Defectを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 18303件
METHOD OF CORRECTING WHITE DEFECT OF MASK FOR EUV LITHOGRAPHY例文帳に追加
EUVリソグラフィ用マスクの白欠陥修正方法 - 特許庁
OBJECT LENS, ELECTRON BEAM DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加
対物レンズ、電子線装置及び欠陥検査方法 - 特許庁
METHOD FOR FORMING HEAT INSULATING LAYER HAVING ARTIFICIAL DEFECT例文帳に追加
人工欠陥を有した遮熱層の形成方法 - 特許庁
DEFECT MARKING METHOD AND DEVICE FOR SHEET LIKE PRODUCT例文帳に追加
シート状製品の欠陥マーキング方法および装置 - 特許庁
For a linear defect (V line defect) generated on an image due to defect on the vertical CCD of an imaging element (CCD), the imaging apparatus can detect an offset component equivalent to the defect level to perform correction.例文帳に追加
撮像装置では、撮像素子(CCD)の垂直CCD上の欠陥に起因して画像上で生じるライン性の傷(Vライン傷)に対して、例えば傷レベルに相当するオフセット成分を検出して補正を行える。 - 特許庁
LAMINATION DEFECT INSPECTION METHOD OF SILICON CARBIDE SINGLE CRYSTAL例文帳に追加
炭化珪素単結晶の積層欠陥検査方法 - 特許庁
DEFECT CORRECTION METHOD AND MANUFACTURING METHOD FOR PHOTOMASK例文帳に追加
フォトマスクの欠陥修正方法および製造方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR EVALUATING METHOD AND DEFECT POSITION SPECIFYING DEVICE例文帳に追加
半導体評価方法及び欠陥位置特定装置 - 特許庁
SOLID-STATE IMAGING DEVICE EQUIPPED WITH PIXEL DEFECT CORRECTING FUNCTION例文帳に追加
画素欠陥補正機能を備えた固体撮像装置 - 特許庁
METHOD FOR MANUFACTURING SEALED CONTAINER INSPECTABLE SEAL DEFECT例文帳に追加
シール不良検査可能な密封容器の製造方法 - 特許庁
PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE例文帳に追加
パターン欠陥検査方法及びパターン欠陥検査装置 - 特許庁
PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD例文帳に追加
パターン欠陥検査装置およびパターン欠陥検査方法 - 特許庁
To know defect information or the like inside an organic material.例文帳に追加
有機材料の内部の欠陥情報などを知る。 - 特許庁
METHOD FOR SPECIFYING CAUSE OF DEFECT AND SUBSTRATE PROCESSING DEVICE例文帳に追加
不良原因特定方法及び基板処理装置 - 特許庁
SIGNAL PROCESSOR FOR DEFECT DETECTION OF CONTINUOUS OBJECT例文帳に追加
連続物体の欠陥検出用信号処理装置 - 特許庁
DEVICE FOR AUTOMATIC INSPECTION OF SURFACE DEFECT AND INSPECTION METHOD例文帳に追加
表面欠陥自動検査装置および検査方法 - 特許庁
A storage part 41 stores an image of a substrate in which a defect is detected by an automatic defect inspection device 2 and defect information showing the information related to the defect in association with a substrate ID identifying the substrate.例文帳に追加
記憶部41は、自動欠陥検査装置2により欠陥の検出された基板の画像と、欠陥に係わる情報を示す欠陥情報とを、基板を識別する基板IDと対応付けて記憶する。 - 特許庁
METHOD FOR INSPECTING DEFECT OF LAMINATED FILM AND ITS APPARATUS例文帳に追加
積層フィルムの欠陥検査方法およびその装置 - 特許庁
The reference value shows the impedance of the defect-free chamber.例文帳に追加
基準値は、欠陥なしチャンバのインピーダンスを表す。 - 特許庁
DATA MANAGEMENT DEVICE, INSPECTION SYSTEM AND DEFECT REVIEWING APPARATUS例文帳に追加
データ管理装置、検査システムおよび欠陥レビュー装置 - 特許庁
DEFECT CORRECTION APPARATUS AND METHOD FOR SOLID-STATE IMAGING DEVICE例文帳に追加
固体撮像素子の欠陥補正装置及び方法 - 特許庁
DEFECT LIABILITY MANAGEMENT SYSTEM FOR ELECTRONIC EQUIPMENT AND SECONDARY BATTERY例文帳に追加
電子機器及び二次電池の瑕疵保証管理システム - 特許庁
DEFECT DETECTION METHOD OF TRANSPARENT PLATE AND ITS APPARATUS例文帳に追加
透明板の欠陥検出方法およびその装置 - 特許庁
ULTRASONIC DEFECT DETECTION METHOD, AND ULTRASONIC FLAW DETECTOR例文帳に追加
超音波探傷方法及び超音波探傷装置 - 特許庁
FILM DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD例文帳に追加
フイルム欠陥検査装置及びフイルム欠陥検査方法 - 特許庁
While reading out the image data from the image memory 20 and detecting image defects by a defect detector 24, a defect information that displays the position of the detected defect is generated, and is memorized by a defect information memory 26.例文帳に追加
画像メモリ部20から画像データを読み出して欠陥検出部24で画像欠陥を検出するとともに、検出された画像欠陥の位置を示す欠陥情報を生成して欠陥情報メモリ部26に記憶する。 - 特許庁
To improve a defect generated by off-axis rubbing.例文帳に追加
オフアクシスラビングにより発生する欠点を改善する。 - 特許庁
SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND ITS DEFECT DETECTION METHOD例文帳に追加
半導体記憶装置及びその不良検出方法 - 特許庁
DEFECT DETECTION METHOD OF ROLLER BEARING BY TORQUE MONITORING例文帳に追加
トルク監視によるころ軸受の欠陥検出方法 - 特許庁
DEFECT ANALYSIS TOOL FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加
半導体集積回路装置の不良解析用治具 - 特許庁
It was caused by some sort of defect in the gun's barrel.例文帳に追加
銃身にある一種の疵によって起きたんだ - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
a not uncommon congenital defect in which a vertebra is malformed 例文帳に追加
脊椎が変形しているまれな先天的欠陥 - 日本語WordNet
APPARATUS AND METHOD FOR INSPECTION OF DEFECT ON SURFACE OF WORKPIECE例文帳に追加
ワークピース表面の欠陥検査装置及び方法 - 特許庁
METHOD FOR CORRECTING BLACK DEFECT OF MASK FOR EUV LITHOGRAPHY例文帳に追加
EUVリソグラフィ用マスクの黒欠陥修正方法 - 特許庁
LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE AND ITS DEFECT CORRECTING METHOD例文帳に追加
液晶表示装置及びその欠陥修正方法 - 特許庁
At the time of moving contents from a flash memory 61-1 to a contents database 114, a utilization condition managing program updates a variable seq1, which is stored in the 0th-order defect block of a medium defect list in the flash memory 61-1, into new value seq2.例文帳に追加
フラッシュメモリ61−1からコンテンツデータベース114にコンテンツを移動するとき、利用条件管理プログラムは、フラッシュメモリ61−1のmedia defect listの0番目のdefect blockに記憶されている変数seq1を、新たな値seq2に更新する。 - 特許庁
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