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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > CHAIN CIRCUITの意味・解説 > CHAIN CIRCUITに関連した英語例文

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CHAIN CIRCUITの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 208



例文

A processor includes a return stack circuit used for predicting procedure return addresses for instruction pre-fetching, wherein a return stack controller determines the number of return levels associated with a given return instruction, and pops that number of return addresses from the return stack, to pre-fetch the return address of the original calling procedure in a chain of successive procedure calls.例文帳に追加

プロセッサは、命令プリフェッチングのためのプロシージャ復帰アドレスを予測するために使用される復帰スタック回路を含み、復帰スタックコントローラが、所与の復帰命令に関連する復帰レベルの数を決定し、その数の復帰アドレスを復帰スタックからポップすることにより、一連の連続したプロシージャ呼出し中の最初の呼出プロシージャの復帰アドレスをプリフェッチする。 - 特許庁

This oil composition for a compressor of an on-board air conditioner equipped with a freezing circuit having a compressor for compressing refrigerant gas to form high-pressure gas is an oil composition for a compressor obtained by not using an extreme-pressure additive such as tricresyl phosphate, etc., at all and including a long-chain organic acid as an anti-friction agent.例文帳に追加

冷媒ガスを圧縮して高圧ガスにする圧縮機を有する冷凍回路を備えた車載空気調和機の圧縮機用油組成物であって、基油にトリクレジルホスフェートなどの極圧添加剤を用いず、摩擦防止剤として長鎖有機酸を添加した圧縮機用油組成物により課題を解決できる。 - 特許庁

The failure diagnosis device, based on circuit information on LSI, establishes test output compression circuits 36a and 36b compressing output signal from scan flip-flops 34a to 36a and 34b to 36b of each stage and virtual pins PT1 and PT0 connected to the output terminal of the compression circuits 36a and 36b concerned for every stage of each scan chain.例文帳に追加

故障診断装置は、LSIの回路情報に基づいて、各スキャンチェーンの段毎に、各段のスキャンフリップフロップ34a〜36a,34b〜36bの出力信号を圧縮するテスト出力圧縮回路36a,36bと、該圧縮回路36a,36bの出力端子に接続された仮想ピンPT1,PT0と、を設定する。 - 特許庁

This engine cooling water pump device 10 directly fixed to an engine is provided with a motor part 24, a circuit part 26 for driving the motor part 24, an impeller 50 rotated by rotor rotation driving of the motor part 24, and a housing part 30 constituting a part of a pump case 34 and fixed to a recess 32 of a timing chain cover.例文帳に追加

エンジンに直付けされるエンジン冷却ウォータポンプ装置10は、モータ部24と、モータ部24を駆動させるための回路部26と、モータ部24のロータ回転駆動により回転するインペラー50と、ポンプケース34の一部を構成し、タイミングチェーンカバーの凹部32に固定されるハウジング部30と、を備えている。 - 特許庁

例文

Noting that a logical state of an output voltage in a second input terminal for receiving information signals from another image pickup device changes depending on a connection state of the other image pickup device, the logical state is extracted as a determining signal, thereby executing the switching of a communication circuit in the daisy chain connection.例文帳に追加

他の撮像装置の接続状態に応じて、かかる他の撮像装置から情報信号を受信するための第2の入力端子における出力電圧の論理状態が変化することに着目し、これを判別信号として抽出することにより、デイジーチェーン接続における通信回路の切り替えを実行する。 - 特許庁


例文

To provide a semiconductor test circuit for remarkably reducing an amount of a scanning test pattern and shortening a full scanning test time by modifying the constitution of an inside scanning chain at any time without increasing a test terminal and remarkably shortening a once-scanning shift action period in an LSI full scanning design, and to provide its test method.例文帳に追加

LSIのフルスキャン設計において、テスト端子を増加させずに、内部スキャンチェーンの構成を随時変更し、1回のスキャンシフト動作期間の大幅な短縮を行うことで、スキャンテストパターン量の大幅な削減とフルスキャンテスト時間の短縮を可能とする半導体テスト回路及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

This method for designing a semiconductor integrated circuit includes: a step for deciding a flipflop in which the number of post stage gates driven in accordance with a change in stored data is not less than a standard value, as a first flipflop (large power FF); and a step for creating a scan chain having a group of flipflops working based on the same clock signal.例文帳に追加

本発明による半導体集積回路の設計方法は、保持するデータの変化に伴って駆動する後段ゲートの数が、基準値以上のフリップフロップを第1フリップフロップ(パワー大FF)として決定するステップと、同一のクロック信号によって動作するフリップフロップ群を有するスキャンチェーンを作成するステップとを具備する。 - 特許庁

例文

Thus, overvoltage is not applied and wide range chain destruction of the inverter circuit can be prevented.例文帳に追加

インテリジェントパワーモジュール1周辺回路のブートストラップダイオード103、104が短絡破壊に至った場合においても、前記高圧側制御入力端子9〜10および前記低圧側制御入力端子11〜12、GND端子15間に連鎖破壊防止抵抗105〜109を挿入することによりに過電圧が印加されず、インバータ回路の広範囲な連鎖破壊を防ぐことができる。 - 特許庁

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