「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(45ページ目) - Weblio英語例文検索

To realize a defect inspection device by which a vertical or horizontal defect of fine line width such as a CD error can be detected.例文帳に追加

ＣＤエラーのような微細線幅の縦長又は横長の欠陥を検出できる欠陥検査装置を実現する。 - 特許庁

Additionally a defect transfer property onto the exposure substrate of defect seed generated at a pattern connection section or the like can be reduced.例文帳に追加

さらに、パターンつなぎ部などに生じた欠陥種の露光基板上への欠陥転写性を低減することができる。 - 特許庁

To prevent a crystal defect failure due to dislocation.例文帳に追加

転位による結晶欠陥不良を防止できるようにする。 - 特許庁

APPARATUS FOR DETECTING SURFACE DEFECT OF METAL STRIP DURING RUNNING例文帳に追加

走行中の金属ストリップの表面欠陥検出装置 - 特許庁

A photographed image with high image quality is obtained, by reading the defect information at photographing and interpolating of the defect.例文帳に追加

この欠陥情報を撮影時において読み出し、欠陥を補間することによって、高画質の撮影画像が得られる。 - 特許庁

Further, the defect generating factor is specified based on this and the decision results of the defect condition by measurement of the partial discharge waveform.例文帳に追加

さらに、部分放電波形の測定による欠陥状態の判別結果と合わせて、欠陥発生要因を特定する。 - 特許庁

DEFECT DETECTOR, DEFECT DETECTING METHOD, OUTLINE EXTRACTING METHOD, OUTLINE SMOOTHING METHOD, REGION COMBINING METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

欠陥検出装置、欠陥検出方法、輪郭抽出方法、輪郭平滑化方法、領域結合方法およびプログラム - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING DEFECT OF GRAY TONE MASK AND THOSE FOR INSPECTING DEFECT OF PHOTO MASK例文帳に追加

グレートーンマスクの欠陥検査方法及び欠陥検査装置、並びにフォトマスクの欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT DETECTION AND COMPENSATION APPARATUS, PROGRAM AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

欠陥検出補正装置、及びプログラム、並びに記憶媒体 - 特許庁

AUTOMATIC INSPECTION METHOD AND AUTOMATIC INSPECTION DEVICE OF CRYSTAL DEFECT例文帳に追加

結晶欠陥の自動検査方法及び自動検査装置 - 特許庁

DEFECT ANALYZING METHOD IN SEMICONDUCTOR PRODUCT MANUFACTURING PROCESS例文帳に追加

半導体製品製造工程における欠陥解析方法 - 特許庁

To re-construct and operate a system without allowing the defect of one door to affect the defect of the entire part of the system.例文帳に追加

１つの扉の不具合がそのままシステム全体の不具合に波及することなくシステムを再構築して運用する。 - 特許庁

To provide an image display device whose pixel defect is inconspicuous.例文帳に追加

画素の欠陥が目立たない画像表示装置を実現する。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING PIEZOELECTRIC CERAMICS FOR DEFECT例文帳に追加

圧電セラミックスの欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁

DETECTING METHOD FOR CRYSTALLINE DEFECT OF SILICON SINGLE CRYSTAL WAFER例文帳に追加

シリコン単結晶ウェーハの結晶欠陥の検出方法 - 特許庁

In a first defect check, the photographed image is converted in size, and the image is averaged in a prescribed size, and the defect is checked.例文帳に追加

第１欠陥検査は、撮像画像をサイズ変換し、該画像を所定サイズで平均化処理して欠陥を検査する。 - 特許庁

COMPOUND-EYE IMAGING APPARATUS AND CORRECTION METHOD OF IMAGING DEFECT PLACE例文帳に追加

複眼撮像装置、及び撮像欠陥箇所の補正方法 - 特許庁

To provide a method that guarantees a defect or occurrence of a defect on a semiconductor wafer to be recognized at an early time.例文帳に追加

半導体ウェーハ上のディフェクト又はディフェクト発生を早期に認識することを保証可能とする方法の提供。 - 特許庁

To provide a silicon wafer having controlled defect distribution.例文帳に追加

制御された欠陥分布を有するシリコンウェーハを提供する。 - 特許庁

METHOD OF INSPECTING DEFECT IN CIRCUIT BOARD FOR FLAT PANEL DISPLAY, METHOD OF MANUFACTURING THIS CIRCUIT BOARD AND DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

