「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(49ページ目) - Weblio英語例文検索

To surely and rapidly detect a through defect in a membrane.例文帳に追加

メンブレンの貫通欠陥を速く確実に検出すること。 - 特許庁

OPTICAL ELEMENT HAVING RESISTANCE TO PRESSURE-INDUCED DEFECT例文帳に追加

圧力に誘起される欠陥に抵抗性のある光学素子 - 特許庁

NEEDLE PART DEFECT CORRECTION METHOD OF MANIPULATOR, AND NEEDLE MEMBER SET例文帳に追加

マニピュレータのニードル部欠陥修正方法とニードル部材セット - 特許庁

LATENT IMAGE CARRIER DEFECT DETECTION METHOD AND IMAGE FORMING APPARATUS例文帳に追加

潜像担持体欠陥検知方法及び画像形成装置 - 特許庁

To provide a device and a method of healing a defect location, especially a defect part of the knee meniscus.例文帳に追加

軟組織の欠陥部位、特に膝の半月板の欠陥部位を修復するためのデバイスおよび修復方法を提供する。 - 特許庁

SURFACE DEFECT DETECTING DEVICE FOR STEEL STRIP IN PICKLING LINE例文帳に追加

酸洗ラインにおける鋼帯の表面欠陥検出装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR GROWING LOW-DEFECT SINGLE CRYSTAL例文帳に追加

低欠陥の単結晶の成長方法及び成長装置 - 特許庁

LIQUID CRYSTAL DISPLAY, AND METHOD OF CORRECTING POINT DEFECT OF THE SAME例文帳に追加

液晶表示装置及びその点欠陥修正方法 - 特許庁

DISPLAY SUBSTRATE, DISPLAY DEVICE, AND SHORT-CIRCUIT DEFECT CORRECTING METHOD例文帳に追加

表示基板、表示装置および短絡欠陥修正方法 - 特許庁

RETICLE DEFECT INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD USING THE SAME例文帳に追加

レチクル欠陥検査装置およびこれを用いた検査方法 - 特許庁

DEFECT ANALYSIS METHOD, PROGRAM, AND MANUFACTURING METHOD OF ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

欠陥解析方法、プログラム及び電子デバイスの製造方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEVICE MANUFACTURING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

欠陥検査装置およびそれを用いたデバイス製造方法 - 特許庁

To provide a display defect evaluation method capable of accurately evaluating a linear defect of a display device.例文帳に追加

表示デバイスの線状欠陥評価を精度良く行うことができる表示欠陥評価方法を提供すること。 - 特許庁

OPTICAL DISK DRIVE, AND DEFECT PART DETECTION METHOD FOR OPTICAL DISK例文帳に追加

光ディスク装置及び光ディスクの欠陥部検出方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION APPARATUS AND DEVICE MANUFACTURING METHOD USING SUCH APPARATUS例文帳に追加

欠陥検査装置及び該装置を用いたデバイス製造方法 - 特許庁

To provide a defect detecting method and defect detecting device of a press component capable of automatically, certainly detecting a defect such as crack in a pressing process.例文帳に追加

プレス工程におけるクラックなどの欠陥を、自動的に確実に検出することを低コストで実現可能なプレス部品の欠陥検出方法、及び欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide a honeycomb filter which enables detection of a defect point and defect cause without installing a device for detecting a defect of the honeycomb filter on the downstream of the honeycomb filter.例文帳に追加

ハニカムフィルタの下流側にハニカムフィルタの欠陥を検出するための装置を配置することなく、欠陥箇所及び欠陥原因を検出することが可能なハニカムフィルタを提供する。 - 特許庁

To provide a radiation detector without image defect and high quality by reducing the defects of fluorescent substance under layer by suppressing the pin hole defect and projection defect in the fluorescent substance under layer.例文帳に追加

蛍光体下地層のピンホール欠陥や突起欠陥を抑制して蛍光体層の欠陥を少なくし、画像欠陥のない高品位な放射線検出装置を提供する。 - 特許庁

The outline of the defect is extracted, and the contrast is given to the outline of the defect to discriminate the defect of the front surface 1a and that of the rear surface 1b of a searched object 1 with high accuracy.例文帳に追加

欠陥の輪郭を抽出し、欠陥の輪郭のコントラストにより検査対象物１の表面１ａの欠陥と裏面１ｂの欠陥を高精度に識別することが可能となる。 - 特許庁

To acquire electrical characteristics of a defect without being limited to detecting a substrate defect at the stage of a substrate inspection process and to determine a causative substance being a factor of the detected defect.例文帳に追加

