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Defectを含む例文一覧と使い方

該当件数 : 18303件



例文

To improve a brazing defect at a mating part of outside flanges each other.例文帳に追加

外側のフランジ同士の合わせ部のろう付け不良の改善。 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD BY PHOTO LUMINESCENCE OF SOLAR BATTERY例文帳に追加

太陽電池のフォトルミネセンスによる欠陥検査装置及び方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DETECTING MACHINING DEFECT FOR LASER BEAM MACHINING DEVICE例文帳に追加

レーザ加工機の加工不良検出方法およびその装置 - 特許庁

The oxide-layer/substrate interface is relatively pristine and defect-free.例文帳に追加

酸化層/基板界面は比較的にプリスチンであり、欠陥がない。 - 特許庁

例文

The defect inspection device 1 includes a setting part 2 and an inspection part 3.例文帳に追加

欠陥検査装置1は、設定部2と検査部3を含む。 - 特許庁


例文

Thus, the defect of the turning shaft part 11 can be prevented.例文帳に追加

このため、回転軸部11の破損を防止することができる。 - 特許庁

PHASE SHIFT RETICLE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND INSPECTION METHOD FOR DEFECT THEREIN例文帳に追加

位相シフトレチクルとその製造方法とその欠陥検査方法 - 特許庁

To highly accurately detect a weld defect in seam welding.例文帳に追加

シーム溶接時における溶接不良を高精度で検出する。 - 特許庁

At this time, size of the defect management area is also expanded simultaneously.例文帳に追加

このとき、同時にディフェクト管理エリアのサイズも拡張される。 - 特許庁

例文

The light emission layer 40 functions also as defect section 300.例文帳に追加

有機発光層40は、欠陥部300としても機能する。 - 特許庁

例文

To permit a battery cover mounting defect by a user.例文帳に追加

ユーザによる電池カバー取り付け不備を許容できるようにする。 - 特許庁

DETECTING AND POSITION-CONFIRMING METHOD FOR SENSOR DEFECT IN AUTOMOBILE例文帳に追加

自動車におけるセンサ欠陥の検出及び位置確認方法 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING DEFECT OF LIQUID CRYSTAL ARRAY, AND DEVICE USED THEREFOR例文帳に追加

液晶アレイの欠陥検出方法とそれに用いる装置 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING SOLID-STATE ELECTRONIC DEVICE USING CRYSTALLINE DEFECT CONTROL例文帳に追加

結晶性欠陥制御を用いる固体電子デバイスの製造 - 特許庁

CRYSTAL DEFECT EVALUATING METHOD OF SOI WAFER AND ETCHING LIQUID例文帳に追加

SOIウエーハの結晶欠陥評価方法およびエッチング液 - 特許庁

METHOD FOR CAMOUFLAGING PRINT ELEMENT WITH DEFECT IN PRINTER例文帳に追加

プリンタにおける欠陥のあるプリントエレメントをカムフラージュする方法 - 特許庁

YARN CLEANING METHOD AND YARN CLEANING DEVICE BY CUTTING-OFF DEFECT例文帳に追加

欠陥箇所切除による洗糸方法および洗糸装置 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS, DEFECT OBSERVATION DEVICE AND ADMINISTRATIVE SERVER例文帳に追加

荷電粒子線装置、および欠陥観察装置、および管理サーバ - 特許庁

To detect a medium defect occurring at an edge.例文帳に追加

エッジに発生する媒体異常を検出することを課題とする。 - 特許庁

METHOD FOR CONTROLLING DEFECT MODE USING THREE-DIMENSIONAL PHOTONIC CRYSTAL例文帳に追加

3次元フォトニック結晶を用いた欠陥モードの制御方法 - 特許庁

DEFECT CORRECTING METHOD FOR TRANSLUCENT MESH ELECTROMAGNETIC WAVE SHIELD MATERIAL例文帳に追加

透光性メッシュ電磁波シールド材料の欠陥修正方法 - 特許庁

LIQUID MATERIAL APPLYING UNIT AND FINE PATTERN DEFECT CORRECTING APPARATUS例文帳に追加

液体材料塗布ユニットおよび微細パターン欠陥修正装置 - 特許庁

NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY AND METHOD FOR DETECTING LEAKAGE DEFECT OF THE SAME例文帳に追加

不揮発性半導体メモリ及びそのリーク不良検出方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR CORRECTING DEFECT IN SOLID-STATE IMAGE DEVICE例文帳に追加

固体撮像素子の欠陥補正装置および欠陥補正方法 - 特許庁

To prevent occurrence of defect of an image by fusion of a developing agent.例文帳に追加

