「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(42ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD FOR DETECTING JOINT DEFECT IN FRICTION STIR JOINING例文帳に追加

摩擦撹拌接合における継ぎ手不良検知方法 - 特許庁

To detect a processing defect which causes the deterioration of high-density multicolor reproduction, and to perform correction in accordance with the defect.例文帳に追加

高濃度の多重色の色再現の劣化を招くプロセス不良を検出し、それに応じた補正を行う。 - 特許庁

STRUCTURE AND METHOD FOR DETECTING VIA DEFECT例文帳に追加

ビア不良検出構造及びビア不良検出方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING SURFACE DEFECT IN DISC例文帳に追加

ディスクの表面欠陥検査方法および検査装置 - 特許庁

DEFECT DETECTING DEVICE, SENSITIVITY CORRECTION METHOD THEREOF, SUBSTRATE FOR DEFECT DETECTION SENSITIVITY CORRECTION, AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

欠陥検査装置及びその感度校正方法、欠陥検出感度校正用基板及びその製造方法 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE AND IMAGE SENSOR CALIBRATION METHOD例文帳に追加

パターン欠陥検査装置及びイメージセンサの校正方法 - 特許庁

METHOD, DEVICE, AND PROGRAM FOR PROCESSING FILE SYSTEM DEFECT, AND MEDIUM例文帳に追加

ファイルシステム欠陥処理方法、装置、プログラム、及び媒体 - 特許庁

To prevent occurrence of a defect by predicting occurrence time of the defect when products are produced lot by lot.例文帳に追加

ロット毎に製品を生産していくときの不具合の発生時期を予測し、不具合の発生を未然に防止する。 - 特許庁

A GaN substrate 1 has a main surface, and includes a low-defect crystal region 52 and a defect-concentrated region 51 adjacent to the low-defect crystal region 52.例文帳に追加

主表面を有するＧａＮ基板１であって、低欠陥結晶領域５２と、当該低欠陥結晶領域５２に隣接する欠陥集合領域５１とを備える。 - 特許庁

MAGNETIC DISK UNIT AND METHOD FOR CHECKING DEFECT OF MAGNETIC DISK例文帳に追加

磁気ディスク装置および磁気ディスクの欠陥検査方法 - 特許庁

The defect etchant etches Si 16 to a thickness for a defect pit 18 to reach the SiGe layer 14 located under the Si 16.例文帳に追加

Ｓｉ１６を、欠陥ピット１８が下に位置するＳｉＧｅ層１４に到達可能な厚さまでエッチングする。 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR REINSPECTION OF DEFECT ON OBJECT例文帳に追加

物体上の欠陥を再検査する装置及び方法 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTING METHOD AND DEVICE THEREOF例文帳に追加

パターン欠陥検査方法およびパターン欠陥検査装置 - 特許庁

In this internal defect detecting method, an internal defect of a bandlike body S is detected using an ultrasonic flaw detector.例文帳に追加

帯状体Ｓの内部欠陥を超音波探傷装置を用いて検出する内部欠陥検出方法。 - 特許庁

PATTERN DEFECT CORRECTING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

パターン欠陥修正方法およびパターン欠陥修正装置 - 特許庁

METHOD OF REVEALING CRYSTALLINE DEFECT IN BULK SUBSTRATE例文帳に追加

バルク基板中の結晶欠陥を顕在化する方法 - 特許庁

The visual field size for defect search of the defect review device is set on the basis of the error without any inclination.例文帳に追加

傾向を持たない誤差に基づいて、欠陥レビュー装置における欠陥探索用の視野サイズを設定する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method and a defect inspection apparatus for automatically adjusting a focus when a specimen is imaged, and determining whether a defect exists from obtained images.例文帳に追加

被検体を撮影する際に自動的に焦点を合せ、得られた画像から欠陥の有無を判断する欠陥検査方法及び欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

LOW DEFECT DENSITY VACANCY-DOMINATED SILICON WAFER AND INGOT例文帳に追加

低欠陥密度の空孔優勢シリコンウエハおよびインゴット - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

欠陥検査方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

Consequently, the defect in fixation of a metal plate is improved.例文帳に追加

これにより金属プレートの固着不良を回避できる。 - 特許庁

CIRCUIT AND METHOD FOR CORRECTING DEFECT DETECTION例文帳に追加

欠陥検出補正回路及び欠陥検出補正方法 - 特許庁

Therein, an excess defect part is immersed in a defect removal accelerator 4, thereby, the chemical dissolution operation acts between the defect removal accelerator 4 and the excess defect 3, while the operation is acting, the machine grinding by pressing the probe 1 against the excess defect is performed, whereby the working operation can be accelerated.例文帳に追加

この時余剰欠陥部分が欠陥除去促進剤４に浸るようにすることで、除去促進剤４と余剰欠陥３との間に化学的溶解作用が働いている中、探針１を押しつけることによる機械研磨を併用させることにより、加工作用を増速させることができる。 - 特許庁

