「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(44ページ目) - Weblio英語例文検索

Lastly, a high PES value is used and the third defect pattern in which there is no defect sign is indicated.例文帳に追加

最後に，高いＰＥＳ値が使われていかなる欠陥のサインも存在しない第３欠陥類型を示す。 - 特許庁

In the defect correction method, a rib-chipping defect 36 is rectified before applying a correction paste 10 on the rib-chipping defect 36, and the inclination in width direction of the bottom part of the rib-chipping defect 36 is lessened so that the correction paste 10 applied on the rib-chipping defect 36 may not hang down to the side.例文帳に追加

この欠陥修正方法では、リブ欠け欠陥３６に修正ペースト１０を塗布する前にリブ欠け欠陥３６を整形し、リブ欠け欠陥３６に塗布した修正ペースト１０がリブ３４の横に垂れないように、リブ欠け欠陥３６の底部の幅方向の傾きを緩和させる。 - 特許庁

LASER DEFECT CORRECTING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

レーザ欠陥修正装置およびレーザ欠陥修正方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR AUTOMATICALLY CORRECTING COLOR DEFECT例文帳に追加

色調不良を自動的に補正する方法および装置 - 特許庁

One is to defect, and the other it to start a war.例文帳に追加

一つは亡命 もう一つは戦争を始める事だ - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

Successively, region information read out from a database in which a plurality of defect correction methods and region information in which appearance of defect is assumed for each kind of the defect are registered is applied to the difference image and the defect is detected, and the defect correction method is read out from the database based on the detected defect.例文帳に追加

次に、この差分画像に、複数の欠陥修正手法および欠陥の種類ごとに当該欠陥が出現されることが想定される領域情報が登録されたデータベースから読み出した領域情報を適用して欠陥を検出し、検出した欠陥に基づいて前記データベースから欠陥修正手法を読み出す。 - 特許庁

The kind of a defect is detected, and signal processing is performed according to this defect, by providing an information processor with an envelope detection part 11 for detecting an envelope of a reproduction RF signal, and a defect detection device 1 comprising a three-block configuration for classifying the defects into a micro defect, a degenerated defect, and a difference defect.例文帳に追加

再生ＲＦ信号のエンベロープを検出するエンベロープ検出部１１と、ディフェクトをマイクロディフェクト、縮退ディフェクト、及び差分ディフェクトの３種類に分類するための３つのブロック構成とを備えたディフェクト検出装置１を情報処理装置に設けることにより、ディフェクトの種類を検出し、このディフェクトに応じた信号処理を実行する。 - 特許庁

To provide a defect detecting method for detecting a defect such as cracking and a crack while having high detecting capability of not becoming unclear in a boundary line of the defect such as the crack without rounding a corner part of the defect such as the crack.例文帳に追加

亀裂等の欠陥の角部が丸められることなく亀裂等の欠陥の境目が不明瞭とならない高い検出能力を有する、割れや亀裂等のような欠陥を検出するための欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and device for correcting an error in a defect coordinate output from an inspection device to make it easy to select a visual field size for defect search of a defect review device and a defect for fine alignment.例文帳に追加

検査装置から出力された欠陥座標の誤差を補正し、欠陥レビュー装置における欠陥探索用の視野サイズ及びファインアライメント用の欠陥を容易に選定することができる方法及び装置を提供する。 - 特許庁

A defect kind decision unit 47 compares the defect addresses stored in the defect address storage unit 46 to decide whether the length of the longitudinal line flaw depends upon the exposure time, and records the decision result in a defect information recording unit 48.例文帳に追加

欠陥種別判定部４７は、欠陥アドレス格納部４６に格納された欠陥アドレスを比較して、縦線キズの長さが露光時間に依存するか否かを判定し、判定結果を欠陥情報記録部４８に記録する。 - 特許庁

First, a review is carried out by an electron microscope unit 2, and only when a first determining section 3 recognizes that a defect exists in a recognized defect part, is related defect information output to a defect information classifying section 6.例文帳に追加

先ず電子顕微鏡ユニット２によるレビュー結果に基づき、第１の判定部３により認定欠陥部位に欠陥が有ると認められる場合のみ、その旨の欠陥情報が欠陥情報分類部６に出力される。 - 特許庁

The epitaxial wafer 110 includes a high defect region 111 and a low defect region 112 having lower defect density than the high defect region 111, and has a main surface 113 and a backside 114 on the opposite side from the main surface 113.例文帳に追加

エピウエハ１１０は、高欠陥領域１１１と、高欠陥領域１１１よりも欠陥密度の低い低欠陥領域１１２とを含み、主表面１１３と、主表面１１３と反対側の裏面１１４とを有する。 - 特許庁

