「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(55ページ目) - Weblio英語例文検索

To detect a defect part on the surface of a body to be inspected and to measure the film thickness of the defect part efficiently at the same time.例文帳に追加

被検体表面上の欠陥部分を検出すると共にその欠陥部分の膜厚を同時に効率よく計測する。 - 特許庁

To provide a defect inspecting apparatus capable of setting proper sensitivity rank for each proper inspection region and performing defect inspection.例文帳に追加

適切な検査領域毎に適切な感度ランクを設定して欠陥検査を行うことができる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect analysis method for a semiconductor device that takes defect analysis of a plurality of devices formed on a wafer with high precision.例文帳に追加

ウェハに形成される複数の装置について高い精度で装置の不良解析を行う不良解析方法を提供する。 - 特許庁

To facilitate the management of critical defects while restricting the number of defect inspections, in the defect inspections of a semiconductor integrated circuit pattern.例文帳に追加

半導体集積回路パターンの欠陥検査において、欠陥検査回数を制限しつつ、致命欠陥の管理を容易にする。 - 特許庁

To provide a defect detecting device for stably detecting a defect on the basis of an envelope detection signal whose level frequently repeats up and down around a threshold value.例文帳に追加

閾値付近で頻繁に上下を繰り返しているエンベロープ検波信号に基づき、安定したディフェクト検出を行う。 - 特許庁

The carbon dioxide fixing catalyst is obtained by providing oxygen defect type magnetite on the surfaces of inorganic porous particles and characterized by preferably providing oxygen defect type magnetite on the surfaces of inorganic porous particles.例文帳に追加

無機系多孔質粒子の表面に酸素欠陥型のマグネタイトが設けられてなる二酸化炭素固定化触媒。 - 特許庁

To easily set the inspection conditions in a defect inspection apparatus for inspecting defect in patterns of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスのパターンの欠陥を検査する欠陥検査装置において、検査条件の設定を容易に行えるようにする。 - 特許庁

The photodetector 5 detects thereby only scattered light due to a defect 10c in the wafer 10 when the defect 10c exists in the wafer 10.例文帳に追加

光検出器５は、半導体ウェハに欠陥１０ｃがあった場合のその欠陥１０ｃによる散乱光のみを検出する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device, capable of implementing defect inspection with correct, high accuracy, and less loss in the signal intensity.例文帳に追加

信号強度のロスが少なく、正確で精度の高い欠陥検査を行うことができる欠陥検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor device furnished with a defect information storage section where the defect information can be accumulated, with a small capacity.例文帳に追加

小容量で不良情報の蓄積をすることが可能な不良情報格納部を備えた半導体装置を提供する。 - 特許庁

The thermal oxide film is formed in a shape surrounding a defect in the silicon layer and reflecting or transcribing the defect.例文帳に追加

熱酸化膜は、シリコン層内の欠陥を取り囲み、当該欠陥を反映した又は転写した形状として形成される。 - 特許庁

To provide a defect inspection apparatus for a phase shift mask which is capable of surely detecting the defect, more particularly microdefects of the phase shift mask.例文帳に追加

位相シフトマスクの欠陥、特に微小欠陥を正確に検出できる位相シフトマスクの欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING REFLECTIVE MASK BLANK HAVING PSEUDO PHASE DEFECT, AND METHOD OF MANUFACTURING REFLECTIVE MASK HAVING PSEUDO PHASE DEFECT例文帳に追加

擬似位相欠陥を有する反射型マスクブランクスの製造方法、および擬似位相欠陥を有する反射型マスクの製造方法 - 特許庁

Successively, a short-circuiting defect is corrected based on the confirmed defect information and the set machining method and conditions (step S2).例文帳に追加

確認された欠陥情報及び設定された加工方法及び加工条件に基づき短絡欠陥を修正する（ステップＳ２）。 - 特許庁

To allow versatile use for detecting a defect in an optional form of hologram, and to stably and precisely detect the defect.例文帳に追加

