierarchical structure and operating, for example.例文帳に追加

例えば、階層構造を持つ構造体群を受け取って動作するプログラムをテストするためのテストプログラムを作成するテストプログラム作成装置を提供する。 - 特許庁

To provide a control operation testing device for group-controlled elevators, allowing self-generated control operation test without causing troubles in normally operating other elevators.例文帳に追加

他のエレベータの通常運転に支障を来たすことなく自家発電管制運転の試験を行える群管理エレベータの管制運転試験装置の提供。 - 特許庁

Also, by passing wiring from the metal bump 43 to an external electrical testing device between elastic layers, correspondence to a group of pads arranged on a plane can be attained.例文帳に追加

また、金属バンプから外部の電気的試験装置までの配線を弾性層の間を通すことにより、平面配列したパッド群に対応することができる。 - 特許庁

This sequence monitor for semiconductor testing device indicates on a screen a pin group of a plurality of pins as one sequence waveform, as well as variation in each transition position of the pin group obtained through simulation in the same sequence condition, on the screen so that the transition deviation of the pin group is indicated clearly.例文帳に追加

複数ピンのピングループを１つのシーケンス波形として画面上に表示し、且つシミュレーションで得られたピングループの同一シーケンス条件における各遷移位置のばらつきに対して、ピングループの遷移偏差が明示可能に画面表示する、半導体試験装置のシーケンスモニタ。 - 特許庁

A method for testing a semiconductor device comprises steps of contacting a probe needle 2 with the pad, wafer testing of an IC, and constituting the needle 2 of a tungsten alloy in which one or more metals selected from a group containing Y, La and Ce is added unit 0.1 to 1.0 wt.%.例文帳に追加

プローブ針２をパッドに接触させてＩＣのウエハテストを行なうに際し、プローブ針２をＹ，Ｌａ，Ｃｅを含むグループから選ばれた１つまたは２つ以上の金属を０.１〜１.０重量％添加したタングステン合金で構成する。 - 特許庁

Furthermore, the design supporting device 10 is provided with: a testing part 38 which determines whether or not the reference data can execute the processing group in a batch based on a test item preliminarily set according to the design procedure; and an output part which outputs the test result of the testing means as a test result report 44.例文帳に追加

さらに、予め設計手順に応じて設定された検査項目に基づいて、基準データが処理群の一括実行が可能かを判断する検査部３８と、検査手段による検査結果を検査結果レポート４４として出力する出力部と、を有する。 - 特許庁