「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(40ページ目) - Weblio英語例文検索

The plurality of target defect clusters obtained in S101 are classified into a known group similar to the known defect cluster and an unknown group not similar to the known defect cluster (S102).例文帳に追加

Ｓ１０１で得られた複数の対象欠陥クラスタを、既知欠陥クラスタに類似する既知グループと既知欠陥クラスタに類似しない未知グループとに分類する（Ｓ１０２）。 - 特許庁

FEATURE DEFECT DETECTION DEVICE AND DOCUMENT PROCESSING DEVICE例文帳に追加

形体欠陥検出装置および帳票加工装置 - 特許庁

To provide a defect sensing method capable of surely detecting a defect existing in a film in a short time.例文帳に追加

膜に存在する欠陥を短時間に確実に検出することが可能な欠陥センシング方法を提供する。 - 特許庁

SURFACE DEFECT INSPECTING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

表面欠陥検査方法および表面欠陥検査装置 - 特許庁

STAINLESS STEEL MINIMIZED IN DEFECT OR SURFACE COATING LAYER OF STAINLESS STEEL MINIMIZED IN DEFECT AND FORMED ON SUBSTRATE例文帳に追加

欠陥の少ないステンレス鋼又は基体に形成されたステンレス綱からなる欠陥の少ない表面被覆層 - 特許庁

In this case, preferably, a defect model corresponding to each type of welding defects is held, and by comparing the defect model with defect information corresponding to an actually detected welding defect, the type of the detected welding defect is identified and treatment corresponding to the identified result is performed.例文帳に追加

この場合、溶接欠陥の種類ごとに対応する欠陥モデルを保持しておき、この欠陥モデルと、実際に検出された溶接欠陥に対応する欠陥情報とを比較することで、検出された溶接欠陥の種類を特定し、その特定結果に応じた処理を行うことが好ましい。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING LASER WELDING DEFECT例文帳に追加

レーザー溶接欠陥検査装置、及び欠陥検査方法 - 特許庁

CORRECTION OF SURFACE DEFECT BY INFRARED REFLECTION SCANNING例文帳に追加

赤外線反射走査による表面欠陥の修正 - 特許庁

To suppress or prevent transfer of a defect in a photomask.例文帳に追加

フォトマスクの欠陥の転写を抑制または防止する。 - 特許庁

DEFECT SECTION DETECTING APPARATUS USING ACOUSTIC EMISSION METHOD例文帳に追加

アコースティックエミッション法を用いた欠陥部位検出装置 - 特許庁

METHOD OF GROWING NITRIDE SEMICONDUCTOR SUBSTRATE HAVING LOW DEFECT例文帳に追加

低欠陥な窒化物半導体基板の成長方法 - 特許庁

(E) The defect cross-section and the defect width of the defective portion of the inspected body are estimated based on the first and second groups of data for defect quantity estimation and on the first and second amplitudes.例文帳に追加

（Ｅ）第１および第２の欠損量推定用データと、第１および第２の振幅とに基づいて、欠損部分の欠損断面積および欠損幅を推定する。 - 特許庁

The scattered light from the defect in the inspection range 22 is weaker than the scattered light from the defect in the inspection range 23, so that only a further large defect can be detected.例文帳に追加

検査範囲２２の欠陥からの散乱光は検査範囲２３の欠陥からの散乱光よりも更に弱いから、より大きな欠陥のみが検出される。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of outputting the inspection result of the defect related to the whole of an inspection target surface even if there are many defects, and a defect inspection method.例文帳に追加

欠陥が多くても検査対象面の全体についての欠陥の検査結果を出力可能な欠陥検査装置および欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

The differential interface image of the surface of the substrate is supplied to a defect detection means (34), and a defect is detected.例文帳に追加

基板表面の微分干渉画像は欠陥検出手段（３４）に供給されて欠陥が検出される。 - 特許庁

An information recording device 110 comprises: a defect list updating unit 122 which updates a defect list registering a defect address showing a position of a defect area exists in an user area; a recording unit 113 which records information in an information recording medium 130 based on the updated defect list.例文帳に追加

情報記録装置１１０は、ユーザ領域内に存在する欠陥領域の位置を示す欠陥アドレスが登録された欠陥リストを更新する欠陥リスト更新部１２２と、更新された欠陥リストに基づいて、情報記録媒体１３０に情報を記録する記録部１１３とを備えている。 - 特許庁

To provide an insulation defect position locating device of a linear conductor capable of locating highly accurately an insulation defect position.例文帳に追加

絶縁欠陥位置を高精度に標定可能な線状導体の絶縁欠陥位置標定装置を得る。 - 特許庁

To provide an improved selector valve overcoming a defect of conventional technology provided with a complicated defect-solving means.例文帳に追加

複雑な解決手段が設けられた従来技術の欠点を解消する改良された切換弁を提供する。 - 特許庁

To provide a substrate with a defect identification marker in which a defect position is readily apparent even if a defect itself is not detected in a device process, and the defect position can be identified from the substrate itself even if the data of defect position information is not prepared separately.例文帳に追加

デバイスプロセス工程でウェハの欠陥そのものを検出しなくても、欠陥位置が容易に分かり、欠陥位置情報のデータを別途用意しなくても、基板自体からその欠陥位置を識別することができる欠陥識別マーカー付き基板、及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method and an inspection device determining quickly whether a defect on a disk is a circumferential flaw or an island defect.例文帳に追加

ディスク上の欠陥について円周疵か、島状欠陥かの判定を高速に処理することが可能な欠陥検査方法および検査装置を提供することにある。 - 特許庁

The differential interference image on the substrate surface is supplied to defect detecting means (34) for detecting a defect.例文帳に追加

