「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

SILICON WAFER DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

シリコンウェハ欠陥検査装置 - 特許庁

OPTICAL DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

光学式欠陥検査装置 - 特許庁

SURFACE DEFECT DETERMINATION METHOD例文帳に追加

表面欠陥判別方法 - 特許庁

TAPE CARRIER DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

テープキャリア欠陥検査装置 - 特許庁

PHOTOMASK DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

フォトマスクの欠陥検査装置 - 特許庁

SURFACE DEFECT DETECTION DEVICE例文帳に追加

表面欠陥検出装置 - 特許庁

SURFACE LAYER DEFECT DETECTOR例文帳に追加

表層欠陥検出装置 - 特許庁

HOLE DEFECT DETECTION METHOD例文帳に追加

空孔欠陥の検知方法 - 特許庁

SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

表面欠陥の検査装置 - 特許庁

DEFECT MITIGATION IN DISPLAY PANEL例文帳に追加

ディスプレイパネルの欠陥低減 - 特許庁

PRODUCT DEFECT ANALYSIS SYSTEM例文帳に追加

製品の不良解析システム - 特許庁

DEFECT CAUSE INVESTIGATING SYSTEM例文帳に追加

不具合原因究明システム - 特許庁

DEVICE FOR MARKING SURFACE DEFECT例文帳に追加

表面欠陥マーキング装置 - 特許庁

STICK BAR DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

スティックバー不良検査装置 - 特許庁

CONCRETE DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

コンクリートの欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT REMOVAL DEVICE FOR ROLLER TABLE例文帳に追加

ローラーテーブルの疵取り装置 - 特許庁

METHOD FOR REPAIRING MINUTE DEFECT例文帳に追加

微小欠陥補修方法 - 特許庁

to suffer a crushing defect―be humbled in the dust 例文帳に追加

一敗地に塗｛まみ｝る - 斎藤和英大辞典

12.2.8 Exception and Defect classes 例文帳に追加

12.2.8 例外および障害クラス - Python

DEFECT INSPECTING DEVICE OF SAMPLE例文帳に追加

試料の欠陥検査装置 - 特許庁

CLUSTERED DEFECT DETECTING METHOD例文帳に追加

群生欠陥検出方法 - 特許庁

DEFECT POSITION INFORMATION GENERATION DEVICE, DEFECT CONFIRMATION SYSTEM, AND DEFECT POSITION INFORMATION GENERATION METHOD例文帳に追加

欠陥位置情報生成装置、欠陥確認システム及び欠陥位置情報生成方法 - 特許庁

TAPE CARRIER DEFECT INSPECTION SYSTEM, TAPE CARRIER DEFECT INSPECTION METHOD, AND TAPE CARRIER DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

テープキャリア欠陥検査システム、テープキャリア欠陥検査方法及びテープキャリア欠陥検査装置 - 特許庁

The defect generation date and time, and the defect item are displayed as the defect generation information.例文帳に追加

そして、不良項目及び不良発生時刻を不良発生情報として表示する。 - 特許庁

To provide a defect review device specifying a defect and a defect coordinate 33.例文帳に追加

欠陥及び欠陥座標３３の特定が可能な欠陥レビュー装置を提供する。 - 特許庁

SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE, SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD, AND SURFACE DEFECT INSPECTION PROGRAM例文帳に追加

表面欠陥検査装置、表面欠陥検査方法及び表面欠陥検査プログラム - 特許庁

DEFECT CORRECTION DEVICE, DEFECT CORRECTION METHOD, DEFECT CORRECTION PROGRAM AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

欠陥修正装置、欠陥修正方法、欠陥修正用プログラムおよび記録媒体 - 特許庁

EDGE DEFECT DETECTION METHOD, EDGE DEFECT DETECTOR, EDGE DEFECT DETECTION PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

エッジ欠陥検出方法、エッジ欠陥検出装置、エッジ欠陥検出プログラム、記録媒体 - 特許庁

DEFECT DETECTION APPARATUS, DEFECT DETECTION METHOD, DEFECT DETECTION PROGRAM AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

欠陥検出装置、欠陥検出方法、欠陥検出用プログラムおよび記録媒体 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD OF CRT PANEL例文帳に追加

ＣＲＴパネルの欠陥検査装置及び欠陥検査方法 - 特許庁

MEDIUM DEFECT INSPECTION DEVICE AND MEDIUM DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

媒体欠陥検査装置、および媒体欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD OF CIRCUIT PATTERN例文帳に追加

回路パターンの欠陥検査装置および欠陥検査方法 - 特許庁

SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD AND SURFACE DEFECT INSPECTION SYSTEM例文帳に追加

表面欠陥検査方法及び表面欠陥検査システム - 特許庁

IMAGING APPARATUS, DEFECT CORRECTING CIRCUIT, AND DEFECT CORRECTING METHOD例文帳に追加

撮像装置と欠陥補正回路および欠陥補正方法 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD AND DEFECT DETECTION DEVICE OF STRUCTURE例文帳に追加

構造物の欠陥検出方法および欠陥検出装置 - 特許庁

IMAGE DEFECT DETECTOR AND IMAGE DEFECT DETECTION METHOD例文帳に追加

画像欠陥検出装置および画像欠陥検出方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD FOR SOLAR BATTERY例文帳に追加

太陽電池の欠陥検査装置及び欠陥検査方法 - 特許庁

WAFER DEFECT DETECTION METHOD例文帳に追加

ウェーハの欠陥検出方法 - 特許庁

DEFECT ANALYZER FOR MEMORY LSI AND DEFECT ANALYSIS METHOD例文帳に追加

メモリＬＳＩの不良解析装置及び不良解析方法 - 特許庁

PATTERN DEFECT DETECTING METHOD AND PATTERN DEFECT DETECTOR例文帳に追加

パターン欠陥検出方法およびパターン欠陥検出装置 - 特許庁

CRYSTAL DEFECT DETECTING METHOD例文帳に追加

結晶欠陥検出方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION APPARATUS AND DEFECT INSPECTION METHOD USING THE SAME例文帳に追加

欠陥検査装置およびそれを用いた欠陥検査方法 - 特許庁

METHOD FOR REPAIRING CASTING DEFECT例文帳に追加

鋳物欠陥の補修方法 - 特許庁

EVALUATION METHOD OF INTERNAL DEFECT例文帳に追加

内部欠陥の評価方法 - 特許庁

SURFACE DEFECT DETECTION METHOD例文帳に追加

表面欠陥検出方法 - 特許庁