基板検査工程の段階で、基板欠陥を検出するに限らず、その欠陥の電気的特性を取得し、検出した欠陥の要因となる原因物質を特定する。 - 特許庁

To provide a system for analyzing defect of semiconductor which can guarantee the effectiveness of a possible solution for defect-derived degradation of yield and make easier defect occurring factor estimation based on the defects formed on a wafer.例文帳に追加

欠陥起因歩留まり解析方法の有効性を保証し、ウェーハ上の欠陥に基づく不良発生要因推定を容易化する半導体欠陥解析システムを提供する。 - 特許庁

Before the recording medium is finalized, updated defect management information is recorded in any of the plurality of temporary defect management area for each update of defect management information.例文帳に追加

記録媒体１０をファイナライズする前は、ディフェクト管理情報が更新される度に、更新されたディフェクト管理情報を複数の一時的ディフェクト管理エリアのいずれかに記録する。 - 特許庁

A defect structure point calculation part 18c calculates a defect structure point for composing the outline of defect formed in the object to be measured on the basis of the reference points and the reference curve.例文帳に追加

欠損構成点算出部１８ｄは、基準点および基準曲線に基づいて、計測対象物に形成された欠損の輪郭を構成する欠損構成点を算出する。 - 特許庁

To provide a method for inspecting a phase shift mask, which never detects a false defect of a pattern as a pattern defect by mistake when a pattern defect of the phase shift mask is inspected.例文帳に追加

位相シフトマスクのパターン欠陥検査に際し、パターンの疑似欠陥を誤ってパターン欠陥として検出することがないようにした、位相シフトマスクの検査方法を提供する。 - 特許庁

On a picture plane of thumbnail display for a defect, an image most saliently showing the features of a defect is determined/displayed for each of defects from inspection information, the kind of defect, etc.例文帳に追加

欠陥のサムネイル表示画面において、検査情報や欠陥種類等から、欠陥毎にその欠陥の特徴を最も顕著に表すような画像を決定し、表示する。 - 特許庁

As it has an addition circuit to integrate the image information as well as it enlarges the image of a defect, even a defect of fine line width can be inspected exactly as a defect.例文帳に追加

欠陥の画像を拡大すると共に画像情報を積分する加算回路を有することにより、微細線幅の欠陥であっても欠陥として正確に検査することができる。 - 特許庁

To provide a thin film transistor matrix and a defect repairing method thereof wherein a defect in a pixel can be easily repaired to a normal pixel even when the defect is generated in the pixel in a manufacturing process.例文帳に追加

製造過程において画素内で欠陥が発生しても、容易に正常画素に修復することができる薄膜トランジスタマトリクス及びその欠陥修復方法を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for processing defect of a control system, in which a defect determination can be made proper by preventing the erroneous determination of a communication defect between entities of the control system.例文帳に追加

制御システムの各要素間における通信異常の誤判定を防止して異常判定の適正化を図ることの可能な制御システムの異常処理装置を提供する。 - 特許庁

When the installation defect is detected by the installation defect detection unit 242, a display 110 of a control PC 100 is configured to perform processing for giving an operator notification showing that the installation defect is detected.例文帳に追加

設置不備検出部２４２によって設置不備が検出された場合、制御ＰＣ１００のディスプレイ１１０が、設置不備が検出された旨を操作者に通知する処理を行う。 - 特許庁

In an analytical database 9, defect-shape recognized data obtained by a defect-shape recognition part 8 and defect shape data obtained by the generation part 11 are stored.例文帳に追加

解析データベース９には不良形状認識部８によって得られた不良形状認識済みデータと不良発生部１１によって得られた不良形状データとが蓄積される。 - 特許庁

To provide a material for repairing a tissue defect which is capable of rapidly healing the defect site of the tissue or organs without requiring extracorporeal cell culture in repairing and healing of the tissue defect part.例文帳に追加

組織欠損部分の補修治癒において、体外での細胞培養を必要とせず、組織又は臓器の欠損部位を速やかに治療できる組織欠損補修用材料を提供する。 - 特許庁

To provide a dark field illumination device and a defect detection device capable of observing and detecting a defect in preferable conditions by a simple adjustment corresponding to the kind of an inspection sample or the direction of the defect.例文帳に追加

検査試料の種類や欠陥の方向に応じて、簡単な調整でその欠陥を好条件で観察、検出できる暗視野照明装置、及び、欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

Subsequently, the defect observation apparatus 3 forms a primary defect position correction expression for optimizing a defect position at the detection coordinate system, on the basis of the position deviation amount of each measurement point.例文帳に追加