基板表面の微分干渉画像は欠陥検出手段（３４）に供給されて欠陥が検出される。 - 特許庁

The visual field size for defect search of the defect review device is set on the basis of the error without any inclination.例文帳に追加

傾向を持たない誤差に基づいて、欠陥レビュー装置における欠陥探索用の視野サイズを設定する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method and a defect inspection apparatus for automatically adjusting a focus when a specimen is imaged, and determining whether a defect exists from obtained images.例文帳に追加

被検体を撮影する際に自動的に焦点を合せ、得られた画像から欠陥の有無を判断する欠陥検査方法及び欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

DEFECT DETECTING DEVICE, SENSITIVITY CORRECTION METHOD THEREOF, SUBSTRATE FOR DEFECT DETECTION SENSITIVITY CORRECTION, AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

欠陥検査装置及びその感度校正方法、欠陥検出感度校正用基板及びその製造方法 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE AND IMAGE SENSOR CALIBRATION METHOD例文帳に追加

パターン欠陥検査装置及びイメージセンサの校正方法 - 特許庁

An inspection device detects the line unevenness area indicating a line unevenness defect in an objective image obtained from a substrate, and the point defect area indicating a point defect.例文帳に追加

ムラ検査装置では、基板から得られる対象画像において筋ムラ欠陥を示す筋ムラ領域、および、点欠陥を示す点欠陥領域が検出される。 - 特許庁

To provide a defect detecting circuit, by which a defect is detectable at a low frequency in the inspection of the defect at a high writing frequency, and a magnetic disk inspecting device.例文帳に追加

高い書込周波数での欠陥検査を低い周波数で検出できる欠陥検出回路および磁気ディスク検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

When a defect part detecting circuit 20 detects a defect part from a user data region of an optical disk 10, a defect management information generating and storing circuit 3 generates defect management information including at least an address of the defect part and the address of its alternative region and stores them.例文帳に追加

欠陥部位検出回路２０が光ディスク１０のユーザデータ領域から欠陥部位を検出すると、欠陥管理情報生成記憶回路３は欠陥部位のアドレスと、その代替領域のアドレスとを少なくとも含む欠陥管理情報を生成して記憶する。 - 特許庁

METHOD, DEVICE, AND PROGRAM FOR PROCESSING FILE SYSTEM DEFECT, AND MEDIUM例文帳に追加

ファイルシステム欠陥処理方法、装置、プログラム、及び媒体 - 特許庁

To prevent occurrence of a defect by predicting occurrence time of the defect when products are produced lot by lot.例文帳に追加

ロット毎に製品を生産していくときの不具合の発生時期を予測し、不具合の発生を未然に防止する。 - 特許庁

A GaN substrate 1 has a main surface, and includes a low-defect crystal region 52 and a defect-concentrated region 51 adjacent to the low-defect crystal region 52.例文帳に追加

主表面を有するＧａＮ基板１であって、低欠陥結晶領域５２と、当該低欠陥結晶領域５２に隣接する欠陥集合領域５１とを備える。 - 特許庁

MAGNETIC DISK UNIT AND METHOD FOR CHECKING DEFECT OF MAGNETIC DISK例文帳に追加

磁気ディスク装置および磁気ディスクの欠陥検査方法 - 特許庁

The defect etchant etches Si 16 to a thickness for a defect pit 18 to reach the SiGe layer 14 located under the Si 16.例文帳に追加

Ｓｉ１６を、欠陥ピット１８が下に位置するＳｉＧｅ層１４に到達可能な厚さまでエッチングする。 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR REINSPECTION OF DEFECT ON OBJECT例文帳に追加

物体上の欠陥を再検査する装置及び方法 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTING METHOD AND DEVICE THEREOF例文帳に追加

パターン欠陥検査方法およびパターン欠陥検査装置 - 特許庁

In this internal defect detecting method, an internal defect of a bandlike body S is detected using an ultrasonic flaw detector.例文帳に追加

帯状体Ｓの内部欠陥を超音波探傷装置を用いて検出する内部欠陥検出方法。 - 特許庁

PATTERN DEFECT CORRECTING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

パターン欠陥修正方法およびパターン欠陥修正装置 - 特許庁

METHOD OF REVEALING CRYSTALLINE DEFECT IN BULK SUBSTRATE例文帳に追加

バルク基板中の結晶欠陥を顕在化する方法 - 特許庁

LOW DEFECT DENSITY VACANCY-DOMINATED SILICON WAFER AND INGOT例文帳に追加

低欠陥密度の空孔優勢シリコンウエハおよびインゴット - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

欠陥検査方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

INSPECTION METHOD AND INSPECTION DEVICE FOR STEEL PRODUCT SURFACE DEFECT例文帳に追加

鋼材表面欠陥の検査方法および検査装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR DEFECT INSPECTING, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

欠陥検査方法、欠陥検査装置及びコンピュータプログラム - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of defect inspection even in the case of occurrence of multiple defects.例文帳に追加

多量の欠陥が発生した場合にも欠陥検査を行なうことができる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

Two kinds of defect detection data acquired by performing defect detection in different conditions are stored in a storage device.例文帳に追加

記憶装置に、異なる条件で欠陥検出が行われた２種類の欠陥検出データが記憶される。 - 特許庁

DEFECT OBSERVING METHOD USING SEM, AND APPARATUS THEREFOR例文帳に追加

ＳＥＭを用いた欠陥観察方法及びその装置 - 特許庁