「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(35ページ目) - Weblio英語例文検索

LEAKAGE FLUX FLAW DETECTING-APPARATUS AND METHOD FOR JUDGING DEFECT例文帳に追加

漏洩磁束探傷装置および疵判定方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DEFECT DETECTION AND RECORDING MEDIUM WITH DEFECT DETECTION CONTROL PROGRAM RECORDED例文帳に追加

欠陥検出装置及びその欠陥検出方法並びにその制御プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

To interpolate a spot defect and a line defect of a photographed image caused by image element defects of a digital camera.例文帳に追加

デジタルカメラの撮像素子欠陥により生じた撮影画像の点欠陥や線欠陥を補間する。 - 特許庁

COATING METHOD, COATING APPARATUS, AND APPARATUS FOR REPAIRING MINUTE DEFECT例文帳に追加

塗布方法、塗布装置、微細欠陥修正装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING SUBSTRATE SURFACE DEFECT例文帳に追加

基板表面欠陥検出の方法とその装置 - 特許庁

To evaluate marking errors in marking at a defect position of a sheet-shaped mold body including the defect position.例文帳に追加

欠陥箇所を含むシート状成形体の欠陥箇所にマーキングする際のマーキングエラーを評価する。 - 特許庁

To obtain a highly reliable three dimensional LSI such that an insulation defect or a connection defect can be prevented.例文帳に追加

絶縁不良や接続不良を防止することができ、信頼性の高い３次元ＬＳＩを得る。 - 特許庁

DEFECT CORRECTING CIRCUIT AND IMAGING DEVICE WITH SAME例文帳に追加

欠陥補正回路及びそれを備えた撮像装置 - 特許庁

In the defect repairing device using an ion beam, a blank defect hard to repair is observed with AFM(atomic force microscope) or the like.例文帳に追加

イオンビームを用いた欠陥修正装置では修正し難い白欠陥に対してAFM等で観察する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING DEFECT IN CYCLIC PATTERN例文帳に追加

周期性パターンの欠陥検査方法および装置 - 特許庁

DEFECT CORRECTING METHOD FOR ORGANIC DISPLAY PANEL ELECTRODE例文帳に追加

有機ＥＬパネル用電極の欠陥修正方法 - 特許庁

According to this, the part which is newly taken as defect pixel data is corrected similarly to other defect pixel data.例文帳に追加

これにより、新たに欠陥画素データとされた部分も他の欠陥画素データと同様に補正する。 - 特許庁

An n-type defect layer being a lattice defect is formed by the proton irradiation and the low-temperature annealing processing.例文帳に追加

プロトン照射とその低温アニール処理により格子欠陥であるｎ型欠陥層を形成できる。 - 特許庁

At agreement, a defect corresponding to the agreed waveform is outputted at a defect outputting part.例文帳に追加

合致した場合は、不良部位出力部にて、合致した波形に対応する不良部位を出力する。 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND DEFECT DETECTOR DEVICE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及び欠陥検出装置 - 特許庁

To form a germanium ELO layer without defect.例文帳に追加

欠陥のないゲルマニウムＥＬＯ層を形成すること。 - 特許庁

The output includes: first output which corresponds to the defect; and second output which does not correspond to the defect.例文帳に追加

出力は、欠陥に対応する第一出力と、欠陥に対応しない第二出力を含む。 - 特許庁

To perform mask defect inspection with high accuracy by quantitatively judging a stripe defect caused in a mask.例文帳に追加

マスクに発生するスジ状の欠陥を定量的に判断し、精度の高いマスク欠陥検査を行うこと。 - 特許庁

There could possibly some memory defect.例文帳に追加

《記憶障害が出てきたりする 可能性もあります》 - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

Does the defect lie in the woman or in the man? 例文帳に追加

子の無いのは畑が悪いのか種が悪いのか - 斎藤和英大辞典

The style is faultless, except for this single defect. 例文帳に追加

欠点はこれ一つあるだけで無キズな文章だ - 斎藤和英大辞典

In a CPU 56, the continuity of the defect in each scan is decided on the basis of the defect signal.例文帳に追加

ＣＰＵ５６では、この欠陥信号に基づき各スキャンにおける欠陥の連続性を判定する。 - 特許庁

A defect determination section 32 detects a defect of an inspecting object based on the difference value SUB after the correction.例文帳に追加

欠陥判定部３２は、補正後の差分値ＳＵＢに基づき被検査物における欠陥を検出する。 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD AND DEVICE OF TRANSPARENT PLATE例文帳に追加

