「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(38ページ目) - Weblio英語例文検索

DEFECT INFORMATION CONTROL METHOD AND INFORMATION STORAGE DEVICE例文帳に追加

欠陥情報管理方法及び情報記憶装置 - 特許庁

INFORMATION STORAGE DEVICE AND DEFECT INFORMATION CONTROL METHOD例文帳に追加

情報記憶装置及び欠陥情報管理方法 - 特許庁

METHOD OF REMOVING DEFECT FROM MEMBER HAVING FINE STRUCTURE例文帳に追加

微細構造を有する部材の欠陥除去方法 - 特許庁

To provide a wobble defect detector and method.例文帳に追加

ウォブル欠陥検出装置及び方法を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR CORRECTING PATTERN POSITION DEVIATION AND DEFECT INSPECTING APPARATUS例文帳に追加

パターン位置ずれ補正方法及び欠陥検査装置 - 特許庁

These crystal planes bend around a defect. 例文帳に追加

これらの結晶面は、(1つの)欠陥のまわりで曲がる。 - 科学技術論文動詞集

The operator compares a defect mark and an actual surface flaw, when a defect mark is imparted by the error operation of the surface defect detector 14, an erasing command of defect mark is inputted from the setting display board 25.例文帳に追加

オペレータは、欠陥マークと実際の表面疵を対比し、欠陥マークが表面欠陥検出器１４の誤作動によって付されたものであるときは、設定表示盤２５から欠陥マークの消去指令を入力する。 - 特許庁

After first defect inspection processing (step S11) for inspecting whether there is a defect on a wafer or not is performed, a defective chip is determined by the defect detected by the first defect inspection processing (steps S12, S13).例文帳に追加

ウェハ上に欠陥があるか否かを検査する第１の欠陥検査処理（ステップＳ１１）を実行した後、その第１の欠陥検査処理にて検出された欠陥により、不良チップを判定する（ステップＳ１２，Ｓ１３）。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING AND REPAIRING CIRCUIT DEFECT例文帳に追加

回路欠陥を検査及び修復する装置及び方法 - 特許庁

In the unevenness defect detecting process, the uneven defect is detected by comparing the unevenness components emphasized value of each of the pixels with a predetermined threshold to extract the pixel of the unevenness defect candidates.例文帳に追加

ムラ欠陥検出工程は、前記各画素のムラ成分強調値を所定の閾値と比較してムラ欠陥候補の画素を抽出してムラ欠陥を検出する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MANAGING DEFECT OF DISK WITH TEMPORARY DEFECT MANAGEMENT INFORMATION AREA AND DEFECTIVE MANAGEMENT AREA例文帳に追加

臨時欠陥管理情報領域と欠陥管理領域とが設けられたディスクの欠陥管理方法及び装置 - 特許庁

To provide a defect extraction device and a defect extraction method capable of improving the reliability of defect inspection, and reducing the data amount of inspection result.例文帳に追加

欠陥検査の信頼性を向上させることと、検査結果のデータ量を低減させることができる欠陥抽出装置及び欠陥抽出方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a three-dimensional defect inspection apparatus which is an automatic defect inspection apparatus of a color filter substrate and is capable of performing extremely efficient defect inspection of a defect on the color filter substrate by performing not only area size determination of a plane but also simultaneously performing defect determination in a height direction.例文帳に追加

本発明はカラーフィルタ基板の自動欠陥検査装置で、前記カラーフィルタ基板上の欠陥を平面の面積サイズ判定だけでなく、同時に高さ方向の欠陥判定を行うことで、極めて効率のよい欠陥検査が行える立体欠陥検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

HIGH STRENGTH CERAMICS AND METHOD FOR EVALUATING DEFECT IN CERAMICS例文帳に追加

高強度セラミックスおよびセラミックスの欠陥評価方法 - 特許庁

DEFECT MANAGEMENT METHOD FOR OPTICAL DISK AND OPTICAL DISK DEVICE例文帳に追加

光ディスクの欠陥管理方法、および光ディスク装置 - 特許庁

To provide a ferroelectric liquid crystal element having a high contrast ratio of display and no alignment defect such as a zigzag defect.例文帳に追加