任意の品種のホログラムの欠陥検出に汎用的に利用することができ、かつ欠陥を精度良く安定して検出する。 - 特許庁

RELIEVING AND ANALYZING METHOD FOR DEFECT OF MEMORY AND MEMORY TEST DEVICE INCORPORATING DEFECT RELIEVING AND ANALYZING DEVICE APPLYING THIS ANALYZING METHOD例文帳に追加

メモリの不良救済解析方法及びこの解析方法を適用した不良救済解析器を搭載したメモリ試験装置 - 特許庁

Therefore, even when the illuminance difference of the stain defect caused by the voltage change has the noise level, the stain defect can be detected highly accurately.例文帳に追加

これにより、電圧変化によるシミ欠陥の輝度差がノイズレベルであっても、シミ欠陥を高精度に検出することができる。 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTING METHOD, PATTERN DEFECT INSPECTING APPARATUS, METHOD FOR MANUFACTURING PHOTOMASK PRODUCT AND METHOD FOR MANUFACTURING SUBSTRATE FOR DISPLAY DEVICE例文帳に追加

パターン欠陥検査方法、パターン欠陥検査装置、フォトマスク製品の製造方法、及び表示デバイス用基板の製造方法 - 特許庁

Position information of the detected defect pixels Px is stored in the database DB as the defect pixel information R(k, m).例文帳に追加

そして、検出した欠陥画素Ｐｘの位置情報が欠陥画素情報Ｒ（ｋ，ｍ）としてデータベースＤＢに記憶される。 - 特許庁

To improve yield by relieving defect even when defect exists in a latch circuit section latching data.例文帳に追加

データをラッチするラッチ回路部に不良が存在する場合においてもその不良を仲裁することにより歩留まりを改善する。 - 特許庁

FUEL CELL GENERATION APPARATUS AND DEFECT DIAGNOSIS METHOD OF ITS REFORMING APPARATUS AND STORAGE MEDIUM RECORDING THE DEFECT DIAGNOSIS PROGRAM例文帳に追加

燃料電池発電装置及びその改質装置の劣化診断方法並びに劣化診断プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

To resolve a defect of peripheral equipment by automatically selecting appropriate firmware in accordance with defect situations of the peripheral equipment.例文帳に追加

周辺機器の不具合状況に応じた適切なファームウェアを自動的に選択し周辺機器の不具合を解消させること。 - 特許庁

Accordingly, image quality defect due to image formation is reduced and image quality defect due to screen processing is also reduced.例文帳に追加

これにより、画像形成に起因する画質欠陥が軽減されるとともにスクリーン処理に起因する画質欠陥が軽減される。 - 特許庁

To provide defect inspecting technology of a recording medium in which defect can be detected at high speed and with high resolution using electron rays.例文帳に追加

電子線を用いた、高速かつ高分解能に欠陥検出を可能にする記録媒体欠陥検査技術を提供する。 - 特許庁

In the digital process 108, a 'defect compensation processing for detection' is first performed under control of a defect compensation control part 112d.例文帳に追加

ディジタルプロセス１０８では、最初に、欠陥補償制御部１１２ｄの制御の下に「検出用欠陥補償処理」が行われる。 - 特許庁

To quickly and accurately provide a defect inspection device of an optical system, capable of inspecting a defect of a hologram color filter.例文帳に追加

ホログラムカラーフィルタの欠陥を迅速かつ精度良く検査することができる光学システムの欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To enable the defect of a complex pattern to be easily seen in a defect-inspecting device for semiconductor for comparing and inspecting a chip on a wafer.例文帳に追加

ウェーハ上のチップを比較検査する半導体用の欠陥検査装置において、複雑なパターンの欠陥を見易くする。 - 特許庁

To provide a method for correcting defect that prevents the width of a correction layer formed in a disconnection defect part from widening.例文帳に追加

断線欠陥部に形成した修正層の幅が広がるのを防止することが可能な欠陥修正方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for defect inspection capable of inspecting accurately existence of a defect such as a bright point in an inspection object.例文帳に追加

