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Defectを含む例文一覧と使い方

該当件数 : 18303件



例文

LAMINATION DEFECT INSPECTION METHOD OF SILICON CARBIDE SINGLE CRYSTAL例文帳に追加

炭化珪素単結晶の積層欠陥検査方法 - 特許庁

ANALYZER AND METHOD FOR ANALYZING DEFECT ON SAMPLE例文帳に追加

試料上の欠陥を分析する装置および方法 - 特許庁

To provide a defect discrimination device and a defect discrimination method capable of effectively discriminating a kind of an irregularity defect which has generated on a surface of a sheet-like material with light permeability, and a sheet-like material which has been discriminated for defect.例文帳に追加

光透過性を有するシート状物表面に生じた凹凸欠陥の種類を効果的に判別できる欠陥判別装置、欠陥判別方法、及び欠陥判別されたシート状物を提供する - 特許庁

METHOD FOR REMOVING MATERIAL DEFECT AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

材料欠陥の消去方法及び半導体装置 - 特許庁

例文

The defect classification means includes: a first classification means (50) of identifying an image of the defect having a specific shape; and a second classification means (51) of identifying the image of a punctate low-brightness defect and an image of a light-dark brightness defect.例文帳に追加

欠陥分類手段は、特有の形状を有する欠陥像を識別する第1の分類手段(50)と、点状の低輝度欠陥像や明暗輝度の欠陥像を識別する第2の分類手段(51)とを有する。 - 特許庁


例文

LIQUID CRYSTAL DISPLAY UNIT AND ITS DEFECT REPAIR METHOD例文帳に追加

液晶表示装置及びその欠陥修復方法 - 特許庁

RADIATION DETECTOR AND METHOD OF CORRECTING DEFECT OF THE SAME例文帳に追加

放射線検出器およびその欠陥補正方法 - 特許庁

DATA MANAGEMENT DEVICE, INSPECTION SYSTEM AND DEFECT REVIEWING APPARATUS例文帳に追加

データ管理装置、検査システムおよび欠陥レビュー装置 - 特許庁

DEFECT CORRECTION APPARATUS AND METHOD FOR SOLID-STATE IMAGING DEVICE例文帳に追加

固体撮像素子の欠陥補正装置及び方法 - 特許庁

例文

DEFECT LIABILITY MANAGEMENT SYSTEM FOR ELECTRONIC EQUIPMENT AND SECONDARY BATTERY例文帳に追加

電子機器及び二次電池の瑕疵保証管理システム - 特許庁

例文

DEFECT DETECTION METHOD OF TRANSPARENT PLATE AND ITS APPARATUS例文帳に追加

透明板の欠陥検出方法およびその装置 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD AND DEVICE OF FOAM ROLLER例文帳に追加

発泡体ローラーの欠陥検出方法および装置 - 特許庁

While reading out the image data from the image memory 20 and detecting image defects by a defect detector 24, a defect information that displays the position of the detected defect is generated, and is memorized by a defect information memory 26.例文帳に追加

画像メモリ部20から画像データを読み出して欠陥検出部24で画像欠陥を検出するとともに、検出された画像欠陥の位置を示す欠陥情報を生成して欠陥情報メモリ部26に記憶する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR EVALUATING METHOD AND DEFECT POSITION SPECIFYING DEVICE例文帳に追加

半導体評価方法及び欠陥位置特定装置 - 特許庁

SOLID-STATE IMAGING DEVICE EQUIPPED WITH PIXEL DEFECT CORRECTING FUNCTION例文帳に追加

画素欠陥補正機能を備えた固体撮像装置 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING SEALED CONTAINER INSPECTABLE SEAL DEFECT例文帳に追加

シール不良検査可能な密封容器の製造方法 - 特許庁

When a defect has been found, either a defect mark such as a punch for providing a physical mark on the paper sheet near the defect, or an electronic apparatus capable of transmitting an accurate defect position to a printing part is used.例文帳に追加

欠陥が発見された場合、本発明は、欠陥の近くの紙に物理的な印をつけるパンチ等の欠陥印か、欠陥の正確な位置を印刷部に伝達できる電子装置のいずれかを使用する。 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING DEFECT IN TRANSPARENT PLATE AND ITS APPARATUS例文帳に追加

透明板の欠陥検出方法およびその装置 - 特許庁

METHOD OF REDUCING CRYSTAL DEFECT OF SIMOX WAFER例文帳に追加

SIMOXウェーハの結晶欠陥の低減方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR PATTERN DEFECT INSPECTION例文帳に追加

