「電子顕微鏡試料」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

結晶相のみの試料であっても標準試料を要することなく非点収差の補正が可能な、透過型電子顕微鏡の試料ホルダーを提供する。例文帳に追加

To provide a sample holder of a transmission electron microscope capable of correcting astigmatism without requiring a standard sample even if the sample is that of a crystal phase only. - 特許庁

生物試料の微細構造の埋没、試料損傷等の発生がなく、安定した導電性及び面精度を有する電子顕微鏡用試料台を提供する。例文帳に追加

To provide a sample table for an electron microscope causing no burying of a microstructure of a biological sample and damage of the sample, and having stable electric conductivity and surface roughness. - 特許庁

走査電子顕微鏡等用の試料ステージにおいて、標準の試料厚さ（高さ）よりも大きな寸法の試料でも、ユーセントリシティを保ちながら観察できる機構を提供すること。例文帳に追加

To provide a mechanism allowing observation while maintaining eccentricity even for a sample with a dimension larger than a standard sample thickness (height) in a sample stage for a scanning electron microscope car the like. - 特許庁

本発明は、試料の分解を抑えつつ、試料の検査を高精度で行うことができ、しかも試料の検査速度を低下させることがない走査電子顕微鏡を提供することを課題とする。例文帳に追加

To provide a scanning electron microscope capable of executing inspection of a sample with high accuracy while suppressing decomposition of the sample without decreasing the inspection speed of the sample. - 特許庁

試料表面の導体層の電位を一定にして精度よく試料を観察することのできる走査型電子顕微鏡及び試料観察方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a scanning electron microscope and a sample observation method capable of observing a sample with accuracy by making constant a potential of a conductive layer on a surface of the sample. - 特許庁

また、その一態様として、測定された試料高さや試料電位に基づいて、試料帯電によって変動する装置条件（例えば倍率，フォーカス，観察座標等）を補正する走査電子顕微鏡を提案する。例文帳に追加

Further as one embodiment, the scanning electron microscope includes a function to correct conditions and the like in an apparatus such as magnification, focus, measuring coordinate and the like varied in accordance with a sample electrification, based on the measured sample height and the sample electrification. - 特許庁

試料を載置した直後から試料を保持した側の面を保護して、試料の紛失などを防止することができる構造を有する透過電子顕微鏡用メッシュの提供。例文帳に追加

To provide a mesh for a transmission electron microscope having a structure capable of preventing a sample from being lost by protecting the surface on the side holding a sample immediately after the sample is placed on it. - 特許庁

試料に負電圧を印加するリターディング法により試料表面の観察を行う際に、試料を傾斜させても高分解能像を得ることを可能にする走査電子顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a scanning electron microscope capable of providing a high-resolution image even if a sample is tilted when a surface of the sample is observed by a retarding method for applying a negative voltage to the sample. - 特許庁

試料像が回転された状態でも、試料の移動方向を操作者に認識させ、試料移動に伴う操作者の違和感を取り除くようにした走査電子顕微鏡を実現する。例文帳に追加

To realize a scanning electron microscope capable of eliminating sense of incompatibility to an operator with the movement of a sample by enabling the recognition of the sample moving direction by the operator, even under the condition with a sample image rotated. - 特許庁

電子顕微鏡の試料室内の試料台に配設可能であって、試料の観察を行いながら外力を加えることができる微小部品用試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a testing device for a micro-component capable of being arranged on a sample mount within a sample chamber of an electronic microscope and applying outside force while observing a sample. - 特許庁

大型試料も観察可能で、しかも小型試料の観察を行う場合にあっては、試料観察開始の待ち時間の短縮をはかることができる走査電子顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a scanning electron microscope capable of observing a large-sized test piece, and capable of reducing a waiting time when a small-sized test piece is observed. - 特許庁

