「電子顕微鏡試料」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

電子顕微鏡の自動試料傾斜装置例文帳に追加

AUTOMATIC SAMPLE INCLINATION DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査電子顕微鏡及びそれを用いた試料観察方法例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND TESTPIECE OBSERVATION METHOD USING IT - 特許庁

電子顕微鏡を用いた試料の寸法の測定方法例文帳に追加

MEASUREMENT METHOD OF SAMPLE SIZE USING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

バイオ電子顕微鏡及び試料の観察方法例文帳に追加

BIOLOGICAL ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD OF SAMPLE OBSERVATION - 特許庁

電子顕微鏡観察用試料及びその作製方法例文帳に追加

SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION, AND ITS MANUFACTURING METHOD - 特許庁

走査電子顕微鏡及び試料作成方法例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE PREPARATION METHOD - 特許庁

電子顕微鏡、及び試料管理方法例文帳に追加

ELECTRON MICROSCOPE, AND SAMPLE MANAGEMENT METHOD - 特許庁

電子顕微鏡を用いた試料の観察方法例文帳に追加

SAMPLE OBSERVATION METHOD USING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

電子顕微鏡用試料の作製方法例文帳に追加

MANUFACTURE OF SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

電子顕微鏡試料室の真空度表示装置例文帳に追加

VACUUM DISPLAY DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE SAMPLE CELL - 特許庁

試料寸法測定方法及び走査型電子顕微鏡例文帳に追加

MEASURING TECHNIQUE OF SAMPLE DIMENSION AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

試料の検査，測定方法、及び走査電子顕微鏡例文帳に追加

METHOD OF INSPECTING AND MEASURING SAMPLE AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

電子顕微鏡の試料支持装置およびその方法例文帳に追加

SAMPLE SUPPORT DEVICE AND METHOD FOR ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

電子顕微鏡による試料観察方法例文帳に追加

SAMPLE OBSERVATION METHOD BY ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

電子顕微鏡用試料のサンプリング装置例文帳に追加

TEST PIECE SAMPLING DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査型電子顕微鏡及び試料観察方法例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE OBSERVATION METHOD - 特許庁

透過電子顕微鏡用試料の切り込み加工法例文帳に追加

CUTTING MACHINING METHOD OF SAMPLE FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

電子顕微鏡及びこれを用いた試料の解析方法例文帳に追加

ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE ANALYZING METHOD USING IT - 特許庁

透過電子顕微鏡用試料の作製方法例文帳に追加

FABRICATION OF SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査電子顕微鏡用９０°変換試料台例文帳に追加

90°-CONVERSIBLE SAMPLE TABLE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

電子顕微鏡観察用の試料片の製造方法例文帳に追加

MANUFACTURING METHOD OF TEST PIECE FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION - 特許庁

透過型電子顕微鏡、及び試料観察方法例文帳に追加

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND SAMPLE OBSERVATION METHOD - 特許庁

透過型電子顕微鏡用試料の作成方法例文帳に追加

METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR TRANSMISSION-TYPE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過電子顕微鏡用試料作成方法例文帳に追加

SAMPLE CREATION METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

電子顕微鏡における試料位置補正方式例文帳に追加

SAMPLE POSITION CORRECTION METHOD IN ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡用試料及びその作製方法例文帳に追加

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE SPECIMEN AND METHOD FOR PREPARING THE SAME - 特許庁

透過型電子顕微鏡装置および試料解析方法例文帳に追加

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE ANALYSIS METHOD - 特許庁

透過型電子顕微鏡用の試料製造方法例文帳に追加

METHOD FOR MANUFACTURING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過電子顕微鏡の試料移動方法。例文帳に追加

SAMPLE TRANSFER METHOD OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

樹脂試料の電子顕微鏡観察方法例文帳に追加

OBSERVATION METHOD UNDER ELECTRON MICROSCOPE OF RESIN SAMPLE - 特許庁

電子顕微鏡観察用試料支持部材例文帳に追加

ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION SAMPLE SUPPORTING MEMBER - 特許庁

試料観察方法および走査型電子顕微鏡例文帳に追加

SPECIMEN OBSERVING METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

電子顕微鏡観察用試料の作製方法例文帳に追加

METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION - 特許庁

透過型電子顕微鏡用試料の作製方法例文帳に追加

SAMPLE PREPARATION METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過電子顕微鏡における試料交換装置例文帳に追加

SAMPLE EXCHANGING DEVICE IN TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過電子顕微鏡用観察試料の作製方法例文帳に追加

METHOD OF PREPARING OBSERVATION SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

電子顕微鏡試料室用ベーキング機構例文帳に追加

BAKING MECHANISM FOR SAMPLE CHAMBER OF ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡用試料の調製方法例文帳に追加

METHOD OF PREPARING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡用試料作製方法例文帳に追加

SAMPLE PREPARING METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡の試料作製方法例文帳に追加

SAMPLE PREPARING METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡用試料の表面処理方法例文帳に追加

SURFACE TREATMENT METHOD FOR TEST SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

試料交換装置を備えた走査型電子顕微鏡例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE PROVIDED WITH SAMPLE- CHANGING DEVICE - 特許庁

電子顕微鏡応用装置および試料検査方法例文帳に追加

ELECTRON MICROSCOPE APPLICATION DEVICE, AND TESTPIECE INSPECTION METHOD - 特許庁

試料像観察方法とそれに用いる電子顕微鏡例文帳に追加

SPECIMEN OBSERVATION METHOD AND ELECTRON MICROSCOPE FOR USE IN THE SAME - 特許庁

透過電子顕微鏡試料位置検出方法及び装置例文帳に追加

SAMPLE POSITION DETECTING METHOD AND DEVICE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