「電子顕微鏡試料」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

走査電子顕微鏡における一般的な対物レンズを用いて試料の走査透過電子像を取得する際に、像取得時での分解能を向上させることのできる試料ホルダ及び電子顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a sample holder and an electron microscope, capable of improving resolution in acquiring an image when an scanning transmission electron image of a sample is acquired by using a general objective lens of the scanning electron microscope. - 特許庁

簡単に正確に試料カートリッジを試料ホルダに取りつけることができる透過電子顕微鏡の試料交換装置を実現する。例文帳に追加

To provide a sample exchanging device of a transmission electron microscope capable of simply and precisely mounting a sample cartridge on a sample holder. - 特許庁

電子顕微鏡内において観察対象となる試料を多方向から観察することができる試料ホルダーおよび試料台を提供する。例文帳に追加

To provide a sample holder and a sample table that enable examination of the samples for examination, from many directions in the electron microscope. - 特許庁

水分を含有する試料の形態を損傷せずに試料を乾燥させることができる電子顕微鏡用試料作製装置を提供する。例文帳に追加

To provide a sample producing device for an electron microscope, capable of drying a sample without damaging the shape of the sample containing moisture. - 特許庁

マイクロカプセルを含む試料から、透過型電子顕微鏡による観察が可能な観察用試料を作製することにより、マイクロカプセル内の材料を透過型電子顕微鏡により解析する方法を確立すること。例文帳に追加

To establish a method for analyzing materials in a microcapsule by a transmission electron microscope by manufacturing a sample for observation capable of observation by a transmission electron microscope from a sample containing the microcapsule. - 特許庁

カプセルを含む試料から、電子顕微鏡による観察が可能な観察用試料を作製することにより、カプセル内の材料の分布状態を電子顕微鏡により解析する方法を確立する。例文帳に追加

To establish a method for analyzing a distribution condition of a material inside a capsule by means of an electron microscope by preparing an observation sample observable by the electron microscope from a sample containing the capsule. - 特許庁

試料の大傾斜時にユーセントリック位置を電子顕微鏡の視野中心に常に設定できる電子顕微鏡用試料ステージを供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a sample stage for an electron microscope, capable of setting an eucentric position around the visual field of the electron microscope at all times during a large inclination of a sample. - 特許庁

透過型電子顕微鏡で観察するための試料の作製方法に関し、元のサンプルの表面近くの変化が少ない透過型電子顕微鏡用の試料の作製方法を提供する。例文帳に追加

To provide a preparation method of a sample observed by a transmission electron microscope and reduced in the change in the vicinity of the surface of the original sample. - 特許庁

透過型電子顕微鏡による観察時における、半導体デバイスの低誘電率層間絶縁膜の収縮による試料の変形を抑制することが可能な透過型電子顕微鏡の試料作製方法を提供する。例文帳に追加

To provide a sample-manufacturing method of a transmission electron microscope, capable of suppressing the deformation of a sample caused by the shrinkage of the low dielectric constant interlaminar insulating film of a semiconductor device, at observation due to the transmission electron microscope. - 特許庁

本発明は電子顕微鏡用試料ホルダーに関し、可能な限り９０°に近い傾斜角度で視野を得ることができ、また操作性のよい電子顕微鏡用試料ホルダーを提供することを目的としている。例文帳に追加

To provide a specimen holder for an electron microscope, to which the present invention relates, and which permits a field of view to be obtained at a tilt angle that is made as close as possible to 90° and can be manipulated easily. - 特許庁

走査電子顕微鏡であって、該走査電子顕微鏡の試料室５とエアロックバルブ９を介して試料加工室１０が設けられており、該試料加工室１０内に配置された試料を傾斜・回転駆動させて加工した後、加工された試料を走査電子顕微鏡の試料室５に導入して観察するように構成する。例文帳に追加

