「Bost」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide a test device of a semiconductor device which can improve reliability of an operation test in a wafer state by utilizing BOST and BIST.例文帳に追加

ＢＯＳＴ及びＢＩＳＴを活用して、ウェハ状態での動作試験の信頼性を向上させ得る半導体装置の試験装置を提供する。 - 特許庁

An inspection auxiliary device (BOST unit) used hitherto for inspection of an analog interface-related circuit or the like in an IC after packaging is integrated into this semiconductor wafer 20.例文帳に追加

従来、パッケージング後のＩＣにおける、アナログインタフェース関連の回路等の検査に用いられていた検査補助装置（ＢＯＳＴユニット）を半導体ウェハ２０内に組み込む。 - 特許庁

To provide a testing device and a test method of a semiconductor integrated circuit capable of improving operability and convenience of a BOST device, and shortening a test time.例文帳に追加

ＢＯＳＴ装置の操作性、利便性を向上すると共に、試験時間を短縮することができる半導体集積回路の試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test circuit for a semiconductor memory and a semiconductor memory device having an operation verifying function of a built-in self- test circuit (BIST circuit) or a built-out self-test circuit (BOST).例文帳に追加

内臓自己テスト回路（ＢＩＳＴ回路）または外付自己テスト回路（ＢＯＳＴ回路）の動作検証機能を持った半導体メモリのテスト回路および半導体メモリデバイスを提案する。 - 特許庁

An operation test is performed by an external test device 1, a BIST 4 formed in a chip 2, and a BOST 3 arranged between the external test device 1 and the chip 2.例文帳に追加

外部試験装置１と、チップ２内に形成されるＢＩＳＴ４と、外部試験装置１とチップ２との間に介在されるＢＯＳＴ３とでチップ２の動作試験が行われる。 - 特許庁

To provide a means capable of performing high-precision measurement and relatively large data processing (analysis) at a high-speed by making a measurement means and an analysis means as a BOST, and reducing the test time.例文帳に追加

測定手段及び解析手段をＢＯＳＴ化することで高精度な測定と比較的大きなデータ処理（解析）を高速で実行でき、テスト時間の短縮を図る手段を提供する。 - 特許庁

An input range of a BOST device 20 is formed switchably corresponding to the level of a DAC 52 of a DUT 11, to thereby enable to cope with various kinds of DUT's having different analog output levels.例文帳に追加

ＤＵＴ１１のＤＡＣ５２のレベルに対応してＢＯＳＴ装置２０の入力レンジを切替え可能にして、アナログ出力レベルの異なる多品種のＤＵＴに対応し得るようにした。 - 特許庁

A plurality of IC chips 22a-22f and the inspection auxiliary device (integrated BOST unit) 24 integrated into the semiconductor wafer 20 are electrically connected by a wire L, and inspection thereof is performed in a time division system or in a simultaneous system.例文帳に追加

複数のＩＣチップ２２ａ〜２２ｆと半導体ウェハ２０内に組み込まれた検査補助装置（組み込みＢＯＳＴユニット）２４は、配線Ｌで電気的に接続されており、時分割方式あるいは同時方式にて検査が実行される。 - 特許庁

To provide an apparatus capable of arranging a plurality of device measuring apparatuses made of BOST (Built-Off Self-Test) boards etc. in the vicinity of a device to be measured and highly accurately testing a large number of circuits mixed onto a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

被測定デバイス近傍にＢＯＳＴボードなどからなる複数のデバイス測定装置を置くことができ、半導体集積回路に多数混載された回路の高精度な試験を行うことができる半導体集積回路の試験装置を提供する。 - 特許庁

This device has a constitution wherein an interface 28 for transferring a signal between the BOST device 20 and a CPU of an external control device 40 is installed, and a control signal for a test and a test analysis result signal are transferred through the interface 28, to thereby execute the test and the evaluation.例文帳に追加

ＢＯＳＴ装置２０と外部制御装置４０のＣＰＵとの間で信号のやり取りを行なうインターフェース２８を設け、このインターフェース２８を介してテスト用の制御信号及びテスト解析結果信号をやり取りし、テストと評価を行なう構成とする。 - 特許庁

A test auxiliary device (BOST device) is disposed near a test circuit board for giving and receiving a signal to and from the semiconductor integrated circuit to be tested, and the testing D/A converter circuit and testing A/D converter circuit of the test auxiliary device, a measurement data memory and an analyzing part are respectively mounted on separate circuit boards.例文帳に追加

被試験半導体集積回路と信号のやり取りを行うテスト回路基板の近傍にテスト補助装置（ＢＯＳＴ装置）を設け、このテスト補助装置の試験用Ｄ／Ａ変換回路と試験用Ａ／Ｄ変換回路と、測定データメモリと、解析部とをそれぞれ別の回路基板に搭載する。 - 特許庁