「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(45ページ目) - Weblio英語例文検索

IMAGE DEFECT DETECTING DEVICE AND METHOD, AND STORAGE MEDIUM STORING PROCEDURE FOR IMAGE DEFECT DETECTING METHOD例文帳に追加

画像欠陥検出装置、画像欠陥検出方法、及び画像欠陥検出方法の手順を記憶した記憶媒体 - 特許庁

To realize a defect inspection device by which a vertical or horizontal defect of fine line width such as a CD error can be detected.例文帳に追加

ＣＤエラーのような微細線幅の縦長又は横長の欠陥を検出できる欠陥検査装置を実現する。 - 特許庁

Additionally a defect transfer property onto the exposure substrate of defect seed generated at a pattern connection section or the like can be reduced.例文帳に追加

さらに、パターンつなぎ部などに生じた欠陥種の露光基板上への欠陥転写性を低減することができる。 - 特許庁

To prevent a crystal defect failure due to dislocation.例文帳に追加

転位による結晶欠陥不良を防止できるようにする。 - 特許庁

Further, the defect generating factor is specified based on this and the decision results of the defect condition by measurement of the partial discharge waveform.例文帳に追加

さらに、部分放電波形の測定による欠陥状態の判別結果と合わせて、欠陥発生要因を特定する。 - 特許庁

DEFECT DETECTOR, DEFECT DETECTING METHOD, OUTLINE EXTRACTING METHOD, OUTLINE SMOOTHING METHOD, REGION COMBINING METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

欠陥検出装置、欠陥検出方法、輪郭抽出方法、輪郭平滑化方法、領域結合方法およびプログラム - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING DEFECT OF GRAY TONE MASK AND THOSE FOR INSPECTING DEFECT OF PHOTO MASK例文帳に追加

グレートーンマスクの欠陥検査方法及び欠陥検査装置、並びにフォトマスクの欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁

METHOD AND EQUIPMENT FOR INSPECTING DEFECT OF POROUS CERAMIC MEMBER例文帳に追加

多孔質セラミック部材の欠陥検査方法及び検査装置 - 特許庁

To provide a pattern inspection device which eliminates an erroneous detection of false defect macroscopically, and enables high defect detection accuracy microscopically.例文帳に追加

マクロには擬似欠陥の誤検出がなく、ミクロには欠陥検出精度が高いパターン検査装置を提供する。 - 特許庁

ELECTRONIC COMPONENT MOUNTING DEVICE, AND BONDING DEFECT DETECTION METHOD例文帳に追加

電子部品実装装置及び接合不良検出方法 - 特許庁

To measure an internal defect of a sample with high resolution without breaking the sample.例文帳に追加

試料の内部欠陥を高い分解能で測定する。 - 特許庁

To provide an AIN layer of large area with small defect density.例文帳に追加

欠陥密度が小さく且つ大面積のＡｌＮ層を得る。 - 特許庁

To provide a semiconductor device having a structure that can detect a short-circuit defect and an opening defect of a through electrode in a chip or a wafer.例文帳に追加

貫通電極のショート不良およびオープン不良をチップまたはウェハ状態で検出可能な構造とする。 - 特許庁

A recipe is then determined for further analysis of the defect.例文帳に追加

次いで、欠陥の更なる分析のためにレシピが決められる。 - 特許庁

WAFER DEFECT DETECTION SYSTEM WITH TRAVELING LENS MULTI-BEAM SCANNER例文帳に追加

移動レンズマルチビームスキャナを備えたウェハ欠陥検出システム - 特許庁

To detect even a small defect with high throughput.例文帳に追加

小さな欠陥であっても高スループットで検出可能にする。 - 特許庁

Thereby, the luminance of the pixel 21a of the bright spot defect is reduced.例文帳に追加

これにより、輝点不良の画素２１ａの輝度が下がる。 - 特許庁

To realize an inspection device capable of individually detecting a step bunching and a defect other than the step bunching such as a lattice defect.例文帳に追加

格子欠陥等のステップバンチング以外の欠陥とステップバンチングとを個別に検出できる検査装置を実現する。 - 特許庁

DEFECT DETECTION AND COMPENSATION APPARATUS, PROGRAM AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

欠陥検出補正装置、及びプログラム、並びに記憶媒体 - 特許庁

AUTOMATIC INSPECTION METHOD AND AUTOMATIC INSPECTION DEVICE OF CRYSTAL DEFECT例文帳に追加

結晶欠陥の自動検査方法及び自動検査装置 - 特許庁

DEFECT ANALYZING METHOD IN SEMICONDUCTOR PRODUCT MANUFACTURING PROCESS例文帳に追加

半導体製品製造工程における欠陥解析方法 - 特許庁

To re-construct and operate a system without allowing the defect of one door to affect the defect of the entire part of the system.例文帳に追加