また、前記電子顕微鏡観察用試料支持部材において、前記試料支持部材の試料片を固定する部分の凹凸を、５μｍ以下にすることで達成される。例文帳に追加

Further, the irregularities of the part for fixing the sample piece of the sample support member is set to 5 μm or less. - 特許庁

光電変換面に試料を近接して配置し透過Ｘ線を電子像に変換して観察するＸ線顕微鏡に使用する試料スライドおよび試料の保持挿入機構を提供することである。例文帳に追加

To provide a sample slide used for X-ray microscope in which a sample is arranged to be adjacent to a photoelectric transducing face, and with which transmitted X-rays are transduced into an electronic image so as to be observed, and to provide a sample holding and insertion mechanism. - 特許庁

マイクログリッドが有する試料を載置するための支持膜の破損の可能性を低減し、また、試料の表裏等の区別を容易にできるマイクログリッド及び電子顕微鏡用試料の作製方法を提供する。例文帳に追加

To provide a micro-grid structure for holding specimens of an electron microscope which can reduce the possibility of breakage of a specimen holding film as well as easily discriminable between such as the front and back surfaces of a specimen, and to provide a manufacturing method of the specimens. - 特許庁

冷却エネルギー蓄積手段は、試料載置手段の下方に配置されることで、試料に持続的に冷却エネルギーを供給し、ひいては電子顕微鏡を用いて試料を観察する時間を延長できる。例文帳に追加

The cryogenic energy storing means is disposed under the specimen holding means, whereby the cryogenic energy can be continuously supplied to the specimen, and the observation time for the specimen in an electron microscope can be thus extended. - 特許庁

透過電子顕微鏡用試料の作製において、荷電粒子ビームによって加工して作製した薄片試料を試料ホルダに固定する際に、デポジションを用いないようにすることにより生産性を向上させる。例文帳に追加

To eliminate use of deposition, and improve the productivity in a preparation of a sample for a transmission electron microscope, when the thin sample which is processed and prepared by a charged particle beam is fixed to a sample holder. - 特許庁

摘出試料を任意の方向に向けて試料台に固定することが可能な透過電子顕微鏡観察用試料作製方法およびサンプリング装置を提供する。例文帳に追加

To provide a method for preparing samples for transmission electron microscope observation and a sampling apparatus whereby extracted samples can be fixed in an arbitrary direction to a sample stage. - 特許庁

本発明は、光学顕微鏡によって取得された像に基づいて、電子顕微鏡に代表される荷電粒子線装置にて取得すべき画像領域を選択するのに好適な試料像観察方法，画像処理装置、及び荷電粒子線装置を提供することを目的とするものである。例文帳に追加

To provide a sample image observation method, an image processing device, and a charged particle beam device suitable for selecting an image region to be acquired by the charged particle beam device represented by an electron microscope based on an image obtained by an optical microscope. - 特許庁

複合材料の界面力学特性の試験を行う界面力学特性試験装置を傾斜可能にして走査型顕微鏡の試料室に配置し、荷重をかけた側と反対側の界面などの状態の走査型電子顕微鏡像をリアルタイムに表示する。例文帳に追加

To display, at the real time, a scanning electron microscope image of the state of an interface between the side where a load is given and the opposite side or the like, by making inclinable a surface dynamics characteristic test device for testing a surface dynamics characteristic of composite material, and by arranging it in a sample chamber of the scanning microscope. - 特許庁

更に、半導体デバイスの特定箇所の断面を走査型顕微鏡で観察した後、同一観察断面を透過型電子顕微鏡で観察すべく作製される観察試料において、前記観察断面上に非晶質構造の保護膜を有することを特徴とする。例文帳に追加

Furthermore, after the cross section of the specific place of the semiconductor device is observed by the scanning microscope, the protective film of the amorphous structure is provided on the observation cross section in an observation sample formed in order to observe the same observation cross section by the transmission electron microscope. - 特許庁