This scanning electron microscope is equipped with a sample chamber 5 of the microscope and a sample processing chamber 10 via an airlock valve 9, and the sample disposed in the specimen processing chamber 10 is processed, then subjected to slanting and rotation drive, followed by the introduction of the processed sample into the sample chamber 5 of the microscope for observation. - 特許庁

本発明による走査電子顕微鏡は、低真空制御が可能な真空排気系１３と、エネルギー分散型Ｘ線検出器１４と、スライドを搭載できる試料ホルダ１５を有することで、偏光顕微鏡で観察するのに使用したスライドをそのまま電子顕微鏡に搭載することが可能となり、同一試料による観察および分析ができる走査電子顕微鏡の提供が可能となる。例文帳に追加

The scanning electron microscope includes; a vacuum evacuation system 13 capable of low vacuum control; an energy dispersion type X-ray detector 14; and a sample holder 15 on which a slide can be mounted, thereby the slide using for observation by a polarization microscope can be mounted on the electron microscope as it is, and the scanning electron microscope can be provided which can perform observation and analysis for the same sample. - 特許庁

電子分光器を有する透過型電子顕微鏡装置，試料ホルダ，試料台及びスペクトル像の取得方法例文帳に追加

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS HAVING ELECTRON SPECTROSCOPE, SAMPLE HOLDER, SAMPLE STAGE, AND METHOD FOR ACQUIRING SPECTRAL IMAGE - 特許庁

電子ビームを照射する走査電子顕微鏡を用いて試料を検査する試料検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a sample inspection device in which a sample is inspected by using a scanning electron microscope which irradiates electron beams. - 特許庁

解析装置は、反射型電子顕微鏡４及び透過型電子顕微鏡５の撮影した画像に基づいて、反射型電子顕微鏡４の撮影開始時刻から撮影終了時刻までの生体試料１１の変形及び運動を計算する。例文帳に追加

An analysis device calculates deformation and movement of the organic sample 11 from starting time to finishing time of photographing by the reflection electron microscope 4 based on images photographed by the reflection electron microscope 4 and the transmission electron microscope 5. - 特許庁

電子線バイプリズムを備えた電子顕微鏡において、該顕微鏡の電子銃１と試料１１を保持するホルダの間に電子線を遮蔽するマイクロプローブ１５を設ける。例文帳に追加

In an electron microscope provided with electron beam bi-prisms, a microprobe 15 to shield an electron beam is installed between an electron gun 1 of the microscope and a holder to hold the sample 11. - 特許庁

本発明によると、電子顕微鏡は、試料を傾斜させる試料ステージと、試料の電子顕微鏡像を撮影するカメラと、試料の電子顕微鏡像を表示するモニタと、試料の傾斜角に基づいてボケがない領域を計算する領域手段と、を有し、上記モニタに上記ボケがない領域を表示する。例文帳に追加

The electron microscope is equipped with a sample stage capable of slanting a sample, a camera photographing an electron microscope image of the sample, a monitor displaying an electron microscope image of the sample, and an area means calculating a sharp image area depending on the slanting angle of the sample, and the sharp image area is displayed on the monitor. - 特許庁

本発明によると、電子顕微鏡は、試料を傾斜させる試料ステージと、試料の電子顕微鏡像を撮影するカメラと、試料の電子顕微鏡像を表示するモニタと、試料の傾斜角に基づいてボケがない領域を計算する領域手段と、を有し、上記モニタに上記ボケがない領域を表示する。例文帳に追加

The electron microscope has: a specimen stage for making a specimen incline; a camera for taking an electron microscope image of the specimen; a monitor for displaying the electron microscope image of the specimen; and a domain means for calculating a domain in which the electron microscope image does not become blurred, wherein the monitor displays the domain in which the electron microscope image does not become blurred. - 特許庁

本発明は走査型電子顕微鏡に関し、１次ビーム電流が小さい場合や試料の２次電子放出効率が小さくてもコントラストの良い画像を得ることができる走査型電子顕微鏡を提供することを目的としている。例文帳に追加

