Defectを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 18303件
DEFECT INSPECTION APPARATUS AND METHOD FOR THE SAME例文帳に追加
欠陥検査装置およびその方法 - 特許庁
DEFECT INSPECTION METHOD AND APPARATUS FOR THE SAME例文帳に追加
欠陥検査方法およびその装置 - 特許庁
METHOD OF DETECTING DISPLAY DEFECT IN LIQUID CRYSTAL PANEL, AND INSPECTION DEVICE FOR DISPLAY DEFECT THEREIN例文帳に追加
液晶パネルの表示欠陥検出方法及び表示欠陥検査装置 - 特許庁
Also, a defect frequency monitoring mechanism connected to the TLB is provided with a function for comparing the defect frequency with the defect threshold, and when the defect frequency exceeds the defect threshold, issuing a signal to stop the process.例文帳に追加
また、TLBに接続される障害回数監視機構は、これら2つを比較し障害回数が障害閾値を超えている場合には、当該プロセスを停止させる信号を発行する機能を有する。 - 特許庁
PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD AND APPARATUS THEREOF例文帳に追加
パターン欠陥検査方法および装置 - 特許庁
SURFACE DEFECT INSPECTION APPARATUS AND METHOD例文帳に追加
表面欠陥検査装置及び方法 - 特許庁
SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD AND APPARATUS例文帳に追加
表面欠陥検査方法及び装置 - 特許庁
DEFECT MARKING APPARATUS FOR SHEET-LIKE PRODUCT例文帳に追加
シート状製品の欠陥マーキング装置 - 特許庁
DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD OF THE SAME例文帳に追加
欠陥検査装置およびその方法 - 特許庁
METHOD FOR CORRECTING DEFECT OF LIQUID CRYSTAL PANEL例文帳に追加
液晶パネルの欠陥修正方法 - 特許庁
To provide a defect-inspection optical system and a surface-defect inspection apparatus wherein a recess defect and a protrusion defect can be discriminated and inspected with high accuracy regarding an irregular defect on the surface of a face plate.例文帳に追加
面板表面の凹凸欠陥について凹部欠陥と凸部欠陥を精度よく区別して検出することができる欠陥検出光学系および表面欠陥検査装置を提供することにある。 - 特許庁
METHOD FOR INSPECTING DEFECT OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置の欠陥検査方法 - 特許庁
DEFECT INSPECTING METHOD AND DEFECT INSPECTING DEVICE FOR PLASMA DISPLAY PANEL BACK PLATE例文帳に追加
プラズマディスプレイパネル用背面板の欠陥検査方法および欠陥検査装置 - 特許庁
DEFECT EVALUATION METHOD OF LONG MEMBER, AND DEFECT EVALUATION DEVICE OF LONG MEMBER例文帳に追加
長尺部材の欠陥評価方法及び長尺部材の欠陥評価装置 - 特許庁
PIXEL DEFECT CORRECTION METHOD, PIXEL DEFECT CORRECTION APPARATUS, INSPECTION METHOD AND INSPECTION APPARATUS例文帳に追加
画素欠陥補正方法、画素欠陥補正装置、検査方法及び検査装置 - 特許庁
Then, based on at least positional information of the defect included in the reference image, a defect candidate overlaying the defect included in the reference image is removed from the defect candidates by a defect detecting section 45.例文帳に追加
そして、欠陥検出部45にて基準画像が有する欠陥の少なくとも位置情報に基づいて欠陥候補から基準画像が有する欠陥と重複するものが除外される。 - 特許庁
METHOD FOR INSPECTING DEFECT IN BLOCK OF FURNACE BODY IN BLAST FURNACE AND METHOD FOR REPAIRING THIS DEFECT例文帳に追加
高炉炉体のブロックの欠陥検査方法、および、その欠陥補修方法 - 特許庁
DEFECT INSPECTION DEVICE, AND PARAMETER ADJUSTING METHOD USED FOR DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加
欠陥検査装置およびこの欠陥検査装置に用いるパラメータ調整方法。 - 特許庁
DEVELOPMENT DEFECT PREVENTING PROCESS AND MATERIAL例文帳に追加
現像欠陥防止プロセス及び材料 - 特許庁
a common congenital heart defect 例文帳に追加
一般的な先天性の心臓障害 - 日本語WordNet
To provide a defect detection method and a defect detection device improving sensitivity of defect detection of an inspection object, even when a bright defect and a dark defect are mixed together.例文帳に追加
明欠陥と暗欠陥とが混在する場合にも被検査物の欠陥検出の感度を向上することができる欠陥検出方法及び欠陥検出装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
METHOD FOR ANALYZING DEFECT OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置の不良解析方法 - 特許庁
DEFECT OBSERVATION METHOD AND APPARATUS FOR THE SAME例文帳に追加
欠陥観察方法及びその装置 - 特許庁
The defect area presumption section 128 presumes the defect positions on a second recording layer based on the defect positions on the first recording layer specified by the defect deciding section 125 and the defect position acquiring section 126.例文帳に追加
