小窓モード


プレミアム

ログイン
設定

設定

Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > JMdict > 統合試験の英語・英訳 

統合試験の英語

ピン留め

追加できません

(登録数上限)

単語を追加

英訳・英語 integration test


JMdictでの「統合試験」の英訳

統合試験


「統合試験」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 23



例文

半導体統合試験方法、および半導体試験装置例文帳に追加

METHOD OF INTEGRATED TEST OF SEMICONDUCTOR AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE - 特許庁

統合デバッグ回路を利用する集積回路の試験方法例文帳に追加

METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT USING INTEGRATED DEBUGGING CIRCUIT - 特許庁

ベンダ提供試験モジュールをモジュール式試験システムに統合する方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method of integrating a vendor provision test module into a modular test system. - 特許庁

統合試験装置は、AC試験機16とDC試験機17が設けられ、中間電極板20を挟んで、DUT載置台22とAC試験回路部24が上下方向に昇降可能に配置される。例文帳に追加

An integrated testing apparatus includes an AC testing machine 16 and a DC testing machine 17, and a DUT pedestal 22 and an AC test circuit section 24 are disposed with an intermediate electrode plate 20 between them so as to be vertically lifted/lowered. - 特許庁

プロセス制御/安全システムに統合化されるオンラインデバイス試験ブロック例文帳に追加

ONLINE DEVICE TESTING BLOCK INTEGRATED INTO PROCESS CONTROL/SAFETY SYSTEM - 特許庁

本発明は、混合信号処理回路をテストインターフェースに統合する試験機を提供する。例文帳に追加

To provide a testing device which integrates a mixed signal processing circuit with a test interface. - 特許庁

例文

プログラマブル統合システムマージン試験を可能にするシステムおよび構成体例文帳に追加

SYSTEM AND CONFIGURATION ENABLING PROGRAMMABLE INTEGRATIVE SYSTEM MARGIN TEST - 特許庁

>>例文の一覧を見る


調べた例文を記録して、 効率よく覚えましょう
Weblio会員登録無料で登録できます!
  • 履歴機能
    履歴機能
    過去に調べた
    単語を確認!
  • 語彙力診断
    語彙力診断
    診断回数が
    増える!
  • マイ単語帳
    マイ単語帳
    便利な
    学習機能付き!
  • マイ例文帳
    マイ例文帳
    文章で
    単語を理解!
  • その他にも便利な機能が満載!
Weblio会員登録(無料)はこちらから

JST科学技術用語日英対訳辞書での「統合試験」の英訳

統合試験


日英・英日専門用語辞書での「統合試験」の英訳

統合試験

「統合試験」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 23



例文

この方法は、ベンダ提供試験モジュールを受け取ること、コンポーネントカテゴリに従ってベンダ提供試験モジュールからモジュール統合情報を取り出すこと、及びC&Dフレームワークを使用してモジュール統合情報に基づきベンダ提供試験モジュールをモジュール式試験システムに統合することをさらに含む。例文帳に追加

The method further includes the reception of the vendor provision test module, the read-out of the module integration information from the vendor provision test module in accordance with the component category, and the integration of the vendor provision test module into the modular test system, based on the module integration information, using the C&D framework. - 特許庁

混合信号処理回路をテストインターフェースに統合し、特に混合信号処理回路をプローブカードまたは被試験素子カードのテストインターフェースに統合し、かつ混合信号処理回路と試験機のピン電気チャンネルを統合し、混合信号処理回路の動作プロセスを試験機のシステムソフトウェアに統合する。例文帳に追加

The mixed signal processing circuit is integrated with the test interface, especially the mixed signal processing circuit is integrated with the test interface of a probe card or a device under test, moreover the mixed signal processing circuit is integrated with the pin electric channel of the testing device, and the motion process of the mixed signal process circuit is integrated with the system software of the test device. - 特許庁

また、バーンイン試験の状態をモニタすることでバーンイン試験時のウェハ24上にある各半導体集積回路の良否のデータとプローブ検査時の良否のデータとを統合管理することが可能となる。例文帳に追加

The burn-in test condition may be monitored to integrally manage data of nondefective-defective semiconductor integrated circuits on the wafer 24 in the burn-in test and those in the probe inspection. - 特許庁

標識物質と安全標識およびこれらを紙料ウエブに統合するための方法ならびに試験方法例文帳に追加

MARKING SUBSTANCES AND SECURITY MARKINGS, METHOD FOR INTEGRATING THESE INTO PAPER WEB AND METHOD FOR TESTING THE SAME - 特許庁

一つの実施形態において、プローブ洗浄は、統合された臨床化学/免疫測定試験装置102、104上において実施されることができる。例文帳に追加

In one embodiment, the probe wash can be implemented on an integrated clinical chemistry/immunoassay tester 102 and 104. - 特許庁

半導体製造工程の後工程においてのプローブ試験および選別工程を統合した装置を提供する。例文帳に追加

To provide a device configured such that probe testing and selecting processes as processes after semiconductor manufacturing processes are integrated. - 特許庁

標識物質と安全標識、およびこれらを文書、有価証券、銀行券、包装および商品の紙料ウエブに統合するための方法、ならびにこうして統合された導電性標識物質および安全標識を試験するための方法を提供する。例文帳に追加

To provide a marking materials and security markings, a method for integrating these into a paper web of documents, bond paper, banknotes, packaging and goods, and a method for testing the electroconductive marking substances and security markings integrated in this way. - 特許庁

例文

TG側においてエッジストローブ信号とマルチウィンドウストローブ信号とを1本に統合して供給することでTGとDC間におけるストローブ信号の本数を低減可能とする半導体試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor test device capable of reducing the number of strobe signals between a TG (Timing Generator) and a DC(Digital Comparator) by integrating and supplying an edge strobe signal and a multiwindow strobe signal of the TG. - 特許庁

>>例文の一覧を見る


統合試験のページの著作権
英和・和英辞典 情報提供元は 参加元一覧 にて確認できます。

   
EDRDGEDRDG
This page uses the JMdict dictionary files. These files are the property of the Electronic Dictionary Research and Development Group, and are used in conformance with the Group's licence.
日外アソシエーツ株式会社日外アソシエーツ株式会社
Copyright (C) 1994- Nichigai Associates, Inc., All rights reserved.
独立行政法人科学技術振興機構独立行政法人科学技術振興機構
All Rights Reserved, Copyright © Japan Science and Technology Agency
日中韓辭典研究所日中韓辭典研究所
Copyright © 2024 CJKI. All Rights Reserved

ピン留めアイコンをクリックすると単語とその意味を画面の右側に残しておくことができます。

こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する

このモジュールを今後表示しない
みんなの検索ランキング
閲覧履歴
無料会員登録をすると、
単語の閲覧履歴を
確認できます。
無料会員に登録する
英→日 日→英
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する

©2024 GRAS Group, Inc.RSS