極めて微細かつ精緻な顕体試料の観察のみならず、オペレーターが顕微鏡の画像を観察しながら、電気的測定、さらには電気的超微細加工を、円滑かつ確実に行なうことを可能とするデュアルプローブを載置した電子顕微鏡微細作業用マニピュレーション装置の提供。例文帳に追加

To provide a manipulation device for fine work of an electron microscope constituted by mounting a dual probe which enables an operator not only to observe an extremely fine and minute sample but also to smoothly and surely perform electric measurement and further electric super-fine working while observing an image by the microscope. - 特許庁

電子顕微鏡観察用試料支持部材の微小試料片固定部厚みを微小試料片厚さ以上にし、試料固定側の試料支持部材の両端に微小試料片以上の厚さおよび高さをもつ突起部分を設けたことにより達成される。例文帳に追加

In this sample support member for electron microscopic observation, the thickness of a minute sample piece fixing part is set to the thickness of a minute sample piece or more, and projection parts having a thickness and height larger than those of the minute sample piece are provided on both sample fixing-side ends of the sample support member. - 特許庁

このような構成によれば、微小試料片を試料台から取り外すことなく、イオンビームによる加工および任意の方向からの二次電子像および電子顕微鏡観察が可能となる。例文帳に追加

By the above mechanism, a processing by using an ion beam, and observation of secondary electron image in optional direction through an electron microscope are made possible without taking out a fine piece of sample from the sample stand. - 特許庁

透過型電子顕微鏡の加速電圧を変化させた場合の、試料面上への電子線照射条件を変化させずに試料を観察することが可能となる。例文帳に追加

The test piece can be observed without changing the electron beam irradiation condition to the test piece even when the acceleration voltage of a transmission electron beam microscope is changed. - 特許庁

本発明は、短い焦点距離を実現しつつ、試料から低い角度で発生する反射電子を高率良く検出し、試料像を形成する走査形電子顕微鏡の提供を目的とする。例文帳に追加

To provide a scanning electron microscope capable of effectively detecting a reflected electron generated from a sample at a low angle while realizing a short focus distance and forming a sample image. - 特許庁

本発明に係わる電子ビーム装置、特に透過電子顕微鏡は、試料を保持する少なくとも１つの保持要素（１８）及び少なくとも１つの識別ユニット（２０）を有する少なくとも１つの試料ホルダ（６）を具備する。例文帳に追加

The electron beam apparatus or a transmission electron microscope comprises at least one specimen holder 8 having at least one holding element 18 and at least one identification unit 20. - 特許庁

本発明は、電子線照射によるダメージ等を抑制しつつ、試料の電位、或いは試料高さを正確に測定することが可能な走査電子顕微鏡を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a scanning electron microscope can accurately measure a sample potential or a sample height, while preventing damages and the like by a charged-particle radiation. - 特許庁

電子顕微鏡による試料の構造や特性を観察する方法において、２次電子信号で得られる試料情報の選択性と画質を向上させる。例文帳に追加

To improve selectivity and image quality of sample information obtained from a secondary electronic signal in a method for observing structure and characteristics of a sample by an electron microscope. - 特許庁

走査電子顕微鏡から照射される電子ビームによって試料に発生する電荷を捕集する電荷捕集部を備えることによって、試料検査へのコストを低減し、かつ、高品質の映像を提供する。例文帳に追加

The scanning electron microscope is provided with a charge collecting unit to arrest a charge generated in the sample by electron beams irradiated by the scanning electron microscope, and a cost for inspecting the sample can be reduced and a high quality image can be provided. - 特許庁

本発明は対物レンズ絞り上で散乱する電子の量を制限し、主電子線軌道から外れ、分析点以外に照射される電子を制御することでシステムピークを抑制し、試料の元素スペクトルの信憑性または定量精度の高い走査電子顕微鏡または走査電子顕微鏡による試料検査方法を提供することである。例文帳に追加

