「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

SURFACE DEFECT DETERMINATION METHOD例文帳に追加

表面欠陥判別方法 - 特許庁

PHOTOMASK DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

フォトマスクの欠陥検査装置 - 特許庁

SILICON WAFER DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

シリコンウェハ欠陥検査装置 - 特許庁

OPTICAL DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

光学式欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT MITIGATION IN DISPLAY PANEL例文帳に追加

ディスプレイパネルの欠陥低減 - 特許庁

TAPE CARRIER DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

テープキャリア欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT REMOVAL DEVICE FOR ROLLER TABLE例文帳に追加

ローラーテーブルの疵取り装置 - 特許庁

METHOD FOR REPAIRING MINUTE DEFECT例文帳に追加

微小欠陥補修方法 - 特許庁

SURFACE DEFECT DETECTION DEVICE例文帳に追加

表面欠陥検出装置 - 特許庁

SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

表面欠陥の検査装置 - 特許庁

DEFECT CAUSE INVESTIGATING SYSTEM例文帳に追加

不具合原因究明システム - 特許庁

DEVICE FOR MARKING SURFACE DEFECT例文帳に追加

表面欠陥マーキング装置 - 特許庁

STICK BAR DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

スティックバー不良検査装置 - 特許庁

CONCRETE DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

コンクリートの欠陥検査装置 - 特許庁

PRODUCT DEFECT ANALYSIS SYSTEM例文帳に追加

製品の不良解析システム - 特許庁

SURFACE LAYER DEFECT DETECTOR例文帳に追加

表層欠陥検出装置 - 特許庁

HOLE DEFECT DETECTION METHOD例文帳に追加

空孔欠陥の検知方法 - 特許庁

to suffer a crushing defect―be humbled in the dust 例文帳に追加

一敗地に塗｛まみ｝る - 斎藤和英大辞典

12.2.8 Exception and Defect classes 例文帳に追加

12.2.8 例外および障害クラス - Python

DEFECT INSPECTING DEVICE OF SAMPLE例文帳に追加

試料の欠陥検査装置 - 特許庁

CLUSTERED DEFECT DETECTING METHOD例文帳に追加

群生欠陥検出方法 - 特許庁

DEFECT CORRECTION DEVICE, DEFECT CORRECTION METHOD, DEFECT CORRECTION PROGRAM AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

欠陥修正装置、欠陥修正方法、欠陥修正用プログラムおよび記録媒体 - 特許庁

EDGE DEFECT DETECTION METHOD, EDGE DEFECT DETECTOR, EDGE DEFECT DETECTION PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

エッジ欠陥検出方法、エッジ欠陥検出装置、エッジ欠陥検出プログラム、記録媒体 - 特許庁

TAPE CARRIER DEFECT INSPECTION SYSTEM, TAPE CARRIER DEFECT INSPECTION METHOD, AND TAPE CARRIER DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

テープキャリア欠陥検査システム、テープキャリア欠陥検査方法及びテープキャリア欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT DETECTION APPARATUS, DEFECT DETECTION METHOD, DEFECT DETECTION PROGRAM AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

欠陥検出装置、欠陥検出方法、欠陥検出用プログラムおよび記録媒体 - 特許庁

DEFECT POSITION INFORMATION GENERATION DEVICE, DEFECT CONFIRMATION SYSTEM, AND DEFECT POSITION INFORMATION GENERATION METHOD例文帳に追加

欠陥位置情報生成装置、欠陥確認システム及び欠陥位置情報生成方法 - 特許庁

The defect generation date and time, and the defect item are displayed as the defect generation information.例文帳に追加

そして、不良項目及び不良発生時刻を不良発生情報として表示する。 - 特許庁

To provide a defect review device specifying a defect and a defect coordinate 33.例文帳に追加

欠陥及び欠陥座標３３の特定が可能な欠陥レビュー装置を提供する。 - 特許庁

SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE, SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD, AND SURFACE DEFECT INSPECTION PROGRAM例文帳に追加

表面欠陥検査装置、表面欠陥検査方法及び表面欠陥検査プログラム - 特許庁

ELECTRON BEAM DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

電子ビーム欠陥検査装置 - 特許庁

SUBSTRATE HOLDING DEVICE, DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT CORRECTION DEVICE例文帳に追加

基板保持装置、欠陥検査装置及び欠陥修正装置 - 特許庁

DETECTION CIRCUIT FOR COOLING DEFECT例文帳に追加

冷却不良検出回路 - 特許庁

METHOD FOR CORRECTING DEFECT OF PHOTOMASK AND DEFECT CORRECTING DEVICE例文帳に追加

フォトマスクの欠陥修正方法及び欠陥修正装置 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD AND DEFECT DETECTION DEVICE OF STRUCTURE例文帳に追加

構造物の欠陥検出方法および欠陥検出装置 - 特許庁

IMAGE DEFECT DETECTOR AND IMAGE DEFECT DETECTION METHOD例文帳に追加

画像欠陥検出装置および画像欠陥検出方法 - 特許庁

DEFECT ANALYZER FOR MEMORY LSI AND DEFECT ANALYSIS METHOD例文帳に追加

メモリＬＳＩの不良解析装置及び不良解析方法 - 特許庁

WAFER DEFECT DETECTION METHOD例文帳に追加

ウェーハの欠陥検出方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD FOR SOLAR BATTERY例文帳に追加

太陽電池の欠陥検査装置及び欠陥検査方法 - 特許庁

PRISM DEFECT DETECTING METHOD AND PRISM DEFECT DETECTING DEVICE例文帳に追加

プリズム不良検出方法及びプリズム不良検出装置 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD FOR SUBSTRATE AND DEFECT DETECTION SYSTEM THEREFOR例文帳に追加

基板の欠陥検出方法及びその欠陥検出システム - 特許庁

DEFECT IMAGE PROCESSING DEVICE, DEFECT IMAGE PROCESSING METHOD, AND SEMICONDUCTOR DEFECT CLASSIFICATION DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEFECT CLASSIFICATION METHOD例文帳に追加

欠陥画像処理装置、欠陥画像処理方法、半導体欠陥分類装置および半導体欠陥分類方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT INSPECTION DEVICE OF GRAY TONE MASK, AND DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT INSPECTION DEVICE OF PHOTOMASK例文帳に追加

グレートーンマスクの欠陥検査方法及び欠陥検査装置、並びにフォトマスクの欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT DETECTING APPARATUS AND DEFECT DETECTION METHOD FOR HOLOGRAM例文帳に追加

ホログラムの欠陥検出装置および欠陥検出方法 - 特許庁

PHOTONIC CRYSTAL DEFECT WAVEGUIDE AND PHOTONIC CRYSTAL DEFECT DEVICE例文帳に追加

フォトニック結晶欠陥導波路、フォトニック結晶欠陥デバイス - 特許庁

Defect information is stored in a defect information storage area (17).例文帳に追加

欠陥の情報が、欠陥情報記憶部(17)に記憶される。 - 特許庁