A defect-correcting apparatus accumulates in a database many defect correction methods, including those implemented in the past and detects defects, by checking a defect image with captured locations being tested on a wiring board against a defect-free reference image.例文帳に追加

過去に実施された欠陥修正手法を含む複数の欠陥修正手法をデータベースに蓄積し、配線基板の検査対象箇所を撮影した欠陥画像と、欠陥のない参照画像とを照合して欠陥を検出する。 - 特許庁

To enhance efficiency for reviewing a defect to review the large number of defects in a short time, in the defect review for a semiconductor device capable of detecting the defect in a low magnification of SEM (Scanning Electron Microscope) image and capable of observing the defect in a high magnification of SEM image.例文帳に追加

低倍率のＳＥＭ像で欠陥を検出し、高倍率のＳＥＭ画像で欠陥を観察する半導体デバイスの欠陥レビューにおいて、欠陥レビューの効率をあげて短時間に多数に欠陥をレビューできるようにする。 - 特許庁

The signal processing section 34 identifies a position of a defect caused at an exposure start position of the received image data by using a defect correction pulse 186a and applies defect correction processing to the pixel data at this position to output a normal image without a defect.例文帳に追加

信号処理部34では、供給される画像データの露出開始位置に生じる傷の位置を欠陥補正パルス186aで特定してこの位置の画素データに欠陥補正処理を施して欠陥のない正常な画像を出力する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device for a PDP substrate and a defect inspection method capable of obtaining a precise defect location even if the defect inspection is carried out with the substrate in a state of thermal expansion, and capable of improving production efficiency.例文帳に追加

基板が熱膨張した状態で欠陥検査を行っても正確な欠陥位置を得ることができ、生産効率を向上させることができるＰＤＰ用基板の欠陥検査装置および欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

A current flows in the defect portions if a reverse bias voltage is applied to the light emitting elements having the defect portions, and emission of light which occurs from the current is measured by using an emission microscope, specifying the position of the defect portions, and short-circuited portions can be repaired by applying a laser to the defect portions.例文帳に追加

この電流から生じる発光をエミッション顕微鏡により測定して欠陥部を特定し、欠陥部にレーザーを照射することによりショート箇所を修理するという発光装置の作製方法である。 - 特許庁

In respective steps of a compiling procedure, a step for checking whether a defect is regenerated or not is prepared, and when the defect is regenerated, processing is returned to a step causing the generation of the defect and the processing is retried by a processing step including no defect.例文帳に追加

コンパイル手順の各ステップにおいて、不良が再現したかどうかを調べるステップを設け、不良が再現した場合、不良発生原因となったステップに戻り、不良を含まない処理ステップにて処理をやり直す。 - 特許庁

A defect factor pair decision part 53 performs Delaunay triangulation with the representative points of the respective defect factors used as generatrices to find defect factor pairs comprising defect factors of both end points of respective sides forming a plurality of triangles.例文帳に追加

欠陥要素ペア決定部５３では各欠陥要素の代表点を母点としてドローネ三角形分割を行い、複数の三角形を構成する各辺の両端点の欠陥要素により構成される欠陥要素ペアが求められる。 - 特許庁

To provide a defect observation device which inputs a training defect and ideal output that is based on image processing of the training defect, and which can readily and rapidly set image processing parameters required for the classification of the defect type.例文帳に追加

教示欠陥および教示欠陥の画像処理による理想出力を入力し、欠陥種の分類に必要な画像処理パラメタの設定作業を容易かつ高速に行うことができる欠陥観察装置を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for inspecting defect capable of judging the defect detected in duplication when a defect detecting processing is performed by a plurality of defect detecting means for an object to be inspected.例文帳に追加

検査対象物について、複数の欠陥検出手段によって欠陥検出処理を行った場合に、重複して検出された欠陥を判定することができる欠陥検査装置及び欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect probing method in which a skilled technician is not required as different from a conventional hammering method even when a defect is judged by a strike as the defect probing method, whose judgment accuracy can be enhanced and in which the defect can be probed in a short time and nondestructively.例文帳に追加

欠陥探査方法として打撃による判定でありながら、従来の打音法のような熟練技能者を必要なく、且つ判定精度を向上することができ、短時間で、非破壊の探査を可能とする。 - 特許庁

To discriminate between a detected true defect and a pseudo defect, in image defect inspection for detecting the difference of a pixel value between each corresponding pixel in two images, and detecting a pixel part as a defect when the difference exceeds a detection threshold.例文帳に追加

２画像の対応する各画素同士の画素値の差分を検出して、この差分が検出閾値を超えるとき画素部分を欠陥として検出する画像欠陥検査において、検出された真欠陥と疑似欠陥とを区別する。 - 特許庁