To provide a scanning electron microscope or a sample inspection method using the scanning electron microscope which is high in reliability of an element spectrum of a sample or accuracy of quantification thereof by means of suppression of a system peak by regulating an amount of electrons scattering on an objective lens diaphragm to control electrons which deviate from a main electron beam trajectory and are irradiated beyond analysis points. - 特許庁

マイクロカプセルを含む観察用試料のマイクロカプセル内の材料を透過型電子顕微鏡により解析する方法であって、該マイクロカプセルを含む観察用試料として、光重合可能なモノマーが内包されたマイクロカプセルに光照射をした観察用試料を用いることを特徴とする、マイクロカプセル内の材料を透過型電子顕微鏡により解析する方法。例文帳に追加

In the method for analyzing the materials in the microcapsule of the sample for observation containing the microcapsule by the transmission electron microscope, the sample for observation is used as the sample for observation containing the microcapsule, where the microcapsule including monomer capable of photopolymerization is irradiated with light. - 特許庁

観察対象とする内部欠陥を含む半導体結晶に対し、収束イオンビーム試料作製装置による電子顕微鏡観察用薄片試料の作製を高精度かつ短時間で行うことができ、該薄片試料を電子顕微鏡で観察することによって詳細に結晶欠陥の評価を行うことができる欠陥評価方法を提供する。例文帳に追加

To provide a defect evaluation method capable of precisely and rapidly preparing a flaky sample for electron microscope observation by a converged ion beam sample preparing device in relation to a semiconductor crystal including an internal defect used as an observation object and capable of evaluating the crystalline defect in detail by observing the flaky sample with an electron microscope. - 特許庁

磁性材料の透過電子顕微鏡観察用試料を集束イオンビーム加工法で作製するにあたり、観察をおこなう薄片加工部の幅ｗ_1 とそれに隣接した部分の試料厚みｔとの間に、ｔ＜３×ｗ_1 なる関係が成り立つように加工することを特徴とする磁性材料の透過電子顕微鏡観察用試料作製方法。例文帳に追加

In the formation of the transmission electron microscope observation sample for a magnetic material by means of a convergent ion beam machining method, machining is carried out so that a width w1 of the thin piece machined part for observation and a sample thickness t in the part adjacent to the machined part satisfy the relation t<3×w1. - 特許庁

カプセルを含む観察用試料のカプセル内の材料の分布状態を電子顕微鏡により解析する方法であって、前記カプセルを含む観察用試料として、重合性基を有する化合物が内包されたカプセルに超音波を照射した観察用試料を用いることを特徴とするカプセル内の材料の分布状態を電子顕微鏡により解析する方法。例文帳に追加

In this analysis method using the electron microscope for analyzing the material distribution condition of the material inside the capsule of the observation sample including the capsule, the observation sample including the capsule is prepared by irradiating the capsule storing a compound having a polymerizing group with ultrasonic waves. - 特許庁

本発明の走査形電子顕微鏡による測長方法は、対物レンズから試料までの距離を検出するセンサの出力を用いて走査形電子顕微鏡を測定ポイントにオートフォーカスさせ、対物レンズの励磁電流を変化させながら試料から放出された試料信号の変化をモニターしてフォーカスずれに相当する対物レンズの励磁電流ΔIobjを検出する。例文帳に追加

In this length measuring method by the scanning electron microscope, the scanning electron microscope is auto-focused with a measuring point, using an output from a sensor for detecting a distance from an objective lens to the sample, and a change of a sample signal emitted from the sample is monitored while changing an excitation current of the objective lens, to detect the excitation current ΔIobj of the objective lens corresponding to a focus shift. - 特許庁

試料１を加工することによって、透過型電子顕微鏡による所望の観察箇所２を含む薄片部を形成し、記薄片部を含む試料表面に薄膜を成膜した後に、薄片部に対し集束イオンビームにより加工を施して、薄片部の一部の薄膜を除去し、透過型電子顕微鏡の観察試料とする。例文帳に追加