フラットパネルディスプレイ用パネル回路基板の欠陥検査方法、当該パネル回路基板の製造方法及び欠陥検査装置 - 特許庁

Thus, the address of the defect part can be accurately taken.例文帳に追加

これにより、正確に欠陥部のアドレスを取ることができる。 - 特許庁

To form a defect-free III nitride thin film/insulating film.例文帳に追加

欠陥のないIII族窒化物薄膜／絶縁膜を形成する。 - 特許庁

AUTOMATIC INSPECTING APPARATUS AND AUTOMATIC INSPECTING METHOD OF CRYSTAL DEFECT例文帳に追加

結晶欠陥の自動検査装置及び自動検査方法 - 特許庁

LIQUID CRYSTAL DISPLAY ELEMENT, AND METHOD FOR REPAIRING PIXEL DEFECT THEREOF例文帳に追加

液晶表示素子およびその画素欠陥修復方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DETECTING DEFECT OF GRAY TONE MASK例文帳に追加

グレートーンマスクの欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING DEFECT OF RESIST PATTERN例文帳に追加

レジストパターンの欠陥検査方法及びその欠陥検査装置 - 特許庁

METHOD FOR PREVENTING BLISTER DEFECT ON HOT-ROLLED STEEL BAR AND WIRE ROD例文帳に追加

熱間圧延棒鋼線材の膨れ欠陥防止方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DETECTING EDGE DEFECT IN GLASS PLATE例文帳に追加

ガラス板のエッジ欠陥検出方法及び同検出装置 - 特許庁

DEFECT ANALYZER, ITS ADDRESS CONVERTING METHOD, AND MEMORY MEDIUM例文帳に追加

不良解析装置、そのアドレス変換方法、及び記憶媒体 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING DEFECT OF DISPLAY PANEL例文帳に追加

表示パネルの欠陥検査装置および欠陥検査方法 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR INSPECTING DEFECT OF SUBSTRATE例文帳に追加

基板の欠陥検査方法および基板の欠陥検査システム - 特許庁

METHOD OF CORRECTING DEFECT OF MASK AND METHOD OF MANUFACTURING THE MASK例文帳に追加

マスクの欠陥修正方法およびマスクの製造方法 - 特許庁

METHOD FOR INSPECTING DEFECT IN STEEL MATERIAL AND STEEL MATERIAL JOINT例文帳に追加

鋼材及び鋼材接合部における欠陥の検査方法 - 特許庁

To dispose of conductivity defect between an aluminum wiring and a positive electrode.例文帳に追加

アルミニウム配線と陽極の間の導通不良をなくす。 - 特許庁

To accurately detect the defect of the surface of a spherical transparent body, such as a glass ball, regardless of the shape of the defect.例文帳に追加

例えばガラス玉などの球状透明体表面の欠陥を、その欠陥の形状によらず正確に検出する。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus and an inspection method for simultaneously detecting a phase defect and a pattern defect or a foreign substance.例文帳に追加

位相欠陥と、パターン欠陥または異物とを、同時に検出可能な検査装置および検査方法を提供する。 - 特許庁

To shorten a period of time required to acquire a signal for use in defect detection, without lowering the precision of defect detection.例文帳に追加

欠陥の検出精度を下げることなく、欠陥検出に用いる信号を取得されるまでの時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a defect detector and a defect detection method having improved accuracy in detecting defects in a formed part.例文帳に追加

成形部の欠陥の検出精度を向上させた欠陥検出装置および欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of ultrasonic flaw detection/examination for improving defect detection by facilitating detection of a defect waveform.例文帳に追加

欠陥波形の検出を容易に行い、欠陥の探傷を向上できる超音波探傷試験方法を提供する。 - 特許庁

A dual charged-particle beam system is automatically navigated to the vicinity of defect location using information from the defect file.例文帳に追加

複式荷電粒子ビームシステムが、欠陥ファイルからの情報を用いて、自動的にその欠陥位置の近傍にナビゲートされる。 - 特許庁

(A) Data for defect quantity estimation are previously found which show a relation between the defect quantities of the inspected body and the size of the reflected wave.例文帳に追加

（Ａ）検査体の欠損量と反射波の大きさとの関係を示す欠損量推定用データを予め求める。 - 特許庁

THIN FILM TRANSISTOR MATRIX SUBSTRATE AND DEFECT REPAIRING METHOD THEREOF例文帳に追加

薄膜トランジスタマトリクス基板及びその欠陥修復方法 - 特許庁

The edge defect detection device 1 includes a control device 6.例文帳に追加

エッジ欠陥検出装置１は、制御装置６を備える。 - 特許庁

To execute an accurate defect fatalness evaluation, a yield prediction and a fault position specification in an in-line defect checking step.例文帳に追加

インラインの欠陥検査工程において、高精度な欠陥致命性評価、歩留まり予測、故障個所特定を行うこと。 - 特許庁

ORGANIC LIGHT EMITTING DISPLAY DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD OF THE SAME例文帳に追加

有機発光表示装置及びその欠陥検査方法 - 特許庁