「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(41ページ目) - Weblio英語例文検索

RESIST INSPECTION APPARATUS AND DEFECT INSPECTION METHOD OF MASK SUBSTRATE例文帳に追加

レジスト検査装置及びマスク基板の欠陥検査方法 - 特許庁

To provide an imaging apparatus in which a TFT defect caused by static electricity does not occur, and a point defect and a line defect in a detection image are not caused.例文帳に追加

静電気によるＴＦＴ不良が発生することがなく、検出画像において点欠陥、線欠陥を生じることのない撮像装置を提供すること。 - 特許庁

INFRARED RAY IMAGE PICKUP DEVICE AND ELEMENT DEFECT COMPENSATION METHOD例文帳に追加

赤外線撮像装置及び素子欠陥補償方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR INSPECTION OF DEFECT OF PATTERN例文帳に追加

パターン欠陥検査装置及びパターン欠陥検査方法 - 特許庁

DETECTOR METHOD FOR MEDIUM DEFECT AND INFORMATION STORAGE DEVICE例文帳に追加

媒体欠陥検出方法及び情報記憶装置 - 特許庁

The protruded defect and the recessed defect are judged and discriminated based on a difference between signals from the photodetectors 19a, 19b.例文帳に追加

この光検出器１９ａ、１９ｂの信号の差によって凸状欠陥か凸状欠陥かを判別する。 - 特許庁

The defect rate may become a charge damage quantitative index.例文帳に追加

この不良率は、チャージダメージ定量の指標となり得る。 - 特許庁

ULTRASONIC PROBE AND DEFECT EVALUATION METHOD USING IT例文帳に追加

超音波プローブ及びこれを用いた欠陥評価方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING WIRING DEFECT例文帳に追加

配線不良検査方法及び配線不良検査装置 - 特許庁

METHOD FOR CORRECTING DEFECT OF GRAY-TONE MASK, AND THE GRAY-TONE MASK例文帳に追加

グレートーンマスクの欠陥修正方法、及びグレートーンマスク - 特許庁

To certainly and early find a print defect.例文帳に追加

印刷不良を確実に早期発見できるようにする。 - 特許庁

METHOD OF DETECTING DEFECT IN POWER CABLE AND CONNECTING PART例文帳に追加

電力ケーブルおよび接続部の欠陥検出方法 - 特許庁

Defect data on a defect on a semiconductor wafer 111 is acquired by an inspection unit 110 of the defect inspection device 100 and stored in a storage unit 122, and the obtained defect data are classified into a defect kind by a classification determination unit 123 on the basis of a predetermined classification standard previously stored in the storage unit 122.例文帳に追加

半導体ウェハ１１１上の欠陥データを欠陥検査装置１００の検査部１１０で取得して記憶部１２２に格納し、得られた欠陥データを記憶部１２２内に予め格納している所定の分類基準に基づいて分類判定部１２３により欠陥種に分類する。 - 特許庁

OPTICAL DISK DRIVE AND DEFECT PROCESSING METHOD FOR OPTICAL DISK DRIVE例文帳に追加

光ディスク装置及び光ディスクの欠陥処理方法 - 特許庁

SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD例文帳に追加

表面欠陥検査装置および表面欠陥検査方法 - 特許庁

The defect part 20 is detected on the running web-shaped packing material with the defect detecting device 10, the defect display label 22 is pasted at the inside position of the wave edge (10a) near the defect part 10, and a sticking material layer is provided on the defect display label.例文帳に追加

走行するウエブ状包装材を欠点検出装置１０で不良箇所２０が検出され、その不良箇所１０近傍でウエブ端縁（１０ａ）内側の位置に貼付される欠点表示ラベル２２であって、該欠点表示ラベル２２は粘着剤層が施されている表示ラベルとしたものである。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING DEFECT IN PLANE DISPLAY PANEL例文帳に追加

平面表示パネルの欠陥検査装置および方法 - 特許庁

To improve quality of defect correction, while greatly enhancing efficiency of work in a defect correction process.例文帳に追加

欠陥修正工程の作業効率を著しく向上させつつ、欠陥修正の品質を向上させる。 - 特許庁

To provide a defect detector which obtains an actual picture of high precision to improve the defect detection sensitivity.例文帳に追加

高精度の実画像を得られ、欠陥検出感度を高くすることが可能な欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

The defect of wiring, that is formed by damascene method, is extracted by the pattern defect comparison inspection and SEM inspection and is identified to be a defect, that is ascertained by a process trace in advance.例文帳に追加

ダマシン法で形成された配線の欠陥をパターン欠陥比較検査およびＳＥＭ検査で抽出し、予め工程トレースによって判明した欠陥と同定する。 - 特許庁

AUTOMATIC DEFECT INFORMATION COLLECTION CONTROL METHOD AND RECORDING MEDIUM RECORDING AUTOMATIC DEFECT INFORMATION COLLECTION CONTROL PROGRAM例文帳に追加

自動欠陥情報収集制御方法及び自動欠陥情報収集制御プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DEFECT DETECTION/DISCRIMINATION INSIDE CONDUIT例文帳に追加