A slice part, containing a desired observation place 2 due to the transmission electron microscope, is formed by processing the sample 1, and after a thin film is formed on the surface of the sample containing the slice part, the slice part is processed by a converged ion beam and the thin film of a part of the slice part is removed, to obtain the observation sample of the transmission electron microscope. - 特許庁

そのための構成として、本発明の電子顕微鏡は、試料への電子線を遮断する電子線遮断手段と、電子線遮断手段に設けられた電子線検出器を有する。例文帳に追加

Therefore, the electron beam microscope comprises an interruption means for interrupting the electron beam irradiated to the test piece and an electron beam detector set on the interruption means. - 特許庁

これにより、電子顕微鏡の対物レンズ内で試料ホルダ２１を支持することができ、該開口２０ｂを通過した電子線が試料ホルダ２１内の試料９に到達し、これにより試料９から発生する走査透過電子の信号を検出できる。例文帳に追加

Thereby, the sample holder 21 can be supported in an objective lens of the electron microscope, the electron beam having passed through the opening 20b can reach the sample 9 in the sample holder 21, and thereby signals of scanning transmission electrons generated from the sample 9 can be detected. - 特許庁

本発明の目的は、FIB加工で試料から、より微小な試料片を摘出し、TEM用試料に加工する際に、摘出した前記微小試料片を容易に固定、安全に取扱うことが可能な電子顕微鏡観察用試料支持部材を提供することにある。例文帳に追加

To provide a sample support member for electron microscopic observation capable of easily fixing and safely treating an extracted minute sample piece when extracting a more minute sample piece from a sample by FIB working and working it into a TEM sample. - 特許庁

試料台に側部保持部材と裏面保持部材とを有する試料ホルダーを備える透過電子顕微鏡において、試料ホルダーの側部保持部材と裏面保持部材との間に、前記試料の表面が当接する当接部を備えることを特徴とする試料ホルダーを提供する。例文帳に追加

In the transmission electron microscope provided with the sample holder having a side part holding member and a back surface holding member in a sample stand, the sample holder is provided with an abutment part, on which a surface of the sample abuts, between the side part holding member and the back surface holding member. - 特許庁

分解能の高い光電子観察画像を得るために、試料上で、オージェ電子分光分析による分析部位と光電子観測部位との位置合わせが容易な光電子顕微鏡装置を得る。例文帳に追加

To obtain a photoemission electron microscope of which position alignment of an analysis portion and a photoelectron observation portion by an Auger electron spectral analysis on the test piece for obtaining a photoelectron observation image with high resolution is easy. - 特許庁

既設の透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）を用いてカソードルミネッセンス分析を容易に行うことを可能とするカソードルミネッセンス用試料ホルダ、及び該カソードルミネッセンス用試料ホルダを用いた分光分析装置を提供する。例文帳に追加

To provide a cathode luminescence specimen holder to easily perform cathode luminescence analysis by using an existing transmission electron microscope (TEM) and a spectroscopic analyzer using the cathode luminescence specimen holder. - 特許庁

このため、位置決めされた試料加工位置にイオンビームが正確に照射され、所望の断面を有する電子顕微鏡用試料を作製することができる。例文帳に追加

Therefore, the working position of the sample being positioned is accurately irradiated with an ion beam, and the sample with the desired cross section for an electron microscope can be produced. - 特許庁

試料表面のチャージアップの影響を十分に軽減し、安定した走査画像を得ることができる走査型電子顕微鏡及び試料観察方法を提供する。例文帳に追加

To provide a scanning electron microscope and a sample observation method capable of obtaining a stable scanning image by sufficiently reducing the influence of charge-up of a sample surface. - 特許庁

鏡体部内よりも低い真空に保たれた試料室においても、試料観察時に正確なプローブ電流を測定するのに適した走査電子顕微鏡を提供すること。例文帳に追加

To provide a scanning electron microscope suitable for measuring an accurate probe current at the time of sample observation, even in a sample chamber held in lower vacuum than the inside of a microscope body part. - 特許庁