「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(12ページ目) - Weblio英語例文検索

DEFECT INSPECTING DEVICE AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

欠陥検査装置及び方法 - 特許庁

DEFECT CORRECTING METHOD OF PHOTOMASK例文帳に追加

フォトマスクの欠陥修正方法 - 特許庁

DISK SURFACE DEFECT INSPECTING DEVICE例文帳に追加

ディスク表面欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT CLASSIFICATION DICTIONARY TEACHING APPARATUS例文帳に追加

欠陥分類辞書教示装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE例文帳に追加

不良検査方法および装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE FOR GLASS CONTAINER例文帳に追加

ガラス容器の欠陥検査装置 - 特許庁

PRODUCT DEFECT ANALYSIS SUPPORT SYSTEM例文帳に追加

製品不良解析支援システム - 特許庁

DEFECT INSPECTING DEVICE FOR PRINTING PAPER例文帳に追加

印刷用紙欠陥検査装置 - 特許庁

a congenital defect of the anus 例文帳に追加

肛門の先天性欠損症 - 日本語WordNet

a disorder or defect of metabolism 例文帳に追加

代謝の障害または欠陥 - 日本語WordNet

This defect detection method includes a defect emphatic processing process for performing defect emphatic processing to an imaged image, and a defect detection process for detecting a defect.例文帳に追加

欠陥検出方法は、撮像画像に対して欠陥強調処理を行う欠陥強調処理工程と、欠陥を検出する欠陥検出工程とを有している。 - 特許庁

An image defect is detected by a defect detecting part 50 based on the image data to store defect information indicating the position of the image defect into a defect information memory area 44a.例文帳に追加

この画像データに基づき欠陥検出部５０で画像欠陥を検出し、画像欠陥の位置を示す欠陥情報を欠陥情報記憶領域４４ａに記憶する。 - 特許庁

DEVICE FOR REMOVING SOLDERING DEFECT AND METHOD FOR REMOVING SOLDERING DEFECT例文帳に追加

半田付け不良除去装置および半田付け不良除去方法 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD, DEFECT DETECTION CIRCUIT, AND OPTICAL DISK DRIVE例文帳に追加

欠陥検出方法、欠陥検出回路及び光ディスク駆動装置 - 特許庁

DEFECT CLASSIFICATION SYSTEM, DEFECT CLASSIFICATION DEVICE, AND IMAGE PICKUP DEVICE例文帳に追加

欠陥分類システム及び欠陥分類装置及び画像撮像装置 - 特許庁

DEFECT ANALYZING SYSTEM, FATAL DEFECT EXTRACTING METHOD, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

不良解析システム、致命不良抽出方法及び記録媒体 - 特許庁

SURFACE DEFECT TREATMENT METHOD, AND SURFACE DEFECT TREATMENT SELECTION SYSTEM例文帳に追加

表面欠陥処置方法および表面欠陥処置選択システム - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND APPARATUS THEREOF例文帳に追加

欠陥検査方法とその装置 - 特許庁

In the case of the single defect, a defect image is fetched every time.例文帳に追加

また、単発欠陥の場合にはその都度、欠陥画像を切り出す。 - 特許庁

METHOD FOR CORRECTING DEFECT IN PHOTOMASK例文帳に追加

フォトマスクの欠陥修正方法 - 特許庁

A defect image being not an inspection excluding defect is selected, and the overall defect is detected by discriminating an image on the basis of this defect image.例文帳に追加

検査除外欠陥でない欠陥画像を選択し、これに基づいて画像を判別することによって全体の欠陥を検出する。 - 特許庁

DEFECT CLASSIFICATION DEVICE, DEFECT CLASSIFICATION METHOD, AND ITS COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