To prevent a bright defect caused by an alignment defect at an edge part of an open portion of a color filter with the open portion.例文帳に追加

開口部を有するカラーフィルターの開口部端部での配向不良による光抜けを防止すること。 - 特許庁

INSPECTION METHOD, INSPECTION DEVICE AND MASKED DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

検査方法、検査装置およびマスク欠陥検査方法 - 特許庁

To provide a display device capable of correcting a defect surely and efficiently and its defect correcting method.例文帳に追加

確実に、且つ、効率良く欠陥の修正が可能な表示装置およびその欠陥修正方法を提供する。 - 特許庁

To achieve detection of a fine defect, highly accurate measurement of the size of the detected defect, and so on.例文帳に追加

微小な欠陥を検出すること、検出した欠陥の寸法を高精度に計測することなどが求められる。 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR DETECTING DEFECT OF FILTER例文帳に追加

フィルターの欠陥検出装置及び欠陥検出方法 - 特許庁

METHOD FOR MANAGING DISK DEFECT, DEVICE, AND ITS DISK例文帳に追加

ディスク欠陥を管理する方法、装置及びそのディスク - 特許庁

METHOD FOR RECOGNIZING WAFER COORDINATE OF AUTOMATIC DEFECT DETECTOR例文帳に追加

自動欠陥検出装置のウェハ座標認識方法 - 特許庁

To provide a patter defect detecting method capable of exactly detecting a defect larger than the cycle size of a pattern.例文帳に追加

パターンの周期サイズより大きな欠陥を正確に検出できるパターン欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

SAMPLE DEFECT INSPECTING APPARATUS AND METHOD, AND DEVICE-MANUFACTURING METHOD USING THE SAMPLE DEFECT INSPECTING APPARATUS AND THE METHOD例文帳に追加

試料欠陥検査装置及び方法並びに該欠陥検査装置及び方法を用いたデバイス製造方法 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of defect inspection even in the case of occurrence of multiple defects.例文帳に追加

多量の欠陥が発生した場合にも欠陥検査を行なうことができる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a line defect inspection method capable of detecting highly accurately even a line defect generated from linearly-aligned pixels having respectively a defect on a part in each pixel.例文帳に追加

画素内の一部に欠陥を有する画素が線状に並んで生じる線欠陥をも高精度に検出することができる線欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

DISPLAY DEVICE AND DEFECT REPAIRING METHOD OF DISPLAY DEVICE例文帳に追加

表示装置および表示装置の欠陥修復方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD OF INSPECTING SURFACE OF SUBSTRATE例文帳に追加

欠陥検査装置及び基板表面の検査方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING TRANSFER MASK FOR DEFECT例文帳に追加

転写マスクの欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁

METHOD OF EXPOSING INTERFACIAL DEFECT OF AERIAL CABLE CONNECTION BODY例文帳に追加

架空ケーブル接続体の界面欠陥顕在化方法 - 特許庁

relating to or characteristic of the visual defect aniseikonia 例文帳に追加

視覚障害不等像視に関した、またはその特性 - 日本語WordNet

To provide a laser cut apparatus for detecting any defect of a laser cut line with high accuracy, and eliminating the defect.例文帳に追加

レーザーカット線の不良を高い精度で検出して排除することができるレーザーカット装置を提供すること。 - 特許庁

CAM CABABLE OF TESTING PRESENCE OF DEFECT OF PRIORITY ENCODER, AND METHOD OF TESTING PRESENCE OF DEFECT OF PRIORITY ENCODER例文帳に追加

優先順位エンコーダの欠陥有無テストが可能なＣＡＭ及び優先順位エンコーダの欠陥有無テスト方法 - 特許庁

Review work is performed after defect inspection is performed.例文帳に追加

欠陥検査を実施した後、レビュー作業を実施する。 - 特許庁

To improve quality of defect correction while remarkably improving work efficiency in a defect correcting process against an interlayer short-circuit defect between upper and lower parts of a multilayer structure.例文帳に追加

多層構造の上下間での層間ショート欠陥に対する欠陥修正工程の作業効率を著しく向上させつつ、欠陥修正の品質を向上させる。 - 特許庁

By this defect classifier, a plurality of defect factors are specified from image data in an inspection area on a substrate to acquire coordinate values of representative points of the respective defect factors.例文帳に追加

欠陥分類装置では、基板上の検査領域の画像データから複数の欠陥要素が特定され、各欠陥要素の代表点の座標値が取得される。 - 特許庁

A defect area computing means conducts labeling processing for defect position information stored in a defect position-storing means 16 to compute the number and respective areas of respective defects.例文帳に追加

欠陥面積演算手段１８は欠陥位置記憶手段１６に記憶した欠陥位置情報をラベリング処理を行い、欠陥の数と個々の欠陥の面積を演算する。 - 特許庁