検査対象における輝点等の欠陥の有無を精度良く検査することができる欠陥検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a defect correction method of photomasks that efficiently corrects even huge black defect, and can suitably correct, in particular, a black defect occurring a transflective part of a gray-tone mask without damaging a transflective film in the defect part.例文帳に追加

巨大黒欠陥であっても効率的に修正することができ、特にグレートーンマスクの半透光部に発生した黒欠陥を欠陥部分の半透光膜にダメージを与えることなく好適に修正できるフォトマスクの欠陥修正方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for sorting a defect distribution which can accurately sort defect distributions on substrates, even when the positional displacement or size of a defect on a substrate to be inspected is changed with respect to a known defect distribution pattern as a sorting reference.例文帳に追加

分類の基準となる既知の欠陥分布パターンに対して検査対象となる基板上の欠陥の位置ズレや大きさの変化が発生する場合であっても、基板上の欠陥分布を精度良く分類できる欠陥分布分類方法を提供すること。 - 特許庁

A pattern for defect inspection formed of the circuit pattern and a produced defect of a predetermined dimension is formed on the semiconductor wafer, the pattern for defect inspection is detected, prior to the defect inspection of the circuit pattern, and the inspection sensitivity is adjusted, based on the inspection result.例文帳に追加

半導体ウェーハ上に回路パターンとともに所定寸法の作り込み欠陥からなる欠陥検査用パターンを形成し、該回路パターンの欠陥検査に先立って該欠陥検査用パターンを検出し、その検出結果に基づいて検査感度の調整を行う。 - 特許庁

To provide a defect detection optical system and a defect inspection device that can detect a defect at a high accuracy and have a simple structure without being affected by scratch in a substrate surface or directivity of scattered light on a chip defect.例文帳に追加

基板表面のスクラッチやカケ欠陥の散乱光の指向性に影響されることなく、欠陥検出が高い精度で検出でき、かつ構造が簡単な欠陥検出光学系欠陥検出光学系および欠陥検査装置を提供することにある。 - 特許庁

To obtain a defective image even when a defect is present under an optically transparent film, in the case where the defect is observed by using an SEM based on defect position data outputted from a defect inspection device by an optical means.例文帳に追加

光学的手段による欠陥検査装置により出力された欠陥位置データに基づいてＳＥＭを用いて該欠陥を観察する場合において、該欠陥が光学的に透明な膜の下に存在する場合でも、欠陥画像の取得を行えるようにする。 - 特許庁

To provide a failure detecting device, a failure detection method, and an air conditioner, capable of determining whether a defect in motor operation is caused by phase interruption in a power supply line of a motor, such as a defect in wiring or by a defect in an inverter circuit, in the case of the occurrence of a defect in motor operation .例文帳に追加

モータの動作不良が生じた場合、その原因が配線不備などによるモータの通電線の欠相にあるのか、インバータ回路の不良にあるのかを判別できる故障検知装置、故障検知方法及び空気調和装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an illuminating method, an inspecting method and a defect detection apparatus for detecting a defect of a hologram, which can be utilized universally for defect detection of an arbitrary type of holograms and can detect the defect precisely and stably.例文帳に追加

本発明は、任意の品種のホログラム欠陥検出に、汎用的に利用することができ、かつ欠陥を精度良く安定して検出することが可能なホログラム欠陥検出の照明方法、検査方法および欠陥検出装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a defect inspecting method by which necessary and sufficient defect inspection advantageous in time and cost is performed by performing the inspection while dividing a mask defect into an area where the influence of a mask defect on the operation is large and an area where the influence is small when inspection sensitivity is adjusted.例文帳に追加

検査感度調整の際にマスク欠陥がデバイスの動作への影響が大きな領域と小さな領域とに分離して検査を行うことにより時間的、コスト的に有利な必要十分な欠陥検査ができる欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

An evaluation part 81 evaluates the presence of the defect in the inspection portion of the infrared cut-off filter 10, based on a digital image obtained therein, and records a state of the defect such as a position and a size a shape of the defect, in an HDD 82, when the defect exists.例文帳に追加

