「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(52ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD OF INSPECTING MASK DEFECT AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

マスク欠陥検査方法および半導体装置の製造方法 - 特許庁

SYSTEM FOR CLEANING, INSPECTION, AND DEFECT HISTORY MANAGEMENT OF STUD BOLT HOLE例文帳に追加

スタッドボルト穴の洗浄、検査及び損傷履歴管理システム - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING DEFECT OF FILTER例文帳に追加

フィルタの欠陥の検査方法、及び、フィルタの欠陥の検査装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING DEFECT OF CONCRETE例文帳に追加

コンクリートの欠陥検査方法およびコンクリートの欠陥検査装置 - 特許庁

METHOD FOR REDUCING SENSITIVITY OF ENCODER TO OPTICAL DEFECT例文帳に追加

光学的欠陥に対するエンコーダの感度を減少させる方法 - 特許庁

To improve a brazing defect at a mating part of outside flanges each other.例文帳に追加

外側のフランジ同士の合わせ部のろう付け不良の改善。 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD BY PHOTO LUMINESCENCE OF SOLAR BATTERY例文帳に追加

太陽電池のフォトルミネセンスによる欠陥検査装置及び方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DETECTING MACHINING DEFECT FOR LASER BEAM MACHINING DEVICE例文帳に追加

レーザ加工機の加工不良検出方法およびその装置 - 特許庁

The oxide-layer/substrate interface is relatively pristine and defect-free.例文帳に追加

酸化層／基板界面は比較的にプリスチンであり、欠陥がない。 - 特許庁

The defect inspection device 1 includes a setting part 2 and an inspection part 3.例文帳に追加

欠陥検査装置１は、設定部２と検査部３を含む。 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING SOLID-STATE ELECTRONIC DEVICE USING CRYSTALLINE DEFECT CONTROL例文帳に追加

結晶性欠陥制御を用いる固体電子デバイスの製造 - 特許庁

CRYSTAL DEFECT EVALUATING METHOD OF SOI WAFER AND ETCHING LIQUID例文帳に追加

ＳＯＩウエーハの結晶欠陥評価方法およびエッチング液 - 特許庁

METHOD FOR CAMOUFLAGING PRINT ELEMENT WITH DEFECT IN PRINTER例文帳に追加

プリンタにおける欠陥のあるプリントエレメントをカムフラージュする方法 - 特許庁

YARN CLEANING METHOD AND YARN CLEANING DEVICE BY CUTTING-OFF DEFECT例文帳に追加

欠陥箇所切除による洗糸方法および洗糸装置 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS, DEFECT OBSERVATION DEVICE AND ADMINISTRATIVE SERVER例文帳に追加

荷電粒子線装置、および欠陥観察装置、および管理サーバ - 特許庁

NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY, AND ITS DEFECT RELIEVING METHOD例文帳に追加

不揮発性半導体記憶装置およびその不良救済方法 - 特許庁

To enhance the detection sensitivity of a defect in TFT array inspection.例文帳に追加

ＴＦＴアレイ検査において欠陥の検出感度を高める。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, MARKING DEVICE AND DEFECT INSPECTION APPARATUS THEREFOR例文帳に追加

半導体装置とそのマーク形成装置，その欠陥検査装置 - 特許庁

METHOD TO IMPROVE METAL DEFECT IN SEMICONDUCTOR DEVICE FABRICATION例文帳に追加

半導体デバイス製造において金属欠陥を改善する方法 - 特許庁

To prevent a defect in quality due to film thickness unevenness between pixels.例文帳に追加

画素間の膜厚ムラに起因する品質不良を防止する。 - 特許庁

To provide an inexpensive bobbin for a deoxidant solving a defect of a bobbin made of paper.例文帳に追加

紙製のボビンの欠点を解決した安価なものを得る。 - 特許庁

Succession of a Defect in the Possession of Property That Belongs to Trust Property 例文帳に追加

信託財産に属する財産の占有の瑕疵の承継 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To prevent the occurrence of the defect of an formed image.例文帳に追加

