「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(26ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD OF DETERMINING DEFECT OF LIQUID DROPLET DISCHARGE HEAD例文帳に追加

液滴吐出ヘッドの不良判定方法 - 特許庁

A defect detection unit included in a defect correction device generates a defect region image being a difference image between a defect image of a repeated pattern in a multilayer substrate and a reference image.例文帳に追加

欠陥修正装置が備える欠陥検出部が、多層基板における繰り返しパターンの欠陥画像と参照画像との差画像である欠陥領域画像を生成する。 - 特許庁

ANALYZING METHOD OF DEFECT IN SEMICONDUCTOR TREATMENT APPARATUS例文帳に追加

半導体処理装置の不良解析方法 - 特許庁

IMAGING APPARATUS HAVING PIXEL DEFECT COMPLEMENTARY FUNCTION例文帳に追加

画素欠陥補完機能を備えた撮像装置 - 特許庁

To provide a defect inspection method, and a defect inspection device for inspecting a place detected as a pseudo-defect of a transmissivity signal without detecting the place as the pseudo-defect.例文帳に追加

透過率信号の疑似欠陥として検出されてしまう箇所を疑似欠陥として検出することなく検査することが可能な欠陥検査方法及び欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

DEFECT INSPECTING METHOD FOR PHOTOMASK WITH ADDITIONAL FIGURE例文帳に追加

付加図形付きフォトマスクの欠陥検査方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING DEFECT DETECTING FUNCTION例文帳に追加

欠陥検出機能を有する半導体装置 - 特許庁

METHOD OF DETECTING DEFECT POSITION OF SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

半導体ウエハの欠陥位置検出方法 - 特許庁

SURFACE DEFECT INSPECTING APPARATUS AND METHOD OF THE SAME例文帳に追加

表面欠陥検査装置及びその方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD ON SUBSTRATE FOR DISPLAY DEVICE例文帳に追加

表示装置用基板の欠陥検査方法 - 特許庁

To provide a defect inspection device and a defect inspection method with which a defect inspection is possible in all areas of a semiconductor wafer to eliminate an area where the defect inspection is impossible.例文帳に追加

半導体ウェハの全ての領域で欠陥検査が可能であり、欠陥検査が不可能な領域をなくすことができる欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

DEFECT INSPECTION APPARATUS AND METHOD FOR LENTICULAR SHEET例文帳に追加

レンチキュラシートの欠陥検査装置及び方法 - 特許庁

SHAPE MEASURING APPARATUS AND DEFECT INSPECTING METHOD例文帳に追加

形状計測装置及び欠陥検査方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING FPD DOT DEFECT例文帳に追加

ＦＰＤドット欠陥検査方法及び装置 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD FOR ROUND BODY CIRCUMFERENCE例文帳に追加

円形体周縁部の欠陥検出方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR DEFECT CLASSIFICATION例文帳に追加

不良分類システムおよび不良分類方法 - 特許庁

OPTICAL SCANNER AND DEFECT DETECTOR例文帳に追加

光学式走査装置及び欠陥検出装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MODIFYING MICRO PORE DEFECT例文帳に追加

微細孔欠陥の修正方法及び装置 - 特許庁

BLOT DEFECT DETECTING METHOD FOR SOLID-STATE IMAGING ELEMENT例文帳に追加

固体撮像素子のシミ欠陥検査方法 - 特許庁

To provide a defect inspection method and a defect inspection device of a sealed honeycomb structure, capable of specifying the position of a cell having a defect and of readily grasping the defect size.例文帳に追加

欠陥のあるセルの位置を特定するとともに、欠陥の大きさを容易に把握することが可能な目封止ハニカム構造体の欠陥検査方法及び欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

