「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(42ページ目) - Weblio英語例文検索

SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD例文帳に追加

表面欠陥検査装置および表面欠陥検査方法 - 特許庁

The defect part 20 is detected on the running web-shaped packing material with the defect detecting device 10, the defect display label 22 is pasted at the inside position of the wave edge (10a) near the defect part 10, and a sticking material layer is provided on the defect display label.例文帳に追加

走行するウエブ状包装材を欠点検出装置１０で不良箇所２０が検出され、その不良箇所１０近傍でウエブ端縁（１０ａ）内側の位置に貼付される欠点表示ラベル２２であって、該欠点表示ラベル２２は粘着剤層が施されている表示ラベルとしたものである。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING DEFECT IN PLANE DISPLAY PANEL例文帳に追加

平面表示パネルの欠陥検査装置および方法 - 特許庁

To improve quality of defect correction, while greatly enhancing efficiency of work in a defect correction process.例文帳に追加

欠陥修正工程の作業効率を著しく向上させつつ、欠陥修正の品質を向上させる。 - 特許庁

To provide a defect detector which obtains an actual picture of high precision to improve the defect detection sensitivity.例文帳に追加

高精度の実画像を得られ、欠陥検出感度を高くすることが可能な欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

The defect of wiring, that is formed by damascene method, is extracted by the pattern defect comparison inspection and SEM inspection and is identified to be a defect, that is ascertained by a process trace in advance.例文帳に追加

ダマシン法で形成された配線の欠陥をパターン欠陥比較検査およびＳＥＭ検査で抽出し、予め工程トレースによって判明した欠陥と同定する。 - 特許庁

AUTOMATIC DEFECT INFORMATION COLLECTION CONTROL METHOD AND RECORDING MEDIUM RECORDING AUTOMATIC DEFECT INFORMATION COLLECTION CONTROL PROGRAM例文帳に追加

自動欠陥情報収集制御方法及び自動欠陥情報収集制御プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

METHOD OF DRAWING OPTICAL FIBER WITH DECREASED PARTICULATE DEFECT例文帳に追加

微粒子欠陥を減少させた光ファイバ引抜き法 - 特許庁

To narrow down a defect factor caused by the defect of an electronic device for forming the circuit patterns of multiple layers by analyzing the defect to occur in each of layers of the electronic device.例文帳に追加

多層の回路パターンを形成する電子デバイスの各層で発生する欠陥の解析を行い、電子デバイスの欠陥による不良原因の絞り込みを可能とする。 - 特許庁

IMAGING APPARATUS, DEFECT DETERMINATION METHOD, PROGRAM AND INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

撮像装置、キズ判定方法、プログラムおよび集積回路 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD FOR CHIP RESISTOR SUBSTRATE, DEFECT DETECTION DEVICE FOR CHIP RESISTOR SUBSTRATE, AND TRIMMING DEVICE例文帳に追加

チップ抵抗体基板の不良検出方法、チップ抵抗体基板の不良検出装置およびトリミング装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE DEFECT INSPECTION METHOD AND SYSTEM THEREOF例文帳に追加

半導体デバイスの欠陥検査方法およびそのシステム - 特許庁

DYNAMIC DEFECT MANAGING METHOD FOR REWRITABLE OPTICAL DISK例文帳に追加

書き換え可能型光ディスクの動的欠陥管理方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY AND METHOD FOR ANALYZING DEFECT OF SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

半導体メモリと半導体メモリの不良解析方法 - 特許庁

Defect position information including sign information for showing signs combined with the reference home position M and defect coordinate information showing the calculated defect coordinates are generated.例文帳に追加

基準となった原点Ｍと組合せをなす記号を示す記号情報と、算出した欠陥座標を示す欠陥座標情報とを含む欠陥位置情報を生成する。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus which can suppress the occurrence of a development defect due to a hopping defect of a toner.例文帳に追加

トナーのホッピング不良による現像不良の発生を抑えることができる画像形成装置を提供する。 - 特許庁

The surface of a defect substrate to be subjected to defect inspection is scanned by a light beam and is detected of its defects and their address coordinates.例文帳に追加

欠陥検査すべき基板の表面を光ビームで走査し、欠陥及びそのアドレス座標を検出する。 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT INSPECTION DEVICE FOR MASK BLANK, AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE USING THEM例文帳に追加

マスクブランクの欠陥検査方法及び欠陥検査装置、並びにそれらを用いた半導体装置の製造方法 - 特許庁

PIXEL DEFECT SIGNAL CORRECTION CIRCUIT FOR CCD IMAGE PICKUP ELEMENT例文帳に追加

ＣＣＤ撮像素子の画素欠陥信号補正回路 - 特許庁

A defect correction means 30 corrects fixed defect pixels and flicker defect pixels stored in the sensitivity coefficient defective information storage means 28A.例文帳に追加

欠陥補正手段３０による補正は、感度係数欠陥情報記憶手段２８Ａに記憶されている固定欠陥画素及び点滅欠陥画素を対象として行う。 - 特許庁

Consequently, the defect in fixation of a metal plate is improved.例文帳に追加

これにより金属プレートの固着不良を回避できる。 - 特許庁

CIRCUIT AND METHOD FOR CORRECTING DEFECT DETECTION例文帳に追加

欠陥検出補正回路及び欠陥検出補正方法 - 特許庁

Therein, an excess defect part is immersed in a defect removal accelerator 4, thereby, the chemical dissolution operation acts between the defect removal accelerator 4 and the excess defect 3, while the operation is acting, the machine grinding by pressing the probe 1 against the excess defect is performed, whereby the working operation can be accelerated.例文帳に追加