To provide a defect marking system to a thin steel sheet capable of removing a defect mark imparted by the error operation of a defect detector without stopping a line and obtaining a product at a state an effective defect only is marked.例文帳に追加

ラインを停止すること無く、欠陥検出器の誤作動によって付された欠陥マークを除去し、有効な欠陥マークのみを付した状態で成品を得ることができる薄鋼板への欠陥マーキングシステムを提供する。 - 特許庁

TRANSPARENT PLATE BODY DEFECT DETECTING METHOD AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

透明板状体の欠点検出方法およびその装置 - 特許庁

To provide a manufacturing method for manufacturing an optical film which has no defect or little defect and has a large area with a continuous process.例文帳に追加

連続工程で、欠陥なく又は少なく、大面積に光学フィルムを製造可能な製造方法を提供する。 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD FOR DISCRETE TRACK TYPE MAGNETIC DISK MEDIUM例文帳に追加

ディスクリート・トラック型磁気ディスク媒体の欠陥検査方法 - 特許庁

ILLUMINATING DEVICE, DEFECT INSPECTION DEVICE USING THE SAME AND DEFECT INSPECTION METHOD, AND HEIGHT MEASURING DEVICE AND HEIGHT MEASURING METHOD例文帳に追加

照明装置並びにそれを用いた欠陥検査装置及びその方法並びに高さ計測装置及びその方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE OF EVALUATING DEFECT OF SEMICONDUCTOR CRYSTAL例文帳に追加

半導体結晶の欠陥評価方法及び評価装置 - 特許庁

The defect determination circuit 14 performs defect determination in accordance with the level of the SNR estimated by the SNR estimator 16.例文帳に追加

キズ判定回路１４は、ＳＮＲ推定器１６にて推定されたＳＮＲの高低に応じたキズ判定を実施する。 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND APPARATUS THEREFOR, AND PRODUCTION METHOD OF MASK例文帳に追加

欠陥検査方法及びその装置、マスクの製造方法 - 特許庁

PROBE NAVIGATION METHOD AND DEVICE AND DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

プローブナビゲーション方法及び装置並びに不良検査装置 - 特許庁

COMMON DEFECT PROCESSING METHOD IN COLOR-FILTER PATTERN INSPECTION MACHINE例文帳に追加

カラーフィルタパターン検査機における共通欠陥処理方法 - 特許庁

THIN FILM TRANSISTOR MATRIX SUBSTRATE AND DEFECT REPAIRING METHOD THEREOF例文帳に追加

薄膜トランジスタマトリクス基板及びその欠陥修復方法 - 特許庁

The edge defect detection device 1 includes a control device 6.例文帳に追加

エッジ欠陥検出装置１は、制御装置６を備える。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR DEFECT INSPECTION FOR PHASE SHIFT MASK例文帳に追加

位相シフトマスクの欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁

CIRCUIT DEFECT REPAIRING METHOD AND DEVICE OF LIQUID CRYSTAL DISPLAY例文帳に追加

液晶表示装置の回路欠陥補修方法及び装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR GENERATION OF DEFECT-RELIEF TREATMENT INFORMATION例文帳に追加

不良救済処理情報の生成方法及びその装置 - 特許庁

To execute an accurate defect fatalness evaluation, a yield prediction and a fault position specification in an in-line defect checking step.例文帳に追加

インラインの欠陥検査工程において、高精度な欠陥致命性評価、歩留まり予測、故障個所特定を行うこと。 - 特許庁

ORGANIC LIGHT EMITTING DISPLAY DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD OF THE SAME例文帳に追加

有機発光表示装置及びその欠陥検査方法 - 特許庁

REPETITIVE PATTERN ERASING METHOD, DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE例文帳に追加

繰り返しパターン消去方法、欠陥検査方法及び装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR DETECTION OF COATING DEFECT例文帳に追加

塗装欠陥検出装置及び塗装欠陥検出方法 - 特許庁

DEFECT EVALUATING APPARATUS OF UNDERGROUND STRUCTURE, DEFECT EVALUATING METHOD AND PROGRAM FOR MAKING COMPUTER EXECUTE THE SAME例文帳に追加

土中構造物の欠陥評価装置、欠陥評価方法および欠陥評価方法をコンピュータに実行させるプログラム - 特許庁

PICTURE SIGNAL PROCESSOR AND METHOD FOR DETECTING PIXEL DEFECT例文帳に追加

画像信号処理装置及び画素欠陥の検出方法 - 特許庁

To detect a minute real defect on an optical proximity effect correction mask while suppressing the occurrence of a pseudo-defect.例文帳に追加

擬似欠陥の発生を最大限抑えながら、光学近接効果補正マスク上の微細な実欠陥を検出する。 - 特許庁