「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(28ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a technique for detecting the minute open defect or short defect in a fine pattern.例文帳に追加

微細パターン中の微小なオープン欠陥やショート欠陥を検出する手法を提供する。 - 特許庁

The scattered light from the defect in the inspection range 14 is strong, so that even a fine defect can be detected.例文帳に追加

検査範囲１４の欠陥からの散乱光は強いから、微細な欠陥でも検出される。 - 特許庁

To determine simply and accurately a spike defect and a bridge defect regardless of the thickness of solder.例文帳に追加

半田の厚さに関係なくツノ不良及びブリッジ不良の判定を簡便かつ精度良く行う。 - 特許庁

To provide a pixel defect inspection method of a light emitting device precisely inspecting a defect of pixel.例文帳に追加

精度よく画素の欠陥を検査できる発光装置の画素欠陥検査方法を提供すること。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING DEFECT IN FOAMING SHEET例文帳に追加

発泡シートの欠陥検査方法および装置 - 特許庁

BLACK DEFECT DETECTING DEVICE FOR SOLID STATE IMAGE SENSING DEVICE AND IMAGING APPARATUS, AND BLACK DEFECT DETECTING METHOD例文帳に追加

固体撮像素子の黒欠陥検出装置及び撮像装置、並びに黒欠陥検出方法 - 特許庁

The defect detection sensitivity of the inspection apparatus for a pattern defect is inspected by the above detection result.例文帳に追加

そして、その検出結果から、パターン欠陥検査装置の欠陥検出感度を検査する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD THEREOF例文帳に追加

半導体の欠陥検査装置及びその方法 - 特許庁

Defect part sensors 2211, 2212, and a defect part removing devices 2221, 2222 are also provided.例文帳に追加

また，欠陥部分センサ２２１１，２２１２と，欠陥部分除去装置２２２１，２２２２とを有している。 - 特許庁

To prevent the image defect caused by a cleaning defect of toner remaining after transfer, for a long period of time.例文帳に追加

転写残トナーのクリーニング不良に起因する画像不良を長期にわたって防止する。 - 特許庁

To provide a device for correcting color filter defect and a method of correcting color filter defect for appropriately correcting a defect of a color filter.例文帳に追加

カラーフィルタの欠陥修正を適切に行なうことが可能なカラーフィルタ欠陥修正装置およびカラーフィルタ欠陥修正方法を提供する。 - 特許庁

METHOD OF EVALUATING CRYSTAL DEFECT OF SOI WAFER例文帳に追加

ＳＯＩウェーハの結晶欠陥の評価方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR ANALYZING DEFECT DISTRIBUTION, AND PROGRAM例文帳に追加

欠陥分布解析システム、方法およびプログラム - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING DEFECT OF AIRTIGHT COMPONENT例文帳に追加

気密部品の欠陥検査方法および装置 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING DEFECT OF COMPOSITE HOLLOW FIBER MEMBRANE例文帳に追加

複合中空糸膜の欠陥検出方法 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING GENE DEFECT AND SPOT MUTATION例文帳に追加

遺伝子欠損と点変異との検出方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR DEFECT CORRECTION例文帳に追加

欠陥修正装置および欠陥修正方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR DEFECT CORRECTION例文帳に追加

欠陥修正装置及び欠陥修正方法 - 特許庁

DEFECT CORRECTION METHOD AND CORRECTING DEVICE例文帳に追加

欠陥修正方法および欠陥修正装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING DEFECT OF OPTICAL INFORMATION RECORDING MEDIUM, AND DEFECT SIZE DETERMINING METHOD例文帳に追加

光情報記録媒体の欠陥検査装置及びその方法並びに欠陥サイズ決定方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTING METHOD, DEFECT INSPECTING DEVICE, SIGNAL RECORDING AND REPRODUCING DEVICE, AND SIGNAL RECORDING MEDIUM例文帳に追加

欠陥検査方法、欠陥検査装置、信号記録及び再生装置、並びに信号記録媒体 - 特許庁

DEFECT COUNTERMEASURE SELECTING DEVICE, DEFECT COUNTERMEASURE SELECTING METHOD, PROGRAM FOR SELECTING DEFECT COUNTERMEASURE, AND RECORDING MEDIUM WITH THE PROGRAM RECORDED THEREON例文帳に追加

不良対策選択装置、不良対策選択方法、不良対策選択用プログラム、および不良対策選択用プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

LASER-ASSISTED CVD SYSTEM, LASER-ASSISTED CVD METHOD, PATTERN DEFECT CORRECTING SYSTEM, AND PATTERN DEFECT CORRECTING METHOD例文帳に追加