欠陥分類装置、欠陥分類方法およびそのコンピュータ・プログラム - 特許庁

DEFECT MARKING METHOD AND WORK METHOD OF COIL MARKED WITH DEFECT例文帳に追加

欠陥マーキング方法及び欠陥マーキングしたコイルの作業方法 - 特許庁

DEFECT CONCENTRATION DEGREE INSPECTION DEVICE AND DEFECT CONCENTRATION DEGREE INSPECTION PROGRAM例文帳に追加

欠陥密集度検査装置および欠陥密集度検査プログラム - 特許庁

DEFECT EXAMINATION APPARATUS, DEFECT EXAMINATION METHOD AND MANUFACTURING APPARATUS FOR LENS SHEETS例文帳に追加

レンズシートの欠陥検査装置、欠陥検査方法及び製造装置 - 特許庁

DEFECT DETECTING APPARATUS AND DEFECT DETECTING METHOD FOR SOLID-STATE IMAGING ELEMENT, DEFECT CORRECTION APPARATUS AND DEFECT CORRECTION METHOD, AND IMAGING APPARATUS例文帳に追加

固体撮像素子の欠陥検出装置および欠陥検出方法、欠陥補正装置および欠陥補正方法ならびに撮像装置 - 特許庁

DEFECT DIMENSION MEASURING APPARATUS, DEFECT DIMENSION MEASUREMENT METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

欠陥寸法測定装置、欠陥寸法測定方法、及びプログラム - 特許庁

DEFECT INSPECTING DEVICE FOR ELECTRONIC CIRCUIT例文帳に追加

電子回路の欠陥検査装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DEFECT INSPECTION例文帳に追加

欠陥検査方法および装置 - 特許庁

DEFECT MANAGEMENT METHOD AND PROGRAM THEREOF例文帳に追加

欠陥管理方法及びプログラム - 特許庁

DEFECT EVALUATION METHOD FOR STRUCTURE例文帳に追加

構造物の欠陥評価方法 - 特許庁

DEFECT CONTROL METHOD FOR FLASH MEMORY例文帳に追加

フラッシュメモリの欠陥管理方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE, SPECIMEN FOR ELECTRONIC DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

欠陥検査装置、電子装置用試験体、及び欠陥検査方法 - 特許庁

METHOD FOR REPAIRING CRACKING DEFECT例文帳に追加

亀裂状欠陥の補修方法 - 特許庁

PROCESSING SYSTEM FOR DEFECT INFORMATION AND PROCESSING METHOD FOR DEFECT INFORMATION例文帳に追加

不具合情報の処理システム及び不具合情報の処理方法 - 特許庁

DISPLAY DEFECT INSPECTION DEVICE, DISPLAY DEFECT INSPECTION METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

ディスプレイ欠陥検査装置、ディスプレイ欠陥検査方法及びプログラム - 特許庁

IMAGING APPARATUS WITH DEFECT CORRECTION FUNCTION例文帳に追加

キズ補正機能付き撮像装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD OF SUBSTRATE FOR PDP例文帳に追加

ＰＤＰ用基板の欠陥検査装置および欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT DETECTION CIRCUIT, OPTICAL DISK DEVICE, AND DEFECT DETECTION METHOD例文帳に追加

ディフェクト検出回路、光ディスク装置及びディフェクト検出方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE AND DEFECT INSPECTION SUPPORT METHOD例文帳に追加

欠陥検査方法，欠陥検査装置及び欠陥検査支援方法 - 特許庁

METHOD OF DETECTING CRYSTAL DEFECT AND METHOD OF OBSERVING CRYSTAL DEFECT例文帳に追加

結晶欠陥の検出方法及び結晶欠陥の観察方法 - 特許庁

DEFECT CORRECTION METHOD AND APPARATUS例文帳に追加

欠陥修正方法及び装置 - 特許庁

METHOD FOR INSPECTING DEFECT OF IMAGING ELEMENT, AND DEFECT INSPECTION SUPPORTING PROGRAM例文帳に追加

撮像素子の欠陥検査方法及び欠陥検査支援プログラム - 特許庁

DEFECT OBSERVING METHOD AND APPARATUS例文帳に追加

欠陥観察方法および装置 - 特許庁

DEFECT DETECTION DEVICE AND METHOD例文帳に追加

欠陥検出装置及び方法 - 特許庁