trace element distributionとは 意味・読み方・使い方

To analyze an element distribution in the depth direction by SIMS using oxygen ions as primary incident ions with high resolution in the depth direction in a short measuring time, in the state of no oxygen atmosphere, relative to a trace element in a Si substrate.例文帳に追加

Ｓｉ基板中の微量元素を、酸素雰囲気ではない状態で、深さ方向の分解能を高くかつ短い測定時間で、酸素イオンを一次入射イオンとするＳＩＭＳにより深さ方向の元素分布の分析を行う。 - 特許庁

To acquire information about only a desired area, without taking information in the periphery of an analytical area in, and to obtain a precise depth-directional distribution of a trace element, when carrying out a secondary ion mass spectrometry, as to a depth-directional element concentration analytical method.例文帳に追加

深さ方向の元素濃度分析方法に関し、二次イオン質量分析法を実施するに際し、分析領域周辺の情報を取り込むことなく，所望の領域のみの情報を得られるようにして、微量元素の精確な深さ方向分布を知得する。 - 特許庁

In addition, the device is also equipped with a dyed image acquisition means 51 for acquiring a dyed image of the living tissue, and an image compositing means 41 for compositing the dyed image of the living tissue acquired by the dyed image acquisition means 51, with a trace element distribution image acquired by the X-ray microanalyzer.例文帳に追加

さらに、生体組織の染色画像を取得する染色画像取得手段51と、染色画像取得手段51で得られた生体組織の染色画像とＸ線マイクロアナライザーで得られた微量元素分布画像とを合成する画像合成手段41とを備えた。 - 特許庁

To provide a secondary ion mass spectrometry capable of specifying the position of a compound film/substrate interface by measuring the concentration and the distribution of a trace element highly sensitively and highly quantitatively, and specifying the position of a compound film/substrate interface, concerning material having information of an elemental composition of the polar surface of a sample and an interface such as the compound film/substrate or the like.例文帳に追加

本発明は、試料の極表面の元素組成の情報や化合物膜／基板のような界面を有する材料において、微量元素の濃度および分布を高感度でかつ高定量的に測定し、化合物膜／基板界面の位置を特定することが可能である二次イオン質量分析(SIMS)法を提供する。 - 特許庁