現像剤の融着による画像欠陥の発生を防止する。 - 特許庁

CIRCUIT FOR DETECTING MROM LEAK DEFECT, AND MROM MIXED CHIP例文帳に追加

MROMリーク不良検出回路及びMROM混載チップ - 特許庁

To prevent the occurrence of the defect of an formed image.例文帳に追加

形成した画像に画像欠陥が発生することを防止する。 - 特許庁

INSPECTING METHOD OF PACKAGE DEFECT OF SHRINK PACKAGE AND ITS APPARATUS例文帳に追加

シュリンク包装体の包装欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁

METHOD FOR INSPECTING SURFACE DEFECT IN CYLINDRICAL WORK AND ITS DEVICE例文帳に追加

円筒状ワークの表面欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁

To provide inspect a defect of a fluorescent film of a cathode-ray tube.例文帳に追加

陰極線管の蛍光膜の欠陥を精度良く検査する。 - 特許庁

METHOD FOR ESTIMATING CRYSTAL DEFECT STATE AND METHOD FOR MANUFACTURING SILICON WAFER例文帳に追加

結晶欠陥状態予測方法、シリコンウェーハの製造方法 - 特許庁

The defect information management method is used which includes steps (a) to (f).例文帳に追加

(a)〜(f)ステップを備える不具合情報管理方法を用いる。 - 特許庁

Succession of a Defect in the Possession of Property That Belongs to Trust Property 例文帳に追加

信託財産に属する財産の占有の瑕疵の承継 - 日本法令外国語訳データベースシステム

MAGNETIC DISC SURFACE DEFECT DETECTOR AND FRICTIONAL TESTER例文帳に追加

磁気ディスクの表面欠陥検出装置及び摩擦試験装置 - 特許庁

The processing element can identify a defect of the complex structure.例文帳に追加

処理要素は複合構造の欠陥を識別することができる。 - 特許庁

SYSTEM, METHOD AND PROGRAM FOR ANALYZING DEFECT例文帳に追加

欠陥解析システム、欠陥解析方法及び欠陥解析プログラム - 特許庁

SUBSTRATE SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE例文帳に追加

基板表面欠陥検査方法,基板表面欠陥検査装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING DEFECT OF SEMICONDUCTOR例文帳に追加

半導体欠陥検査装置、および半導体欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT ANALYZING METHOD, PROGRAM, AND DEVICE例文帳に追加

不良解析方法、不良解析プログラム及び不良解析装置 - 特許庁

INFORMATION RECORDING MEDIUM, DEFECT MANAGEMENT METHOD DEVICE例文帳に追加

情報記録媒体、欠陥管理方法および欠陥管理装置 - 特許庁

INFORMATION RECORDING MEDIUM, DEFECT CONTROL METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加

情報記録媒体、欠陥管理方法および欠陥管理装置 - 特許庁

APPARATUS, METHOD AND PROGRAM FOR ANALYZING DISTRIBUTION PATTERN OF SURFACE DEFECT例文帳に追加

表面欠陥の分布形態解析装置、方法、及びプログラム - 特許庁

To rapidly and surely detect nozzle defect.例文帳に追加

ノズル不良を迅速且つ確実に検出することを目的とする。 - 特許庁

METHOD FOR ANALYZING DEFECT DATA, INSPECTION EQUIPMENT AND REVIEW SYSTEM例文帳に追加

欠陥データ解析方法および検査装置並びにレビューシステム - 特許庁

DEVICE FOR CORRECTING DEFECT OF RETICLE PATTERN AND CORRECTION METHOD FOR THE SAME例文帳に追加

レチクルパターンの欠陥修正装置およびその修正方法 - 特許庁

DEVICE FOR INDICATING DEFECT OF SHEET MATERIAL AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

板材の欠陥標示装置及び板材の欠陥標示方法 - 特許庁

PRODUCTION OF CONTINUOUSLY CAST SLAB HAVING LITTLE INCLUSION DEFECT例文帳に追加

介在物欠陥の少ない連続鋳造鋳片の製造方法 - 特許庁

To shorten the test time for leak defect detection of a driver circuit.例文帳に追加

ドライバ回路のリーク不良検出のテスト時間を短縮する。 - 特許庁

MEDIUM DEFECT INSPECTION METHOD AND UNRECORDED AREA RETRIEVAL METHOD例文帳に追加

媒体の欠陥検査方法、及び未記録領域検索方法 - 特許庁

例文

To obtain a substrate for semiconductor element that is less in defect over a wide range.例文帳に追加

広範囲で低欠陥な半導体素子用基板を得る。 - 特許庁




  
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日本法令外国語訳データベースシステム
※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。
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