「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(28ページ目) - Weblio英語例文検索

INK FOR CORRECTING MINUTE DEFECT IN COLORED PATTERN AND METHOD FOR CORRECTING MINUTE DEFECT IN COLORED PATTERN例文帳に追加

微小着色パターン欠陥修正用インキ、及び微小着色パターン欠陥修正方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD AS WELL AS EXPOSURE DEVICE AND EXPOSURE METHOD USING THE SAME例文帳に追加

欠陥検査装置および欠陥検査方法、およびこれを用いた露光装置および露光方法 - 特許庁

To provide a defect detection method capable of precisely detecting a defect of an array substrate.例文帳に追加

アレイ基板の欠陥を精度良く検出することができる欠陥の検出方法を提供する。 - 特許庁

DETECTION OF JUNCTION DEFECT IN SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の接合不良検出方法 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING DEFECT OF TFT ARRAY SUBSTRATE, AND DEFECT DETECTOR OF TFT ARRAY SUBSTRATE例文帳に追加

ＴＦＴアレイ基板の欠陥検出方法、およびＴＦＴアレイ基板の欠陥検出装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD FOR MASK BLANK, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

マスクブランクの欠陥検査装置および欠陥検査方法、ならびに半導体装置の製造方法 - 特許庁

DETECTION METHOD FOR INTERNAL DEFECT AND ULTRASONIC MICROSCOPE FOR DETECTION OF INTERNAL DEFECT BY USING IT例文帳に追加

内部欠陥検出方法、およびそれを用いて内部欠陥を検出する超音波顕微鏡 - 特許庁

DIFFERENTIAL INTERFERENCE MICROSCOPE AND DEFECT INSPECTING DEVICE例文帳に追加

微分干渉顕微鏡及び欠陥検査装置 - 特許庁

To provide a crystal defect analyzer providing only information related to a defect calculating accurate defect size and depth and facilitating the crystal evaluation.例文帳に追加

正確な欠陥サイズと深さが算出された欠陥に対する情報のみを得て、結晶評価が容易な結晶欠陥解析装置を得る。 - 特許庁

Self-diagnosis is conducted based on detection of the false defect as a prescribed defect signal.例文帳に追加

この疑似欠陥が所定の欠陥信号として検出されるかどうかにより、自己診断を行う。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE WITH DEFECT DETECTING FUNCTION例文帳に追加

不具合検出機能を備えた半導体装置 - 特許庁

SIGNAL PROCESSING DEVICE, DEFECT DETECTION DEVICE, SIGNAL PROCESSING METHOD, DEFECT DETECTION METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

信号処理装置、欠陥検出装置、信号処理方法、欠陥検出方法およびプログラム - 特許庁

METHOD FOR PREVENTING PENCIL PIPE DEFECT WITHIN STEEL例文帳に追加

鋼中のペンシルパイプ欠陥を防止する方法 - 特許庁

METHOD FOR SHIELDING SURFACE DEFECT OF MOLDED PRODUCT例文帳に追加

型成形品の表面欠陥の隠蔽方法 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD AND DEFECT DETECTION DEVICE FOR GRAY TONE MASK, DEFECT DETECTION METHOD FOR PHOTOMASK, METHOD FOR MANUFACTURING GRAY TONE MASK, AND PATTERN TRANSFER METHOD例文帳に追加

グレートーンマスクの欠陥検査方法及び欠陥検査装置、フォトマスクの欠陥検査方法、グレートーンマスクの製造方法、並びにパターン転写方法 - 特許庁

To provide a technique for detecting the minute open defect or short defect in a fine pattern.例文帳に追加

微細パターン中の微小なオープン欠陥やショート欠陥を検出する手法を提供する。 - 特許庁

The scattered light from the defect in the inspection range 14 is strong, so that even a fine defect can be detected.例文帳に追加

検査範囲１４の欠陥からの散乱光は強いから、微細な欠陥でも検出される。 - 特許庁

To determine simply and accurately a spike defect and a bridge defect regardless of the thickness of solder.例文帳に追加

半田の厚さに関係なくツノ不良及びブリッジ不良の判定を簡便かつ精度良く行う。 - 特許庁

To provide a pixel defect inspection method of a light emitting device precisely inspecting a defect of pixel.例文帳に追加

精度よく画素の欠陥を検査できる発光装置の画素欠陥検査方法を提供すること。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING DEFECT IN FOAMING SHEET例文帳に追加

発泡シートの欠陥検査方法および装置 - 特許庁

To screen a readout reliability defect which is caused by a defect of insulation characteristics due to a defect at ferroelectric film formation time at the time of an initial inspection.例文帳に追加

