Defectを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 18303件
To improve a brazing defect at a mating part of outside flanges each other.例文帳に追加
外側のフランジ同士の合わせ部のろう付け不良の改善。 - 特許庁
DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD BY PHOTO LUMINESCENCE OF SOLAR BATTERY例文帳に追加
太陽電池のフォトルミネセンスによる欠陥検査装置及び方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR DETECTING MACHINING DEFECT FOR LASER BEAM MACHINING DEVICE例文帳に追加
レーザ加工機の加工不良検出方法およびその装置 - 特許庁
The oxide-layer/substrate interface is relatively pristine and defect-free.例文帳に追加
酸化層/基板界面は比較的にプリスチンであり、欠陥がない。 - 特許庁
The defect inspection device 1 includes a setting part 2 and an inspection part 3.例文帳に追加
欠陥検査装置1は、設定部2と検査部3を含む。 - 特許庁
Thus, the defect of the turning shaft part 11 can be prevented.例文帳に追加
このため、回転軸部11の破損を防止することができる。 - 特許庁
PHASE SHIFT RETICLE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND INSPECTION METHOD FOR DEFECT THEREIN例文帳に追加
位相シフトレチクルとその製造方法とその欠陥検査方法 - 特許庁
At this time, size of the defect management area is also expanded simultaneously.例文帳に追加
このとき、同時にディフェクト管理エリアのサイズも拡張される。 - 特許庁
DETECTING AND POSITION-CONFIRMING METHOD FOR SENSOR DEFECT IN AUTOMOBILE例文帳に追加
自動車におけるセンサ欠陥の検出及び位置確認方法 - 特許庁
METHOD FOR DETECTING DEFECT OF LIQUID CRYSTAL ARRAY, AND DEVICE USED THEREFOR例文帳に追加
液晶アレイの欠陥検出方法とそれに用いる装置 - 特許庁
METHOD OF MANUFACTURING SOLID-STATE ELECTRONIC DEVICE USING CRYSTALLINE DEFECT CONTROL例文帳に追加
結晶性欠陥制御を用いる固体電子デバイスの製造 - 特許庁
CRYSTAL DEFECT EVALUATING METHOD OF SOI WAFER AND ETCHING LIQUID例文帳に追加
SOIウエーハの結晶欠陥評価方法およびエッチング液 - 特許庁
METHOD FOR CAMOUFLAGING PRINT ELEMENT WITH DEFECT IN PRINTER例文帳に追加
プリンタにおける欠陥のあるプリントエレメントをカムフラージュする方法 - 特許庁
YARN CLEANING METHOD AND YARN CLEANING DEVICE BY CUTTING-OFF DEFECT例文帳に追加
欠陥箇所切除による洗糸方法および洗糸装置 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS, DEFECT OBSERVATION DEVICE AND ADMINISTRATIVE SERVER例文帳に追加
荷電粒子線装置、および欠陥観察装置、および管理サーバ - 特許庁
METHOD FOR CONTROLLING DEFECT MODE USING THREE-DIMENSIONAL PHOTONIC CRYSTAL例文帳に追加
3次元フォトニック結晶を用いた欠陥モードの制御方法 - 特許庁
DEFECT CORRECTING METHOD FOR TRANSLUCENT MESH ELECTROMAGNETIC WAVE SHIELD MATERIAL例文帳に追加
透光性メッシュ電磁波シールド材料の欠陥修正方法 - 特許庁
LIQUID MATERIAL APPLYING UNIT AND FINE PATTERN DEFECT CORRECTING APPARATUS例文帳に追加
液体材料塗布ユニットおよび微細パターン欠陥修正装置 - 特許庁
NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY AND METHOD FOR DETECTING LEAKAGE DEFECT OF THE SAME例文帳に追加
不揮発性半導体メモリ及びそのリーク不良検出方法 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR CORRECTING DEFECT IN SOLID-STATE IMAGE DEVICE例文帳に追加
固体撮像素子の欠陥補正装置および欠陥補正方法 - 特許庁
To prevent occurrence of defect of an image by fusion of a developing agent.例文帳に追加
現像剤の融着による画像欠陥の発生を防止する。 - 特許庁
INSPECTING METHOD OF PACKAGE DEFECT OF SHRINK PACKAGE AND ITS APPARATUS例文帳に追加
シュリンク包装体の包装欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁
METHOD FOR INSPECTING SURFACE DEFECT IN CYLINDRICAL WORK AND ITS DEVICE例文帳に追加
円筒状ワークの表面欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁
To provide inspect a defect of a fluorescent film of a cathode-ray tube.例文帳に追加
陰極線管の蛍光膜の欠陥を精度良く検査する。 - 特許庁
METHOD FOR ESTIMATING CRYSTAL DEFECT STATE AND METHOD FOR MANUFACTURING SILICON WAFER例文帳に追加
結晶欠陥状態予測方法、シリコンウェーハの製造方法 - 特許庁
The defect information management method is used which includes steps (a) to (f).例文帳に追加
(a)〜(f)ステップを備える不具合情報管理方法を用いる。 - 特許庁
Succession of a Defect in the Possession of Property That Belongs to Trust Property 例文帳に追加
信託財産に属する財産の占有の瑕疵の承継 - 日本法令外国語訳データベースシステム
MAGNETIC DISC SURFACE DEFECT DETECTOR AND FRICTIONAL TESTER例文帳に追加
磁気ディスクの表面欠陥検出装置及び摩擦試験装置 - 特許庁
The processing element can identify a defect of the complex structure.例文帳に追加
処理要素は複合構造の欠陥を識別することができる。 - 特許庁
SUBSTRATE SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE例文帳に追加
基板表面欠陥検査方法,基板表面欠陥検査装置 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING DEFECT OF SEMICONDUCTOR例文帳に追加
半導体欠陥検査装置、および半導体欠陥検査方法 - 特許庁
INFORMATION RECORDING MEDIUM, DEFECT MANAGEMENT METHOD DEVICE例文帳に追加
情報記録媒体、欠陥管理方法および欠陥管理装置 - 特許庁
INFORMATION RECORDING MEDIUM, DEFECT CONTROL METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加
情報記録媒体、欠陥管理方法および欠陥管理装置 - 特許庁
APPARATUS, METHOD AND PROGRAM FOR ANALYZING DISTRIBUTION PATTERN OF SURFACE DEFECT例文帳に追加
表面欠陥の分布形態解析装置、方法、及びプログラム - 特許庁
METHOD FOR ANALYZING DEFECT DATA, INSPECTION EQUIPMENT AND REVIEW SYSTEM例文帳に追加
欠陥データ解析方法および検査装置並びにレビューシステム - 特許庁
DEVICE FOR CORRECTING DEFECT OF RETICLE PATTERN AND CORRECTION METHOD FOR THE SAME例文帳に追加
レチクルパターンの欠陥修正装置およびその修正方法 - 特許庁
PRODUCTION OF CONTINUOUSLY CAST SLAB HAVING LITTLE INCLUSION DEFECT例文帳に追加
介在物欠陥の少ない連続鋳造鋳片の製造方法 - 特許庁
To shorten the test time for leak defect detection of a driver circuit.例文帳に追加
ドライバ回路のリーク不良検出のテスト時間を短縮する。 - 特許庁
MEDIUM DEFECT INSPECTION METHOD AND UNRECORDED AREA RETRIEVAL METHOD例文帳に追加
媒体の欠陥検査方法、及び未記録領域検索方法 - 特許庁
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| ※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。 |
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