Defectを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 18303件
To provide a method for detecting a metal defect and a defect detection device, which allow clear detection of a defect portion by improving the uniformity, and increasing the brightness, of a non-defect portion of an imaged image of an inspecting surface when etching the inspecting surface of a metal sample to cause the defect to appear and imaging an image of the inspecting surface using an imaging device to detect the defect.例文帳に追加
金属試料の検査面をエッチング処理して欠陥を現出させ、撮像装置によって検査面を撮像することにより欠陥を検出するに際し、検査面撮像画像における非欠陥部の明度を均一かつ明るくすることにより、欠陥部を明瞭に検出することのできる金属の欠陥検出方法及び欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁
A defect image in which the image of the wiring board to be inspected is picked up is collated with a reference image without any defect to detect the defects; the defect correcting method is read and selected from the database based on the position of the detected defect in the wiring board, and the defect is corrected based on the selected defect correcting method.例文帳に追加
そして、検査対象の配線基板を撮影した欠陥画像と、欠陥のない参照画像とを照合して欠陥を検出し、その検出された欠陥の配線基板内における位置に基づいて、データベースから欠陥修正手法を読み出して選定し、その選定された欠陥修正手法に基づき欠陥の修正を実行することを特徴とする。 - 特許庁
SURFACE DISTORTION DEFECT INSPECTION DEVICE, INSPECTION METHOD, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加
表面歪み欠陥検査装置、検査方法及びコンピュータプログラム - 特許庁
METHOD FOR HANDLING DEFECT OF HARD DISK DRIVE, AND RECORDING MEDIUM AND SYSTEM例文帳に追加
ハードディスクドライブの欠陥処理方法，記録媒体及び装置 - 特許庁
DEFECT INSPECTION METHOD MAINLY CONCERNED WITH UNEVENNESS OF SHEET-LIKE TRANSPARENT BODY例文帳に追加
シート状透明体の凹凸を主とした欠陥検査方法 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR INSPECTING SURFACE DEFECT ON STAINLESS STEEL PLATE例文帳に追加
ステンレス鋼板の表面欠陥の検査装置および検査方法 - 特許庁
The data structures include space bit map and defect management structures.例文帳に追加
データ構造は、空間ビットマップ及び欠陥管理構造を含む。 - 特許庁
COATING NEEDLE, COATING UNIT USING IT AND DEFECT MODIFICATION APPARATUS例文帳に追加
塗布針と、それを用いた塗布ユニットおよび欠陥修正装置 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR DETECTING SURFACE DEFECT OF NONMAGNETIC METAL TUBE例文帳に追加
非磁性金属管の表面欠陥検出方法および装置 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING PIXEL DEFECT OF SOLID-STATE IMAGING DEVICE例文帳に追加
固体撮像素子の画素欠陥検査方法及び検査装置 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR DETECTING MACHINING DEFECT MADE BY LASER BEAM MACHINING DEVICE例文帳に追加
レーザ加工機の加工不良検出方法およびその装置 - 特許庁
This results in impossible jetting of an ink drip and in an image defect.例文帳に追加
この結果、インク滴が吐出不能となり、画質欠陥となる。 - 特許庁
IMAGE FORMING APPARATUS AND METHOD FOR MONITORING IMAGE DEFECT SUPPRESSION PROCESSING例文帳に追加
画像形成装置及び画像欠陥抑制処理監視方法 - 特許庁
DEFECT MANAGING METHOD FOR RECORDING MEDIUM AND REAL TIME DATA RECORDING METHOD例文帳に追加
記録媒体の欠陥管理方法とリアルタイムデータの記録方法 - 特許庁
IMAGE CORRECTING METHOD AND PATTERN DEFECT INSPECTING METHOD USING SAME例文帳に追加
画像補正方法、およびこれを用いたパターン欠陥検査方法 - 特許庁
OPTICAL DISK DRIVE, AND DEFECT AREA DETECTION METHOD FOR OPTICAL DISK例文帳に追加
光ディスク装置及び光ディスクの欠陥領域検出方法 - 特許庁
METHOD, DEVICE, AND PROGRAM FOR DETERMINATION OF CONTINUOUS DEFECT例文帳に追加
連続欠陥判定方法、連続欠陥判定装置及びプログラム - 特許庁