パターン欠陥検査装置及びパターン欠陥検査方法 - 特許庁

MASTER GEAR FOR AUTOMATIC INSPECTION OF GEAR SURFACE DEFECT例文帳に追加

歯車表面欠陥の自動検査用マスター歯車 - 特許庁

LIQUID CRYSTAL DISPLAY AND ITS DEFECT CORRECTING METHOD例文帳に追加

液晶表示装置及びその欠陥修正方法 - 特許庁

To prevent an electrical defect caused by migration.例文帳に追加

マイグレーションに起因する電気的な不良を防止する。 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR ASSISTING INSPECTION OF DEFECT WITHIN CAST例文帳に追加

鋳造内部欠陥検査支援装置および方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR INSPECTING SEAL DEFECT例文帳に追加

シール不良検査装置およびシール不良検査方法 - 特許庁

WIRING PATTERN DEFECT REMEDYING METHOD, AND SYSTEM THEREFOR例文帳に追加

配線パターンの欠陥修正方法及びその装置 - 特許庁

SIGNAL PROCESSOR FOR DEFECT DETECTION OF CONTINUOUS OBJECT例文帳に追加

連続物体の欠陥検出用信号処理装置 - 特許庁

MEMORY DEFECT RELIEF AND ANALYSIS METHOD AND MEMORY TESTER例文帳に追加

メモリの不良救済解析方法・メモリ試験装置 - 特許庁

LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE AND DEFECT RESTORING METHOD THEREFOR例文帳に追加

液晶表示装置及びその欠陥修復方法 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE例文帳に追加

パターン欠陥検査方法及びパターン欠陥検査装置 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD例文帳に追加

パターン欠陥検査装置およびパターン欠陥検査方法 - 特許庁

To know defect information or the like inside an organic material.例文帳に追加

有機材料の内部の欠陥情報などを知る。 - 特許庁

METHOD FOR SPECIFYING CAUSE OF DEFECT AND SUBSTRATE PROCESSING DEVICE例文帳に追加

不良原因特定方法及び基板処理装置 - 特許庁

DEFECT CORRECTION METHOD AND MANUFACTURING METHOD FOR PHOTOMASK例文帳に追加

フォトマスクの欠陥修正方法および製造方法 - 特許庁

A black defect is detected by every pixel of the CCD 2.例文帳に追加

CCD2の画素毎に黒欠陥を検出する。 - 特許庁

ULTRASONIC DEFECT DETECTION METHOD, AND ULTRASONIC FLAW DETECTOR例文帳に追加

超音波探傷方法及び超音波探傷装置 - 特許庁

FILM DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD例文帳に追加

フイルム欠陥検査装置及びフイルム欠陥検査方法 - 特許庁

To improve a defect generated by off-axis rubbing.例文帳に追加

オフアクシスラビングにより発生する欠点を改善する。 - 特許庁

being complete of its kind and without defect or blemish 例文帳に追加

その種で完全な、または欠陥または傷のない - 日本語WordNet

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND ITS DEFECT DETECTION METHOD例文帳に追加

半導体記憶装置及びその不良検出方法 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD OF ROLLER BEARING BY TORQUE MONITORING例文帳に追加

トルク監視によるころ軸受の欠陥検出方法 - 特許庁

DEFECT ANALYSIS TOOL FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路装置の不良解析用治具 - 特許庁

It was caused by some sort of defect in the gun's barrel.例文帳に追加

銃身にある一種の疵によって起きたんだ - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

Underwent a surgery for atrial septal defect.例文帳に追加

心房中隔欠損の手術を 受けられたんですよね。 - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

a not uncommon congenital defect in which a vertebra is malformed 例文帳に追加

脊椎が変形しているまれな先天的欠陥 - 日本語WordNet

METHOD AND DEVICE OF DECIDING DEFECT IN LASER WELDING例文帳に追加

レーザ溶接における不良判定方法及び装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR INSPECTION OF DEFECT ON SURFACE OF WORKPIECE例文帳に追加

ワークピース表面の欠陥検査装置及び方法 - 特許庁

METHOD FOR CORRECTING BLACK DEFECT OF MASK FOR EUV LITHOGRAPHY例文帳に追加

EUVリソグラフィ用マスクの黒欠陥修正方法 - 特許庁

LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE AND ITS DEFECT CORRECTING METHOD例文帳に追加

液晶表示装置及びその欠陥修正方法 - 特許庁

例文

At the time of moving contents from a flash memory 61-1 to a contents database 114, a utilization condition managing program updates a variable seq1, which is stored in the 0th-order defect block of a medium defect list in the flash memory 61-1, into new value seq2.例文帳に追加

フラッシュメモリ61−1からコンテンツデータベース114にコンテンツを移動するとき、利用条件管理プログラムは、フラッシュメモリ61−1のmedia defect listの0番目のdefect blockに記憶されている変数seq1を、新たな値seq2に更新する。 - 特許庁




  
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