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integration testとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 統合試験; 統合テスト
「integration test」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 39件
To totally evaluate the quality of large scale integration(LSI) test data.例文帳に追加
LSIテストデータの品質を統括的に評価する。 - 特許庁
By a test mode designation signal (Norm/Test Mode), a semiconductor integration circuit (IC_Chip) is set to the test mode.例文帳に追加
テストモード指定信号Norm/Test Modeにより半導体集積回路IC_Chipは、テストモードに設定される。 - 特許庁
To select a test case so as to efficiently perform a test in continuous integration.例文帳に追加
継続的インテグレーションにおけるテストを効率的に実施することができるようにテストケースの選択を行うこと。 - 特許庁
The permission of a test sample 80 for an analysis is based on the specific difference between the reference pressure integration and each test sample pressure integration.例文帳に追加
試験試料80が分析に対し許容できるのは、基準圧力積分PIrefと各試験試料圧力積分PItestとの所定の差に基づく。 - 特許庁
To easily generate a test pattern by suppressing reduction of integration degree in a test circuit for a dual port memory.例文帳に追加
デュアルポートメモリのテスト回路において、集積度の低下を抑え、テストパターンの生成を容易にすることを目的とする。 - 特許庁
To provide a test head of a test socket, which can cope with high integration and increase of pins (multi-terminal) of ICs by shortening the arrangement pitches of wires constituting conductors of a test socket.例文帳に追加
テストソケットの導電子を成すワイヤの配置ピッチを小さくしてICの高集積化及び多ピン化(多端子化)に対応できるようにする。 - 特許庁
Whether its test plan is suited to the nature of the system development necessitated by the system integration.発音を聞く 例文帳に追加
また、テスト計画はシステム統合に伴う開発内容に適合したものとなっているか。 - 金融庁
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Weblio例文辞書での「integration test」に類似した例文 |
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integration test
examination for entrance into a certain class
an examination for service
a test
the test-match
the critical test
「integration test」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 39件
AWT employs a thorough design flow from system architecture to system integration and test.発音を聞く 例文帳に追加
AWTは、システムアーキテクチャからシステムインテグレーションと試験まで、一貫した設計フローを採用している。 - Electronic Frontier Foundation『DESのクラック:暗号研究と盗聴政策、チップ設計の秘密』
The method further includes the reception of the vendor provision test module, the read-out of the module integration information from the vendor provision test module in accordance with the component category, and the integration of the vendor provision test module into the modular test system, based on the module integration information, using the C&D framework.例文帳に追加
この方法は、ベンダ提供試験モジュールを受け取ること、コンポーネントカテゴリに従ってベンダ提供試験モジュールからモジュール統合情報を取り出すこと、及びC&Dフレームワークを使用してモジュール統合情報に基づきベンダ提供試験モジュールをモジュール式試験システムに統合することをさらに含む。 - 特許庁
To provide a test pattern preparation device for reducing test patterns for an LSI (Large-Scale Integration) tester without lowering the rate of failure detection.例文帳に追加
故障検出率を低下させずに、LSIテスタ用テストパターンを削減することが可能なテストパターン作成装置を提供すること。 - 特許庁
The system acquires two or more synthetic light emission integration images while changing an end test pattern address, and carries out comparison of synthetic light emission integration images on good and defective semiconductor devices in an ascending order of the end test pattern addresses, i.e., in ascending order of the end test pattern addresses close to the starting test pattern address.例文帳に追加
終了テストパターンアドレスを変化させながら複数の合成発光積分画像を取得し、終了テストパターンアドレスが小さい順、すなわち開始テストパターンアドレスに近い終了テストパターンアドレスから順に良品および不良品半導体装置の合成発光積分画像の比較を行う。 - 特許庁
To provide a fuel cell heat simulator capable of reducing test cost by executing an initial system integration test of a required element instead of a solid-state oxide fuel cell.例文帳に追加
固態酸化物燃料電池の代わりに、必要とする素子の初期システム統合テストを行い、テストコストを低下する燃料電池熱シミュレータを提供する。 - 特許庁
The integration of pressure is determined for suction without including a clot and is used as a reference for comparing with the integration of pressure of each test sample suction to determine whether clotted blood may not interfere with the suction of a test sample or not.例文帳に追加
圧力積分を、クロットを含まない吸引に対し決定し、各試験試料吸引の圧力積分と比較するため基準として使用し、血餅が試験試料吸引の妨げにならないかどうかを決定する。 - 特許庁
To reduce a wafer test time by increasing integration density by utilizing scribe lines which do not affect the chip size and conducting a wafer test efficiently with few number of pins.例文帳に追加
チップサイズに影響しないスクライブ線を利用して集積率を向上させ、少ないピン数で効率よくウエハー試験を行いウエハーの試験時間を短縮する。 - 特許庁
To enable input inspection of a test signal of high frequency in a wafer test by a high-frequency receiving device 21 which is used to receive a high-frequency signal and having circuit integration.例文帳に追加
集積回路化され、高周波信号の受信に用いられる高周波受信装置21において、ウェハテストでの高周波のテスト信号の入力検査を可能にする。 - 特許庁
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