「電子顕微鏡試料」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

走査電子顕微鏡を用いた試料検査における電荷トラップの改善例文帳に追加

IMPROVEMENT OF CHARGE TRAP IN SAMPE INSPECTION USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

磁性材料の透過電子顕微鏡観察用試料作製方法例文帳に追加

MAGNETIC MATERIAL SAMPLE PREPARATION METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION - 特許庁

透過型電子顕微鏡用半導体試料およびその製造方法例文帳に追加

SEMICONDUCTOR SAMPLE FOR TRANSMISSION-TYPE ELECTRON MICROSCOPE AND MANUFACTURING METHOD OF THE SAMPLE - 特許庁

ＦＩＢによる加工試料の電子顕微鏡による観察方法例文帳に追加

OBSERVATION METHOD OF FIB-PROCESSED SAMPLE BY ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡用の試料の作製方法、観察方法及び構造例文帳に追加

MANUFACTURING METHOD OF SAMPLE FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE, OBSERVATION METHOD AND STRUCTURE - 特許庁

透過電子顕微鏡観察用試料作製方法およびサンプリング装置例文帳に追加

METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION AND SAMPLING APPARATUS - 特許庁

透過型電子顕微鏡観察用試料の作製方法および作製装置例文帳に追加

PREPARATION METHOD AND PREPARATION DEVICE FOR SAMPLE FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION - 特許庁

３次元構造観察用試料作製装置、電子顕微鏡及びその方法例文帳に追加

THREE-DIMENSIONAL STRUCTURE OBSERVATION SAMPLE FORMATION DEVICE, ELECTRON MICROSCOPE, AND ITS METHOD - 特許庁

走査電子顕微鏡観察用試料の前処理装置及び前処理方法例文帳に追加

DEVICE AND METHOD FOR PRETREATING SAMPLE FOR OBSERVATION THROUGH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

低真空走査電子顕微鏡及びその試料交換方法例文帳に追加

LOW VACUUM SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS METHOD FOR EXCHANGE OF TEST PIECE - 特許庁

電子顕微鏡またはＸ線分析装置及び試料の分析方法例文帳に追加

ELECTRON MICROSCOPE OR X-RAY ANALYSIS APPARATUS, AND METHOD FOR ANALYZING SAMPLE - 特許庁

電子顕微鏡試料支持用マイクログリッド及びその製造方法例文帳に追加

MICROGRID FOR SUPPORTING ELECTRON MICROSCOPIC SAMPLE AND ITS MANUFACTURE - 特許庁

表面処理方法及び電子顕微鏡用試料の作製方法例文帳に追加

METHOD OF SURFACE TREATMENT, AND METHOD OF PREPARING SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査型電子顕微鏡調整用試料は、複数の突起部を有する。例文帳に追加

The sample for tuning of the scanning electron microscope is provided with a plurality of protrusions. - 特許庁

走査型電子顕微鏡で使用する被観察試料の調製方法例文帳に追加

METHOD FOR PREPARING OBSERVATION SAMPLE USED FOR SCANNING ELECTRONIC MICROSCOPE - 特許庁

均一な厚さとなる電子顕微鏡用の試料を作製する。例文帳に追加

To prepare a sample for an electron microscope having uniform thickness. - 特許庁

電子顕微鏡における試料の検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide an inspection method of a test piece in an electron microscope. - 特許庁

試料の構成物質を特定可能な電子顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide an electron microscope capable of specifying constituents of a sample. - 特許庁

３次元構造観察用試料作製装置、電子顕微鏡及びその方法例文帳に追加

SAMPLE PREPARING DEVICE FOR OBSERVING THREE-DIMENSIONAL STRUCTURE, ELECTRON MICROSCOPE, AND METHOD THEREOF - 特許庁

透過型電子顕微鏡観察用薄膜試料作製方法例文帳に追加

FORMATION FOR THIN FILM SAMPLE FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPIC OBSERVATION - 特許庁

透過型電子顕微鏡観察用薄膜試料の作製方法例文帳に追加

METHOD OF MANUFACTURING THIN-FILM SAMPLE FOR OBSERVING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

電子顕微鏡試料の超薄切片をグリッドに載せる用具。例文帳に追加

DEVICE FOR PUTTING ON GRID ULTRA-THINLY SLICED PIECE OF SPECIMEN FOR ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡用試料保持体およびその製造方法、透過型電子顕微鏡用試料およびその製造方法、並びに、透過型電子顕微鏡用試料を用いた観測方法および結晶構造解析方法例文帳に追加

TEST PIECE CARRIER FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD, OBSERVATION AND CRYSTAL STRUCTURE ANALYSIS METHODS USING THE SAME, AND TEST PIECE FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD - 特許庁

薄片試料作製方法、薄片試料作製装置、電子顕微鏡用試料作製治具例文帳に追加

TISSUE SAMPLE FORMATION METHOD, TISSUE SAMPLE FORMATION DEVICE, AND JIG FOR FORMING ELECTRON MICROSCOPIC SAMPLE - 特許庁

光学顕微鏡での観察に使用したスライドガラスをそのまま観察試料として使用可能な、走査電子顕微鏡用試料ホルダおよび当該試料ホルダを搭載した走査電子顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a sample holder for a scanning electron microscope which can use a slide glass using for observation by an optical microscope as an observation sample as it is, and also to provide the scanning electron microscope on which the sample holder is mounted. - 特許庁

走査型プローブ顕微鏡装置１は、試料Ａがセットされる試料台３を有する走査型電子顕微鏡２と、前記試料台３に装着される走査型プローブ顕微鏡４とを具備する。例文帳に追加

A scanning probe microscope apparatus 1 comprises a scanning electron microscope 2 having a sample base 3 on which a sample A is set and a scanning probe microscope 4 mounted on the sample base 3. - 特許庁