形成した画像に画像欠陥が発生することを防止する。 - 特許庁

INSPECTING METHOD OF PACKAGE DEFECT OF SHRINK PACKAGE AND ITS APPARATUS例文帳に追加

シュリンク包装体の包装欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁

METHOD FOR INSPECTING SURFACE DEFECT IN CYLINDRICAL WORK AND ITS DEVICE例文帳に追加

円筒状ワークの表面欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁

To provide inspect a defect of a fluorescent film of a cathode-ray tube.例文帳に追加

陰極線管の蛍光膜の欠陥を精度良く検査する。 - 特許庁

METHOD FOR ESTIMATING CRYSTAL DEFECT STATE AND METHOD FOR MANUFACTURING SILICON WAFER例文帳に追加

結晶欠陥状態予測方法、シリコンウェーハの製造方法 - 特許庁

The defect information management method is used which includes steps (a) to (f).例文帳に追加

（ａ）〜（ｆ）ステップを備える不具合情報管理方法を用いる。 - 特許庁

METHOD FOR ANALYZING DEFECT DATA, INSPECTION EQUIPMENT AND REVIEW SYSTEM例文帳に追加

欠陥データ解析方法および検査装置並びにレビューシステム - 特許庁

DEVICE FOR CORRECTING DEFECT OF RETICLE PATTERN AND CORRECTION METHOD FOR THE SAME例文帳に追加

レチクルパターンの欠陥修正装置およびその修正方法 - 特許庁

INFORMATION RECORDING MEDIUM, DEFECT CONTROL METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加

情報記録媒体、欠陥管理方法および欠陥管理装置 - 特許庁

DEVICE FOR INDICATING DEFECT OF SHEET MATERIAL AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

板材の欠陥標示装置及び板材の欠陥標示方法 - 特許庁

PRODUCTION OF CONTINUOUSLY CAST SLAB HAVING LITTLE INCLUSION DEFECT例文帳に追加

介在物欠陥の少ない連続鋳造鋳片の製造方法 - 特許庁

To shorten the test time for leak defect detection of a driver circuit.例文帳に追加

ドライバ回路のリーク不良検出のテスト時間を短縮する。 - 特許庁

IMAGING APPARATUS AND DEFECT DETECTING METHOD OF SOLID-STATE IMAGING ELEMENT例文帳に追加

撮像装置および固体撮像素子の欠陥検出方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING DEFECT OF SEMICONDUCTOR例文帳に追加

半導体欠陥検査装置、および半導体欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT ANALYZING METHOD, PROGRAM, AND DEVICE例文帳に追加

不良解析方法、不良解析プログラム及び不良解析装置 - 特許庁

INFORMATION RECORDING MEDIUM, DEFECT MANAGEMENT METHOD DEVICE例文帳に追加

情報記録媒体、欠陥管理方法および欠陥管理装置 - 特許庁

APPARATUS, METHOD AND PROGRAM FOR ANALYZING DISTRIBUTION PATTERN OF SURFACE DEFECT例文帳に追加

表面欠陥の分布形態解析装置、方法、及びプログラム - 特許庁

To rapidly and surely detect nozzle defect.例文帳に追加

ノズル不良を迅速且つ確実に検出することを目的とする。 - 特許庁

To provide a solution to geometric defect of an image.例文帳に追加

画像の幾何学的な欠陥に対する解決法を提供する。 - 特許庁

IMAGE FORMING APPARATUS AND METHOD FOR MONITORING IMAGE DEFECT SUPPRESSION PROCESSING例文帳に追加

画像形成装置及び画像欠陥抑制処理監視方法 - 特許庁

DEFECT MANAGING METHOD FOR RECORDING MEDIUM AND REAL TIME DATA RECORDING METHOD例文帳に追加

記録媒体の欠陥管理方法とリアルタイムデータの記録方法 - 特許庁

IMAGE CORRECTING METHOD AND PATTERN DEFECT INSPECTING METHOD USING SAME例文帳に追加

画像補正方法、およびこれを用いたパターン欠陥検査方法 - 特許庁

OPTICAL DISK DRIVE, AND DEFECT AREA DETECTION METHOD FOR OPTICAL DISK例文帳に追加

光ディスク装置及び光ディスクの欠陥領域検出方法 - 特許庁