「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(17ページ目) - Weblio英語例文検索

IMAGE DEFECT INSPECTION METHOD, IMAGE DEFECT INSPECTION DEVICE, AND VISUAL INSPECTION DEVICE例文帳に追加

画像欠陥検査方法、画像欠陥検査装置及び外観検査装置 - 特許庁

ANALYZING DEVICE FOR DEFECT OF MEMORY LSI, AND ANALYZING METHOD FOR DEFECT OF MEMORY LSI例文帳に追加

メモリＬＳＩ不良解析装置およびメモリＬＳＩ不良解析方法 - 特許庁

ON-LINE DEFECT REMOVING DEVICE FOR STEEL STRIP, AND DEFECT REMOVING METHOD THEREFOR例文帳に追加

金属鋼帯のオンライン欠陥除去装置及びその欠陥除去方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING DETERIORATION IN DEFECT STATE OF DEFECT SECTOR例文帳に追加

ディフェクトセクタのディフェクト状況の悪化を検査するための方法及び装置 - 特許庁

ON-LINE DEFECT REMOVING DEVICE OF METALLIC STEEL STRIP AND ITS DEFECT REMOVING METHOD例文帳に追加

金属鋼帯のオンライン欠陥除去装置及びその欠陥除去方法 - 特許庁

IMAGE DEFECT INSPECTION METHOD, IMAGE DEFECT INSPECTION DEVICE, AND EXTERNAL APPEARANCE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

画像欠陥検査方法、画像欠陥検査装置及び外観検査装置 - 特許庁

COATING DEFECT INSPECTING METHOD, AND COATING DEVICE HAVING COATING DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

塗工欠陥検査法と、塗工欠陥検査装置を備えた塗工装置 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING SPECIFIC DEFECT, AND SYSTEM AND PROGRAM FOR DETECTING SPECIFIC DEFECT例文帳に追加

特定欠陥の検出方法、特定欠陥の検出システムおよびプログラム - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD, METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

欠陥検査方法、半導体装置の製造方法及び欠陥検査装置 - 特許庁

SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD AND SURFACE DEFECT INSPECTION APPARATUS USING THE SAME例文帳に追加

表面欠陥検査方法及びそれを用いた表面欠陥検査装置 - 特許庁

To detect defects and to classify defect types and defect causes.例文帳に追加

欠陥の検出、並びに欠陥タイプ及び欠陥原因の分類を行う。 - 特許庁

In the second defect detection, since detection is performed in the unseparated state between the second true device defect and a pseudo defect, the second true device defect is detected separately by using a pseudo defect detected by the pseudo defect detection.例文帳に追加

第２の欠陥検出では、第２の真のデバイス欠陥と擬似欠陥とが分離されない状態で検出されるため、擬似欠陥検出で検出した擬似欠陥を用いて、第２の真のデバイス欠陥を分離して検出する。 - 特許庁

The educated artificial neural network discriminates the type of the defect positioned in the defect position on the basis of the defect signal and a plurality of the defect approach signals to output the type of the defect positioned in the defect position.例文帳に追加

教育された人工ニューラルネットワークは、欠陥信号及び複数の欠陥近接信号に基づいて欠陥位置に位置する欠陥のタイプを識別して、欠陥位置に位置する欠陥のタイプを出力することができる。 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD AND APPARATUS THEREFOR例文帳に追加

欠陥検出方法及びその装置 - 特許庁

DEFECT DISPLAY METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加

欠陥表示方法およびその装置 - 特許庁

TESTING APPARATUS FOR REVELATION OF DEFECT IN CLOTH例文帳に追加

布地の欠陥の発現試験装置 - 特許庁

WOBBLE DEFECT DETECTOR AND METHOD例文帳に追加

ウォブル欠陥検出装置及び方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTION OF DEFECT例文帳に追加

欠陥検査方法およびその装置 - 特許庁

METHOD AND ITS APPARATUS FOR DETECTING DEFECT例文帳に追加

欠陥検査方法およびその装置 - 特許庁

DEFECT DETECTING METHOD BY LASER BEAM例文帳に追加

レーザ光による欠陥検出方法 - 特許庁

METHOD FOR CORRECTING DEFECT OF ITO FILM例文帳に追加

ＩＴＯ膜の欠損修正方法 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

パターン欠陥検査装置および方法 - 特許庁

METHOD OF CORRECTING DEFECT OF EUV MASK例文帳に追加

ＥＵＶマスクの欠陥修正方法 - 特許庁

IMAGING DEVICE AND DEFECT CORRECTION METHOD例文帳に追加

撮像装置及び欠陥補正方法 - 特許庁

To surely and rapidly know a defect.例文帳に追加

不良を確実に、かつ迅速に知る。 - 特許庁

DEFECT EVALUATION OF SEMICONDUCTOR SUBSTRATE例文帳に追加

半導体基板の欠陥評価方法 - 特許庁

PIXEL DEFECT MASKING METHOD FOR IMAGING DEVICE例文帳に追加

撮像素子の画素欠陥マスク方法 - 特許庁

METHOD FOR SPECIFYING I/O MODULE DEFECT例文帳に追加

故障Ｉ／Ｏモジュールの特定方法 - 特許庁

DEFECT POSITION DETECTION METHOD AND DEVICE例文帳に追加

不良位置検出方法及び装置 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD OF SOI SUBSTRATE例文帳に追加

ＳＯＩ基板の欠陥検出方法 - 特許庁

STAIN DEFECT DETECTION METHOD AND DEVICE例文帳に追加

シミ欠陥検出方法および装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

欠陥検出方法及びその装置 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD AND APPARATUS例文帳に追加

パターン欠陥検査方法および装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND APPARATUS FOR THE SAME例文帳に追加

欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁

DEFECT REPAIRING METHOD AND REPAIRING MATERIAL例文帳に追加

欠陥補修方法および補修材 - 特許庁

DEFECT INFORMATION MANAGEMENT METHOD FOR STEEL MATERIAL例文帳に追加

鋼材の欠陥情報管理方法 - 特許庁

DEFECT CORRECTION METHOD BY LASER BEAM例文帳に追加

レーザ光による欠陥修正方法 - 特許庁

MASK AND MASK DEFECT MODIFYING METHOD例文帳に追加

マスクおよびマスク欠陥修正方法 - 特許庁

EUV MASK WHITE DEFECT CORRECTING METHOD例文帳に追加

ＥＵＶマスク白欠陥修正方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DEFECT CLASSIFICATION例文帳に追加

欠陥分類方法およびその装置 - 特許庁

DEFECT DETECTION APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

半導体ウェハの欠陥検出装置 - 特許庁

a defect that is present at birth 例文帳に追加

出生時に存在している欠陥 - 日本語WordNet

DEFECT PROCESSING ANALYZER AND METHOD例文帳に追加

不具合処理分析装置及び方法 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD FOR SOI SUBSTRATE例文帳に追加

ＳＯＩ基体の欠陥検出方法 - 特許庁

INSPECTION METHOD FOR COMMON SHAPE DEFECT例文帳に追加

共通形状欠陥の検査方法 - 特許庁