管渠内部の欠陥検出・判別方法及び装置 - 特許庁

ADAPTIVE HYBRID AUTOMATIC DEFECT CLASSIFYING METHOD例文帳に追加

ハイブリッドで一様に適用可能な自動欠陥分類法 - 特許庁

To provide a method for repairing a defect on a substrate by injecting a restoration agent into a defect portion of the substrate.例文帳に追加

基板の欠陥部位に復元剤を注入することを含む、基板欠陥の修理方法を提供する。 - 特許庁

To provide a surface defect detector and a surface defect detection method which improve detection accuracy of a surface defect by setting a threshold value adapted to a frequency distribution of brightness of a surface image according to a variation of formation.例文帳に追加

地合の変動による表面画像における輝度の度数分布に適合した閾値を設定することにより、表面欠陥の検出精度を向上させる。 - 特許庁

A digital camera device 1 easily and correctly detects the pixel address of a black defect in a CCD image sensor 3 and interpolates the detected black defect so that the image pickup element can be used even when a black defect is present.例文帳に追加

そして、ＣＣＤイメージセンサから得られた撮像データを所定の閾値と比較して、この撮像データがこの所定の閾値以下となっている画素アドレスを検出する。 - 特許庁

Some embodiments employ defect-location algorithms that analyze defect artifacts to precisely locate corresponding defects.例文帳に追加

欠陥アーチファクトを解析して該当する欠陥の位置を正確に特定する欠陥位置特定アルゴリズムを採用する。 - 特許庁

METHOD FOR CORRECTING DEFECT OF COLOR FILTER, AND COLOR FILTER SUBSTRATE例文帳に追加

カラーフィルタの欠陥修正方法及びカラーフィルタ基板 - 特許庁

DISPLAY DEVICE AND DEFECT RESTORATION METHOD OF DISPLAY DEVICE例文帳に追加

表示装置および表示装置の欠陥修復方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING DEFECT IN FILM例文帳に追加

フィルムの欠陥検出方法および欠陥検出装置 - 特許庁

In a step (a), information on a defect of a product is accepted.例文帳に追加

（ａ）ステップは、製品に関する不具合を受け付ける。 - 特許庁

DISPLAY METHOD FOR DEFECT INSPECTION USING IMAGE PROCESSOR例文帳に追加

画像処理装置を用いた欠陥検査の表示方法 - 特許庁

A characteristic quantity is calculated, by extracting a defect image including the defect elements included in the respective clusters, and the defect corresponding to the respective clusters is classified.例文帳に追加

そして、各クラスタに含まれる欠陥要素を包含する欠陥画像が抽出されて特徴量が算出され、各クラスタに対応する欠陥が分類される。 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD FOR METALLIC CAP, REGULATION METHOD FOR INSPECTION THEREOF, AND DEFECT INSPECTION METHOD FOR METALLIC CAP例文帳に追加

金属製キャップの不良検査方法、この検査のための調整方法、および金属製キャップの不良検査装置 - 特許庁

DEFECT MANAGEMENT METHOD OF OPTICAL DISK, AND OPTICAL DISK DRIVE例文帳に追加

光ディスクの欠陥管理方法、および光ディスク装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR SORTING DEFECT DISTRIBUTION例文帳に追加

欠陥分布分類方法および欠陥分布分類装置 - 特許庁

In this internal defect detecting method, the internal defect of a bandlike body S is detected using an ultrasonic flaw detector 1.例文帳に追加

帯状体Ｓの内部欠陥を超音波探傷装置１を用いて検出する内部欠陥検出方法。 - 特許庁

DEFECT INSPECTING AND ANALYZING METHOD AND SYSTEM THEREFOR例文帳に追加

欠陥検査解析方法および欠陥検査解析システム - 特許庁

TEST PATTERN, AND METHOD OF MONITORING DEFECT USING THE SAME例文帳に追加

テストパターン及びこれを用いる欠陥モニタリングの方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTION OF DEFECT OF MONOLITHIC CARRIER例文帳に追加

モノリス担体の欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁

The differential interference image on the surface of the substrate is supplied to defect detection means (34) so that a defect therein is detected.例文帳に追加

基板表面の微分干渉画像は欠陥検出手段（３４）に供給されて欠陥が検出される。 - 特許庁

Crystal growth is conducted under a condition that the central part of the crystal becomes a defect-free zone, an oxidation inducement stacking defect-formed zone or an infrared scattering defect-formed zone.例文帳に追加

結晶中心部が無欠陥領域、酸化誘起積層欠陥発生領域又は赤外散乱欠陥発生領域となる条件で結晶育成を行う。 - 特許庁

CRYSTAL DEFECT DETECTING METHOD FOR SILICON WAFER, CRYSTAL DEFECT EVALUATING METHOD, AND OXIDE FILM BREAKDOWN VOLTAGE CHARACTERISTICS EVALUATING METHOD例文帳に追加

シリコンウエーハの結晶欠陥検出法および結晶欠陥評価法ならびに酸化膜耐圧特性評価法 - 特許庁

To correct a point defect and a line defect of an imaging device by accurately detecting them in a short time.例文帳に追加

撮像素子の点欠陥及び線欠陥を短時間で精度良く検出して補正することを可能とする。 - 特許庁

A controlling part 14 generates defect information which identifies a defect on a substrate during inspection of a substrate installed.例文帳に追加

制御部１４は、搬入された基板の検査時に、基板上の欠陥を識別する欠陥情報を生成する。 - 特許庁