「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(20ページ目) - Weblio英語例文検索

The inspection apparatus of the display panel is provided with a streak defect emphasizing means 300, a defect distinguishing means 400 distinguishing a streak defect from the rubbing streak defect on the basis of the image emphasized by the streak defect emphasizing means 300 and a rubbing streak defect evaluating means 500 evaluating the defect distinguished as the rubbing streak defect by the defect distinguishing means 400.例文帳に追加

表示パネルの検査装置は、スジ欠陥強調手段３００と、前記スジ欠陥強調手段３００において強調された画像に基づいて、スジ欠陥とラビジングスジ欠陥とを分別する欠陥分別手段４００と、前記欠陥分別手段４００においてラビングスジ欠陥と分別された欠陥を評価するラビングスジ欠陥評価手段５００とを備える。 - 特許庁

IMAGE PROCESSING DEVICE AND DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

画像処理装置及び欠陥検査装置 - 特許庁

SURFACE DEFECT DETECTION METHOD AND DEVICE例文帳に追加

表面欠陥検出方法及び装置 - 特許庁

Thereby, only a spot defect image 41, an allowable defect image 42, and a stain defect image 53 remain in the composite image 60, to thereby detect a defect surely.例文帳に追加

これにより、合成画像６０には、ブツ欠陥画像４１、許容欠陥画像４２、ヨゴレ欠陥画像５３のみが残り、欠陥を確実に検出することができる。 - 特許庁

AUTOMATIC DEFECT INSPECTION DEVICE FOR FILM SURFACE例文帳に追加

フィルム表面の自動欠陥検査装置 - 特許庁

PRODUCT DEFECT MONITORING SYSTEM FOR PRODUCTION PROCESS例文帳に追加

生産工程の製品不良監視システム - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR DISPLAYING PRINTING DEFECT例文帳に追加

印刷欠陥表示方法および装置 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD OF MATRIX STRUCTURE AND DEFECT DETECTION DEVICE OF MATRIX STRUCTURE例文帳に追加

マトリクス構造の欠陥検出方法およびマトリクス構造の欠陥検出装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD, DEFECT INSPECTION DEVICE, AND LINEAR LIGHT SOURCE DEVICE USED FOR IT例文帳に追加

欠陥検査方法、欠陥検査装置及びそれに用いるライン状光源装置 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR DEFECT DETECTION例文帳に追加

欠陥検出のための方法及びシステム - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD, DEFECT DETECTION SYSTEM AND METHOD OF MANUFACTURING LIGHT EMITTING DEVICE例文帳に追加

欠陥検出方法及び欠陥検出システム並びに発光素子の製造方法 - 特許庁

ARTICLE DEFECT INFORMATION DETECTOR AND ARTICLE DEFECT INFORMATION DETECTING/PROCESSING PROGRAM例文帳に追加

物品欠陥情報検出装置及び物品欠陥情報検出処理プログラム - 特許庁

SURFACE DEFECT DATA DISPLAY MANAGEMENT DEVICE, AND SURFACE DEFECT DATA DISPLAY MANAGEMENT METHOD例文帳に追加

表面欠陥データ表示管理装置および表面欠陥データ表示管理方法 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD, DEFECT DETECTION APPARATUS, LEARNING METHOD, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

欠陥検出方法、欠陥検出装置、学習方法、プログラム、及び記録媒体 - 特許庁

MEMORY DEFECT TREATMENT DEVICE AND ITS METHOD例文帳に追加

メモリー欠陥処理装置及びその方法 - 特許庁

INTERNAL DEFECT INSPECTION DEVICE FOR TUNNEL LINING例文帳に追加

トンネル覆工の内部欠陥検査装置 - 特許庁

To promptly detect a flowing defect of a drying object and to carry out countermeasures against the defect.例文帳に追加

被乾燥物の流動不良をいち早く検知して対策を実施すること。 - 特許庁

DEFECT INSPECTION APPARATUS, DEFECT INSPECTION PROGRAM, FIGURE DRAWING APPARATUS, AND FIGURE DRAWING SYSTEM例文帳に追加

欠陥検査装置、欠陥検査プログラム、図形描画装置および図形描画システム - 特許庁

METHOD FOR DETECTING DEFECT IN OZONE GENERATING ELEMENT例文帳に追加

オゾン発生素子の欠陥検出方法 - 特許庁

DEFECT-PIXEL SENSING DEVICE AND RECORDING MEDIUM WITH RECORDED DEFECT-PIXEL SENSING PROGRAM例文帳に追加

欠陥画素検出装置及び欠陥画素検出プログラムが記録された記録媒体 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD AND IMAGE PICKUP DEVICE例文帳に追加

欠陥検出方法および撮像装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR DEFECT-POSITION-INPUT SUPPORT例文帳に追加

