integration testingとは 意味・読み方・使い方

To perform an efficient burn-in testing in a semiconductor integration circuit loaded with a hard macro, having a BIST circuit and to enhance the trouble detection ratio of the BIST circuit.例文帳に追加

ＢＩＳＴ回路を有するハードマクロを搭載する半導体集積回路において、効率的なバーンインテストを行うことを目的とする。 - 特許庁

As a result of integration of the bonding pad with the testing pad, for example, the introduction of propagation delay to passing test signals can be avoided, thereby improving the accuracy and reliability of wafer testing results.例文帳に追加

ボンディング・パッドおよび試験パッドを一体構築することにより、たとえば通過する試験信号に対する伝搬遅延の導入が回避され、それによりウェハ試験結果の精度および信頼性が改善される。 - 特許庁

To provide a control device for material testing machine capable of inserting an integration control element to a feedback loop system to eliminate a steady deviation without causing an abnormal operation.例文帳に追加

異常動作を起こすことなく、フィードバックループ系に積分制御要素を挿入して定常偏差をなくすことができる材料試験機用制御装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing optical element array by which the light output characteristic of each element of an optical element array can be measured with accuracy without ignoring thermal effect even when the array has a high degree of integration.例文帳に追加

集積度の高いアレイであっても、熱的影響を無視することなく各エレメントの光出力特性を精度よく測定できる光素子アレイの試験方法を提供する。 - 特許庁

Data verification, artificial intelligence pattern matching of extremely high predictability, network data integration and a negative file check are used for testing an extremely large number of factors for calculating the unfair transaction risk.例文帳に追加

データ検証、極めて予測性の高い人工知能パターンマッチング、ネットワークデータ総合及びネガティブファイルチェックが、不正取引リスクを計算するための極めて多数の要因を試験するために用いられる。 - 特許庁

A sensor 16, a sensor driving means 19, and a controlling means 35 for controlling the sensor driving means 19 are included in a housing unit 31 so that integration and downsizing of the urine testing device can be achieved.例文帳に追加

センサ１６とセンサ駆動手段１９と、このセンサ駆動手段１９を制御する制御手段３５を収納ユニット３１に備えることにより、尿検査装置の一元化とともに小形化を図ることができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and a method of testing the same, wherein a test mode entry can easily and securely be performed without making circuits in the semiconductor device large in scale nor lowering the degree of integration without reference to whether the semiconductor device is a synchronous type or an asynchronous type.例文帳に追加

本発明は、半導体装置及びその試験方法に関し、半導体装置が同期型であるか非同期型であるかに関わらず、半導体装置内の回路を大規模化及び集積度の低下を招くことなく、簡単、且つ、確実にテストモードエントリを行うことを可能とすることを目的とする。 - 特許庁

Examples of their abolition include standardization of product technology and mutual recognition of the results of product testing, expansion of sectors subject to government procurement, mutual recognition of vocational qualifications, introduction of a single licensing system in the financial services industry, relaxation of regulations on entry into the transport industry, abolition of regulations concerning short-term capital movement, harmonization of the content of corporate laws in each country, and the integration of trademarks, patents, and copyrights.例文帳に追加

その撤廃の例としては、製品技術の統一化と製品の試験結果の相互承認、政府調達対象分野の拡張、職業資格の相互承認、金融サービス業における単一免許制度の導入、運輸業への参入規制の緩和、短期資本移動に関する規制の撤廃、各国の会社法の内容の調和、商標・特許・著作権等の統合等が挙げられる。 - 経済産業省