ジグザグ欠陥等の配向欠陥がなく、表示のコントラスト比が高い強誘電性液晶素子を提供する。 - 特許庁

To provide a defect detection method of a structure and a defect detection device of the structure capable of quantitative evaluation of existence of a defect more surely by a simple constitution.例文帳に追加

簡易な構成で、かつ、より確実に欠陥の有無の定量評価が可能な、構造物の欠陥検出方法および構造物の欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

To restrain generation of a pseudo-defect in an optical card, and to detect a defect with high precision.例文帳に追加

光カードに関し擬似欠陥の発生を抑えることができるとともに、欠陥検出を精度良く行なうこと。 - 特許庁

LIQUID CONTAINER ATTACHING AND DETACHING APPARATUS AND DEFECT CORRECTION APPARATUS例文帳に追加

液体容器着脱装置および欠陥修正装置 - 特許庁

The differential interference image on the surface of the substrate is supplied to defect detection means (34) so that a defect therein is detected.例文帳に追加

基板表面の微分干渉画像は欠陥検出手段（３４）に供給されて欠陥が検出される。 - 特許庁

Crystal growth is conducted under a condition that the central part of the crystal becomes a defect-free zone, an oxidation inducement stacking defect-formed zone or an infrared scattering defect-formed zone.例文帳に追加

結晶中心部が無欠陥領域、酸化誘起積層欠陥発生領域又は赤外散乱欠陥発生領域となる条件で結晶育成を行う。 - 特許庁

CRYSTAL DEFECT DETECTING METHOD FOR SILICON WAFER, CRYSTAL DEFECT EVALUATING METHOD, AND OXIDE FILM BREAKDOWN VOLTAGE CHARACTERISTICS EVALUATING METHOD例文帳に追加

シリコンウエーハの結晶欠陥検出法および結晶欠陥評価法ならびに酸化膜耐圧特性評価法 - 特許庁

To correct a point defect and a line defect of an imaging device by accurately detecting them in a short time.例文帳に追加

撮像素子の点欠陥及び線欠陥を短時間で精度良く検出して補正することを可能とする。 - 特許庁

A controlling part 14 generates defect information which identifies a defect on a substrate during inspection of a substrate installed.例文帳に追加

制御部１４は、搬入された基板の検査時に、基板上の欠陥を識別する欠陥情報を生成する。 - 特許庁

According to the relationship between the upper-limit peak and the lower-limit peak in the arrangement direction of the light receiving elements, the recess defect and the protrusion defect are discriminated, and the defect is detected.例文帳に追加

そして、受光素子の配列方向における上限ピークと下限ピークとの関係に応じて凹部欠陥か、凸部欠陥かを判定して欠陥を検出する。 - 特許庁

This video camera is provided with an illumination 1, a lens protecting shutter 2, a focus driving device 3, a lens part 4, a CCD driving circuit 5, a CCD image pickup element 6, a microcomputer 8, a black defect level register 10, a black defect judging circuit 11, a white defect level register 12, a white defect judging circuit 13 and a defect correcting circuit 15.例文帳に追加

本発明によるビデオカメラは、照明１、レンズ保護シャッタ２、フォーカス駆動装置３、レンズ部４、ＣＣＤ駆動回路５、ＣＣＤ撮像素子６、マイコン８、黒キズレベルレジスタ１０、黒キズ判定回路１１、白キズレベルレジスタ１２、白キズ判定回路１３およびキズ補正回路１５を備える。 - 特許庁

INKJET RECORDING APPARATUS AND METHOD FOR DETECTING DISCHARGE DEFECT例文帳に追加

インクジェット記録装置及び吐出不良検出方法 - 特許庁

DISCHARGE DEFECT INVESTIGATION METHOD FOR FUNCTIONAL DROPLET DISCHARGE HEAD例文帳に追加

機能液滴吐出ヘッドの吐出不良究明方法 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING JOINT DEFECT IN FRICTION STIR JOINING例文帳に追加