レーザＣＶＤ装置、レーザＣＶＤ法、パターン欠陥修正装置及びパターン欠陥修正方法 - 特許庁

To eliminate a line trouble caused by harmful defect, without beforehand cutting the harmful defect portion.例文帳に追加

有害欠陥部分を事前にカットすることなく、有害欠陥によるライントラブルを解消する。 - 特許庁

The defect within the selected section area is picked up by the imaging device, and a defect image is acquired.例文帳に追加

選択された部分領域内の欠陥を撮像装置で撮像し、欠陥画像を取得する。 - 特許庁

CIRCUIT AND METHOD FOR DEFECT DETECTION例文帳に追加

欠陥検出回路及び欠陥検出方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING DEFECT OF OLED DEVICE例文帳に追加

ＯＬＥＤデバイスの欠陥を測定する方法 - 特許庁

OPTICAL SCAN DEVICE AND DEFECT DETECTING DEVICE例文帳に追加

光学式走査装置及び欠陥検出装置 - 特許庁

DEFECT DETECTION DEVICE FOR MACHINED METAL PART例文帳に追加

切削加工金属部品の欠陥検出装置。 - 特許庁

To provide a digital still camera for correcting a temperature white defect without the need for using a temperature sensor for sensing the temperature white defect and an address table for the temperature white defect.例文帳に追加

温度白キズを検出する温度センサと温度白キズのアドレステーブルとを用いずに、温度白キズを補正するデジタルスチルカメラを提供する。 - 特許庁

DEFECT INSPECTION APPARATUS, DEFECT INSPECTION METHOD AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

欠陥検査装置、欠陥検査方法並びにこれを用いた半導体デバイスの製造方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF ITS DEFECT INSPECTION例文帳に追加

半導体装置およびその欠陥検査方法 - 特許庁

A defect present on the element formation surface is detected by the defect inspection device (S4).例文帳に追加

前記欠陥検査装置により前記素子形成面に存在する欠陥を検出する（Ｓ４）。 - 特許庁

Defect location coordinates representing the location of the defect in the first coordinate system is identified (S5).例文帳に追加

前記第１の座標系における前記欠陥の位置を示す欠陥位置座標を特定する（Ｓ５）。 - 特許庁

DETECTION OF JUNCTION DEFECT IN SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の接合不良検出方法 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING DEFECT OF TFT ARRAY SUBSTRATE, AND DEFECT DETECTOR OF TFT ARRAY SUBSTRATE例文帳に追加

ＴＦＴアレイ基板の欠陥検出方法、およびＴＦＴアレイ基板の欠陥検出装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD FOR MASK BLANK, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

マスクブランクの欠陥検査装置および欠陥検査方法、ならびに半導体装置の製造方法 - 特許庁

DETECTION METHOD FOR INTERNAL DEFECT AND ULTRASONIC MICROSCOPE FOR DETECTION OF INTERNAL DEFECT BY USING IT例文帳に追加

内部欠陥検出方法、およびそれを用いて内部欠陥を検出する超音波顕微鏡 - 特許庁

DIFFERENTIAL INTERFERENCE MICROSCOPE AND DEFECT INSPECTING DEVICE例文帳に追加

微分干渉顕微鏡及び欠陥検査装置 - 特許庁

To provide a crystal defect analyzer providing only information related to a defect calculating accurate defect size and depth and facilitating the crystal evaluation.例文帳に追加

正確な欠陥サイズと深さが算出された欠陥に対する情報のみを得て、結晶評価が容易な結晶欠陥解析装置を得る。 - 特許庁

Self-diagnosis is conducted based on detection of the false defect as a prescribed defect signal.例文帳に追加

この疑似欠陥が所定の欠陥信号として検出されるかどうかにより、自己診断を行う。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE WITH DEFECT DETECTING FUNCTION例文帳に追加

不具合検出機能を備えた半導体装置 - 特許庁

SIGNAL PROCESSING DEVICE, DEFECT DETECTION DEVICE, SIGNAL PROCESSING METHOD, DEFECT DETECTION METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

信号処理装置、欠陥検出装置、信号処理方法、欠陥検出方法およびプログラム - 特許庁

METHOD FOR PREVENTING PENCIL PIPE DEFECT WITHIN STEEL例文帳に追加

鋼中のペンシルパイプ欠陥を防止する方法 - 特許庁

METHOD FOR SHIELDING SURFACE DEFECT OF MOLDED PRODUCT例文帳に追加

型成形品の表面欠陥の隠蔽方法 - 特許庁