ナノインプリント用スペーサ、及びこれを用いた電子顕微鏡調整用試料の製造方法、並びに電子顕微鏡調整用試料、及びこれを備えた電子顕微鏡例文帳に追加

SPACER FOR NANO-IMPRINTING, PREPARATION METHOD OF SPECIMEN FOR CONDITIONING ELECTRON-MICROSCOPE USING IT, SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE CONDITIONING AND ELECTRON-MICROSCOPE PROVIDED WITH IT - 特許庁

取付位置の制約の大きいＷＤＸを備える電子顕微鏡としても、搭載できる試料のサイズや試料の移動範囲および観察範囲の大きい電子顕微鏡としても利用できる電子顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide an electron microscope usable not only as one which has a WDX with a big constraint of its installation position but as one which can mount a large-sized testpiece and has a large shifting and observation range of a testpiece size. - 特許庁

透過電子顕微鏡の元素マッピング用の標準試料およびそれを利用した透過電子顕微鏡の元素マッピング法例文帳に追加

REFERENCE SAMPLE FOR ELEMENT MAPPING OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND ELEMENT MAPPING METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE USING THE SAME - 特許庁

試料を移動することなく、一つの装置で走査型電子顕微鏡による観察と光電子顕微鏡による観察とを可能にする。例文帳に追加

To perform both observation by a scanning electron microscope and observation by a photo-electron microscope by using a single device without moving a sample. - 特許庁

透過型電子顕微鏡で観察したい特定箇所の透過型電子顕微鏡観察用試料の観察像を鮮明にする。例文帳に追加

To clear an observation image of a sample for transmission type electron microscope observation at a specific position to be observed by the transmission type electron microscope. - 特許庁

低真空状態で試料を最適な状態で観察できる機能を備えた低真空観察用走査電子顕微鏡電子顕微鏡を提供すること。例文帳に追加

To provide a low-vacuum observation scanning electron microscope having a function for observing a sample under low vacuum in an optimum condition. - 特許庁

電子顕微鏡を用いた鉄鋼材料の微細構造の観察に適した電子顕微鏡観察用試料の作製方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for preparing a sample for electron microscope observation suitably employed for observation of a fine structure of a steel material. - 特許庁

比較的簡易な作業にて、電子顕微鏡で容易に観察することができる電子顕微鏡観察用試料の作製方法を提供することにある。例文帳に追加

To provide a method for preparing a sample for electron microscope observation capable of readily performing observation, using an electron microscope with a relatively simple work. - 特許庁

観察すべき試料を保持する試料ステージが配置される試料室と、試料の電子顕微鏡画像を撮像する電子顕微鏡と、試料の共焦点画像を撮像する共焦点顕微鏡と、電子顕微鏡及び共焦点顕微鏡からの出力信号とを受取り種々の画像信号を出力する信号処理装置を具える。例文帳に追加

This compound microscope comprises: a sample chamber, in which a sample stage for holding a sample to be observed is arranged; the electronic microscope which picks up an electronic microscope image of the sample; the confocal microscope which picks up a confocal point image of the sample; and a signal processing device which receives output signals from the electronic microscope and the confocal microscope and outputs various image signal. - 特許庁

走査電子顕微鏡の試料室外もしくは試料室内に、走査電子顕微鏡の観察面に対して斜め方向に光を照射して反射光を検出する光学顕微鏡ユニット２４を設ける。例文帳に追加

An optical-microscope unit 24, which detects reflected light while emitting light in an oblique direction to the observation face of a scanning electron microscope, is provided inside or outside a sample chamber of the scanning electron microscope. - 特許庁

試料ホルダー１０は、透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）の試料ホルダーである。例文帳に追加

The sample holder 10 is for a transmission electron microscope(TEM). - 特許庁

一般試料／生体細胞の観測のために提供される電子顕微鏡用試料ケース例文帳に追加

SAMPLE CASE FOR ELECTRON MICROSCOPE PROVIDED FOR OBSERVATION OF GENERAL SAMPLE/LIVING CELL - 特許庁

電子顕微鏡用試料作製方法、集束イオンビーム装置および試料支持台例文帳に追加

METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE, CONVERGED ION BEAM DEVICE AND A SAMPLE SUPPORT STAND - 特許庁

走査透過電子顕微鏡用薄膜状試料の作製方法および薄膜試料の観察方法例文帳に追加

METHOD OF MANUFACTURING MEMBRANE SAMPLE FOR SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD FOR MEMBRANE SAMPLE METHOD FOR MEMBRANE SAMPLE - 特許庁

固相反応試料の透過電子顕微鏡観察用試料作製方法および荷電粒子ビーム装置例文帳に追加

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION SAMPLE PREPARING METHOD FOR SOLID PHASE REACTIVE SAMPLE AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE - 特許庁

試料片を含む透過型電子顕微鏡用の試料を効率よく製造する。例文帳に追加

To efficiently manufacture a sample for a transmission electron microscope including a sample piece. - 特許庁

透過電子顕微鏡用薄片試料の作製方法、及びそれに用いる試料台例文帳に追加

PREPARATION METHOD OF SLICED SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND SAMPLE STAND USED THEREFOR - 特許庁

絶縁物試料の帯電又は電位歪みを抑制した放射電子顕微鏡装置及び試料観察方法例文帳に追加

PHOTOEMISSION ELECTRON MICROSCOPE SUPPRESSING CHARGING OR POTENTIAL STRAIN OF INSULATOR SAMPLE, AND SAMPLE OBSERVATION METHOD - 特許庁

共用試料ホルダーと透過型電子顕微鏡用の試料作製方法を提供する。例文帳に追加

To provide a common sample holder, and a sample preparation method for a transmission electron microscope. - 特許庁