To provide a scanning electron microscope capable of obtaining an image with a superior contrast even if a primary beam current is small and efficiency of a secondary electron emission is small. - 特許庁

試料に対して照射する電子ビームの強度や加速電圧を低く抑え、かつ高いＳ／Ｎの電子顕微鏡画像を得ることを可能とする電子顕微鏡制御装置を提供する。例文帳に追加

To provide an electron microscope control device capable of controlling the intensity and/or acceleration voltage of an electron beam applied to a sample to a low value and enabling acquisition of an electron microscope image having a high S/N ratio. - 特許庁

Hillierは、試料作製用の技法の開発にも携わり、(開発された)試料作製法は電子顕微鏡のより幅広い応用を可能にした。(IEEE)例文帳に追加

Hillier was also involved in developing techniques for specimen preparation, which allowed broader applications of the electron microscope.  - 科学技術論文動詞集

識別機能を備えたＴＥＭ試料及びＴＥＭ試料加工用集束イオンビーム装置並びに透過型電子顕微鏡例文帳に追加

TEM SAMPLE WITH IDENTIFICATION FUNCTION, TEM SAMPLE-PROCESSING FOCUSED ION BEAM DEVICE AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

集束イオンビーム加工装置の試料ステージと透過型電子顕微鏡平面観察用半導体薄片試料の作製方法例文帳に追加

SAMPLE STAGE FOR FOCUSED ION BEAM PROCESSING DEVICE, AND METHOD FOR MAKING TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE PLANE-OBSERVED SEMICONDUCTOR THIN SAMPLE - 特許庁

試料の角度調整を容易かつ正確に行うことができる走査電子顕微鏡用試料台およびその角度調整方法を提供する。例文帳に追加

To provide a sample stand for a scanning electron microscope and its angle adjusting method whereby the angle of a sample can be easily and accurately adjusted. - 特許庁

複合荷電粒子ビーム装置、それを用いた試料加工方法及び透過電子顕微鏡用試料作製方法例文帳に追加

COMPOSITE CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS, SAMPLE PROCESSING METHOD USING IT AND SAMPLE MANUFACTURING METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

電子顕微鏡の観察用試料作製用マスク並びにこのマスクを用いた観察用試料の作製方法および作製装置例文帳に追加

MASK FOR MANUFACTURING OBSERVATION SAMPLE OF ELECTRON MICROSCOPE, MANUFACTURING METHOD AND MANUFACTURING APPARATUS OF OBSERVATION SAMPLE USING MASK - 特許庁

より鮮明な試料の観察像を得ることができる電子顕微鏡を用いた試料の観察方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a sample observation method using an electron microscope capable of obtaining the sharper observation image of a sample. - 特許庁

透過電子顕微鏡の観察に適した試料を作製することができる試料加工装置を提供する。例文帳に追加

To provide a sample processing device capable of making a suitable sample for observation by a transmission electron microscope. - 特許庁

観察対象の試料にダメージを与えることなく、簡単な操作で、走査電子顕微鏡用の試料を作製する方法を提供することにある。例文帳に追加

To provide a method for preparing a sample for a scanning electron microscope by a simple operation without damaging the sample being an observation target. - 特許庁

磁場解析が可能な透過型電子顕微鏡用の試料ホルダであって、in-situで熱傾斜をかけることができる試料ホルダ。例文帳に追加

The sample holder for a transmission electron microscope capable of magnetic field analysis can apply a thermal slope in-situ. - 特許庁

荷電粒子ビーム装置における試料移設方法及び荷電粒子ビーム装置並びに透過電子顕微鏡用試料例文帳に追加

METHOD FOR TRANSFERRING SAMPLE IN CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

固相反応試料の透過電子顕微鏡観察用試料作製方法および荷電粒子ビーム装置を提供する。例文帳に追加

To provide a transmission electron microscope observation sample preparing method for a solid phase reactive sample and a charged particle beam device. - 特許庁

