「電子顕微鏡試料」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

電子顕微鏡の試料ステージ例文帳に追加

SAMPLE STAGE OF ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

電子顕微鏡用試料加熱装置例文帳に追加

SAMPLE HEATING DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査電子顕微鏡の試料ホルダ例文帳に追加

SAMPLE HOLDER OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

試料ホルダー及び電子顕微鏡例文帳に追加

SAMPLE HOLDER, AND ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

電子顕微鏡の試料冷却装置例文帳に追加

SAMPLE COOLING DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

光電子顕微鏡用試料装置例文帳に追加

SAMPLE DEVICE FOR PHOTOELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

電子顕微鏡の試料ホルダ例文帳に追加

SAMPLE HOLDER OF ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

電子顕微鏡用試料ホルダ例文帳に追加

SAMPLE HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

電子顕微鏡用試料ホルダ。例文帳に追加

SAMPLE HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

電子顕微鏡用試料台例文帳に追加

SAMPLE TABLE FOR ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

電子顕微鏡用試料作製装置例文帳に追加

SAMPLE PRODUCING DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

電子顕微鏡用試料保持部材例文帳に追加

SAMPLE HOLDING MEMBER FOR ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

電子顕微鏡の試料装置例文帳に追加

TESTPIECE DEVICE OF ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

電子顕微鏡の試料交換機構例文帳に追加

SAMPLE REPLACEMENT MECHANISM OF ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

試料ホルダ及び電子顕微鏡例文帳に追加

SAMPLE HOLDER, AND ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

電子顕微鏡用試料移動装置例文帳に追加

SAMPLE MOVING DEVICE OF ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

電子顕微鏡の予冷型試料台例文帳に追加

PRE-CRYOGENIC ELECTRON MICROSCOPE SPECIMEN HOLDER - 特許庁

電子顕微鏡試料保護材料例文帳に追加

PROTECTIVE MATERIAL FOR SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

電子顕微鏡試料作製装置及び電子顕微鏡試料作製方法例文帳に追加

APPARATUS AND METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

電子顕微鏡、及びそれに取り付けられる電子顕微鏡用試料室例文帳に追加

ELECTRON MICROSCOPE AND TESTPIECE CHAMBER FITTED WITH ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

電子顕微鏡の校正方法及び電子顕微鏡校正用標準試料例文帳に追加

METHOD FOR CALIBRATING ELECTRON MICROSCOPE, AND STANDARD SAMPLE FOR CALIBRATING THE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査型電子顕微鏡用試料の識別子、走査型電子顕微鏡用試料のホルダーおよび走査型電子顕微鏡用試料の観察方法例文帳に追加

IDENTIFIER OF TEST PIECE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, HOLDER OF TEST PIECE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND OBSERVATION METHOD OF TEST PIECE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

電子顕微鏡用試料ホルダー及び試料装着方法例文帳に追加

SAMPLE HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE, AND SAMPLE SETTING METHOD - 特許庁

電子顕微鏡用試料の製造方法および電子顕微鏡用試料の製造装置例文帳に追加

MANUFACTURING METHOD FOR ELECTRON MICROSCOPE SAMPLE AND MANUFACTURING APPARATUS FOR ELECTRON MICROSCOPE SAMPLE - 特許庁

電子顕微鏡観察用の試料作製方法及び電子顕微鏡観察用の試料例文帳に追加

SAMPLE PREPARATION METHOD FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION AND SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION - 特許庁

透過電子顕微鏡用試料作製方法及び透過電子顕微鏡用試料片例文帳に追加

METHOD OF PREPARING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE SAMPLE AND SAMPLE PIECE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過電子顕微鏡用試料の作製方法及び透過電子顕微鏡用試料例文帳に追加

PREPARATION METHOD OF SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡用試料の解析方法および透過型電子顕微鏡用試料例文帳に追加

METHOD OF ANALYZING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

電子顕微鏡用試料ホルダおよび観察方法ならびに電子顕微鏡用試料作製装置例文帳に追加

SAMPLE HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE, OBSERVING METHOD AND SAMPLING DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

電子顕微鏡試料支持用マイクログリッド及び電子顕微鏡試料の作製方法例文帳に追加

MICRO-GRID FOR HOLDING SPECIMEN OF ELECTRON MICROSCOPE AND MANUFACTURING METHOD OF THE SPECIMEN - 特許庁

電子顕微鏡、観察試料、電子顕微鏡の試料台および半導体ウェハ例文帳に追加

ELECTRON MICROSCOPE, OBSERVING TEST-PIECE, TEST-PIECE BASE OF ELECTRON MICROSCOPE, AND SEMICONDUCTOR WAFER - 特許庁

電子顕微鏡用試料処理装置および電子顕微鏡用試料ホルダ、並びに、電子顕微鏡観察方法例文帳に追加

SAMPLE TREATMENT APPARATUS FOR ELECTRON MICROSCOPE, SAMPLE HOLDER FOR THE SAME, AND METHOD OF MAKING OBSERVATIONS UNDER THE SAME - 特許庁

透過電子顕微鏡観察用試料の電子染色法。例文帳に追加

ELECTRON STAINING METHOD OF SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION - 特許庁

電子顕微鏡の試料ホルダー、試料台および試料台用治具例文帳に追加

SAMPLE HOLDER, SAMPLE TABLE AND SAMPLE TABLE FIXTURE FOR ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

電子顕微鏡の試料冷却ホルダー例文帳に追加

SAMPLE COOLING HOLDER OF ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査電子顕微鏡及び試料撮影方法例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE PHOTOGRAPHING METHOD - 特許庁

光電子顕微鏡用ガス反応観察試料例文帳に追加

GAS REACTION OBSERVATION SAMPLE FOR PHOTOELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査電子顕微鏡及び寸法校正用試料例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE FOR DIMENSION CALIBRATION - 特許庁

走査電子顕微鏡用試料ステージ例文帳に追加

SAMPLE STAGE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

電子顕微鏡および試料の加熱方法例文帳に追加

ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE HEATING METHOD - 特許庁

試料寸法測長方法及び走査電子顕微鏡例文帳に追加

SAMPLE DIMENSION LENGTH MEASURING METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査透過電子顕微鏡を用いた試料解析方法例文帳に追加

SAMPLE ANALYSIS METHOD USING SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

試料帯電制御方法、及び走査電子顕微鏡例文帳に追加

SAMPLE STATIC CHARGE CONTROL METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

電子顕微鏡用試料冷却ホルダ例文帳に追加

SAMPLE COOLING HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

試料像取得方法及び走査電子顕微鏡例文帳に追加

SAMPLE IMAGE ACQUIRING METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