透明板の欠陥検出方法及びその装置 - 特許庁

SHADING CORRECTION METHOD, DEFECT DETECTION METHOD, AND DEFECT DETECTOR AND CONTROL METHOD PROGRAM THEREOF例文帳に追加

シェーディング補正方法、欠陥検出方法、欠陥検出装置、欠陥検出装置の制御方法プログラム - 特許庁

INSPECTION METHOD AND INSPECTION DEVICE OF LINE WIDTH AND DEFECT例文帳に追加

線幅や欠陥の検査方法及び検査装置 - 特許庁

DETECTION METHOD OF DEFECT IN ACTIVE MATRIX LIQUID CRYSTAL PANEL例文帳に追加

アクティブマトリクス液晶パネルの欠陥検出方法 - 特許庁

INSPECTION METHOD OF SURFACE DEFECT OF TRANSPARENT RESIN FILM例文帳に追加

透明樹脂フィルムの表面欠陥の検査方法 - 特許庁

To record contents which does not have a recording defect part due to a broadcast radio wave reception defect.例文帳に追加

放送電波受信不良に起因する記録不良箇所が存在しないコンテンツを記録すること。 - 特許庁

(1) To inform users of the occurrence of the defect.例文帳に追加

異常が発生していることをユーザに知らせる。 - 特許庁

ULTRASONIC WELDING DEFECT FLAW DETECTION APPARATUS AND METHOD例文帳に追加

超音波溶接欠陥探傷装置および方法 - 特許庁

METHOD FOR SIMULATING DISTRIBUTION OF POINT DEFECT IN SINGLE CRYSTAL例文帳に追加

単結晶の点欠陥分布のシミュレーション方法 - 特許庁

INSPECTING DEVICE AND INSPECTING METHOD FOR DEFECT IN WAFER FRAME例文帳に追加

ウェハー枠の欠陥検査装置及び検査方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DETECTING DEFECT OF MICRO PATTERN例文帳に追加

微細パタ−ンの欠陥検出方法及び装置 - 特許庁

To prevent a defect having no influence or small influence as a defect from being detected.例文帳に追加

本発明は、欠陥として影響のない或いは影響の少ない欠陥を検出することがない。 - 特許庁

METHOD FOR EVALUATING DEFECT IN SILICON SINGLE-CRYSTAL WAFER例文帳に追加

シリコン単結晶ウエハ中の欠陥評価方法 - 特許庁

To improve a defect inspection in detection sensitivity for a minute defect while suppressing generation of pseudo defects.例文帳に追加

欠陥検査において、疑似欠陥の発生を抑制しつつ、微小欠陥の検出感度を向上する。 - 特許庁

To provide a defect detection device for an optically transparent film capable of enhancing the defect detection accuracy.例文帳に追加

欠陥の検出精度を高めることができる光透過性フィルムの欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

RECORDING METHOD AND READING METHOD FOR TEMPORARY DEFECT LIST例文帳に追加

臨時欠陥リストの記録方法及び読取方法 - 特許庁

To provide a leak defect detecting method capable of detecting easily the leakage defect generated inside a pixel.例文帳に追加

容易に画素内に発生するリーク欠陥を検出可能なリーク欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

SPECIFICATION DEFECT VERIFICATION SYSTEM, METHOD THEREOF, AND PROGRAM例文帳に追加

仕様欠陥検証システム、その方法及びプログラム - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR INSPECTING DEFECT OF FILM例文帳に追加

フイルムの欠陥検査装置及び欠陥検査方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR REVIEWING MASK DEFECT例文帳に追加

マスク欠陥レビュー方法及びマスク欠陥レビュー装置 - 特許庁

REFERENCE DATA GENERATION METHOD, PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE, PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD, AND REFERENCE DATA GENERATION PROGRAM例文帳に追加

参照データ生成方法、パターン欠陥検査装置、パターン欠陥検査方法、及び参照データ生成プログラム - 特許庁

The continuous line for correcting the defect in the color filter is provided with a defect inspecting device 11 to inspect presence or absence of any defect with respect to a color filter substrate colored in a coloring step 100 and a defect correcting device 14 to correct a defective part in the case the defect is present in the color filter substrate as a result of inspection with the defect inspecting device 11.例文帳に追加

着色工程＃１００で着色されたカラーフィルタ基板に対して、欠陥の有無を検査する欠陥検査装置１１と、欠陥検査装置１１で検査した結果、カラーフィルタ基板に欠陥がある場合に、その欠陥部分を修正する欠陥修正装置１４とを備えるカラーフィルタ欠陥修正一貫ラインである。 - 特許庁