摩擦撹拌接合における継ぎ手不良検知方法 - 特許庁

To detect a processing defect which causes the deterioration of high-density multicolor reproduction, and to perform correction in accordance with the defect.例文帳に追加

高濃度の多重色の色再現の劣化を招くプロセス不良を検出し、それに応じた補正を行う。 - 特許庁

To provide a defect inspection analysis system and a defect inspection analysis method capable of improving the efficiency of a series of inspection analysis processes, including the defect inspection of a wafer at the manufacturing of a semiconductor device and a final defect analysis result of a target portion, and to provide a management computer that uses the defect inspection analysis method.例文帳に追加

半導体装置製造時のウエハの欠陥検査や注目部の最終的な欠陥解析結果を含む一連の検査解析工程を高効率化することができる欠陥検査解析システム、欠陥検査解析方法及びこれに用いる管理コンピュータを提供する。 - 特許庁

An image processor 12 detects a defect on the basis of a defect image which is obtained by picking up an image of a glass substrate 2 by an imaging section 11, and recognizes a position and an area of the defect.例文帳に追加

撮像部１１がガラス基板２を撮像した欠陥画像に基づき画像処理部１２は欠陥を検出し、欠陥の位置および範囲を認識する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR CORRECTING DEFECT OF DIGITAL IMAGE例文帳に追加

ディジタル・イメージの欠陥を修正する方法および装置 - 特許庁

STRUCTURE AND METHOD FOR DETECTING VIA DEFECT例文帳に追加

ビア不良検出構造及びビア不良検出方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING SURFACE DEFECT IN DISC例文帳に追加

ディスクの表面欠陥検査方法および検査装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DETECTING DEFECT OF SUBSTRATE例文帳に追加

基板の欠陥検出方法および欠陥検出装置 - 特許庁

To provide a defect detection device for an optically transparent film A, detecting a defect highly accurately.例文帳に追加

欠陥検出を高精度で行うことができる光透過性フィルムＡの欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING DEFECT OF IMAGING ELEMENT AND IMAGING DEVICE例文帳に追加

撮像素子の欠陥検出方法及び撮像装置 - 特許庁

COMPOSITION AND METHOD OF TREATING FACIAL SKIN DEFECT例文帳に追加

顔の皮膚の欠陥を処置する組成物および方法 - 特許庁

SUBSTRATE SURFACE DEFECT DETECTING METHOD AND DETECTOR例文帳に追加

基板表面欠陥検出方法および検出装置 - 特許庁

TEST PATTERN, AND METHOD OF MONITORING DEFECT USING THE SAME例文帳に追加

テストパターン及びこれを用いる欠陥モニタリングの方法 - 特許庁

To provide a defect inspection device having unprecedented high accuracy, in a defect inspection device of a manufacturing process of a semiconductor device; and to provide a defect inspection (or evaluation) method.例文帳に追加

半導体デバイスの製造過程の欠陥検査装置において従来にはない精度の良い欠陥検査装置及び検査（或いは評価）方法を実現する。 - 特許庁

SOLID-STATE IMAGE PICKUP DEVICE AND PIXEL DEFECT INSPECTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

固体撮像装置及びその画素欠陥検査方法 - 特許庁

METHOD FOR INSPECTING DEFECT IN FORMATION OF SPACER FOR LIQUID CRYSTAL CELL例文帳に追加

液晶セル用スペーサの形成不良の検査方法 - 特許庁

To provide a cutting defect detection method in a plasma machine to prevent a cutting defect by automatically detecting generation of a cutting defect and a device therefor.例文帳に追加

切断不良の発生を自動的に検出して切断不良を防ぐことのできるプラズマ加工機における切断不良検出方法およびその装置を提供する。 - 特許庁