「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(32ページ目) - Weblio英語例文検索

DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING DEFECT OF STEEL STRIP例文帳に追加

鋼帯の欠陥検査装置及び検査方法 - 特許庁

BONE DEFECT FILLER, AND METHOD FOR PRODUCING THE SAME例文帳に追加

骨欠損充填材およびその製造方法 - 特許庁

DEFECT ANALYSIS APPARATUS, INSPECTION SYSTEM, AND INSPECTION METHOD例文帳に追加

欠陥解析装置，検査システム、及び、検査方法 - 特許庁

METHOD OF EVALUATING CRYSTAL DEFECT IN SILICON SINGLE CRYSTAL例文帳に追加

シリコン単結晶の結晶欠陥評価方法 - 特許庁

APPARATUS FOR THICKNESS DEFECT INSPECTION AND ITS INSPECTION METHOD例文帳に追加

厚み欠陥検査装置及びその検査方法 - 特許庁

ANALYSIS STRUCTURE FOR SEMICONDUCTOR DEFECT ANALYSIS例文帳に追加

半導体不良分析のための分析構造体 - 特許庁

ANALYSIS METHOD OF SEMICONDUCTOR DEFECT AND SYSTEM THEREOF例文帳に追加

半導体不良解析方法およびそのシステム - 特許庁

SECONDARY PROCESSING METHOD FOR CORRECTION POINT OF PHOTOMASK DEFECT例文帳に追加

フォトマスク欠陥修正個所の二次処理方法 - 特許庁

ANALYSIS METHOD OF LATTICE DEFECT IN TITANIUM DIOXIDE例文帳に追加

二酸化チタン中の格子欠陥の分析方法 - 特許庁

Yes, as long as it's not the light bulb itself is not a defect.例文帳に追加

はい 電球自体に欠陥がない限りは - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

There's a zero day defect on this firewall.例文帳に追加

このファイアウォールには ゼロデイ攻撃の弱点がある - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

a congenital heart defect producing cyanosis 例文帳に追加

チアノーゼを発生させる先天的な心臓の欠陥 - 日本語WordNet

METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING PIXEL LIGHT BEAM DEFECT例文帳に追加

画素光ビーム欠陥検出方法および装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR DECIDING DEFECT OF BRUSH SEALING例文帳に追加

ブラシ封じの欠陥を判定する方法と装置 - 特許庁

To easily inspect a defect on the cylinder head bottom face.例文帳に追加

シリンダヘッド下面の欠陥を容易に検査する。 - 特許庁

ROLLING PASS METHOD WITHOUT OCCURRENCE OF CENTER DEFECT例文帳に追加

中心欠陥の発生しない圧延パス方法 - 特許庁

To improve efficiency of defect analysis.例文帳に追加

不良解析の効率向上を図ることにある。 - 特許庁

REDUCTION IN WATERMARK DEFECT BY RESIST OPTIMIZATION例文帳に追加

レジストの最適化によるウオータマーク欠陥の低減 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING DEFECT UNDER SURFACE SKIN OF METAL CAST SLAB例文帳に追加

金属鋳片の表皮下欠陥検出方法 - 特許庁

PERIODIC DEFECT DETECTING DEVICE AND METHOD FOR THE SAME例文帳に追加

周期性欠陥検出装置及びその方法 - 特許庁

PROGRAM FOR EXTRACTING CANDIDATE FOR DEFECT SOURCE AND INSPECTION SYSTEM例文帳に追加

欠陥源候補抽出プログラムと検査システム - 特許庁

To improved the determination precision of defect classification.例文帳に追加

欠陥分類の判定精度を向上すること。 - 特許庁

3.Period of the Vendor's defect warranty liability and other liability 例文帳に追加

（３）ベンダーの担保責任等が問われる期間 - 経済産業省

To provide an optical disk apparatus and a defect processing method for an optical disk by which a defect of a disk can be detected without delay and the defect can be removed.例文帳に追加

遅延なくディスクの欠陥を検出してその欠陥を除去することができる光ディスク装置及び光ディスクの欠陥処理方法を提供すること。 - 特許庁

The memory respectively stores primary defect information indicating a defect area on the disk including the protrusive defective part and the secondary defect information.例文帳に追加

メモリは、前記凸状欠陥部を含む前記ディスク上の欠陥エリアを示す主要ディフェクト情報及び前記補助的ディフェクト情報をそれぞれ記憶する。 - 特許庁

To provide an apparatus for correcting a defect in a pattern, which corrects the defect on a photomask, by applying a pattern correcting material at an adequate size onto the defect in the pattern.例文帳に追加

フォトマスク上の欠陥にパターン修正材料を適切な大きさにて付与して欠陥を修正するパターン欠陥修正装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect detector which can detect the defect of a carrier, using an optimum defect detection method, according to the classification of the tape carrier.例文帳に追加

テープキャリアの種別などに応じて、最適な欠陥検出手法を用いて、テープキャリアの欠陥を検出可能な欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

To detect a defect in wiring, the defect being latent in the wiring of a printed board made of a composite material of a resin and copper, and discriminate the defect in a state of a printed board.例文帳に追加