欠陥領域推定部128は、欠陥判定部125及び欠陥位置取得部126によって特定された第1記録層の欠陥位置に基づいて第2記録層の欠陥領域を推定する。 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTION COLOR UNEVENNESS DEFECT例文帳に追加
色ムラ欠陥検査方法及び装置 - 特許庁
DEFECT DETECTING CIRCUIT AND CONTROLLER例文帳に追加
ディフェクト検出回路及び制御装置 - 特許庁
DEFECT PREVENTION METHOD IN BLOOMING例文帳に追加
分塊圧延における疵防止方法 - 特許庁
MANUFACTURING METHOD FOR DEFECT-MARKED COIL例文帳に追加
欠陥マーキングしたコイルの製造方法 - 特許庁
DEFECT INSPECTION METHOD OF PDP SUBSTRATE例文帳に追加
PDP用基板の欠陥検査方法 - 特許庁
CRYSTAL DEFECT EVALUATION METHOD AND APPARATUS例文帳に追加
結晶欠陥評価方法及び装置 - 特許庁
To provide a defect inspection device, defect inspection method, and defect inspection program capable of shortening the inspection time.例文帳に追加
検査時間を短縮することができる欠陥検査装置、欠陥検査方法及び欠陥検査プログラムを提供すること。 - 特許庁
To provide an optical defect inspection device capable of improving defect coordinate accuracy and reducing detection defect coordinate errors.例文帳に追加
欠陥座標精度を向上し、検出欠陥座標誤差を低減可能な光学式欠陥検査装置を実現する。 - 特許庁
The pseudo-defect information used for retrieval of the pseudo-defect includes position data of the pseudo-defect and intensity data of the pseudo-defects.例文帳に追加
疑欠陥の検索に用いる疑欠陥情報は、疑欠陥の位置データと疑欠陥の強度データを含む。 - 特許庁
APPARATUS FOR IDENTIFYING OBSTACLE CAUSING GHOST DEFECT, METHOD FOR IDENTIFYING OBSTACLE CAUSING GHOST DEFECT, AND PROGRAM FOR IDENTIFYING OBSTACLE CAUSING GHOST DEFECT例文帳に追加
ゴースト障害誘起物特定装置、ゴースト障害誘起物特定方法およびゴースト障害誘起物特定プログラム - 特許庁
IMAGE DEFECT DETECTING METHOD, IMAGE DEFECT REPAIRING METHOD, IMAGE DEFECT DETECTING DEVICE, AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM例文帳に追加
画像欠陥検出方法、画像欠陥修復方法、画像欠陥検出装置およびコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁
To detect only a projecting defect, of the projecting defect and a recessed defect on a cylindrical surface of a measuring object.例文帳に追加
被測定物の円筒状表面における凸状欠陥と凹状欠陥のうちの凸状欠陥のみを検出する。 - 特許庁
Then, the detection device determines a point defect and a line defect from the defect pixel candidates in each classification after movement.例文帳に追加
そして、検出装置は、移動後の前記種別ごとの欠陥画素候補から、点欠陥又は線欠陥を決定する。 - 特許庁
The implant is cut to fit the defect when the depth of the defect is determined, and then inserted in the defect.例文帳に追加
インプラントは、欠損の深さが決定されるとその欠損に適合するように切断され、次いで欠損に挿入される。 - 特許庁
To put it concretely, defect data stored in a defect data storing part 31 are classified based on a defect parameter value.例文帳に追加
具体的には、欠陥データ記憶部31に記憶されている欠陥データを欠陥パラメータ値に基づいて分類する。 - 特許庁
The device is also characterized by determining the defect generation cause by performing defect discrimination from frequency component information of the defect signals.例文帳に追加
この欠陥信号の周波数成分情報から、欠陥弁別をおこない欠陥の発生原因を判定する。 - 特許庁
A kind of the defect in the defect candidate is determined based on the brightness of the original image in a periphery of the block of the defect candidate.例文帳に追加
欠点候補のブロックの周囲の原画像の輝度に基づいて、当該欠点候補の欠点種類を判別する。 - 特許庁
To evaluate the degree of risk that a defect may occur in concrete, on a defect-type-by-defect-type basis, in accordance with a concrete construction plan.例文帳に追加
コンクリート施工計画に基づいて、コンクリートに欠陥が発生する危険度を欠陥の種類毎に評価する。 - 特許庁
Defect information to indicate a position of the detected defect in the image is generated and memorized in a defect information memory part 26.例文帳に追加
検出された画像欠陥の位置を示す欠陥情報を生成して欠陥情報メモリ部26に記憶する。 - 特許庁
A determination part 52 acquires a plurality of defect factor pairs comprising defect factors deriving from the same defect.例文帳に追加
判定部52では、同一欠陥に由来する欠陥要素により構成される複数の欠陥要素ペアが取得される。 - 特許庁
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