ORGANIC ELECTROLUMINESCENT PANEL AND DEFECT DETECTING METHOD OF THE SAME例文帳に追加
有機ＥＬパネル、及び有機ＥＬパネルの欠陥検出方法 - 特許庁
To reduce an amount of processing data in detecting discharge defect.例文帳に追加
吐出不良検出における処理データの量を削減する。 - 特許庁
INTERNAL PRESSURE DEFECT DETECTING METHOD AND ITS DEVICE FOR CASE INTERNAL CONTAINER例文帳に追加
ケース内容器の内圧不良検出方法およびその装置 - 特許庁
STEEL HAVING EXCELLENT INTERNAL DEFECT QUALITY, AND METHOD FOR PRODUCING THE SAME例文帳に追加
内部欠陥品質に優れた鋼材およびその製造方法 - 特許庁
METHOD OF INSPECTING QUALITY DEFECT OF LINEAR CONTROL VALVE, AND INSPECTION DEVICE例文帳に追加
リニア制御弁の品質不良の検査方法、及び、検査装置 - 特許庁
BLACK INK FOR CORRECTING MINUTE COLORED PATTERN DEFECT, AND COLOR FILTER例文帳に追加
微小着色パターン欠陥修正用黒インキ、及び、カラーフィルター - 特許庁
MANUFACTURING METHOD FOR COLOR FILTER AND DEFECT REMOVING APPARATUS FOR COLOR FILTER例文帳に追加
カラーフィルタの製造方法およびカラーフィルタの欠陥除去装置 - 特許庁
DEFECT INSPECTION METHOD FOR SHEET MATERIAL, AND INSPECTION TOOL USED THEREFOR例文帳に追加
シート材の欠陥検査方法、及びそれに用いる検査用治具 - 特許庁
YIELD OPTIMIZATION IN ROUTER FOR SYSTEMATIC DEFECT例文帳に追加
システマティック欠陥に対応したルータにおける歩留まりの最適化 - 特許庁
MULTIPLE ILLUMINATION PATH SYSTEM AND METHOD FOR DETECTION OF DEFECT例文帳に追加
欠陥検出のための複数照明経路システム及び方法 - 特許庁
IMAGE DEFECT CORRECTION SYSTEM OF IMAGING DEVICE USING DIRECTION DETECTION例文帳に追加
方向検出を用いた撮像デバイスの画像欠陥補正システム - 特許庁
DEFECT REMOVING METHOD AND EPITAXIAL WAFER MANUFACTURED BY THE METHOD例文帳に追加
欠陥除去方法及びそれを用いて作製したエピタキシャルウェハ - 特許庁
A measurement part 62 measures the number of pixels in the defect candidate land.例文帳に追加
計測部６２は、欠陥候補ランドの画素数を計測する。 - 特許庁
METHOD OF CORRECTING DEFECT OF COLOR FILTER SUBSTRATE AND COLOR FILTER SUBSTRATE例文帳に追加
カラーフィルター基板の欠陥修正方法およびカラーフィルター基板 - 特許庁
ACTIVE MATRIX SUBSTRATE, DISPLAY APPARATUS AND ITS DEFECT CORRECTION METHOD例文帳に追加
アクティブマトリクス基板、表示装置およびその欠陥修正方法 - 特許庁
To detect defect as a white spot and a black dot good.例文帳に追加
ホワイトスポット、ブラックドットとしてのディフェクトを良好に検出する。 - 特許庁
METHOD FOR DETECTING DEFECT IN DIGITAL CAMERA AND PHOTOELECTRIC CONVERSION DEVICE例文帳に追加
ディジタルカメラおよび光電変換デバイスの欠陥検出方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND DEFECT DETECTING METHOD FOR THE SAME例文帳に追加
半導体集積回路装置及びその不良検出方法 - 特許庁
To carry out a mask defect inspection in a short period of time with high accuracy.例文帳に追加
短時間で精度の高いマスク欠陥検査を行うこと。 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR CORRECTING DEFECT IN WIRING PATTERN例文帳に追加
配線パターンの欠陥修正方法及び欠陥修正装置 - 特許庁
METHOD FOR AUTOMATIC DETECTION OF RED-EYE DEFECT IN PHOTOGRAPHIC IMAGE DATA例文帳に追加
写真画像データにおける赤目欠陥の自動識別方法 - 特許庁
PROCESS AND APPARATUS FOR PLATING AND WAFER WITH FEW PIT DEFECT例文帳に追加
めっき方法、めっき装置及ピット欠陥の少ない半導体ウエハ - 特許庁
To restrain detection sensitivity of a stripe-like defect and detection precision from getting worse.例文帳に追加
スジ状の欠陥の検出感度や精度の低下を抑える。 - 特許庁
To provide a high-precision pattern position with less defect.例文帳に追加
欠陥が少なくかつ高精度なパタン位置精度を実現する。 - 特許庁
METHOD OF INSPECTING MASK DEFECT AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
マスク欠陥検査方法および半導体装置の製造方法 - 特許庁
SYSTEM FOR CLEANING, INSPECTION, AND DEFECT HISTORY MANAGEMENT OF STUD BOLT HOLE例文帳に追加
スタッドボルト穴の洗浄、検査及び損傷履歴管理システム - 特許庁
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