樹脂と銅の複合材料からなるプリント基板の配線に潜む配線異常を検出し、プリント基板の状態で判別可能とすること。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of suppressing a defect data amount to be managed without impeding acquisition of a defect generation state on a substrate to be inspected.例文帳に追加

被検査基板における欠陥発生状況の把握を妨げることなく、管理すべき欠陥データ量を抑制できる欠陥検査装置の提供。 - 特許庁

A primary defect detection part 36 executes primary defect detection processing for detecting existence of a large defect larger than the prescribed size on an inspection object.例文帳に追加

１次欠陥検出部３６は、検査対象物上の所定サイズ以上の大欠陥の有無を検出する１次欠陥検出処理を実行する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device and a defect inspection method capable of enlarging a taking range of light scattered from a fine defect, and heightening signal intensity.例文帳に追加

微細な欠陥から散乱した光の取込範囲を拡大し信号強度を高める欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection apparatus and defect inspection method capable of detecting the defect on the back surface side of a mask blank for a stencil mask with high accuracy.例文帳に追加

ステンシルマスク用マスクブランクスの裏面側の欠陥を精度良く検出することができる欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供すること。 - 特許庁

To dissolve defect by easily and quickly specifying the cause of the defect when defect occurs in a medical image.例文帳に追加

本発明の課題は、医用画像に異常が発生した場合に、容易かつ速やかに異常の発生原因を特定して、異常の解消を図ることである。 - 特許庁

To provide a defect inspection method for automatically discriminating between the shape of an inspected part and a defect as to defect inspection using a radiation image.例文帳に追加

放射線画像を用いた欠陥検査において、被検査部位の形状と欠陥を自動的に区別することのできる欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

Defect information including at least information on each defect position is acquired by detecting each defect on the substrate with the use of an inspection device (S302).例文帳に追加

検査装置によって基板上の欠陥をそれぞれ検出して、各欠陥の位置を表す情報を少なくとも含む欠陥情報を取得する（Ｓ３０２）。 - 特許庁

PROFILE IRREGULARITY MEASURING AND SURFACE DEFECT OBSERVING APPARATUS, PROFILE IRREGULARITY MEASURING AND SURFACE DEFECT OBSERVING METHOD, AND PROFILE IRREGULARITY AND SURFACE DEFECT INSPECTING METHOD例文帳に追加

面精度測定及び表面欠陥観察装置、面精度測定及び表面欠陥観察方法、並びに面精度及び表面欠陥の検査方法 - 特許庁

To provide a pattern defect classifying and detecting method which can accurately detect a pattern defect and can classify the type of the defect and detect it.例文帳に追加

パターン欠陥を正確に検出できるとともに、その欠陥の種類を分別して検出することができるパターン欠陥分別検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device and an image display method capable of performing optimum color display corresponding to the purpose of the defect device, defect characteristics, or the like.例文帳に追加

欠陥検査の目的や欠陥の特性等に応じて、最適なカラー表示を行うことができる欠陥検査装置及び画像表示方法を提供する。 - 特許庁

To detect a defect around a synchronization mark with one write operation in a defect testing method for testing a defect in a synchronization mark part of a data part of a disk.例文帳に追加

ディスクのデータ部の同期マーク部の欠陥を検出する欠陥検査方法に関し、１回のライト動作で、同期マーク周辺の欠陥を検出する。 - 特許庁

MASK CORRECTION OPTICAL SYSTEM FOR PHASE DEFECT CORRECTION, MASK CORRECTION DEVICE FOR PHASE DEFECT CORRECTION, AND LASER CVD MASK CORRECTION DEVICE FOR PHASE DEFECT CORRECTION例文帳に追加

位相欠陥修正用マスク修正光学系，位相欠陥修正用マスク修正装置，及び位相欠陥修正用レーザＣＶＤマスク修正装置 - 特許庁

To provide a differential interference microscope capable of picking up the image of a defect without depending on the directivity of the defect even when it is the defect having the directivity.例文帳に追加

方向性を有する欠陥であっても、欠陥の方向性に依存することなく欠陥像を撮像できる微分干渉顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To achieve a defect detection apparatus for detecting defects in a flat panel at the high defect detection accuracy, without sacrificing defect detection speed.例文帳に追加

欠陥検出速度を犠牲にすることなく高い欠陥検出精度でフラットパネルの欠陥を検出し得る欠陥検出装置を実現することにある。 - 特許庁

To correct a black defect or a white defect having a perpendicular cross section without tilting the stage in a mask defect correcting apparatus using an electron beam.例文帳に追加

電子ビームを用いたマスク欠陥修正装置でステージを傾斜させずに垂直な断面を持つ黒欠陥修正や白欠陥修正を実現する。 - 特許庁

This defect detection device for the optically transparent film A includes: a defect candidate detection part 20; a presentation means 21; a selection means 22; and a defect specification means 23.例文帳に追加

光透過性フィルムＡの欠陥検出装置は、欠陥候補検出部２０、提示手段２１、選択手段２２、及び欠陥特定手段２３を備える。 - 特許庁

To provide a defect analyzer for a memory LSI which can efficiently detect regularity of defect caused partially, and a defect analysis method.例文帳に追加

部分的に発生した不良の規則性を効率良く検出することができるメモリＬＳＩの不良解析装置及び不良解析方法を提供する。 - 特許庁