試料１を傾斜させる場合、電子顕微鏡本体制御系７からの制御により、試料傾斜・回転機構２が駆動される。例文帳に追加

In this transmission electron microscope, when a sample 1 is inclined, a sample inclining/rotating mechanism 2 is driven by the control from an electron microscope body control system 7. - 特許庁

電子顕微鏡応用装置および試料検査方法において、試料の帯電を制御することができる技術を提供する。例文帳に追加

To provide a technology of enabling to control charge of a testpiece in an electron microscope application device and a testpiece inspecting method. - 特許庁

試料の熱によるドリフトを軽減させることができる電子顕微鏡用試料ホルダを提供すること。例文帳に追加

To provide a sample holder for an electron microscope, which can reduce a drift due to the heat of a sample. - 特許庁

ペデスタル基板、電子顕微鏡用測定治具、測定試料組み立て体、測定試料の作製方法及び測定方法例文帳に追加

PEDESTAL BASE PLATE, MEASURING HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE, MEASURING SAMPLE ASSEMBLY, METHOD FOR PRODUCING MEASURING SAMPLE AND MEASURING METHOD - 特許庁

試料保持部３は、頂部に電子顕微鏡観察用の試料を搭載する観察対象領域１を有する。例文帳に追加

The sample-holding part 3 has a region 1 to be observed having a sample for observing an electron microscope mounted on the top part thereof. - 特許庁

所望の断面を持つ薄膜試料を容易に作製することができる透過電子顕微鏡用試料の作製方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for fabricating a sample for a transmission electron microscope which easily fabricates the thin film sample with a desired cross section. - 特許庁

試料ホルダを装着可能な電子顕微鏡の使用者の誤操作を低減するとともに、試料の情報の管理を容易にする。例文帳に追加

To reduce wrong operation of a user of an electron microscope on which a specimen holder can be mounted, and to facilitate management of information of a specimen. - 特許庁

本発明は電子顕微鏡用針状試料の作製方法に関し、針状試料を簡単に作製することを目的としている。例文帳に追加

To provide a method for producing a needle-like sample for an electronic microscope which allows the needle-like sample to be simply produced. - 特許庁

試料ホルダを装着可能な電子顕微鏡の使用者の誤操作を低減するとともに、試料の情報の管理を容易にする。例文帳に追加

To reduce wrong operation of a user of an electron microscope on which a specimen holder can be mounted, and to facilitate the management of information of the specimen. - 特許庁

図９（ｃ）において、Ｓはオペレーターが得たかった試料断面であり、この試料断面Ｓは後で走査電子顕微鏡などで観察される。例文帳に追加

An S is a sample cross-section desired to be obtained by an operator, in Fig. (c), and the sample cross-section S is observed thereafter by a scanning electron microscope or the like. - 特許庁

さらに本発明の観測方法は、本発明の試料２０を試料ホルダーにセットして透過型電子顕微鏡に装着する事により行う。例文帳に追加

The observation method is carried out in such a manner that the test piece 20 which is set up on a test piece holder is mounted on a transmission type electron microscope. - 特許庁

本発明は走査電子顕微鏡に関し、更に詳しくは試料加工室を持つ走査電子顕微鏡に関し、一つの装置でＳＥＭ観察と試料加工を同時進行で行なうことができ、かつ処理後の試料ホルダの位置を自動的にホームポジションに戻すことができ、試料室への導入を速やかに行なうことができる走査電子顕微鏡を提供することを目的としている。例文帳に追加

To provide a scanning electron microscope that can concurrently perform SEM observation and sample processing in a single instrument, automatically return the specimen holder to its home position after the processing, and rapidly introduce it into the sample chamber. - 特許庁

本発明は上記目的を達成するために、観察対象試料を配置するための試料室を備えた電子顕微鏡において、前記観察対象試料を含む試料室内空間を加熱する加熱機構を備えたことを特徴とする電子顕微鏡を提供する。例文帳に追加

The electron microscope is provided with a sample room for sample placement accommodating a heating system to be able to heat the internal space of the sample room including the samples for observation. - 特許庁