「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(23ページ目) - Weblio英語例文検索

DEFECT INSPECTION DEVICE AND PTP PACKING MACHINE例文帳に追加

不良検査装置及びＰＴＰ包装機 - 特許庁

IMAGING DEVICE AND PIXEL DEFECT CORRECTION METHOD例文帳に追加

撮像装置及び画素欠陥補正方法 - 特許庁

DEFECT JUDGING SYSTEM AND SUBSTRATE PROCESSING SYSTEM例文帳に追加

欠陥判定システムおよび基板処理システム - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD AND INSPECTION DEVICE例文帳に追加

パターン欠陥検査方法および検査装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE例文帳に追加

欠陥検査方法および欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD例文帳に追加

欠陥検査装置および欠陥検査方法 - 特許庁

To improve yield by modifying a micro hole defect occurring in a micro hole defect work piece.例文帳に追加

微細孔加工品に生じた微細孔欠陥を修正し、歩留りの向上を図る。 - 特許庁

METHOD FOR EVALUATING CRYSTAL DEFECT OF SILICON WAFER例文帳に追加

シリコンウェーハの結晶欠陥評価方法 - 特許庁

METHOD FOR EVALUATING CRYSTAL DEFECT OF SILICON WAFER例文帳に追加

シリコンウエーハの結晶欠陥評価方法 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加

パターン欠陥検査方法およびその装置 - 特許庁

METHOD FOR INSPECTING MASK DEFECT, DEVICE FOR INSPECTING MASK DEFECT, AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

マスク欠陥検査方法、マスク欠陥検査装置、および半導体装置の製造方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTING APPARATUS AND METHOD例文帳に追加

欠陥検査装置および欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND APPEARANCE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

欠陥検査方法及び外観検査装置 - 特許庁

To provide a defect relieving circuit which can relieve defect of a memory with simple constitution.例文帳に追加

メモリ欠陥を簡易構成で救済し得る欠陥救済回路を提供する点にある。 - 特許庁

To prevent a pseudo defect due to an alignment defect from being induced in a sample inspection apparatus.例文帳に追加

試料検査装置において、位置合わせ不良による擬似欠陥の誘発を防止する。 - 特許庁

FLUID SENSOR PROVIDED WITH DEFECT DETECTOR例文帳に追加

欠陥検出装置を備えた流体センサ - 特許庁

DISK STORAGE DEVICE AND DEFECT MANAGEMENT METHOD例文帳に追加

ディスク記憶装置及びディフェクト管理方法 - 特許庁

INTERNAL DEFECT DETECTOR FOR TUNNEL LINING例文帳に追加

トンネル覆工の内部欠陥検出装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE AND ITS RECORDING MEDIUM例文帳に追加

欠陥検査装置およびその記録媒体 - 特許庁

COLORING COMPOSITION FOR CORRECTING COLOR PATTERN DEFECT AND METHOD FOR CORRECTING DEFECT OF COLOR FILTER例文帳に追加

着色パターン欠陥修正用着色組成物およびカラーフィルタの欠陥修正方法 - 特許庁

DEFECT EMPHASIZING ALGORITHM IN VISUAL INSPECTION例文帳に追加

外観検査における瑕疵強調アルゴリズム - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING SURFACE LAYER DEFECT OR SURFACE DEFECT IN MAGNETIC METAL SPECIMEN例文帳に追加

磁性金属被検体の表層欠陥又は表面欠陥の検出方法及び装置 - 特許庁

To analyze the cause of defect when the defect occurs in a packet within a transmission apparatus.例文帳に追加