欠陥位置入力支援装置・方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD例文帳に追加

欠陥検査装置及び欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE例文帳に追加

欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁

METHOD OF REPAIRING HALFTONE DEFECT OF PHOTOMASK例文帳に追加

フォトマスクのハーフトーン欠陥修正方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD OF GLASS TUBE FOR VESSELS例文帳に追加

管球用ガラス管の欠陥検査方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD FOR DEFECT-MARKED COIL例文帳に追加

欠陥マーキングされたコイルの製造方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTION OF DEFECT例文帳に追加

欠陥検査方法と欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT MEASURING DEVICE AND METHOD OF SPECIMEN例文帳に追加

試料の欠陥測定装置及び方法 - 特許庁

METHOD FOR INSPECTING DEFECT OF DISPLAY PANEL例文帳に追加

ディスプレイパネルの欠陥を検査する方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTING APPARATUS AND METHOD例文帳に追加

欠陥検査装置及び欠陥検査方法 - 特許庁

SURFACE DEFECT EVALUATION METHOD OF SILICON WAFER例文帳に追加

シリコンウェーハの表面欠陥評価方法 - 特許庁

Also, a waveform part of large defect is detected from the full-wave rectification signal, and a defect compensation pulse for compensating and adding a defect time of the large defect is generated.例文帳に追加

また全波整流信号からラージ・ディフェクトの波形部分を検出し、そのラージ・ディフェクトのディフェクト時間を補償加算するためのディフェクト補償パルスを生成する。 - 特許庁

A defect occurrence rate deriving part 22 derives the defect occurrence rate, based on the times of defect detection obtained by the defect identification determining part 21 with referring to the database 24.例文帳に追加

不良発生率導出部２２は、データベース２４を参照して、欠陥同一判定部２１によって求められた欠陥検出回数から不良発生率を導出する。 - 特許庁

DEFECT RELIEVING CIRCUIT FOR STORAGE DEVICE FOR PROCESSING PICTURE, AND ITS DEFECT RELIEVING METHOD例文帳に追加

画像処理用記憶装置の欠陥救済回路およびその欠陥救済方法 - 特許庁

DEFECT DETECTION USING GRAY LEVEL SIGNATURE例文帳に追加

グレーレベルシグネチャを使用する欠陥検出 - 特許庁

Then, in a failure probability calculation processing 13 for each defect, the failure probability of each defect in the defect map data is calculated and the defect map data with the failure probability are prepared.例文帳に追加

次に、欠陥別不良確率算出処理１３で、欠陥マップデータ中の各欠陥の不良確率を算出し、不良確率付き欠陥マップデータを作成する。 - 特許庁

The defect is automatically identified and a charged particle beam image of the defect is then obtained.例文帳に追加

その欠陥が自動的に特定され、欠陥の荷電粒子ビーム画像が得られる。 - 特許庁

The GaN layer 10 includes a high-defect region 10a and a low-defect region 10b lower in defect density than the high-defect region 10a, and has a principal surface 10c.例文帳に追加

ＧａＮ層１０は、高欠陥領域１０ａと、高欠陥領域１０ａよりも欠陥密度の低い低欠陥領域１０ｂとを含み、主表面１０ｃを有する。 - 特許庁

DROSS DEFECT INSPECTION DEVICE AND DROSS DEFECT INSPECTION METHOD OF MOLTEN METAL PLATING STEEL PLATE例文帳に追加

溶融金属メッキ鋼板のドロス欠陥検査装置およびドロス欠陥検査方法 - 特許庁

In the first defect detection, since detection is performed in the unseparated state between a pseudo defect and a normal state, the pseudo defect is detected by pseudo defect detection.例文帳に追加

第１の欠陥検出では、擬似欠陥と正常状態とが分離されない状態で検出されるため、擬似欠陥検出によって擬似欠陥を検出する。 - 特許庁

To realize defect inspection data processing by which the TAT reduction of a defect inspection process is possible and the precise defect coordinate data of a defect position can be obtained.例文帳に追加

欠陥検査工程のＴＡＴ短縮が可能で、また欠陥位置の高精度な欠陥座標データを得ることができる欠陥検査データ処理を可能とする。 - 特許庁

ARTICLE DEFECT INFORMATION DETECTOR AND ARTICLE DEFECT INFORMATION DETECTION PROCESSING PROGRAM例文帳に追加

物品欠陥情報検出装置及び物品欠陥情報検出処理プログラム - 特許庁

METHOD OF DETECTING DEFECT IN SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

半導体ウェーハの欠陥検出方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTING METHOD OF SUBSTRATE, AND PROGRAM例文帳に追加

基板の欠陥検査方法及びプログラム - 特許庁