「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

DEFECT DETECTING DEVICE AND DEFECT DETECTION METHOD例文帳に追加

欠陥検出装置及び欠陥検出方法 - 特許庁

DEFECT DETECTING METHOD AND DEFECT DETECTION DEVICE例文帳に追加

欠陥検出方法及び欠陥検出装置 - 特許庁

DEFECT CORRECTING DEVICE AND DEFECT CORRECTING METHOD例文帳に追加

欠陥修正装置及び欠陥修正方法 - 特許庁

DEFECT DETECTOR, AND DEFECT DETECTING METHOD例文帳に追加

欠陥検出装置および欠陥検出方法 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD AND DEFECT DETECTION APPARATUS例文帳に追加

欠陥検出方法及び欠陥検出装置 - 特許庁

DEFECT OBSERVATION APPARATUS AND DEFECT OBSERVATION METHOD例文帳に追加

欠陥観察装置、および欠陥観察方法 - 特許庁

DEFECT DETECTION DEVICE, DEFECT DETECTION METHOD, AND DEFECT DETECTION PROGRAM例文帳に追加

欠陥検出装置、欠陥検出方法および欠陥検出プログラム - 特許庁

New in version 2.4:All the defect classes were added. 例文帳に追加

バージョン 2.4 で 新たに追加 された仕様:All the defect classes were added - Python

DEFECT DETECTING APPARATUS, DEFECT DETECTING METHOD AND DEFECT DETECTING PROGRAM例文帳に追加

欠陥検出装置、欠陥検出方法および欠陥検出プログラム - 特許庁

DEFECT CORRECTION APPARATUS AND DEFECT CORRECTION METHOD例文帳に追加

欠陥修正装置及び欠陥修正方法 - 特許庁

PIXEL DEFECT CORRECTION METHOD例文帳に追加

画素欠陥補正方法 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTING DEVICE例文帳に追加

パターン欠陥検査装置 - 特許庁

MASK DEFECT INSPECTING METHOD例文帳に追加

マスク欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT AMENDMENT METHOD AND DEFECT AMENDMENT APPARATUS例文帳に追加

欠陥修正方法および欠陥修正装置 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD AND DEFECT DETECTING DEVICE例文帳に追加

欠陥検出方法、および欠陥検出装置 - 特許庁

TOOL DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

工具欠陥検査装置 - 特許庁

SOLDERING DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

半田不良検査装置 - 特許庁

DEFECT DETECTING DEVICE AND DEFECT DETECTING METHOD例文帳に追加

欠陥検出装置および欠陥検出方法 - 特許庁

NOZZLE DEFECT EXAMINATION METHOD例文帳に追加

ノズル不良検査方法 - 特許庁

AUTOMATIC DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

自動欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT CORRECTION DEVICE AND DEFECT CORRECTION METHOD例文帳に追加

欠陥修正装置および欠陥修正方法 - 特許庁

DEFECT CORRECTION METHOD AND DEFECT CORRECTION DEVICE例文帳に追加

欠陥修正方法および欠陥修正装置 - 特許庁

SURFACE DEFECT INSPECTION TOOL例文帳に追加

表面欠陥検査冶具 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD AND DEFECT DETECTION DEVICE例文帳に追加

欠陥検出方法および欠陥検出装置 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

パターン欠陥検査装置 - 特許庁

MEMORY DEFECT ANALYZING SYSTEM例文帳に追加

メモリ不良解析システム - 特許庁

WAFER DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

ウエーハ欠陥検査装置 - 特許庁

PIXEL DEFECT DETECTOR例文帳に追加

画素欠陥検出装置 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD AND DEFECT DETECTING DEVICE例文帳に追加

欠陥検出方法および欠陥検出装置 - 特許庁

DEFECT CORRECTING DEVICE AND DEFECT CORRECTING METHOD例文帳に追加

欠陥修正装置および欠陥修正方法 - 特許庁

SEPTUM DEFECT CLOSING DEVICE例文帳に追加

中隔欠損閉鎖装置 - 特許庁

WAFER DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

ウエーハ欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD AND DEFECT DETECTION APPARATUS例文帳に追加

欠陥検出方法および欠陥検出装置 - 特許庁

free from moral defect 例文帳に追加

道徳的欠陥のない - 日本語WordNet

DEFECT DETECTION DEVICE AND DEFECT DETECTION METHOD例文帳に追加

欠陥検出装置、および欠陥検出方法 - 特許庁

IMAGE DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

画像欠陥検査装置 - 特許庁

METHOD OF REPAIRING DEFECT AND DEVICE FOR REPAIRING DEFECT例文帳に追加

欠陥補修方法および欠陥補修装置 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

パターン欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT CORRECTION METHOD AND DEFECT CORRECTION APPARATUS例文帳に追加

欠陥修正方法および欠陥修正装置 - 特許庁

DEFECT DETECTING METHOD AND DEFECT DETECTING APPARATUS例文帳に追加

欠陥検出方法および欠陥検出装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION PROCESSING METHOD例文帳に追加

欠陥検査装置及び欠陥検査処理方法 - 特許庁

DEFECT EXTRACTION DEVICE AND DEFECT EXTRACTION METHOD例文帳に追加

欠陥抽出装置及び欠陥抽出方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION SYSTEM AND DEFECT INSPECTION CORRECTION METHOD例文帳に追加

欠陥検査システム及び欠陥検査補正方法 - 特許庁

DEFECT OBSERVATION DEVICE AND DEFECT OBSERVATION METHOD USING DEFECT OBSERVATION DEVICE例文帳に追加

欠陥観察装置及び欠陥観察装置を用いた欠陥観察方法 - 特許庁

IMAGE DEFECT INSPECTION DEVICE, DEFECT CLASSIFICATION DEVICE, AND IMAGE DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

画像欠陥検査装置、欠陥分類装置及び画像欠陥検査方法 - 特許庁