伝送装置内でパケットに異常が生じた場合に、異常の原因を解析する。 - 特許庁

IMAGING APPARATUS, AND DEFECT PIXEL PROCESSING METHOD例文帳に追加

撮像装置及び欠陥画素処理方法 - 特許庁

IMAGING SYSTEM AND PIXEL DEFECT CORRECTING DEVICE例文帳に追加

撮像システムおよび画素欠陥補正装置 - 特許庁

PIXEL DEFECT DETECTING METHOD AND ELECTRONIC CAMERA例文帳に追加

画素欠陥検出方法及び電子カメラ - 特許庁

DEFECT INSPECTION MANAGEMENT SYSTEM AND DEFECT INSPECTION SYSTEM AND APPARATUS OF ELECTRONIC CIRCUIT PATTERN例文帳に追加

電子回路パターンの欠陥検査管理システム，電子回路パターンの欠陥検査システム及び装置 - 特許庁

IMAGING APPARATUS AND DEFECT PIXEL CORRECTION METHOD例文帳に追加

撮像装置および欠陥画素補正方法 - 特許庁

Using peripheral pixels of the other defect parts 46, 48, the defect parts 46, 48 are complemented.例文帳に追加

その他の欠落部４６，４８の周辺画素を用いて、欠落部４６，４８を補完する。 - 特許庁

RADIATION IMAGE PHOTOGRAPHING APPARATUS, IMAGE DEFECT DETECTION PROGRAM AND IMAGE DEFECT DETECTION METHOD例文帳に追加

放射線画像撮影装置、画像欠陥検出プログラム、及び画像欠陥検出方法 - 特許庁

CARDIOVASCULAR DEFECT PATCH DEVICE AND METHOD例文帳に追加

心血管欠損部パッチ装置及び方法 - 特許庁

FOREIGN SUBSTANCE DEFECT INSPECTION METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加

異物欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁

COLORANT COMPOSITION FOR CORRECTING COLOR PATTERN DEFECT AND METHOD FOR CORRECTING COLOR FILTER DEFECT例文帳に追加

着色パターン欠陥修正用着色組成物およびカラーフィルタの欠陥修正方法 - 特許庁

SUBSTRATE DEFECT INSPECTION METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加

基板欠陥検査方法およびその装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTING METHOD AND SUBSTRATE INSPECTING APPARATUS例文帳に追加

欠陥検査方法及び基板検査装置 - 特許庁

DISPLAY PANEL DEFECT INSPECTION SYSTEM AND METHOD例文帳に追加

ディスプレイパネル欠陥検査システム及び方法 - 特許庁

This invention relates to the liquid crystal display(LCD) member having the defect repairing function and the defect repairing method therefor.例文帳に追加

欠陥修理機能のある液晶ディスプレイ（ＬＣＤ）部材とその欠陥修理方法。 - 特許庁

UNEVENNESS DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE OF PATTERN例文帳に追加

パターンのムラ欠陥検査方法及び装置 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR INFERRING ENGINE DEFECT例文帳に追加

エンジンの欠陥を推定する方法とシステム - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTING METHOD AND INSPECTING DEVICE例文帳に追加

パターン欠陥検査方法及び検査装置 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTING METHOD AND INSPECTING APPARATUS例文帳に追加

パターン欠陥検査方法及び検査装置 - 特許庁

PHOTORESIST PATTERN FORMING METHOD WHICH SUPPRESSES OCCURRENCE OF DEFECT AND DEVELOPING SOLUTION FOR DIMINISHING DEFECT例文帳に追加

ディフェクトの発生を抑えたホトレジストパターンの形成方法およびディフェクト低減用現像液 - 特許庁

INSULATED GATE FIELD-DEFECT SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

絶縁ゲート型電界効果半導体装置 - 特許庁

METHOD FOR DETERMINING DEFECT OF FINE CONVEX-CONCAVE PATTERN AND METHOD FOR DETERMINING DEFECT OF PATTERNED MEDIA例文帳に追加

微細凹凸パターンの欠陥判定方法、および、パターンドメディアの欠陥判定方法 - 特許庁

METHOD FOR DETERMINING CORRELATION VALUE OF OBJECT TO BE INSPECTED, DEFECT INSPECTION METHOD, AND DEFECT INSPECTION APPARATUS THEREFOR例文帳に追加

被検査対象相関値決定方法、欠陥検査方法とその欠陥検査装置 - 特許庁