「"basic test"」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

The test data generation device previously stores basic test data wherein information related to a date is configured by a date function, substitutes information showing a test day inputted by an operator for the date function of the stored basic test data to generate the test data, and outputs the generated test data.例文帳に追加

テストデータ生成装置は、日付に関する情報が日付関数により構成されているベーシックテストデータを予め記憶し、前記記憶している前記ベーシックテストデータの日付関数に、操作者により入力されるテスト日を示す情報を代入し、テストデータを生成し、前記生成した前記テストデータを出力する。 - 特許庁

The basic test speed is 500 MHz, but this speed can be increased to up to 1 GHz in Double Data Rate Mode (DDR Mode), for at-speed testing of today's faster memory devices. 例文帳に追加

基本的な試験速度は500MHzであるが, 今日のより速い記憶デバイスの速度指向試験用には, DDR(倍速)モードでこの速度を1GHzまで増大させることができる. - コンピューター用語辞典

First and second test clock signals TST-CLK1, TST-CLK2 are generated from a common basic test clock signal TST-CLKM using a delay line 10 which a delay time is variable and a delay stage 12 of which a delay time is fixed.例文帳に追加

遅延時間が変更可能な遅延線（１０）と遅延時間が固定された遅延段（１２）とを用いて共通の基本テストクロック信号（ＴＳＴ＿ＣＬＫＭ）から第１および第２のテストクロック信号（ＴＳＴ＿ＣＬＫ１，ＴＳＴ＿ＣＬＫ２）を生成する。 - 特許庁

The determination result is not the basic test/ diagnostic program, a new test/diagnostic program matching a change, addition, or the like of the system specifications is loaded from an external device 20 to be stored in an internal memory inside the control part 15.例文帳に追加

判別した結果が、基本試験・診断プログラムでない場合は、外部装置２０からシステムの仕様変更、追加等に対応した新規試験・診断プログラムをロードし、制御部１５内の内部メモリに記憶する。 - 特許庁

A program 80 for being tested is automatically tested by a test device 10 based on a test case correct solution 4 created by a high-order design tool 1, an operation procedure 5 for the test case correct solution, and a basic test operation procedure stored in a storage device 100.例文帳に追加

上位設計ツール１で作成されたテストケース正解例４及びテストケース正解例準拠操作手順５と、記憶装置１００に記憶された基本テスト操作手順とに基づいて、テスト装置１０で被テストプログラム８０のテストを自動実行する。 - 特許庁