このとき得られるデジタルな画像をもとに、評価部８１は赤外カットフィルタ１０の検査部分に欠陥があるか否かを評価し、欠陥がある場合には、その欠陥の位置、大きさ、形状などの欠陥の状態をＨＤＤ８２に記録する。 - 特許庁

Referring to the defect information, pixel data supplied with correcting object pixel around the defect is corrected based on the pixel data to be supplied to the pixel around at least a correction object pixel and the defect data corresponding to the defect condition.例文帳に追加

前記欠点情報を参照して、前記欠点の周辺の補正対象画素に供給される画素データを、少なくとも前記補正対象画素の周辺の画素に供給される画素データと、前記欠点の状態に対応する欠点データとに基づいて補正する。 - 特許庁

A CPU 60 generates a user interface on a display unit 56 and sets a parameter for a serial data pattern and parameters for a data ministick jitter defect given to the serial data pattern, a random jitter defect, and a random jitter defect and at least one deviation crest factor emulation defect.例文帳に追加

ＣＰＵ６０は、表示器５６にユーザ・インタフェースを発生して、シリアル・データ・パターン用のパラメータと、シリアル・データ・パターンに与えるデターミニスティック・ジッタ欠陥、ランダム・ジッタ欠陥及び少なくとも１つの偏差クレスト・ファクタ・エミュレーション欠陥用のパラメータとを設定する。 - 特許庁

To provide a method for correcting a defect of a color filter, which removes only a black defect on a color pixel without removing the color pixel by removing even high portions even when the black defect has an uneven thickness, without providing a correction opening when removing the black defect on the color pixel.例文帳に追加

着色画素４２上の黒欠陥の除去を修正口Ｓを設けることなく、その厚さに高低があっても、高い部分も除去し、着色画素は除去せずに黒欠陥のみを除去するカラーフィルタの欠陥修正方法を提供する。 - 特許庁

The high resistance region 40 includes a first crystal defect region D1 having a peak of a defect amount nearby an interface S1 of the anode region 50 and a second crystal defect region D2 having a peak of a defect amount nearby a thickness-directional intermediate position M.例文帳に追加

高抵抗領域４０は、アノード領域５０との界面Ｓ１近傍に欠陥量のピークを持つ第１結晶欠陥領域Ｄ１と、厚み方向の中間位置Ｍ近傍に欠陥量のピークを持つ第２結晶欠陥領域Ｄ２を有している。 - 特許庁

To provide a photomask correction optical system for phase defect correction with which high-accuracy defect correction can be achieved by correcting while observing and measuring the degree of a defect on correcting a phase shift photomask having a phase defect, and to provide a correction device using the system.例文帳に追加

位相欠陥を持つ位相シフトフォトマスクの修正にあたり、欠陥の度合いを観察、測定しながら行うことにより高精度の欠陥修正を達成できる位相欠陥修正用フォトマスク修正光学系とそれを用いた修正装置を提供する。 - 特許庁

The 'defect compensation processing for detection' is performed for the purpose of excluding a defective pixel registered as initial defect data from a detecting object of a defect detecting operation and an interpolation processing by the closest pixels with the same color is performed based on the initial defect data.例文帳に追加

「検出用欠陥補償処理」は、初期欠陥データとして登録されている欠陥画素を欠陥検出動作の検出対象から除外する目的で行われるものであり、初期欠陥データに基づいて最近接同色画素による補間処理が行われる。 - 特許庁

To detect an existing defect on a substrate or a panel, a defect confirmed after a mounting process, or a possible future defect, and to correct them according to detected defect modes, in an active matrix substrate or an active matrix liquid crystal display panel.例文帳に追加

アクティブマトリクス基板、又はアクティブマトリクス液晶パネルにおいて、基板又はパネルに発生している欠陥、実装工程後に確認される欠陥、或いは将来欠陥となる恐れのある欠陥を検出し、検出した欠陥モードに応じた修正を行う。 - 特許庁