１つの扉の不具合がそのままシステム全体の不具合に波及することなくシステムを再構築して運用する。 - 特許庁

To provide an image display device whose pixel defect is inconspicuous.例文帳に追加

画素の欠陥が目立たない画像表示装置を実現する。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING PIEZOELECTRIC CERAMICS FOR DEFECT例文帳に追加

圧電セラミックスの欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁

DETECTING METHOD FOR CRYSTALLINE DEFECT OF SILICON SINGLE CRYSTAL WAFER例文帳に追加

シリコン単結晶ウェーハの結晶欠陥の検出方法 - 特許庁

In a first defect check, the photographed image is converted in size, and the image is averaged in a prescribed size, and the defect is checked.例文帳に追加

第１欠陥検査は、撮像画像をサイズ変換し、該画像を所定サイズで平均化処理して欠陥を検査する。 - 特許庁

COMPOUND-EYE IMAGING APPARATUS AND CORRECTION METHOD OF IMAGING DEFECT PLACE例文帳に追加

複眼撮像装置、及び撮像欠陥箇所の補正方法 - 特許庁

To provide a method that guarantees a defect or occurrence of a defect on a semiconductor wafer to be recognized at an early time.例文帳に追加

半導体ウェーハ上のディフェクト又はディフェクト発生を早期に認識することを保証可能とする方法の提供。 - 特許庁

To provide a silicon wafer having controlled defect distribution.例文帳に追加

制御された欠陥分布を有するシリコンウェーハを提供する。 - 特許庁

METHOD OF INSPECTING DEFECT IN CIRCUIT BOARD FOR FLAT PANEL DISPLAY, METHOD OF MANUFACTURING THIS CIRCUIT BOARD AND DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

フラットパネルディスプレイ用パネル回路基板の欠陥検査方法、当該パネル回路基板の製造方法及び欠陥検査装置 - 特許庁

Thus, the address of the defect part can be accurately taken.例文帳に追加

これにより、正確に欠陥部のアドレスを取ることができる。 - 特許庁

To form a defect-free III nitride thin film/insulating film.例文帳に追加

欠陥のないIII族窒化物薄膜／絶縁膜を形成する。 - 特許庁

AUTOMATIC INSPECTING APPARATUS AND AUTOMATIC INSPECTING METHOD OF CRYSTAL DEFECT例文帳に追加

結晶欠陥の自動検査装置及び自動検査方法 - 特許庁

LIQUID CRYSTAL DISPLAY ELEMENT, AND METHOD FOR REPAIRING PIXEL DEFECT THEREOF例文帳に追加

液晶表示素子およびその画素欠陥修復方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING COATING DEFECT OF BURIED PIPE例文帳に追加

埋設管の塗覆欠陥の検査方法及び検査装置 - 特許庁

SURFACE DEFECT DETECTOR AND ITS DETECTION METHOD例文帳に追加

表面欠陥検出装置及び表面欠陥検出方法 - 特許庁

To provide a defect classifying device capable of highly accurately classifying even a defect due to continuous light exposure.例文帳に追加

連続する露光機起因の欠陥に対しても精度の高い欠陥分類が可能な欠陥分類装置を提供する。 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR DETECTING SURFACE DEFECT例文帳に追加

表面欠陥検出装置、及び表面欠陥検出方法 - 特許庁

IMAGE DEFECT DETECTION METHOD AND RADIOGRAPHIC IMAGING APPARATUS例文帳に追加

画像欠陥検出方法および放射線画像撮影装置 - 特許庁

PROCESS FOR REMOVING DEFECT OF STEEL PLATE ON PICKLING ACID ENTRANCE SIDE例文帳に追加

酸洗入側における鋼板欠陥部の除去方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING DISCHARGE DEFECT例文帳に追加

吐出不良検出方法及び吐出不良検出装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING DEFECT OF DISK例文帳に追加

ディスクの欠陥検査方法及びディスクの欠陥検査装置 - 特許庁

METHOD FOR INSPECTING DEFECT IN STEEL MATERIAL AND STEEL MATERIAL JOINT例文帳に追加

鋼材及び鋼材接合部における欠陥の検査方法 - 特許庁

To dispose of conductivity defect between an aluminum wiring and a positive electrode.例文帳に追加

アルミニウム配線と陽極の間の導通不良をなくす。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DETECTING DEFECT OF GRAY TONE MASK例文帳に追加

グレートーンマスクの欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