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Defectを含む例文一覧と使い方

該当件数 : 18306



例文

DETECTING METHOD FOR DEFECT ON GLASS SUBSTRATE例文帳に追加

ガラス基板の欠陥検出法 - 特許庁

DEFECT CORRECTING DEVICE FOR COLOR FILTER例文帳に追加

カラーフィルタの欠陥修正装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION APPARATUS AND ILLUMINATION DEVICE例文帳に追加

欠陥検査装置、照明装置 - 特許庁

DEFECT REVIEW METHOD, AND ITS DEVICE例文帳に追加

欠陥レビュー方法および装置 - 特許庁

例文

APPARATUS FOR REPAIRING DEFECT OF WOOD AND METHOD FOR REPAIRING DEFECT OF WOOD例文帳に追加

木材の欠点補修装置、及び木材の欠点補修方法 - 特許庁


例文

METHOD FOR DISCRIMINATING DEFECT OF PHOTOMASK AND DEFECT PART HAVING BEEN CORRECTED例文帳に追加

フォトマスクの欠陥部ないし修正後の欠陥部の判定方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT DETECTING DEVICE FOR ELECTROLUMINESCENT ELEMENT例文帳に追加

エレクトロルミネッセンス素子の欠陥検査方法及び欠陥検出装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD FOR RESIST PATTERN例文帳に追加

レジストパターンの欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD OF POLYCRYSTAL SILICON SUBSTRATE例文帳に追加

多結晶シリコン基板の欠陥検査装置および欠陥検査方法 - 特許庁

例文

There was a defect in this machine.例文帳に追加

この機械には欠陥があった - Eゲイト英和辞典

例文

OPTICAL DEVICE DEFECT INSPECTION METHOD AND OPTICAL DEVICE DEFECT INSPECTING APPARATUS例文帳に追加

光学デバイス欠陥検査方法及び光学デバイス欠陥検査装置 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING PERIODIC DEFECT AND PERIODIC DEFECT DETECTING DEVICE例文帳に追加

周期性欠陥検出方法および周期性欠陥検出装置 - 特許庁

COLOR FILTER DEFECT CORRECTION METHOD AND COLOR FILTER DEFECT CORRECTION DEVICE例文帳に追加

カラーフィルタ欠陥修正方法およびカラーフィルタ欠陥修正装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTION OF DEFECT例文帳に追加

欠陥検査方法及び装置 - 特許庁

STYLUS FOR COLOR FILTER DEFECT CORRECTION, AND COLOR FILTER DEFECT CORRECTING DEVICE例文帳に追加

カラーフィルタ欠陥修正用針およびカラーフィルタ欠陥修正装置 - 特許庁

When each streak defect emphasized by the streak defect emphasizing means 300 is a nearly linear defect and the formation direction of the streak defect is nearly coincident with the rubbing treatment direction of the panel, the defect distinguishing means 400 distinguishes the streak defect as the rubbing streak defect and distinguishes the defect as the streak defect in the other case.例文帳に追加

欠陥分別手段400は、スジ欠陥強調手段300で強調された各スジ欠陥が、ほぼ直線状の欠陥であり、かつ、スジ欠陥の形成方向がそのパネルに対してラビング処理された方向にほぼ一致する場合にはラビングスジ欠陥と判別し、それ以外の場合にはスジ欠陥と判別する。 - 特許庁

The defect list updating unit 122 determines whether an area specified by the defect address registered in the defect list is the defect area or not, and if the area specified by the defect address is determined not to be the defect area, the defect address registered in the defect list is deleted from the defect list.例文帳に追加

欠陥リスト更新部122は、欠陥リストに登録された欠陥アドレスによって指定された領域が欠陥領域であるか否かを判定し、欠陥アドレスによって指定された領域が欠陥領域でないと判定された場合には、欠陥リストに登録された欠陥アドレスを欠陥リストから削除する。 - 特許庁

GLASS SUBSTRATE DEFECT INSPECTION DEVICE AND GLASS SUBSTRATE DEFECT INSPECTION METHOD AND GLASS SUBSTRATE DEFECT INSPECTION SYSTEM例文帳に追加

ガラス基板欠陥検査装置及びガラス基板欠陥検査方法並びにガラス基板欠陥検査システム - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING FOR COIL HAVING DEFECT MARKING, METHOD FOR MARKING DEFECT AND METHOD FOR OPERATING COIL HAVING DEFECT MARKING例文帳に追加