この時余剰欠陥部分が欠陥除去促進剤４に浸るようにすることで、除去促進剤４と余剰欠陥３との間に化学的溶解作用が働いている中、探針１を押しつけることによる機械研磨を併用させることにより、加工作用を増速させることができる。 - 特許庁

To prevent a bright defect caused by an alignment defect at an edge part of an open portion of a color filter with the open portion.例文帳に追加

開口部を有するカラーフィルターの開口部端部での配向不良による光抜けを防止すること。 - 特許庁

INSPECTION METHOD, INSPECTION DEVICE AND MASKED DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

検査方法、検査装置およびマスク欠陥検査方法 - 特許庁

To provide a display device capable of correcting a defect surely and efficiently and its defect correcting method.例文帳に追加

確実に、且つ、効率良く欠陥の修正が可能な表示装置およびその欠陥修正方法を提供する。 - 特許庁

To achieve detection of a fine defect, highly accurate measurement of the size of the detected defect, and so on.例文帳に追加

微小な欠陥を検出すること、検出した欠陥の寸法を高精度に計測することなどが求められる。 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR DETECTING DEFECT OF FILTER例文帳に追加

フィルターの欠陥検出装置及び欠陥検出方法 - 特許庁

METHOD FOR MANAGING DISK DEFECT, DEVICE, AND ITS DISK例文帳に追加

ディスク欠陥を管理する方法、装置及びそのディスク - 特許庁

METHOD FOR RECOGNIZING WAFER COORDINATE OF AUTOMATIC DEFECT DETECTOR例文帳に追加

自動欠陥検出装置のウェハ座標認識方法 - 特許庁

To provide a patter defect detecting method capable of exactly detecting a defect larger than the cycle size of a pattern.例文帳に追加

パターンの周期サイズより大きな欠陥を正確に検出できるパターン欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

SAMPLE DEFECT INSPECTING APPARATUS AND METHOD, AND DEVICE-MANUFACTURING METHOD USING THE SAMPLE DEFECT INSPECTING APPARATUS AND THE METHOD例文帳に追加

試料欠陥検査装置及び方法並びに該欠陥検査装置及び方法を用いたデバイス製造方法 - 特許庁

To provide a line defect inspection method capable of detecting highly accurately even a line defect generated from linearly-aligned pixels having respectively a defect on a part in each pixel.例文帳に追加

画素内の一部に欠陥を有する画素が線状に並んで生じる線欠陥をも高精度に検出することができる線欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

DISPLAY DEVICE AND DEFECT REPAIRING METHOD OF DISPLAY DEVICE例文帳に追加

表示装置および表示装置の欠陥修復方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD OF INSPECTING SURFACE OF SUBSTRATE例文帳に追加

欠陥検査装置及び基板表面の検査方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING TRANSFER MASK FOR DEFECT例文帳に追加

転写マスクの欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁

METHOD OF EXPOSING INTERFACIAL DEFECT OF AERIAL CABLE CONNECTION BODY例文帳に追加

架空ケーブル接続体の界面欠陥顕在化方法 - 特許庁

relating to or characteristic of the visual defect aniseikonia 例文帳に追加

視覚障害不等像視に関した、またはその特性 - 日本語WordNet

To provide a laser cut apparatus for detecting any defect of a laser cut line with high accuracy, and eliminating the defect.例文帳に追加

レーザーカット線の不良を高い精度で検出して排除することができるレーザーカット装置を提供すること。 - 特許庁

CAM CABABLE OF TESTING PRESENCE OF DEFECT OF PRIORITY ENCODER, AND METHOD OF TESTING PRESENCE OF DEFECT OF PRIORITY ENCODER例文帳に追加

優先順位エンコーダの欠陥有無テストが可能なＣＡＭ及び優先順位エンコーダの欠陥有無テスト方法 - 特許庁

Review work is performed after defect inspection is performed.例文帳に追加

欠陥検査を実施した後、レビュー作業を実施する。 - 特許庁

To improve quality of defect correction while remarkably improving work efficiency in a defect correcting process against an interlayer short-circuit defect between upper and lower parts of a multilayer structure.例文帳に追加

多層構造の上下間での層間ショート欠陥に対する欠陥修正工程の作業効率を著しく向上させつつ、欠陥修正の品質を向上させる。 - 特許庁

By this defect classifier, a plurality of defect factors are specified from image data in an inspection area on a substrate to acquire coordinate values of representative points of the respective defect factors.例文帳に追加

欠陥分類装置では、基板上の検査領域の画像データから複数の欠陥要素が特定され、各欠陥要素の代表点の座標値が取得される。 - 特許庁

A defect area computing means conducts labeling processing for defect position information stored in a defect position-storing means 16 to compute the number and respective areas of respective defects.例文帳に追加

欠陥面積演算手段１８は欠陥位置記憶手段１６に記憶した欠陥位置情報をラベリング処理を行い、欠陥の数と個々の欠陥の面積を演算する。 - 特許庁

To prevent increase in manufacturing cost accompanying image defect testing beforehand in pixel defect correction, or inappropriate corrections for a pixel becoming a defect through aging or temperature variation.例文帳に追加

画素欠陥補正における、事前の有無試験に伴う製造コストの上昇や、あるいは、経年変化や温度変化で欠陥となる画素に対する不適切な補正を防止する。 - 特許庁