続いて、欠陥観察装置３は、各測定ポイントの位置ずれ量に基づき、検出座標系での欠陥位置を適正化するための１次の欠陥位置補正式を作成する。 - 特許庁

To provide a defect detail specifying device of a rotating speed detection device allowing a proper measure to be taken according to the defect detail by specifying the defect detail of the rotating speed detection device.例文帳に追加

回転速度検出装置の異常内容を特定して同異常内容に応じた適切な処置を採りえる回転速度検出装置の異常内容特定装置を提供すること。 - 特許庁

The picture element defect is moved into the visual field of the magnifying lens 11 in accordance with the approximate picture element defect coordinate determined by this picture element defect position instruction device 25 and the exact coordinate position is measured.例文帳に追加

絵素欠陥位置指示装置２５を用いて求めた概略絵素欠陥座標に基づいて拡大レンズ１１の視野内に絵素欠陥を移動させ、正確な座標位置を測定する。 - 特許庁

The statistically based variance data can include Pooled Polymer De-protection Variance (PPDV) data that is used to determine micro-bridging defect data, LER defect data, and LWR defect data.例文帳に追加

前記統計に基づく分散データは、マイクロブリッジ形成欠陥データ、LER欠陥データ、及びLWR欠陥データの決定に用いることのできる共有されたポリマー脱保護分散(PPDV)データを有して良い。 - 特許庁

Since adjustment of an optical system or fine correction by signal processing becomes possible, positional accuracy of defect inspection and accuracy of defect level (defect size) can be improved.例文帳に追加

本発明により、光学系の調整や信号処理による微細な補正が可能になるため、欠陥検出の位置精度および欠陥強度（欠陥寸法）の精度を向上させることができる。 - 特許庁

To recognize whether a reflector reflecting an ultrasonic wave has a defect due to a crack or a defect other than a defect due to rust, when a reflected wave is obtained in ultrasonic inspection of a low-pressure steam turbine wheel.例文帳に追加

低圧蒸気タービンホイールの超音波検査において、反射波が得られた場合に、超音波の反射体が割れ等の欠陥なのか錆等の欠陥以外のものかを識別する。 - 特許庁

To provide an image defect detecting technique which enables the accurate detection of defect pixels of an image formed on a recording medium, and grasp of the defect pixels with precision.例文帳に追加

画像記録媒体に形成された画像の欠陥画素を高精度に検出すると共に、的確に欠陥画素を把握することができる画像欠陥検査技術を提供する。 - 特許庁

This defect repairing method comprises a first process of eliminating a part or the whole of impurities existing inside a defect, and a second process of sealing the defect.例文帳に追加

本発明の欠陥補修方法は、欠陥の内部に存在する不純物の一部あるいは全部を除去する第１の工程と、前記欠陥を封止する第２の工程とを有する。 - 特許庁

When a defect is detected on a disk, a defect detection signal is extended between the small interval detecting the defect and the next small interval by registers 113 and 114.例文帳に追加

一方、ディスク上に欠陥が検出されると、レジスタ１１３および１１４により、欠陥が検出された小区間と次の小区間の間、欠陥検出信号が引き延ばされる。 - 特許庁

To ensure the sensitivity for detecting a low intensity defect, and accurately determine a defect rank of a high intensity defect in a halation region in an image inspection.例文帳に追加

画像検査において、低輝度の欠陥を検出するための感度を確保しつつ、ハレーション領域における高輝度の欠陥についても、正確な欠陥ランクの判定を可能にする。 - 特許庁

To provide a semiconductor defect inspection device which automatically detects a defect on a semiconductor wafer using circuit design data to estimate the cause of the defect generation, and a method thereof.例文帳に追加

回路設計データを用いた半導体ウェーハ上の欠陥を自動的に検出し、欠陥発生原因の推定を行う半導体欠陥検査装置ならびにその方法を提供する。 - 特許庁

Places, when the logic defects have generated can be narrowed down by defect dictionary analysis by defect diagnosis of a semiconductor IC, and thereby the accuracy of the current leakage defect analysis is increased.例文帳に追加

論理不良の発生箇所は、半導体集積回路の故障診断における故障辞書解析によって絞り込むことができ、それによって電流リーク不良解析の的確化を図る。 - 特許庁

When a new pixel defect is detected after shipping, pixel defect information detected anew is added without erasing pixel defect information added in the past.例文帳に追加

出荷後に新たに画素欠陥を検出した場合には、追記する時点より過去に追記された画素欠陥情報を消去することなく、新たに検出された画素欠陥情報を追記する。 - 特許庁