Defectを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 18306件
DEFECT DETECTING DEVICE AND DEFECT DETECTION METHOD例文帳に追加
欠陥検出装置及び欠陥検出方法 - 特許庁
DEFECT CORRECTING DEVICE AND DEFECT CORRECTING METHOD例文帳に追加
欠陥修正装置及び欠陥修正方法 - 特許庁
DEFECT CORRECTING APPARATUS AND DEFECT CORRECTING METHOD例文帳に追加
欠陥修正装置及び欠陥修正方法 - 特許庁
DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT DETECTION DEVICE例文帳に追加
欠陥検査方法および欠陥検出装置 - 特許庁
DEFECT DETECTING METHOD, DEFECT OBSERVING METHOD AND DEFECT DETECTING APPARATUS例文帳に追加
欠陥検出方法と欠陥観察方法及び欠陥検出装置 - 特許庁
DEFECT CORRECTION DEVICE AND DEFECT CORRECTION METHOD例文帳に追加
欠陥修正装置及び欠陥修正方法 - 特許庁
New in version 2.4:All the defect classes were added. 例文帳に追加
バージョン 2.4 で 新たに追加 された仕様:All the defect classes were added - Python
DEFECT DETECTING APPARATUS, DEFECT DETECTING METHOD AND DEFECT DETECTING PROGRAM例文帳に追加
欠陥検出装置、欠陥検出方法および欠陥検出プログラム - 特許庁
DEFECT CORRECTION APPARATUS AND DEFECT CORRECTION METHOD例文帳に追加
欠陥修正装置及び欠陥修正方法 - 特許庁
SURFACE DEFECT INSPECTION TOOL例文帳に追加
表面欠陥検査冶具 - 特許庁
DEFECT DETECTION METHOD AND DEFECT DETECTION DEVICE例文帳に追加
欠陥検出方法および欠陥検出装置 - 特許庁
DEFECT DETECTION METHOD AND DEFECT DETECTING DEVICE例文帳に追加
欠陥検出方法、および欠陥検出装置 - 特許庁
PIXEL DEFECT CORRECTION METHOD例文帳に追加
画素欠陥補正方法 - 特許庁
WAFER DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加
ウエーハ欠陥検査装置 - 特許庁
DEFECT DETECTION METHOD AND DEFECT DETECTION APPARATUS例文帳に追加
欠陥検出方法および欠陥検出装置 - 特許庁
PATTERN DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加
パターン欠陥検査装置 - 特許庁
DEFECT DETECTION METHOD AND DEFECT DETECTING DEVICE例文帳に追加
欠陥検出方法および欠陥検出装置 - 特許庁
DEFECT CORRECTING DEVICE AND DEFECT CORRECTING METHOD例文帳に追加
欠陥修正装置および欠陥修正方法 - 特許庁
WAFER DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加
ウエーハ欠陥検査装置 - 特許庁
PATTERN DEFECT INSPECTING DEVICE例文帳に追加
パターン欠陥検査装置 - 特許庁
MASK DEFECT INSPECTING METHOD例文帳に追加
マスク欠陥検査方法 - 特許庁
TOOL DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加
工具欠陥検査装置 - 特許庁
SOLDERING DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加
半田不良検査装置 - 特許庁
NOZZLE DEFECT EXAMINATION METHOD例文帳に追加
ノズル不良検査方法 - 特許庁
AUTOMATIC DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加
自動欠陥検査装置 - 特許庁
DEFECT CORRECTION DEVICE AND DEFECT CORRECTION METHOD例文帳に追加
欠陥修正装置および欠陥修正方法 - 特許庁
DEFECT CORRECTION METHOD AND DEFECT CORRECTION DEVICE例文帳に追加
欠陥修正方法および欠陥修正装置 - 特許庁
DEFECT DETECTION DEVICE AND DEFECT DETECTION METHOD例文帳に追加
欠陥検出装置、および欠陥検出方法 - 特許庁
IMAGE DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加
画像欠陥検査装置 - 特許庁
PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加
パターン欠陥検査装置 - 特許庁
DEFECT CORRECTION METHOD AND DEFECT CORRECTION APPARATUS例文帳に追加
欠陥修正方法および欠陥修正装置 - 特許庁
DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION PROCESSING METHOD例文帳に追加
欠陥検査装置及び欠陥検査処理方法 - 特許庁
DEFECT EXTRACTION DEVICE AND DEFECT EXTRACTION METHOD例文帳に追加
欠陥抽出装置及び欠陥抽出方法 - 特許庁
DEFECT INSPECTION SYSTEM AND DEFECT INSPECTION CORRECTION METHOD例文帳に追加
欠陥検査システム及び欠陥検査補正方法 - 特許庁
DEFECT OBSERVATION DEVICE AND DEFECT OBSERVATION METHOD USING DEFECT OBSERVATION DEVICE例文帳に追加
欠陥観察装置及び欠陥観察装置を用いた欠陥観察方法 - 特許庁
DEFECT MARKER, DEFECT MARKING METHOD, AND DEFECT MARKING EVALUATOR例文帳に追加
欠陥マーキング装置及び欠陥マーキング方法、並びに欠陥マーキング評価装置 - 特許庁
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