欠陥マーキングしたコイルの製造方法、欠陥マーキング方法及び欠陥マーキングしたコイルの作業方法 - 特許庁

The defect deciding section 125 and the defect position acquiring section 126 specify the defect positions on a first recording layer.例文帳に追加

欠陥判定部125及び欠陥位置取得部126は、第1記録層の欠陥位置を特定する。 - 特許庁

Thus, a color omission defect, a black defect and a projection defect can be corrected by one device.例文帳に追加

したがって、1台の装置で色抜け欠陥、黒欠陥および突起欠陥を修正することができる。 - 特許庁

Then, the defect position detected by the defect detector 2 is corrected with the use of the defect position correction expression.例文帳に追加

続いて、欠陥位置補正式を用いて、欠陥検出装置2で検出した欠陥位置を補正する。 - 特許庁

DEFECT CORRECTION METHOD OF PHOTOMASK, DEFECT CORRECTION SYSTEM OF PHOTOMASK, AND DEFECT CORRECTION PROGRAM OF PHOTOMASK例文帳に追加

フォトマスクの欠陥修正方法、フォトマスクの欠陥修正システム及びフォトマスクの欠陥修正プログラム - 特許庁

PROCESSING DEFECT DETECTOR FOR FILM例文帳に追加

フイルムの加工不良検出装置 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD OF WATERPROOF SHEET例文帳に追加

防水シートの欠陥検知方法 - 特許庁

DEFECT REPAIRING AGENT FOR ALUMINUM CASTING例文帳に追加

アルミニウム鋳物の欠陥補修剤 - 特許庁

DEFECT MANAGEMENT INFORMATION REPRODUCING METHOD例文帳に追加

欠陥管理情報再生方法 - 特許庁

DEFECT DETECTING METHOD AND DEVICE THEREOF例文帳に追加

欠陥検出方法及び装置 - 特許庁

DEFECT DETECTING METHOD FOR THERMAL HEAD例文帳に追加

サーマルヘッドの不良検出方法 - 特許庁

EDGE SENSOR AND DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

エッジセンサおよび欠陥検査装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR WAFER DEFECT INSPECTING APPARATUS例文帳に追加

半導体ウェーハ欠陥検査装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR WAFER DEFECT REDUCTION METHOD例文帳に追加

半導体ウエハの欠陥低減法 - 特許庁

FILLING MATERIAL FOR BONE DEFECT PART例文帳に追加

骨欠損部への充填材料 - 特許庁

AUTOMATIC DEFECT IMAGE COLLECTION METHOD例文帳に追加

欠陥画像自動収集方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTING APPARATUS FOR DISPLAY DEVICE例文帳に追加

表示装置の欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT CORRECTION METHOD OF COLOR FILTER例文帳に追加

カラーフィルタの欠陥修正方法 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD AND DEVICE例文帳に追加

欠陥検出方法および装置 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD FOR INSULATOR例文帳に追加

絶縁碍子の欠陥検査方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTION OF DEFECT例文帳に追加

欠陥検査方法とその装置 - 特許庁

DEFECT DETECTING APPARATUS AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

欠陥検出装置及び方法 - 特許庁

METHOD FOR EVALUATING DEFECT OF SEMICONDUCTOR例文帳に追加

半導体の欠陥評価方法 - 特許庁

To reduce HF-defect density of an SOI.例文帳に追加

SOIのHF欠陥密度を低減する。 - 特許庁

LIGHT GUIDE AND DEFECT TESTING DEVICE例文帳に追加

ライトガイドおよび欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE OF CONTAINER MOUTH PART例文帳に追加

容器口部の欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT MANAGEMENT DEVICE FOR MULTILAYER DISK例文帳に追加

多層ディスクのディフェクト管理装置 - 特許庁

SYSTEM FOR DETECTING MACRO DEFECT例文帳に追加

マクロ欠陥検出のためのシステム - 特許庁

Then, if there's any defect...例文帳に追加

えッ? それで もし異常があったら - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

There was a manufacturing defect.例文帳に追加

製造上の欠陥がありました - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

defect or weakness in a person's character 例文帳に追加

人の性格の欠陥か弱点 - 日本語WordNet

例文

APPARATUS FOR MENDING DEFECT OF WOODY MATERIAL例文帳に追加

木質材の欠陥補修装置 - 特許庁




  
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