欠陥検査方法及びデバイス製造方法 - 特許庁

DEFECT OBSERVING AND CLASSIFYING METHOD, AND ITS DEVICE例文帳に追加

欠陥観察分類方法及びその装置 - 特許庁

DETECTION OF MATERIAL DEFECT AT GROUND POSITION例文帳に追加

地上位置における材料欠陥の検出 - 特許庁

OBSERVATION METHOD FOR LATTICE DEFECT AT INSIDE OF MATERIAL例文帳に追加

材料内部の格子欠陥観察方法 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING CONTAINER DEFECT AND ITS APPARATUS例文帳に追加

容器欠陥検出方法およびその装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING PATTERN DEFECT例文帳に追加

パターン欠陥検出方法およびその装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTION OF DEFECT OF ROUND MATERIAL例文帳に追加

丸材の欠陥検査方法および装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR INSPECTION OF DEFECT例文帳に追加

欠点検査装置および欠点検査方法 - 特許庁

WIRING-DEFECT CORRECTING METHOD, AND APPARATUS THEREOF例文帳に追加

配線欠陥修正方法及びその装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DETECTING DEFECT IN THROUGH HOLE例文帳に追加

スルーホールの欠陥検出方法及び装置 - 特許庁

SYSTEM FOR PREVENTING MACHINING DEFECT IN LASER BEAM MACHINING例文帳に追加

レーザ加工における加工不良防止システム - 特許庁

APPARATUS FOR DETECTING DEFECT OF SHEARING EDGE FOR SIDE TRIMMER例文帳に追加

サイドトリマー用剪断刃の欠損検出装置 - 特許庁

IMPLANT MATERIAL FOR DEFECT IN SUBSTANTIAL BONE例文帳に追加

実質骨欠損部用生体移植材料 - 特許庁

AUTOMATIC DEFECT INSPECTION APPARATUS FOR OPTICAL RECORDING MEDIUM例文帳に追加

光記録媒体の自動欠陥検査装置 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS AND DEFECT CORRECTING METHOD例文帳に追加

荷電ビーム装置および欠陥修正方法 - 特許庁

EQUIPMENT AND METHOD FOR DEFECT CLASSIFICATION例文帳に追加

欠陥分類装置及び欠陥分類方法 - 特許庁

DEFECT DETECTING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

欠陥検出装置及び欠陥検出方法 - 特許庁

To provide a line defect detection method with which even a line defect in a gate direction can be clearly detected in defect detection of a TFT array substrate, and a line defect detection apparatus.例文帳に追加

ＴＦＴアレイ基板の欠陥検出において、ゲート方向の線欠陥でも明確に検出することができる線欠陥検出方法及び線欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR GROWING LOW-DEFECT NITRIDE SEMICONDUCTOR例文帳に追加

低欠陥窒化物半導体の成長方法 - 特許庁

DISPLAY PANEL AND LEAK DEFECT DETECTING METHOD例文帳に追加

表示パネル、およびリーク欠陥検出方法 - 特許庁

To provide a defect inspection method capable of inspecting a defect by setting a size determination region having defect detection sensitivity corresponding to the size of a defect part automatically according to the pattern density.例文帳に追加

パターンの密度に応じて自動的に欠陥部分のサイズに応じた欠陥検出感度を有するサイズ判定領域を設定して欠陥検査できる欠陥検査方法を提供すること。 - 特許庁

Since the pixel defect information is corrected starting from one having the highest defect level or a latest detection time, defect pixels can be corrected efficiently even when a defect pixel is generated anew.例文帳に追加

従って、新たに画素欠陥が発生しても欠陥レベルの大きいものから、或いは検出時期の新しいものから補正されるため、効率的に欠陥画素を補正することができる。 - 特許庁

However, if the light bulb itself is a defect.例文帳に追加

しかし もし電球自体に欠陥があれば - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

Bearing in mind the possibility that memory defect will be incurred例文帳に追加

記憶障害が出る可能性も含めて - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

However, if the light bulb itself is a defect例文帳に追加

しかし もし電球自体に欠陥があれば - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書