強誘電体膜形成時の欠陥による絶縁特性不良で起こる読み出し信頼性不良を、初期検査時にスクリーニングする。 - 特許庁

SURFACE DEFECT INSPECTING APPARATUS, SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD, AND PROGRAM FOR MAKING COMPUTER EXECUTE THE SAME例文帳に追加

表面欠陥検査装置、表面欠陥検査方法、その方法をコンピュータに実行させるプログラム - 特許庁

This inspection data processor is displayed with a defect map 19 indicating a position of a defect on a film, and a defect histogram 21 indicating a distribution of the defects on the film.例文帳に追加

フィルム上の欠陥の位置を示す欠陥マップ１９やフィルム上の欠陥の分布を示す欠陥ヒストグラム２１が表示されている。 - 特許庁

To classify discriminably a true device defect caused by a short-circuit defect, a disconnection or the like from a pseudo defect caused by contamination, particles or the like.例文帳に追加

短絡欠陥や断線等による真のデバイス欠陥と、コンタミネーションやパーティクル等を起因とする擬似欠陥とを識別して分類する。 - 特許庁

METHOD FOR CORRECTING BLACK DEFECT OF MASK CORRECTION APPARATUS例文帳に追加

マスク修正装置の黒欠陥修正方法 - 特許庁

METHOD FOR PREVENTING SEED FROM CAUSING DEFECT IN GERMINATION AND ROSETTE FORMATION例文帳に追加

種子の発芽不良・ロゼット化防止方法 - 特許庁

METHOD FOR INSPECTING DEFECT IN SUBSTRATE AND INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

基板の欠陥検査方法および検査装置 - 特許庁

DEFECT CORRECTION METHOD AND DEVICE例文帳に追加

欠陥修正方法および欠陥修正装置 - 特許庁

To provide a defect inspection device for a solar battery, capable of detecting a position of a defect in a short time.例文帳に追加

短時間で、欠陥部の位置を検知できる太陽電池の欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

CROSSBAR BUS CIRCUIT WITH DEFECT AND ERROR RESISTANCE FUNCTION例文帳に追加

欠陥誤り耐性機能付きクロスバーバス回路 - 特許庁

IDEAL OXYGEN DEPOSITION SILICON HAVING LOW DEFECT DENSITY例文帳に追加

低欠陥密度の理想的酸素析出シリコン - 特許庁

APPEARANCE DEFECT INSPECTION DEVICE OF ANTIREFLECTION FILM AND APPEARANCE DEFECT INSPECTION METHOD USING THE SAME例文帳に追加

反射防止フィルムの外観欠陥検査装置及びそれを用いた外観欠陥検査方法 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING TUBULAR SPACER FOR BONE DEFECT, AND SPACER FOR BONE DEFECT例文帳に追加

骨の欠損のための管状スペーサを製造するための方法および骨の欠損のためのスペーサ - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

欠陥検出方法および欠陥検出装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DEFECT DETECTION例文帳に追加

欠陥検出方法及び欠陥検出装置 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING DEFECT OF PRESSURE BONDING PART OF AERIAL WIRE例文帳に追加

架空線圧着部の欠陥検出方法 - 特許庁

PATTERN DEFECT DETECTING DEVICE AND CORRECTING DEVICE例文帳に追加

パタ—ン欠陥検出装置および修正装置 - 特許庁

To provide a defect inspection device and a defect inspection method capable of improving accuracy of defect inspection at the end of an inspection domain.例文帳に追加

検査領域の端部における欠陥検査の精度を向上させることが可能な欠陥検査装置および欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To easily confirm or analyze relevance between front-surface defect and rear-surface defect.例文帳に追加

表面欠陥と裏面欠陥との関連性を、容易に確認または解析することを可能にする。 - 特許庁

Visual inspection is carried out to detect the defect such as a pattern defect and a foreign matter on the substrate.例文帳に追加

そして、基板上のパターン欠陥や異物の欠陥を検出する外観検査を行う。 - 特許庁

SURFACE DEFECT INSPECTION APPARATUS FOR CYLINDRICAL OBJECT例文帳に追加

円筒状物体の表面欠陥検査装置 - 特許庁

To perform reproduction more resistant to defect by detecting the defect of an optical disk even if the defect, that an amplitude is varied in a short period, is mixed.例文帳に追加

短い周期で振幅が変動するディフェクトが混入していても、光ディスクの欠陥を検出し、よりディフェクトに強い再生を行う。 - 特許庁

DEFECT PREDICTING SYSTEM AND PROGRAM OF STRUCTURE例文帳に追加

構造物の損傷推定システムおよびプログラム - 特許庁

To provide a defect detection system for accurately detecting a cause of defect of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の不良原因を高精度に検出可能な不良検出システムを提供する。 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR DETECTION OF DEFECT例文帳に追加

欠陥検出装置及び欠陥検出方法 - 特許庁